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KR101444873B1 - 기판처리장치 - Google Patents

기판처리장치
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본 발명은 고온의 환경하에서 열변형이 발생하지 않는 가스분배판을 가지는 기판처리장치에 관한 것으로, 반응공간을 제공하며, 상부리드를 가지는 챔버; 상기 챔버 내부의 상기 상부리드의 하부에 설치되는 후방 플레이트; 상기 플라즈마 전극의 하부에 다수의 분사홀을 가지는 가스분배판; 상기 플라즈마 전극과 대향전극으로 사용되며, 기판이 안치되는 기판안치대; 상기 플라즈마 전극을 개재하여, 상기 상부리드와 상기 가스분배판을 연결시키는 결합부재;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
기판처리장치, 가스 분배판, 상부리드, 결합부재, 볼트

Description

기판처리장치{System for treatmenting substrate}
본 발명은 기판처리장치에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 고온의 환경하에서 열변형이 발생하지 않는 가스분배판을 가지는 기판처리장치에 관한 것이다.
일반적으로, 액정표시장치(Liquid Crystal Device) 또는 유리기판 상에 형성되는 박막 태양전지의 제조공정에서는 높은 생산성을 확보하기 위하여 대면적의 유리기판을 사용한다. 액정표시장치 또는 박막 태양전지를 제조하기 위해서는 기판에 특정 물질의 박막을 증착하는 박막증착공정, 감광성 물질을 사용하여 이들 박막 중 선택된 영역을 노출 또는 은폐시키는 포토공정, 선택된 영역의 박막을 제거하여 패터닝하는 식각공정 등을 거치게 되며, 이들 각 공정은 해당공정을 위해 최적의 환경으로 설계된 기판처리장치의 내부에서 진행된다.
액정표시장치 또는 박막 태양전지에서, 증착공정 및 식각공정은 공정챔버 내부에서 상부로부터 다운 스트림 방식으로 반응 및 소스물질이 가스 상태로 유입되 어 진행하며, 공정챔버는 반응 및 소스가스가 기판 상면에 균일하게 분포될 수 있도록 기판 상부에 다수의 관통홀이 형성되어 있는 가스분배판을 포함한다. 특히, 최근에는 박막을 증착시키는데 있어서, 공정챔버 외부의 고전압의 에너지를 이용하여 공정 가스를 플라즈마 상태로 여기시킨 상태에서 공정가스 사이의 화학반응을 유도하는 플라즈마 강화 화학기상증착(Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition, PECVD) 방법이 폭넓게 사용되고 있다. 그런데, 대면적의 기판을 사용함에 따라, 대면적의 가스분배판을 사용하게 되면서, 공정챔버의 내부에서 열변형에 의한 가스분배판의 처짐이 발생하게 된다. PECVD 방법을 이용한 기판증착 장치와 같은 표시장치용 기판 제조장비를 일예로 설명하면 다음과 같다.
도 1은 종래기술에 따른 기판처리장치의 개략도이다. 도 1의 종래기술의 가스분배판의 처짐을 방지하기 위하여, 후방플레이트와 가스분배판의 중앙부에 볼트로 연결하는 방법을 사용한다.
기판처리장치(10)는 밀폐공간을 제공하는 공정챔버(12), 공정챔버(12) 내부의 상부에 위치하며, 플라즈마 전극으로 사용되는 후방 플레이트(14), 후방 플레이트(14)와 연결되며 공정챔버(12)의 내부에 소스가스를 공급하는 가스 공급관(36), 후방 플레이트(14)의 하부에 위치하며, 다수의 분사홀(16)을 가지는 알루미늄 재질의 가스분배판(18), 플라즈마 전극과 대향전극으로 사용되며 기판(20)이 안치되는 기판안치대(22), 공정챔버(12)의 내부에서 사용되는 반응가스 및 부산물을 배출하 기 위한 배출구(24)로 포함하여 구성된다. 그리고 후방 플레이트(14)는 RF전원(30)과 연결되고, 후방 플레이트(14)와 RF전원(30) 사이에는 임피던스 정합을 위한 매처(32)가 설치된다.
가스분배판(18)은 후방 플레이트(14)와 버퍼공간(26)을 가지고, 후방 플레이트(14)로부터 연장되어 연결되는 지지대(28)에 거치되거나 고정된다. 그리고, 공정챔버(12)의 내부에서 기판을 처리하면서, 열변형에 기인하여 가스분배판(18)의 중앙부가 하부로 처지는 현상을 방지하기 위하여, 가스 공급관(14)의 중앙부와 대응되는 후방 플레이트(14)를 볼트(34)에 의해 결합시킨다. 볼트(34)에 의한 결합에 의해, 기판처리과정에서 발생할 수 있는 열변형에 기인한 가스분배판(18)의 변형을 방지하여, 가스분배판(18)과 기판안치대(22)의 간격을 균일하게 유지시킨다.
그러나, 기판처리를 위하여, 공정챔버(12)의 내부를 진공으로 배기할 때, 진공압력에 위해, 후방 플레이트(14)의 처짐이 발생한다. 후방 플레이트(14)의 처짐현상은 하중이 집중되는 중앙부에서 발생되며, 후방 플레이트(14)와 볼트(34)에 의해 연결되어 있는 가스 분배판(18)도 동시에 같은 형태로 처지게 되어, 가스분배판(18)과 기판안치대(22)의 간격은 불균일하게 되어, 기판(20) 상에 불균일한 박막이 증착되거나, 불균일한 식각이 된다.
본 발명은 상기와 같은 종래기술의 문제를 해결하기 위하여, 가스분배판의 중앙부를 챔버의 상부리드와 체결하는 것에 의해, 고온의 환경하에서 열변형이 발생하지 않는 가스분배판을 가지는 기판처리장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 기판처리장치는, 반응공간을 제공하며, 상부리드를 가지는 챔버; 상기 챔버 내부의 상기 상부리드의 하부에 설치되는 후방 플레이트; 상기 플라즈마 전극의 하부에 다수의 분사홀을 가지는 가스분배판; 상기 플라즈마 전극과 대향전극으로 사용되며, 기판이 안치되는 기판안치대; 상기 플라즈마 전극을 개재하여, 상기 상부리드와 상기 가스분배판을 연결시키는 결합부재;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기와 같은 기판처리장치에 있어서, 상기 결합부재는, 상기 상부리드에 설치되는 제 1 관통홀 및 상기 후방 플레이트에 설치되는 제 2 관통홀을 통과하여, 상기 가스분배판에 설치되는 체결공과 연결되는 것을 특징으로 한다.
상기와 같은 기판처리장치에 있어서, 상기 제 1 관통홀의 내부에 설치되는 제 1 절연부재와, 상기 제 1 관통홀과 대응되는 상기 상부리드의 상부 및 하부에 각각 설치되는 제 2 및 제 3 절연부재를 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기와 같은 기판처리장치에 있어서, 상기 결합부재는 볼트를 사용하며, 상 기 볼트의 상단부를 밀폐시키는 볼트캡을 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기와 같은 기판처리장치에 있어서, 상기 볼트의 상단부가 삽입되는 삽입구가 상기 상부리드에 설치되는 것을 특징으로 한다.
상기와 같은 기판처리장치에 있어서, 상기 결합부재는 볼트를 사용하며, 상기 볼트의 상단부를 밀폐시키는 볼트캡을 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기와 같은 기판처리장치에 있어서, 상기 제 2 절연부재는, 상기 가스 공급관이 통과하는 관통부를 가지는 원판형 절연부재이고, 상기 원판형 절연부재와 상기 상부리드를 제 2 결합부재에 의해 체결하는 것을 특징으로 한다.
상기와 같은 기판처리장치에 있어서, 상기 제 1 절연부재의 관통부, 상기 제 2 관통홀, 및 상기 체결공의 내부에 제 1 나사산이 형성되고, 상기 볼트의 표면에 제 2 나사산이 형성되어, 상기 볼트에 의해 상기 상부리드와 상기 가스분배판의 간격을 조절하는 것을 특징으로 한다.
상기와 같은 기판처리장치에 있어서, 상기 상부리드와 상기 후방 플레이트의 사이에서 상기 결합부재를 밀폐시키는 벨로우즈를 설치하는 것을 특징으로 한다.
상기와 같은 기판처리장치에 있어서, 상기 벨로우즈와 상기 후방 플레이트 사이에 절연부재를 설치하는 것을 특징으로 한다.
상기와 같은 기판처리장치에 있어서, 상기 가스 공급관과 대응되며, 상기 후방 프레이트와 상기 가스 분배판 사이에 상기 결합부재가 통과하는 제 3 관통홀이 형성된 배플을 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 기판처리장치는, 반응 공간을 제공하며, 상부리드를 가지는 챔버; 상기 챔버 내부의 상기 상부리드의 하부에 설치되는 후방 플레이트; 상기 플라즈마 전극의 하부에 다수의 분사홀을 가지는 가스분배판; 상기 플라즈마 전극과 대향전극으로 사용되며, 기판이 안치되는 기판안치대; 상기 플라즈마 전극을 개재하여, 상기 상부리드와 상기 가스분배판을 연결시키며, 상기 상부리드와 상기 가스 분배판의 간격을 조절하는 결합부재;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 실시예에 따른 기판처리장치는 다음과 같은 효과가 있다.
가스 분배판의 중앙부를 챔버의 상부리드와 체결하는 것에 의해, 고온의 환경 하에서도 가스 분배판의 열변형을 방지할 수 있다다. 가스 분배판의 변형이 발생하지 않아, 가스 분배판과 기판안치대의 간격을 일정하게 유지할 수 있어, 균일한 기판처리가 가능하다.
이하에서는 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 기판처리장치의 개략도이고, 도 3은 본 발명의 실시예에 따른 도 2에서 A 부분의 확대도이고, 도 4 및 도 5는 도 2에서 A 부분의 상부리드 평면도이다.
기판처리장치(110)는 밀폐공간을 제공하는 공정챔버(112), 공정챔버(112)의 내부에서, 플라즈마 전극으로 사용되는 후방 플레이트(114), 후방 플레이트(114)와 연결되며 공정챔버(112)의 내부에 소스가스를 공급하는 가스 공급관(136), 후방 플레이트(114)의 하부에 위치하며, 다수의 분사홀(116)을 가지는 알루미늄 재질의 가스분배판(118), 플라즈마 전극과 대향전극으로 사용되며 기판(120)이 안치되는 기판안치대(122), 공정챔버(112)의 내부에서 사용되는 반응가스 및 부산물을 배출하기 위한 배출구(124)로 포함하여 구성된다.
공정챔버(112)는 상부에 위치하는 상부리드(138), 상부리드(138)의 주변부에서 연결되는 측면리드(140), 및 측면리드(140)와 연결되는 챔버바디(142)로 구성되며, O-링과 같은 밀폐수단을 개재하여 연결시킨다. 그리고 후방 플레이트(114)는 RF 전원(130)과 연결되고, 후방 플레이트(114)와 RF 전원(130) 사이에는 임피던스 정합을 위한 매처(132)가 설치된다. 가스분배판(118)은 후방 플레이트(114)와 버퍼공간(126)을 가지고, 후방 플레이트(114)로부터 연장되어 연결되는 지지대(128)에 거치되거나 고정된다. 버퍼공간(126)을 형성하기 위하여, 가스 분배판(118)과 후방 플레이트(114)의 주변부는 서로 연결되어 있고, 주변부를 제외한 부분은 이격된다.
그리고, 공정챔버(112)의 내부에서 기판을 처리하면서, 열변형에 기인하여 가스분배판(118)의 중앙부가 하부로 처지는 현상을 방지하기 위하여, 가스분배 판(118)과 상부리드(138)를 제 1 결합부재인 다수의 제 1 볼트(144)로 체결한다. 따라서, 공정챔버(112)의 내부를 진공으로 배기할 때, 진공압력에 의해 후방 플레이트(114)의 처짐과 무관하게, 가스분배판(118)과 기판안치대(122)의 간격을 균일하게 유지할 수 있다. 가스분배판(118)과 기판안치대(122)가 일정한 간격을 유지하게 되어, 기판 상에 박막이 균일하게 증착되거나 또는 기판이 균일하게 식각되는 기판처리공정을 수행할 수 있다. 상부리드(138)과 후방 플레이트(114)는 서로 이격된다.
도 2 및 도 3과 같이, 가스분배판(118)과 상부리드(138)를 체결시키기 위하여, 상부리드(138) 및 후방 플레이트(114)에는 다수의 제 1 볼트(144)를 통과시키는 다수의 제 1 및 제 2 관통공(160, 162)을 설치하고, 가스분배판(118)에는 다수의 체결공(164)을 설치한다. 제 1 볼트(144)의 하단부와 체결공(164)에는 결합을 위한 제 1 및 제 2 나사산(190, 192)이 형성된다. 그리고, 체결공(164)과 제 1 볼트(144)를 체결하였을 때, 체결공(164)에는 제 1 볼트(144)와 결합되지 않는 완충공간(194)이 설치된다. 상부리드(138)와 가스분배판(118) 사이의 간격은 다수의 제 1 볼트(144)에 의해 조절이 가능하다.
상부리드(138)에 설치되어 있는 다수의 제 1 관통홀(160)을 통한 공기의 유입을 방지하기 위하여, 다수의 제 1 볼트(144) 상에 각각 볼트캡(172)을 설치한다. 볼트캡(172)과 상부리드(138)의 사이에는 O-링과 같은 밀폐수단을 개재하여 밀폐시 킨다. 다수의 제 1 볼트(114)가 통과하는 상부리드(138)와 후방 플레이트(114)의 사이에는 기밀을 유지하기 위한 벨로우즈(146)를 설치한다. 벨로우즈(146)는 상부리드(138)와 후방 플레이트(114)의 간격이 조절됨에 따라, 팽창 및 수축할 수 있는 기밀유지수단인 벨로우즈(146)를 사용한다. 후방 플레이트(114)와 챔버몸체(142)의 사이는 공정을 진행하기 위한 진공상태이므로, 상압 상태의 상부리드(138)와 후방 플레이트(114) 사이의 공간에 의한 영향을 방지하기 위하여 벨로우즈(146)을 설치한다.
다수의 제 1 볼트(144)는 금속재질로 형성되므로, RF 전원(130)을 공급받는 후방 플레이트(114)와 상부리드(138)가 전기적으로 연결되는 것을 방지하기 위해, 다수의 제 1 볼트(144)와 상부리드(138)를 절연시키는 절연부재(174)를 설치한다. 절연부재(174)는 다수의 제 1 관통홀(160) 내부의 제 1 절연부재(164), 다수의 제 1 볼트(144)의 상단부와 상부리드(114)의 절연을 위한 제 2 절연부재(166), 상부리드(114)와 벨로우즈(146)의 절연을 위한 제 3 절연부재(168), 및 벨로우즈(146)와 후방 플레이트(114)의 절연을 위한 제 4 절연부재(169)로 구성된다. 도 4는 도 2의 A 부분에서, 다수의 제 1 볼트(144)에 의해 가스분배판(118)과 체결되는 상부리드(138)의 평면도를 참조하면, 가스분배판(118)과 상부리드(138)의 체결부위는 가스공급관(136)과 인접한 중앙부에 설치된다.
후방 플레이트(114)와 가스분배판(118) 사이의 버퍼공간(126)에서, 가스공급 관(136)에서 공급되는 소오스 가스의 원활한 확산을 위하여 설치하는 배플(148)에도 제 3 관통공(170)을 설치한다. 가스분배판(118)의 다수의 체결공(164)은 완전히 관통되지 않는다. 그리고, 다수의 제 1 볼트(144)에 의해, 상부리드(114)와 가스분배판(118)의 간격을 조절할 수 있다.
도 2 내지 도 4와 같이, 다수의 제 1 볼트(144)의 상단부의 각각과 상부리드(138)를 절연시키기 위한 다수의 제 2 절연부재(166) 대신에, 도 5와 같이, 가스공급관(136)에 의해 관통되는 홀을 가진 원판형의 제 5 절연부재(154)를 설치할 수 있다. 제 5 절연부재(154)는 상부리드(138)와 제 2 결합부재인 다수의 제 2 볼트(176)에 의해 결합된다.
도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 기판처리장치에서, 결합부재의 분해 단면도이고, 도 7은 도 6의 본 발명의 다른 실시예에 따른 기판처리장치에서, 결합부재의 연결 상세도이다.
도 6과 같이, 가스분배판(118)과 상부리드(138)를 체결시키기 위하여, 상부리드(138) 및 후방 플레이트(114)에는 다수의 제 1 볼트(144)를 통과시키는 다수의 제 1 및 제 2 관통공(160, 162)을 설치하고, 가스분배판(118)에는 다수의 체결공(164)을 설치한다. 제 1 볼트(144)의 하단부와 체결공(164)에는 결합을 위한 제 1 및 제 2 나사산(190, 192)이 형성된다. 그리고, 체결공(164)과 제 1 볼트(144)를 체결하였을 때, 체결공(164)에는 제 1 볼트(144)와 결합되지 않는 완충공간(194)이 설치된다. 그리고, 제 1 볼트(144)의 헤드인 상단부가 상부리드(138)와 동일한 평면을 가질 수 있도록, 상부리드(138)에 제 1 볼트(144)의 상단부가 삽입되는 삽입구(196)를 설치한다.
상부리드(138)에 설치되어 있는 다수의 제 1 관통홀(160)을 통한 공기의 유입을 방지하기 위하여, 삽입구(196)와 대응되는 상부리드(138) 상에 평판형의 볼트캡(172)을 설치하고, 볼트캡(172)와 상부리드(138)의 사이에는 O-링과 같은 밀폐수단을 개재하여 밀봉한다. 다수의 제 1 볼트(114)가 통과하는 상부리드(138)와 후방 플레이트(114)의 사이에는 기밀을 유지하기 위한 벨로우즈(146)를 설치한다. 후방 플레이트(114)와 챔버몸체(142)의 사이는 공정을 진행하기 위한 진공상태이므로, 상압 상태의 상부리드(138)와 후방 플레이트(114) 사이의 공간에 의한 영향을 방지하기 위하여 벨로우즈(146)을 설치한다.
다수의 제 1 볼트(144)는 금속재질로 형성되므로, RF 전원(130)을 공급받는 후방 플레이트(114)와 상부리드(138)가 전기적으로 연결되는 것을 방지하기 위해, 다수의 제 1 볼트(144)와 상부리드(138)를 절연시키는 절연부재(174)를 설치한다. 절연부재(174)는 제 1 볼트(144)의 상단부를 절연시키는 제 1 절연부재(200), 제 1 관통홀(160)과 제 1 볼트(144)를 절연시키는 제 2 절연부재(202), 상부리드(114)와 벨로우즈(146)의 상부 플렌지(22)의 사이에서 제 1 볼트(144)의 절연을 위한 제 3 절연부재(204), 및 벨로우즈(146)의 하부 플렌지(224)와 후방 플레이트(114)의 절연을 위한 제 4 절연부재(206)로 구성된다. 그리고, 벨로우즈(146)를 관통하는 제 1 볼트(144)를 절연시키는 제 5 절연부재(도시하지 않음)를 설치할 수 있다.
제 1 절연부재(200)와 제 2 절연부재(202)의 연결시키기 위하여, 제 1 절연부재(200) 하부의 외주연을 따라 제 1 단차부(210)를 설치하고, 제 2 절연부재(202) 상부의 외주연을 따라 제 1 절연부재(200)의 내측에 삽입될 수 있는 제 2 단차부(212)를 설치한다. 제 2 절연부재(202) 하부의 외주연을 따라 제 3 단차부(214)을 설치하고, 제 3 절연부재(204) 상부의 외주연을 따라 제 4 단차부(216)를 설치하고, 제 2 절연부재(202)와 제 3 절연부재(204)를 연결시킨다. 도 7은 도 6에서 B부분을 확대한 것으로, 제 1 절연부재(200)의 제 1 단차부(210)와 제 2 절연부재(202)의 제 2 단차부(212)가 연결되는 상태를 도시한다. 벨로우즈(146)의 상부 플렌지(222) 및 하부 플렌지(224)는 각각 제 3 절연부재(204)와 제 4 절연부재(206)과 O-링을 개재하여 밀봉한다.
도 1은 종래기술에 따른 기판처리장치의 개략도
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 기판처리장치의 개략도
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 도 2의 A의 확대도
도 4 및 도 5는 본 발명의 실시예에 따른 상부리드의 평면도이다.
도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 기판처리장치에서, 결합부재의 분해 단면도
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 기판처리장치에서, 결합부재의 연결 상세도

Claims (11)

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KR1020070137630AActiveKR101444873B1 (ko)2007-12-262007-12-26기판처리장치

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TW (1)TW200943454A (ko)

Families Citing this family (332)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication numberPriority datePublication dateAssigneeTitle
US9394608B2 (en)2009-04-062016-07-19Asm America, Inc.Semiconductor processing reactor and components thereof
US8802201B2 (en)2009-08-142014-08-12Asm America, Inc.Systems and methods for thin-film deposition of metal oxides using excited nitrogen-oxygen species
KR101565537B1 (ko)*2009-09-162015-11-03주식회사 원익아이피에스진공처리장치 및 그에 사용되는 커버부재
CN102054659B (zh)*2009-11-052013-04-10圆益Ips股份有限公司基片处理装置及为此使用的覆盖元件
KR101535103B1 (ko)*2009-11-062015-07-09주식회사 원익아이피에스기판처리장치
KR101693673B1 (ko)*2010-06-232017-01-09주성엔지니어링(주)가스분배수단 및 이를 포함한 기판처리장치
ITMI20100249U1 (it)2010-07-162012-01-17Alfa Laval Corp AbDispositivo di scambio termico con sistema perfezionato di distribuzione del fluido refrigerante
KR101582481B1 (ko)*2010-11-042016-01-05주식회사 원익아이피에스기판처리장치, 그에 사용되는 커버부재, 그에 사용되는 트레이 및 기판처리방법
CN102534551B (zh)*2010-12-172014-08-27北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司半导体设备
KR101719578B1 (ko)*2011-01-182017-03-24주성엔지니어링(주)기판 처리 장치
US9312155B2 (en)2011-06-062016-04-12Asm Japan K.K.High-throughput semiconductor-processing apparatus equipped with multiple dual-chamber modules
US10854498B2 (en)2011-07-152020-12-01Asm Ip Holding B.V.Wafer-supporting device and method for producing same
US20130023129A1 (en)2011-07-202013-01-24Asm America, Inc.Pressure transmitter for a semiconductor processing environment
US9017481B1 (en)2011-10-282015-04-28Asm America, Inc.Process feed management for semiconductor substrate processing
US10714315B2 (en)2012-10-122020-07-14Asm Ip Holdings B.V.Semiconductor reaction chamber showerhead
US20160376700A1 (en)2013-02-012016-12-29Asm Ip Holding B.V.System for treatment of deposition reactor
CN103745902A (zh)*2013-12-162014-04-23深圳市华星光电技术有限公司Pecvd处理装置及在基板上进行pecvd处理的方法
US10683571B2 (en)2014-02-252020-06-16Asm Ip Holding B.V.Gas supply manifold and method of supplying gases to chamber using same
US10167557B2 (en)2014-03-182019-01-01Asm Ip Holding B.V.Gas distribution system, reactor including the system, and methods of using the same
US11015245B2 (en)2014-03-192021-05-25Asm Ip Holding B.V.Gas-phase reactor and system having exhaust plenum and components thereof
KR102256690B1 (ko)*2014-07-072021-05-25세메스 주식회사기판 처리 장치
US10858737B2 (en)2014-07-282020-12-08Asm Ip Holding B.V.Showerhead assembly and components thereof
US9890456B2 (en)2014-08-212018-02-13Asm Ip Holding B.V.Method and system for in situ formation of gas-phase compounds
US10941490B2 (en)2014-10-072021-03-09Asm Ip Holding B.V.Multiple temperature range susceptor, assembly, reactor and system including the susceptor, and methods of using the same
US9657845B2 (en)2014-10-072017-05-23Asm Ip Holding B.V.Variable conductance gas distribution apparatus and method
DE102015118765A1 (de)*2014-11-202016-06-09Aixtron SeVorrichtung zum Beschichten eines großflächigen Substrats
US10276355B2 (en)2015-03-122019-04-30Asm Ip Holding B.V.Multi-zone reactor, system including the reactor, and method of using the same
US10458018B2 (en)2015-06-262019-10-29Asm Ip Holding B.V.Structures including metal carbide material, devices including the structures, and methods of forming same
US10600673B2 (en)2015-07-072020-03-24Asm Ip Holding B.V.Magnetic susceptor to baseplate seal
US10211308B2 (en)2015-10-212019-02-19Asm Ip Holding B.V.NbMC layers
CN106684028B (zh)*2015-11-102019-05-31北京北方华创微电子装备有限公司承载装置、反应腔室及半导体加工设备
US11139308B2 (en)2015-12-292021-10-05Asm Ip Holding B.V.Atomic layer deposition of III-V compounds to form V-NAND devices
US10529554B2 (en)2016-02-192020-01-07Asm Ip Holding B.V.Method for forming silicon nitride film selectively on sidewalls or flat surfaces of trenches
US10343920B2 (en)2016-03-182019-07-09Asm Ip Holding B.V.Aligned carbon nanotubes
US10865475B2 (en)2016-04-212020-12-15Asm Ip Holding B.V.Deposition of metal borides and silicides
US10190213B2 (en)2016-04-212019-01-29Asm Ip Holding B.V.Deposition of metal borides
US10032628B2 (en)2016-05-022018-07-24Asm Ip Holding B.V.Source/drain performance through conformal solid state doping
US10367080B2 (en)2016-05-022019-07-30Asm Ip Holding B.V.Method of forming a germanium oxynitride film
US11453943B2 (en)2016-05-252022-09-27Asm Ip Holding B.V.Method for forming carbon-containing silicon/metal oxide or nitride film by ALD using silicon precursor and hydrocarbon precursor
US10612137B2 (en)2016-07-082020-04-07Asm Ip Holdings B.V.Organic reactants for atomic layer deposition
US9859151B1 (en)2016-07-082018-01-02Asm Ip Holding B.V.Selective film deposition method to form air gaps
US10714385B2 (en)2016-07-192020-07-14Asm Ip Holding B.V.Selective deposition of tungsten
US9887082B1 (en)2016-07-282018-02-06Asm Ip Holding B.V.Method and apparatus for filling a gap
KR102532607B1 (ko)2016-07-282023-05-15에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판 가공 장치 및 그 동작 방법
US9812320B1 (en)2016-07-282017-11-07Asm Ip Holding B.V.Method and apparatus for filling a gap
US10643826B2 (en)2016-10-262020-05-05Asm Ip Holdings B.V.Methods for thermally calibrating reaction chambers
US11532757B2 (en)2016-10-272022-12-20Asm Ip Holding B.V.Deposition of charge trapping layers
US10714350B2 (en)2016-11-012020-07-14ASM IP Holdings, B.V.Methods for forming a transition metal niobium nitride film on a substrate by atomic layer deposition and related semiconductor device structures
US10229833B2 (en)2016-11-012019-03-12Asm Ip Holding B.V.Methods for forming a transition metal nitride film on a substrate by atomic layer deposition and related semiconductor device structures
US10643904B2 (en)2016-11-012020-05-05Asm Ip Holdings B.V.Methods for forming a semiconductor device and related semiconductor device structures
US10134757B2 (en)2016-11-072018-11-20Asm Ip Holding B.V.Method of processing a substrate and a device manufactured by using the method
KR102546317B1 (ko)2016-11-152023-06-21에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기체 공급 유닛 및 이를 포함하는 기판 처리 장치
KR102762543B1 (ko)2016-12-142025-02-05에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판 처리 장치
US11447861B2 (en)2016-12-152022-09-20Asm Ip Holding B.V.Sequential infiltration synthesis apparatus and a method of forming a patterned structure
US11581186B2 (en)2016-12-152023-02-14Asm Ip Holding B.V.Sequential infiltration synthesis apparatus
KR102700194B1 (ko)2016-12-192024-08-28에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판 처리 장치
US10269558B2 (en)2016-12-222019-04-23Asm Ip Holding B.V.Method of forming a structure on a substrate
US10867788B2 (en)2016-12-282020-12-15Asm Ip Holding B.V.Method of forming a structure on a substrate
US11390950B2 (en)2017-01-102022-07-19Asm Ip Holding B.V.Reactor system and method to reduce residue buildup during a film deposition process
US10655221B2 (en)2017-02-092020-05-19Asm Ip Holding B.V.Method for depositing oxide film by thermal ALD and PEALD
US10468261B2 (en)2017-02-152019-11-05Asm Ip Holding B.V.Methods for forming a metallic film on a substrate by cyclical deposition and related semiconductor device structures
US10529563B2 (en)2017-03-292020-01-07Asm Ip Holdings B.V.Method for forming doped metal oxide films on a substrate by cyclical deposition and related semiconductor device structures
USD876504S1 (en)2017-04-032020-02-25Asm Ip Holding B.V.Exhaust flow control ring for semiconductor deposition apparatus
KR102457289B1 (ko)2017-04-252022-10-21에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.박막 증착 방법 및 반도체 장치의 제조 방법
US10892156B2 (en)2017-05-082021-01-12Asm Ip Holding B.V.Methods for forming a silicon nitride film on a substrate and related semiconductor device structures
US10770286B2 (en)2017-05-082020-09-08Asm Ip Holdings B.V.Methods for selectively forming a silicon nitride film on a substrate and related semiconductor device structures
US12040200B2 (en)2017-06-202024-07-16Asm Ip Holding B.V.Semiconductor processing apparatus and methods for calibrating a semiconductor processing apparatus
US11306395B2 (en)2017-06-282022-04-19Asm Ip Holding B.V.Methods for depositing a transition metal nitride film on a substrate by atomic layer deposition and related deposition apparatus
US10685834B2 (en)2017-07-052020-06-16Asm Ip Holdings B.V.Methods for forming a silicon germanium tin layer and related semiconductor device structures
KR20190009245A (ko)2017-07-182019-01-28에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.반도체 소자 구조물 형성 방법 및 관련된 반도체 소자 구조물
US10541333B2 (en)2017-07-192020-01-21Asm Ip Holding B.V.Method for depositing a group IV semiconductor and related semiconductor device structures
US11374112B2 (en)2017-07-192022-06-28Asm Ip Holding B.V.Method for depositing a group IV semiconductor and related semiconductor device structures
US11018002B2 (en)2017-07-192021-05-25Asm Ip Holding B.V.Method for selectively depositing a Group IV semiconductor and related semiconductor device structures
US10590535B2 (en)2017-07-262020-03-17Asm Ip Holdings B.V.Chemical treatment, deposition and/or infiltration apparatus and method for using the same
TWI815813B (zh)2017-08-042023-09-21荷蘭商Asm智慧財產控股公司用於分配反應腔內氣體的噴頭總成
US10692741B2 (en)2017-08-082020-06-23Asm Ip Holdings B.V.Radiation shield
US10770336B2 (en)2017-08-082020-09-08Asm Ip Holding B.V.Substrate lift mechanism and reactor including same
US11769682B2 (en)2017-08-092023-09-26Asm Ip Holding B.V.Storage apparatus for storing cassettes for substrates and processing apparatus equipped therewith
US10249524B2 (en)2017-08-092019-04-02Asm Ip Holding B.V.Cassette holder assembly for a substrate cassette and holding member for use in such assembly
US11139191B2 (en)2017-08-092021-10-05Asm Ip Holding B.V.Storage apparatus for storing cassettes for substrates and processing apparatus equipped therewith
USD900036S1 (en)2017-08-242020-10-27Asm Ip Holding B.V.Heater electrical connector and adapter
US11830730B2 (en)2017-08-292023-11-28Asm Ip Holding B.V.Layer forming method and apparatus
KR102491945B1 (ko)2017-08-302023-01-26에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판 처리 장치
US11056344B2 (en)2017-08-302021-07-06Asm Ip Holding B.V.Layer forming method
US11295980B2 (en)2017-08-302022-04-05Asm Ip Holding B.V.Methods for depositing a molybdenum metal film over a dielectric surface of a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures
KR102401446B1 (ko)2017-08-312022-05-24에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판 처리 장치
KR102630301B1 (ko)2017-09-212024-01-29에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.침투성 재료의 순차 침투 합성 방법 처리 및 이를 이용하여 형성된 구조물 및 장치
US10844484B2 (en)2017-09-222020-11-24Asm Ip Holding B.V.Apparatus for dispensing a vapor phase reactant to a reaction chamber and related methods
US10658205B2 (en)2017-09-282020-05-19Asm Ip Holdings B.V.Chemical dispensing apparatus and methods for dispensing a chemical to a reaction chamber
US10403504B2 (en)2017-10-052019-09-03Asm Ip Holding B.V.Method for selectively depositing a metallic film on a substrate
US10319588B2 (en)2017-10-102019-06-11Asm Ip Holding B.V.Method for depositing a metal chalcogenide on a substrate by cyclical deposition
US10923344B2 (en)2017-10-302021-02-16Asm Ip Holding B.V.Methods for forming a semiconductor structure and related semiconductor structures
KR102443047B1 (ko)2017-11-162022-09-14에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판 처리 장치 방법 및 그에 의해 제조된 장치
US10910262B2 (en)2017-11-162021-02-02Asm Ip Holding B.V.Method of selectively depositing a capping layer structure on a semiconductor device structure
US11022879B2 (en)2017-11-242021-06-01Asm Ip Holding B.V.Method of forming an enhanced unexposed photoresist layer
CN111344522B (zh)2017-11-272022-04-12阿斯莫Ip控股公司包括洁净迷你环境的装置
WO2019103613A1 (en)2017-11-272019-05-31Asm Ip Holding B.V.A storage device for storing wafer cassettes for use with a batch furnace
US10872771B2 (en)2018-01-162020-12-22Asm Ip Holding B. V.Method for depositing a material film on a substrate within a reaction chamber by a cyclical deposition process and related device structures
KR102695659B1 (ko)2018-01-192024-08-14에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.플라즈마 보조 증착에 의해 갭 충진 층을 증착하는 방법
TWI799494B (zh)2018-01-192023-04-21荷蘭商Asm 智慧財產控股公司沈積方法
USD903477S1 (en)2018-01-242020-12-01Asm Ip Holdings B.V.Metal clamp
US11018047B2 (en)2018-01-252021-05-25Asm Ip Holding B.V.Hybrid lift pin
USD880437S1 (en)2018-02-012020-04-07Asm Ip Holding B.V.Gas supply plate for semiconductor manufacturing apparatus
US11081345B2 (en)2018-02-062021-08-03Asm Ip Holding B.V.Method of post-deposition treatment for silicon oxide film
US10896820B2 (en)2018-02-142021-01-19Asm Ip Holding B.V.Method for depositing a ruthenium-containing film on a substrate by a cyclical deposition process
WO2019158960A1 (en)2018-02-142019-08-22Asm Ip Holding B.V.A method for depositing a ruthenium-containing film on a substrate by a cyclical deposition process
US10731249B2 (en)2018-02-152020-08-04Asm Ip Holding B.V.Method of forming a transition metal containing film on a substrate by a cyclical deposition process, a method for supplying a transition metal halide compound to a reaction chamber, and related vapor deposition apparatus
KR102636427B1 (ko)2018-02-202024-02-13에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판 처리 방법 및 장치
US10658181B2 (en)2018-02-202020-05-19Asm Ip Holding B.V.Method of spacer-defined direct patterning in semiconductor fabrication
US10975470B2 (en)2018-02-232021-04-13Asm Ip Holding B.V.Apparatus for detecting or monitoring for a chemical precursor in a high temperature environment
US11473195B2 (en)2018-03-012022-10-18Asm Ip Holding B.V.Semiconductor processing apparatus and a method for processing a substrate
US11629406B2 (en)2018-03-092023-04-18Asm Ip Holding B.V.Semiconductor processing apparatus comprising one or more pyrometers for measuring a temperature of a substrate during transfer of the substrate
US11114283B2 (en)2018-03-162021-09-07Asm Ip Holding B.V.Reactor, system including the reactor, and methods of manufacturing and using same
KR102646467B1 (ko)2018-03-272024-03-11에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판 상에 전극을 형성하는 방법 및 전극을 포함하는 반도체 소자 구조
US11230766B2 (en)2018-03-292022-01-25Asm Ip Holding B.V.Substrate processing apparatus and method
US11088002B2 (en)2018-03-292021-08-10Asm Ip Holding B.V.Substrate rack and a substrate processing system and method
KR102501472B1 (ko)2018-03-302023-02-20에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판 처리 방법
KR102600229B1 (ko)2018-04-092023-11-10에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판 지지 장치, 이를 포함하는 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법
US12025484B2 (en)2018-05-082024-07-02Asm Ip Holding B.V.Thin film forming method
TWI811348B (zh)2018-05-082023-08-11荷蘭商Asm 智慧財產控股公司藉由循環沉積製程於基板上沉積氧化物膜之方法及相關裝置結構
US12272527B2 (en)2018-05-092025-04-08Asm Ip Holding B.V.Apparatus for use with hydrogen radicals and method of using same
KR20190129718A (ko)2018-05-112019-11-20에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판 상에 피도핑 금속 탄화물 막을 형성하는 방법 및 관련 반도체 소자 구조
KR102596988B1 (ko)2018-05-282023-10-31에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판 처리 방법 및 그에 의해 제조된 장치
TWI840362B (zh)2018-06-042024-05-01荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司水氣降低的晶圓處置腔室
US11718913B2 (en)2018-06-042023-08-08Asm Ip Holding B.V.Gas distribution system and reactor system including same
US11286562B2 (en)2018-06-082022-03-29Asm Ip Holding B.V.Gas-phase chemical reactor and method of using same
KR102568797B1 (ko)2018-06-212023-08-21에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판 처리 시스템
US10797133B2 (en)2018-06-212020-10-06Asm Ip Holding B.V.Method for depositing a phosphorus doped silicon arsenide film and related semiconductor device structures
KR102854019B1 (ko)2018-06-272025-09-02에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.금속 함유 재료를 형성하기 위한 주기적 증착 방법 및 금속 함유 재료를 포함하는 필름 및 구조체
TWI873894B (zh)2018-06-272025-02-21荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司用於形成含金屬材料及包含含金屬材料的膜及結構之循環沉積方法
US10612136B2 (en)2018-06-292020-04-07ASM IP Holding, B.V.Temperature-controlled flange and reactor system including same
KR102686758B1 (ko)2018-06-292024-07-18에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.박막 증착 방법 및 반도체 장치의 제조 방법
US10755922B2 (en)2018-07-032020-08-25Asm Ip Holding B.V.Method for depositing silicon-free carbon-containing film as gap-fill layer by pulse plasma-assisted deposition
US10388513B1 (en)2018-07-032019-08-20Asm Ip Holding B.V.Method for depositing silicon-free carbon-containing film as gap-fill layer by pulse plasma-assisted deposition
US10767789B2 (en)2018-07-162020-09-08Asm Ip Holding B.V.Diaphragm valves, valve components, and methods for forming valve components
US11053591B2 (en)2018-08-062021-07-06Asm Ip Holding B.V.Multi-port gas injection system and reactor system including same
US10883175B2 (en)2018-08-092021-01-05Asm Ip Holding B.V.Vertical furnace for processing substrates and a liner for use therein
US10829852B2 (en)2018-08-162020-11-10Asm Ip Holding B.V.Gas distribution device for a wafer processing apparatus
US11430674B2 (en)2018-08-222022-08-30Asm Ip Holding B.V.Sensor array, apparatus for dispensing a vapor phase reactant to a reaction chamber and related methods
US11024523B2 (en)2018-09-112021-06-01Asm Ip Holding B.V.Substrate processing apparatus and method
KR102707956B1 (ko)2018-09-112024-09-19에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.박막 증착 방법
US11049751B2 (en)2018-09-142021-06-29Asm Ip Holding B.V.Cassette supply system to store and handle cassettes and processing apparatus equipped therewith
CN110970344B (zh)2018-10-012024-10-25Asmip控股有限公司衬底保持设备、包含所述设备的系统及其使用方法
US11232963B2 (en)2018-10-032022-01-25Asm Ip Holding B.V.Substrate processing apparatus and method
KR102592699B1 (ko)2018-10-082023-10-23에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판 지지 유닛 및 이를 포함하는 박막 증착 장치와 기판 처리 장치
US10847365B2 (en)2018-10-112020-11-24Asm Ip Holding B.V.Method of forming conformal silicon carbide film by cyclic CVD
US10811256B2 (en)2018-10-162020-10-20Asm Ip Holding B.V.Method for etching a carbon-containing feature
KR102605121B1 (ko)2018-10-192023-11-23에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판 처리 장치 및 기판 처리 방법
KR102546322B1 (ko)2018-10-192023-06-21에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판 처리 장치 및 기판 처리 방법
USD948463S1 (en)2018-10-242022-04-12Asm Ip Holding B.V.Susceptor for semiconductor substrate supporting apparatus
US12378665B2 (en)2018-10-262025-08-05Asm Ip Holding B.V.High temperature coatings for a preclean and etch apparatus and related methods
US11087997B2 (en)2018-10-312021-08-10Asm Ip Holding B.V.Substrate processing apparatus for processing substrates
KR102748291B1 (ko)2018-11-022024-12-31에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판 지지 유닛 및 이를 포함하는 기판 처리 장치
US11572620B2 (en)2018-11-062023-02-07Asm Ip Holding B.V.Methods for selectively depositing an amorphous silicon film on a substrate
US11031242B2 (en)2018-11-072021-06-08Asm Ip Holding B.V.Methods for depositing a boron doped silicon germanium film
US10847366B2 (en)2018-11-162020-11-24Asm Ip Holding B.V.Methods for depositing a transition metal chalcogenide film on a substrate by a cyclical deposition process
US10818758B2 (en)2018-11-162020-10-27Asm Ip Holding B.V.Methods for forming a metal silicate film on a substrate in a reaction chamber and related semiconductor device structures
US10559458B1 (en)2018-11-262020-02-11Asm Ip Holding B.V.Method of forming oxynitride film
US12040199B2 (en)2018-11-282024-07-16Asm Ip Holding B.V.Substrate processing apparatus for processing substrates
US11217444B2 (en)2018-11-302022-01-04Asm Ip Holding B.V.Method for forming an ultraviolet radiation responsive metal oxide-containing film
KR102636428B1 (ko)2018-12-042024-02-13에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판 처리 장치를 세정하는 방법
US11158513B2 (en)2018-12-132021-10-26Asm Ip Holding B.V.Methods for forming a rhenium-containing film on a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures
TWI874340B (zh)2018-12-142025-03-01荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司形成裝置結構之方法、其所形成之結構及施行其之系統
TWI866480B (zh)2019-01-172024-12-11荷蘭商Asm Ip 私人控股有限公司藉由循環沈積製程於基板上形成含過渡金屬膜之方法
KR102727227B1 (ko)2019-01-222024-11-07에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판 처리 장치
CN111524788B (zh)2019-02-012023-11-24Asm Ip私人控股有限公司氧化硅的拓扑选择性膜形成的方法
TWI845607B (zh)2019-02-202024-06-21荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司用來填充形成於基材表面內之凹部的循環沉積方法及設備
KR102626263B1 (ko)2019-02-202024-01-16에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.처리 단계를 포함하는 주기적 증착 방법 및 이를 위한 장치
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TWI842826B (zh)2019-02-222024-05-21荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司基材處理設備及處理基材之方法
KR102782593B1 (ko)2019-03-082025-03-14에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.SiOC 층을 포함한 구조체 및 이의 형성 방법
KR102858005B1 (ko)2019-03-082025-09-09에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.실리콘 질화물 층을 선택적으로 증착하는 방법, 및 선택적으로 증착된 실리콘 질화물 층을 포함하는 구조체
US11742198B2 (en)2019-03-082023-08-29Asm Ip Holding B.V.Structure including SiOCN layer and method of forming same
JP2020167398A (ja)2019-03-282020-10-08エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェードアオープナーおよびドアオープナーが提供される基材処理装置
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US11289326B2 (en)2019-05-072022-03-29Asm Ip Holding B.V.Method for reforming amorphous carbon polymer film
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USD975665S1 (en)2019-05-172023-01-17Asm Ip Holding B.V.Susceptor shaft
USD947913S1 (en)2019-05-172022-04-05Asm Ip Holding B.V.Susceptor shaft
USD935572S1 (en)2019-05-242021-11-09Asm Ip Holding B.V.Gas channel plate
USD922229S1 (en)2019-06-052021-06-15Asm Ip Holding B.V.Device for controlling a temperature of a gas supply unit
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USD944946S1 (en)2019-06-142022-03-01Asm Ip Holding B.V.Shower plate
USD931978S1 (en)2019-06-272021-09-28Asm Ip Holding B.V.Showerhead vacuum transport
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JP7499079B2 (ja)2019-07-092024-06-13エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー同軸導波管を用いたプラズマ装置、基板処理方法
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US11643724B2 (en)2019-07-182023-05-09Asm Ip Holding B.V.Method of forming structures using a neutral beam
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TWI851767B (zh)2019-07-292024-08-11荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司用於利用n型摻雜物及/或替代摻雜物選擇性沉積以達成高摻雜物併入之方法
CN112309899A (zh)2019-07-302021-02-02Asm Ip私人控股有限公司基板处理设备
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US12169361B2 (en)2019-07-302024-12-17Asm Ip Holding B.V.Substrate processing apparatus and method
US11587815B2 (en)2019-07-312023-02-21Asm Ip Holding B.V.Vertical batch furnace assembly
US11227782B2 (en)2019-07-312022-01-18Asm Ip Holding B.V.Vertical batch furnace assembly
US11587814B2 (en)2019-07-312023-02-21Asm Ip Holding B.V.Vertical batch furnace assembly
CN112323048B (zh)2019-08-052024-02-09Asm Ip私人控股有限公司用于化学源容器的液位传感器
CN112342526A (zh)2019-08-092021-02-09Asm Ip私人控股有限公司包括冷却装置的加热器组件及其使用方法
USD965524S1 (en)2019-08-192022-10-04Asm Ip Holding B.V.Susceptor support
USD965044S1 (en)2019-08-192022-09-27Asm Ip Holding B.V.Susceptor shaft
JP2021031769A (ja)2019-08-212021-03-01エーエスエム アイピー ホールディング ビー.ブイ.成膜原料混合ガス生成装置及び成膜装置
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USD930782S1 (en)2019-08-222021-09-14Asm Ip Holding B.V.Gas distributor
USD940837S1 (en)2019-08-222022-01-11Asm Ip Holding B.V.Electrode
USD949319S1 (en)2019-08-222022-04-19Asm Ip Holding B.V.Exhaust duct
USD979506S1 (en)2019-08-222023-02-28Asm Ip Holding B.V.Insulator
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US11286558B2 (en)2019-08-232022-03-29Asm Ip Holding B.V.Methods for depositing a molybdenum nitride film on a surface of a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures including a molybdenum nitride film
KR102806450B1 (ko)2019-09-042025-05-12에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.희생 캡핑 층을 이용한 선택적 증착 방법
KR102733104B1 (ko)2019-09-052024-11-22에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판 처리 장치
US11562901B2 (en)2019-09-252023-01-24Asm Ip Holding B.V.Substrate processing method
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TWI846953B (zh)2019-10-082024-07-01荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司基板處理裝置
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US12009241B2 (en)2019-10-142024-06-11Asm Ip Holding B.V.Vertical batch furnace assembly with detector to detect cassette
TWI834919B (zh)2019-10-162024-03-11荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司氧化矽之拓撲選擇性膜形成之方法
US11637014B2 (en)2019-10-172023-04-25Asm Ip Holding B.V.Methods for selective deposition of doped semiconductor material
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KR20210050453A (ko)2019-10-252021-05-07에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판 표면 상의 갭 피처를 충진하는 방법 및 이와 관련된 반도체 소자 구조
US11646205B2 (en)2019-10-292023-05-09Asm Ip Holding B.V.Methods of selectively forming n-type doped material on a surface, systems for selectively forming n-type doped material, and structures formed using same
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US11501968B2 (en)2019-11-152022-11-15Asm Ip Holding B.V.Method for providing a semiconductor device with silicon filled gaps
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US11450529B2 (en)2019-11-262022-09-20Asm Ip Holding B.V.Methods for selectively forming a target film on a substrate comprising a first dielectric surface and a second metallic surface
CN112885692B (zh)2019-11-292025-08-15Asmip私人控股有限公司基板处理设备
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JP7527928B2 (ja)2019-12-022024-08-05エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー基板処理装置、基板処理方法
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US11993847B2 (en)2020-01-082024-05-28Asm Ip Holding B.V.Injector
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US11776846B2 (en)2020-02-072023-10-03Asm Ip Holding B.V.Methods for depositing gap filling fluids and related systems and devices
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CN113410160A (zh)2020-02-282021-09-17Asm Ip私人控股有限公司专用于零件清洁的系统
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US11876356B2 (en)2020-03-112024-01-16Asm Ip Holding B.V.Lockout tagout assembly and system and method of using same
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US12173404B2 (en)2020-03-172024-12-24Asm Ip Holding B.V.Method of depositing epitaxial material, structure formed using the method, and system for performing the method
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TWI887376B (zh)2020-04-032025-06-21荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司半導體裝置的製造方法
JP7446145B2 (ja)*2020-04-072024-03-08東京エレクトロン株式会社基板処理装置
TWI888525B (zh)2020-04-082025-07-01荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司用於選擇性蝕刻氧化矽膜之設備及方法
US11821078B2 (en)2020-04-152023-11-21Asm Ip Holding B.V.Method for forming precoat film and method for forming silicon-containing film
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US11996289B2 (en)2020-04-162024-05-28Asm Ip Holding B.V.Methods of forming structures including silicon germanium and silicon layers, devices formed using the methods, and systems for performing the methods
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JP7726664B2 (ja)2020-05-042025-08-20エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー基板を処理するための基板処理システム
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TWI873343B (zh)2020-05-222025-02-21荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司用於在基材上形成薄膜之反應系統
KR20210146802A (ko)2020-05-262021-12-06에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.붕소 및 갈륨을 함유한 실리콘 게르마늄 층을 증착하는 방법
TWI876048B (zh)2020-05-292025-03-11荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司基板處理方法
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TWI873359B (zh)2020-06-302025-02-21荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司基板處理方法
US12431354B2 (en)2020-07-012025-09-30Asm Ip Holding B.V.Silicon nitride and silicon oxide deposition methods using fluorine inhibitor
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US12322591B2 (en)2020-07-272025-06-03Asm Ip Holding B.V.Thin film deposition process
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US12255053B2 (en)2020-12-102025-03-18Asm Ip Holding B.V.Methods and systems for depositing a layer
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USD981973S1 (en)2021-05-112023-03-28Asm Ip Holding B.V.Reactor wall for substrate processing apparatus
USD980813S1 (en)2021-05-112023-03-14Asm Ip Holding B.V.Gas flow control plate for substrate processing apparatus
USD980814S1 (en)2021-05-112023-03-14Asm Ip Holding B.V.Gas distributor for substrate processing apparatus
USD1023959S1 (en)2021-05-112024-04-23Asm Ip Holding B.V.Electrode for substrate processing apparatus
USD990441S1 (en)2021-09-072023-06-27Asm Ip Holding B.V.Gas flow control plate
USD1060598S1 (en)2021-12-032025-02-04Asm Ip Holding B.V.Split showerhead cover

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication numberPriority datePublication dateAssigneeTitle
US20060060138A1 (en)*2004-09-202006-03-23Applied Materials, Inc.Diffuser gravity support
KR20070036844A (ko)*2005-09-302007-04-04코스텍시스템(주)반도체 및 액정표시 장치 제조용 플라즈마 화학 증착 챔버
US20070155286A1 (en)*2005-12-302007-07-05Drain James WPolishing machine comprising a work chamber and a platform

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication numberPriority datePublication dateAssigneeTitle
JP4493932B2 (ja)*2003-05-132010-06-30東京エレクトロン株式会社上部電極及びプラズマ処理装置
US20060054280A1 (en)*2004-02-232006-03-16Jang Geun-HaApparatus of manufacturing display substrate and showerhead assembly equipped therein
WO2006020424A2 (en)*2004-08-022006-02-23Veeco Instruments Inc.Multi-gas distribution injector for chemical vapor deposition reactors
TWI287279B (en)*2004-09-202007-09-21Applied Materials IncDiffuser gravity support
US20080317973A1 (en)*2007-06-222008-12-25White John MDiffuser support

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication numberPriority datePublication dateAssigneeTitle
US20060060138A1 (en)*2004-09-202006-03-23Applied Materials, Inc.Diffuser gravity support
KR20070036844A (ko)*2005-09-302007-04-04코스텍시스템(주)반도체 및 액정표시 장치 제조용 플라즈마 화학 증착 챔버
US20070155286A1 (en)*2005-12-302007-07-05Drain James WPolishing machine comprising a work chamber and a platform

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KR20090069826A (ko)2009-07-01
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