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Reliability Modeling and Mitigation in Advanced Memory Technologies and Paradigms

Mayahinia, Mahta1
1 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

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Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000172703
Veröffentlicht am 25.07.2024
Seitenaufrufe: 94
seit 25.07.2024
Downloads: 48
seit 25.07.2024
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KITInstitut für Technische Informatik (ITEC)
PublikationstypHochschulschrift
Publikationsdatum25.07.2024
SpracheEnglisch
IdentifikatorKITopen-ID: 1000172703
VerlagKarlsruher Institut für Technologie (KIT)
Umfangxiv, 121 S.
Art der ArbeitDissertation
FakultätFakultät für Informatik (INFORMATIK)
InstitutInstitut für Technische Informatik (ITEC)
Prüfungsdatum12.07.2024
Referent/BetreuerTahoori, Mehdi B.
Anghel, Lorena
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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