Movatterモバイル変換


[0]ホーム

URL:


KR101017170B1 - 백 메탈 공정챔버 - Google Patents

백 메탈 공정챔버
Download PDF

Info

Publication number
KR101017170B1
KR101017170B1KR1020080079615AKR20080079615AKR101017170B1KR 101017170 B1KR101017170 B1KR 101017170B1KR 1020080079615 AKR1020080079615 AKR 1020080079615AKR 20080079615 AKR20080079615 AKR 20080079615AKR 101017170 B1KR101017170 B1KR 101017170B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
wafer
metal source
chamber
metal
process chamber
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
KR1020080079615A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20100020834A (ko
Inventor
이성원
Original Assignee
주식회사 동부하이텍
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 동부하이텍filedCritical주식회사 동부하이텍
Priority to KR1020080079615ApriorityCriticalpatent/KR101017170B1/ko
Publication of KR20100020834ApublicationCriticalpatent/KR20100020834A/ko
Application grantedgrantedCritical
Publication of KR101017170B1publicationCriticalpatent/KR101017170B1/ko
Expired - Fee Relatedlegal-statusCriticalCurrent
Anticipated expirationlegal-statusCritical

Links

Images

Classifications

Landscapes

Abstract

본 발명은 웨이퍼 후면에 메탈층을 증착시키는 백 메탈 공정챔버에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 증발법을 이용하여 웨이퍼의 후면에 메탈층을 증착시킴에 있어서 메탈소스를 고르게 녹여 원활한 증발이 이루어지도록 하여 웨이퍼 후면에 메탈층이 균일하게 증착되도록 함과 아울러 공정챔버 내부의 잔류물이 외부로 원활하게 배출되도록 하는 백 메탈 공정챔버에 관한 것이다.
본 발명에 의한 백 메탈 공정챔버는 순차적으로 위치하는 공정대기실, 공정실, 공정후단실의 3개의 격실로 나뉘어져 있으며, 상기 공정대기실과 공정실 및 상기 공정실과 공정후단실의 사이에는 웨이퍼의 로딩/언로딩을 위한 격실문이 하나씩 설치되어 있는 몸체; 웨이퍼가 안착된 상태에서 상기 공정대기부, 공정부, 공정후단부를 순차적으로 이동하며, 웨이퍼를 가열시키기 위한 히팅라인과 상기 웨이퍼가 안착되는 면 상에 상기 웨이퍼의 가장자리 외측 둘레로 질소가스를 분사하기 위한 다수의 질소분사공을 포함하는 기판홀더; 상기 기판홀더를 상기 공정대기부, 공정부, 공정후단부를 이동시키기 위한 이동부; 상기 공정실에 위치하며, 메탈소스가 수납되어 있는 메탈소스 수납부, 상기 메탈소스 수납부 내의 메탈소스를 가열시켜 녹이는 가열수단과, 상기 가열되어 증발하는 메탈소스를 분사하는 공정가스 분사포트를 포함하는 증발부를 포함하고 있다.
백 메탈 공정 챔버, 웨이퍼, 플레이트, 질소, 빔포트

Description

백 메탈 공정챔버{Back metal process chamber}
본 발명은 웨이퍼 후면에 메탈층을 증착시키는 백 메탈 공정챔버에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 증발법을 이용하여 웨이퍼의 후면에 메탈층을 증착시킴에 있어서 메탈소스를 고르게 녹여 원활한 증발이 이루어지도록 하여 웨이퍼 후면에 메탈층이 균일하게 증착되도록 함과 아울러 공정챔버 내부의 잔류물이 외부로 원활하게 배출되도록 하는 백 메탈 공정챔버에 관한 것이다.
반도체 제조에 있어서 일반적인 금속화 기술을 물리적 기상 증착(PVD; Physical Vapor Deposition)이라 한다. PVD 기술은 연혁적으로 필라멘트 증발에 이어서 전자빔 증발, 최근에는 스퍼터링에 의해 수행되고 있다.
상기 PVD 기술의 변화는 박막의 특성과 품질제어의 개선을 가져왔다.
반도체 공정의 SSI(Small Scale Integration)와 MSI(Medium Scale Integration) 시대에서는 증발법(evaporation)이 주된 금속화 공정 기술이었다.
상기 증발법은 증착층간의 막두께 특성인 스텝 커버리지(step coverage)의 단점으로 인하여 스퍼터링(sputtering)법으로 대체되었다.
하지만 증발법은 여전히 Ⅲ-Ⅳ족을 사용하는 반도체 기술의 연구와 응용분야 에서 사용되고 있으며, 또한 패키징이 진행되는 동안 C4 충돌(bump) 증착과 같은 특별한 영역에서도 사용되고 있다.
도 1은 종래 백 메탈 공정챔버의 구성도이다.
공정챔버(10) 상부의 기판홀더(12)에는 웨이퍼(11)가 안착되며, 도 1에 도시된 도면상에는 기판홀더(12)에 웨이퍼(11) 4장을 안착시킨 모습이다. 일반적으로는 다수의 웨이퍼(11)를 수납하는 배쓰(bath)를 세트 단위로 기판홀더(12)에 안착시키고 공정을 진행한다. 예컨대, 1배쓰 당 4장씩 3세트의 배쓰에 총 12장의 웨이퍼(11)를 대상으로 하여 하나의 공정으로 진행하게 된다.
공정챔버(10)의 중앙부에 위치하는 메탈소스 수납부(14)는 라이너(Liner)라고도 지칭하며, 메탈소스인 NI,TI 등을 수납하는 공간이다. 상기 메탈소스 수납부(14)의 개폐는 그 상부에 구비된 셔터(13)의 개폐에 의해 이루어진다.
상기 메탈소스 수납부(14)의 하측에는 빔포트(beam port, 15)가 위치하며, 상기 빔포트(15)에서 발생되는 빔 에너지에 의해 상기 메탈소스 수납부(14) 내의 메탈소스를 가열시켜 녹이게 된다. 이때 빔 에너지의 온도는 약 270℃ 정도의 고온 상태이고, 빔 에너지의 열에 의해 녹아서 증발하는 메탈소스는 상기 셔터(13)의 개방에 의해 상방향으로 증발하여 웨이퍼(11)의 후면에 증착된다.
웨이퍼(11)의 후면에는 드레인 전류가 인가되어 전극이 형성되므로, 상기 증발되는 메탈소스 가스를 웨이퍼(11) 후면으로 유도하여 증착이 이루어진다.
그러나 상기 종래의 백 메탈 공정챔버(10)의 경우, 메탈소스를 녹이는 과정에서 빔포트(15)의 빔 에너지만으로는 메탈소스가 전체적으로 골고루 원활히 녹지 않아서 녹지 않은 메탈소스가 튀는 스플래쉬(Splash) 현상을 유발하여 웨이퍼(11)에 구멍을 내서 공정 데이터의 불량을 유발하는 문제점이 있다.
또한, 메탈층이 증착된 웨이퍼(11) 후면은 시트저항(Sheet Resistance)이 일정하지 않고, 메탈층의 증착두께가 웨이퍼(11)의 중앙부와 가장자리부에서 불균일하며, 메탈소스가 증발되어 웨이퍼(11)의 후면에 도달하는 동안 공정챔버(10) 내부의 부산물 등이 증발하는 메탈소스와 함께 섞인 상태로 웨이퍼(11)의 후면에 증착됨으로써 오염이 유발되어 결국에는 웨이퍼(11)의 생산수율을 떨어뜨리는 문제점이 있다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 증발법을 이용하여 웨이퍼의 후면에 메탈층을 증착시킴에 있어서, 메탈소스를 전체적으로 고르게 녹일 수 있도록 하여 웨이퍼의 시트저항과 메탈층 증착 두께의 균일성을 확보함과 아울러 공정챔버 내부의 파티클의 발생을 최소화시킴으로써 웨이퍼의 생산수율을 높일 수 있도록 하는 백 메탈 공정챔버를 제공함에 그 목적이 있다.
본 발명에 의한 백 메탈 공정챔버는 순차적으로 위치하는 공정대기실, 공정실, 공정후단실의 3개의 격실로 나뉘어져 있으며, 상기 공정대기실과 공정실 및 상기 공정실과 공정후단실의 사이에는 웨이퍼의 로딩/언로딩을 위한 격실문이 하나씩 설치되어 있는 몸체; 웨이퍼가 안착된 상태에서 상기 공정대기부, 공정부, 공정후단부를 순차적으로 이동하며, 웨이퍼를 가열시키기 위한 히팅라인과 상기 웨이퍼가 안착되는 면 상에 상기 웨이퍼의 가장자리 외측 둘레로 질소가스를 분사하기 위한 다수의 질소분사공을 포함하는 기판홀더; 상기 기판홀더를 상기 공정대기부, 공정부, 공정후단부를 이동시키기 위한 이동부; 상기 공정실에 위치하며, 메탈소스가 수납되어 있는 메탈소스 수납부, 상기 메탈소스 수납부 내의 메탈소스를 가열시켜 녹이는 가열수단과, 상기 가열되어 증발하는 메탈소스를 분사하는 공정가스 분사포트를 포함하는 증발부를 포함하고 있다.
본 발명의 다른 바람직한 특징에 의하면, 상기 몸체는 ∩ 형태이다.
본 발명의 다른 바람직한 특징에 의하면, 상기 가열수단은 빔 에너지를 이용하여 상기 메탈소스를 가열시키는 빔포트와 상기 증발부의 내부에 설치된 열선의 이중 구조로 되어 있으며, 상기 빔포트는 메탈소스의 상부를 위한 제1빔포트, 메탈소스의 하부를 위한 제2빔포트를 포함하고 있다.
본 발명의 다른 바람직한 특징에 의하면, 상기 이동부는 상기 공정대기실, 공정실, 공정후단실을 순차적으로 연결하는 마그네틱라인과 상기 마그네틱라인에 연결되어 있으며 상기 기판홀더의 상부에 위치하는 마그네틱 모터를 포함하고 있다.
본 발명에 따른 백 메탈 공정챔버에 의하면, 빔포트과 열선으로 구성된 이중의 가열수단을 이용하여 메탈소스를 원활히 녹임으로써 메탈소스의 스플래쉬 현상을 방지함과 아울러 웨이퍼 후면의 시트저항과 메탈층의 증착두께의 균일성을 확보할 수 있고, 공정챔버 내부의 잔류물이 배기포트로 원활히 배출되도록 하여 웨이퍼의 오염을 방지할 수 있으므로 높은 수율과 장비 정지 시간의 감소로 생산성이 향상된다.
이하 예시도면에 의거하여 본 발명의 일실시예에 대한 구성 및 작용을 상세히 설명한다. 다만, 아래의 실시예는 본 발명이 속한 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 충분히 이해할 수 있도록 제공되는 것이지, 본 발명의 범위가 다음에 기술되는 실시예에 의해 한정되는 것은 아니다.
도 2는 본 발명에 의한 백 메탈 공정챔버의 구성도, 도 3은 본 발명에 의한 플레이트 어셈블리의 확대도이다. 도 2에서 보는 바와 같이 본 발명에 의한 백 메탈 공정챔버는 몸체(10), 플레이트 어셈블리(20), 이동수단(30), 증발부(40)를 포함하고 있다.
이하 각 부분에 대하여 상세히 설명한다.
본 발명에 의한 백 메탈 공정챔버에 있어서 몸체(10)의 가장 큰 특징은 몸체의 내부가 순차적으로 위치하는 공정대기실(A), 공정실(B), 공정후단실(C)의 3개의 격실로 나뉘어져 있다는 점이다. 또한 내부는 도 2에서 보는 바와 같이, ∩자 형상을 가지는 것이 바람직하다.
공정대기실(A)은 외부에서 웨이퍼를 몸체(10)의 내부로 넣을 수 있는 곳으로서, 공정실(B)에서 백 메탈증착이 진행되기 전에 웨이퍼가 대기하는 공간이다. 공정대기실(A)에 대기하는 웨이퍼는 플레이트(21)까지 연결되어 있는 히팅라인(22)에 의해 웨이퍼가 일정한 온도로 히팅된다. 이러한 히팅에 의해서 공정실(A)에서의 백 메탈증착이 보다 원활하게 이루어질 수 있다.
공정실(B)에서는 실제 백 메탈증착이 일어나는 곳이다. 하부에 위치하는 증 발부(40)에서 증발된 메탈성분이 상부에 위치하는 플레이트 어셈블리(20)에 안착된 웨이퍼(W)의 후면에 증착된다.
공정후단실(C)은 백 메탈 증착을 마친 웨이퍼를 외부로 반출시키는 공간으로서 공정대기실(A)과 마찬가지로 히팅라인(22)에 의해 웨이퍼가 일정한 온도를 유지하게 된다.
한편 공정대기실과 공정실 및 공정실과 공정후단실의 사이에는 웨이퍼의 로딩/언로딩을 위한 격실문(49a,49b)이 설치되어 있어서 로딩/언로딩시에 공정실과의 격리가 가능하게 하였다. 격실문(49a,49b)의 형태에 대해서는 특별한 제한은 없으나, 격실문(49a,49b)의 상부가 90도 회전할 수 있는 형태가 바람직하다.
플레이트 어셈블리(20)는 웨이퍼의 후면이 노출되도록 웨이퍼를 안착시키는 플레이트(21), 상기 플레이트(21)상의 웨이퍼를 가열시키기 위한 히팅라인(22), 상기 플레이트의 상부 및 하부로 질소가스를 분사하기 위한 다수의 질소분사공(23)을 포함하고 있다.
이를 위하여 플레이트 어셈블리(20)의 히팅라인(22)은 외부 히팅라인(25)에 연결되어 있으며, 외부 히팅라인(25)은 상기 공정대기실(A), 공정실(B), 공정후단실(C)의 3개의 격실을 연결하고 있다.
질소분사공(23)은 플레이트의 상부와 하부에 형성되어 있다. 상부에 설치된 질소분사공(23)은 챔버 내부의 이물질의 침투를 막는 역할을 하고, 하부에 설치된 질소분사공(23)은 기본적으로 웨이퍼의 가장자리 외측 둘레로 형성되어 있어서, 공정진행중에 웨이퍼와 웨이퍼를 격리하는 역할을 한다. 또한 플레이트는 웨이퍼(W)를 흡착고정하기 위한 소정의 진공포트(미도시됨)를 포함하고 있다.
플레이트 어셈블리(20)의 상부에는 마그네틱라인(31)과 연결하기 위한 연결부(30)가 있으며, 이 부분은 마그네틱모터(30)가 있어서 공정실(B)에서 플레이트를 회전시키는 역할을 하며, 동시에 마그네틱라인(31)과 함께 플레이트 어셈블리(20)를 이동시키는 역할을 한다.
이동수단(30)은 플레이트 어셈블리(20)를 상기 공정대기부(A), 공정부(B), 공정후단부(C)로 순차적으로 이동시키기 위한 것으로서, 본 발명에 속하는 분야에서 통상적으로 사용되는 것을 사용할 수 있다. 본 실시예에서는 이동수단의 일실시예로서 마그네틱 라인(31)을 이용한 이동수단을 도 2에 도시하였다. 마그네틱 라인(31)은 외부 파위(미도시)와 연결되어 있어서 전원의 공급에 의해 형성되는 자기력에 의해 플레이트 어셈블리(20)를 이동시키게 된다. 마그네틱 라인은 비상시를 대비하여 2개의 라인으로 설치하는 것이 바람직하다.
증발부(40)는 공정실에 위치하며, 메탈소스가 수납되어 있는 메탈소스 수납 부(47), 상기 메탈소스 수납부 내의 메탈소스를 가열시켜 녹이는 가열수단(43,44)과, 상기 가열되어 증발하는 메탈소스를 분사하는 공정가스 분사포트(46)를 포함하고 있다.
메탈소스 수납부(47)에는 메탈소스인 Ni,Ti 등을 수납하는 공간이며, 여기에 수납된 메탈소스를 가열시켜 녹이기 위한 가열수단으로서는 빔포트를 주로 사용한다. 본 발명에서는 2개의 빔포트를 사용하여서 제1빔포트(44)는 메탈소스의 상부를 가열시켜서 녹이는 역할을 하고, 제2빔포트(43)는 메탈소스의 하부를 가열시켜서 녹이는 역할을 한다. 또한 제1빔포트(44)와 제2빔포트(43)는 메탈소스를 균일하게 완전히 녹이기 위하여 메탈소스 수납부(47)의 가운데와 가장자리로 균일하게 분사되도록 한다.
공정가스 분사포트(46)는 가장자리 부분이 꽈배기 모양으로 되어 있어서, 일정한 유속으로 가운데와 가장자리 부분으로 균일하게 분사될 수 있게 한다. 또한 증발부 질소분사공(45)이 설치되어 있어서, 분사된 메탈성분이 플레이트 어셈블리(20)로 유도될 수 있게 한다.
본 발명에서는 상기 몸체의 내부의 배열이 도 2에서 보는 바와 같이 ∩ 형태인 것을 특징으로 한다. 이러한 형태로 배열이 됨으로 인하여 백 메탈 공정진행 전후로 로딩/언로딩이 원활하게 이루어져서 생산성 증대 및 작업이 원활하게 이루어 질 수 있기 때문이다.
도 1은 종래 백 메탈 공정챔버의 구성도,
도 2는 본 발명에 의한 백 메탈 공정챔버의 구성도,
도 3은 본 발명에 의한 플레이트 어셈블리의 확대도이다.
<도면의 주요부분에 대한 주요 부호의 설명>
10:몸체
20:플레이트 어셈블리
40:증발부

Claims (4)

KR1020080079615A2008-08-132008-08-13백 메탈 공정챔버Expired - Fee RelatedKR101017170B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application NumberPriority DateFiling DateTitle
KR1020080079615AKR101017170B1 (ko)2008-08-132008-08-13백 메탈 공정챔버

Applications Claiming Priority (1)

Application NumberPriority DateFiling DateTitle
KR1020080079615AKR101017170B1 (ko)2008-08-132008-08-13백 메탈 공정챔버

Publications (2)

Publication NumberPublication Date
KR20100020834A KR20100020834A (ko)2010-02-23
KR101017170B1true KR101017170B1 (ko)2011-02-25

Family

ID=42090778

Family Applications (1)

Application NumberTitlePriority DateFiling Date
KR1020080079615AExpired - Fee RelatedKR101017170B1 (ko)2008-08-132008-08-13백 메탈 공정챔버

Country Status (1)

CountryLink
KR (1)KR101017170B1 (ko)

Families Citing this family (374)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication numberPriority datePublication dateAssigneeTitle
US10378106B2 (en)2008-11-142019-08-13Asm Ip Holding B.V.Method of forming insulation film by modified PEALD
US9394608B2 (en)2009-04-062016-07-19Asm America, Inc.Semiconductor processing reactor and components thereof
US8802201B2 (en)2009-08-142014-08-12Asm America, Inc.Systems and methods for thin-film deposition of metal oxides using excited nitrogen-oxygen species
US9312155B2 (en)2011-06-062016-04-12Asm Japan K.K.High-throughput semiconductor-processing apparatus equipped with multiple dual-chamber modules
US9793148B2 (en)2011-06-222017-10-17Asm Japan K.K.Method for positioning wafers in multiple wafer transport
US10364496B2 (en)2011-06-272019-07-30Asm Ip Holding B.V.Dual section module having shared and unshared mass flow controllers
US10854498B2 (en)2011-07-152020-12-01Asm Ip Holding B.V.Wafer-supporting device and method for producing same
US20130023129A1 (en)2011-07-202013-01-24Asm America, Inc.Pressure transmitter for a semiconductor processing environment
US9017481B1 (en)2011-10-282015-04-28Asm America, Inc.Process feed management for semiconductor substrate processing
US8946830B2 (en)2012-04-042015-02-03Asm Ip Holdings B.V.Metal oxide protective layer for a semiconductor device
US9659799B2 (en)2012-08-282017-05-23Asm Ip Holding B.V.Systems and methods for dynamic semiconductor process scheduling
US9021985B2 (en)2012-09-122015-05-05Asm Ip Holdings B.V.Process gas management for an inductively-coupled plasma deposition reactor
US10714315B2 (en)2012-10-122020-07-14Asm Ip Holdings B.V.Semiconductor reaction chamber showerhead
US9640416B2 (en)2012-12-262017-05-02Asm Ip Holding B.V.Single-and dual-chamber module-attachable wafer-handling chamber
US20160376700A1 (en)2013-02-012016-12-29Asm Ip Holding B.V.System for treatment of deposition reactor
US9484191B2 (en)2013-03-082016-11-01Asm Ip Holding B.V.Pulsed remote plasma method and system
US9589770B2 (en)2013-03-082017-03-07Asm Ip Holding B.V.Method and systems for in-situ formation of intermediate reactive species
US9018111B2 (en)2013-07-222015-04-28Asm Ip Holding B.V.Semiconductor reaction chamber with plasma capabilities
US9793115B2 (en)2013-08-142017-10-17Asm Ip Holding B.V.Structures and devices including germanium-tin films and methods of forming same
US9240412B2 (en)2013-09-272016-01-19Asm Ip Holding B.V.Semiconductor structure and device and methods of forming same using selective epitaxial process
US9556516B2 (en)2013-10-092017-01-31ASM IP Holding B.VMethod for forming Ti-containing film by PEALD using TDMAT or TDEAT
US10179947B2 (en)2013-11-262019-01-15Asm Ip Holding B.V.Method for forming conformal nitrided, oxidized, or carbonized dielectric film by atomic layer deposition
US10683571B2 (en)2014-02-252020-06-16Asm Ip Holding B.V.Gas supply manifold and method of supplying gases to chamber using same
US10167557B2 (en)2014-03-182019-01-01Asm Ip Holding B.V.Gas distribution system, reactor including the system, and methods of using the same
US9447498B2 (en)2014-03-182016-09-20Asm Ip Holding B.V.Method for performing uniform processing in gas system-sharing multiple reaction chambers
US11015245B2 (en)2014-03-192021-05-25Asm Ip Holding B.V.Gas-phase reactor and system having exhaust plenum and components thereof
US9349620B2 (en)*2014-07-092016-05-24Asm Ip Holdings B.V.Apparatus and method for pre-baking substrate upstream of process chamber
US10858737B2 (en)2014-07-282020-12-08Asm Ip Holding B.V.Showerhead assembly and components thereof
US9543180B2 (en)2014-08-012017-01-10Asm Ip Holding B.V.Apparatus and method for transporting wafers between wafer carrier and process tool under vacuum
US9890456B2 (en)2014-08-212018-02-13Asm Ip Holding B.V.Method and system for in situ formation of gas-phase compounds
US9657845B2 (en)2014-10-072017-05-23Asm Ip Holding B.V.Variable conductance gas distribution apparatus and method
US10941490B2 (en)2014-10-072021-03-09Asm Ip Holding B.V.Multiple temperature range susceptor, assembly, reactor and system including the susceptor, and methods of using the same
KR102300403B1 (ko)2014-11-192021-09-09에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.박막 증착 방법
KR102263121B1 (ko)2014-12-222021-06-09에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.반도체 소자 및 그 제조 방법
US9478415B2 (en)2015-02-132016-10-25Asm Ip Holding B.V.Method for forming film having low resistance and shallow junction depth
US10529542B2 (en)2015-03-112020-01-07Asm Ip Holdings B.V.Cross-flow reactor and method
US10276355B2 (en)2015-03-122019-04-30Asm Ip Holding B.V.Multi-zone reactor, system including the reactor, and method of using the same
US10458018B2 (en)2015-06-262019-10-29Asm Ip Holding B.V.Structures including metal carbide material, devices including the structures, and methods of forming same
US10600673B2 (en)2015-07-072020-03-24Asm Ip Holding B.V.Magnetic susceptor to baseplate seal
US9899291B2 (en)2015-07-132018-02-20Asm Ip Holding B.V.Method for protecting layer by forming hydrocarbon-based extremely thin film
US10043661B2 (en)2015-07-132018-08-07Asm Ip Holding B.V.Method for protecting layer by forming hydrocarbon-based extremely thin film
US10083836B2 (en)2015-07-242018-09-25Asm Ip Holding B.V.Formation of boron-doped titanium metal films with high work function
US9711345B2 (en)2015-08-252017-07-18Asm Ip Holding B.V.Method for forming aluminum nitride-based film by PEALD
US9960072B2 (en)2015-09-292018-05-01Asm Ip Holding B.V.Variable adjustment for precise matching of multiple chamber cavity housings
US9909214B2 (en)2015-10-152018-03-06Asm Ip Holding B.V.Method for depositing dielectric film in trenches by PEALD
US10211308B2 (en)2015-10-212019-02-19Asm Ip Holding B.V.NbMC layers
US10322384B2 (en)2015-11-092019-06-18Asm Ip Holding B.V.Counter flow mixer for process chamber
US9455138B1 (en)2015-11-102016-09-27Asm Ip Holding B.V.Method for forming dielectric film in trenches by PEALD using H-containing gas
US9607837B1 (en)2015-12-212017-03-28Asm Ip Holding B.V.Method for forming silicon oxide cap layer for solid state diffusion process
US9735024B2 (en)2015-12-282017-08-15Asm Ip Holding B.V.Method of atomic layer etching using functional group-containing fluorocarbon
US9627221B1 (en)2015-12-282017-04-18Asm Ip Holding B.V.Continuous process incorporating atomic layer etching
US11139308B2 (en)2015-12-292021-10-05Asm Ip Holding B.V.Atomic layer deposition of III-V compounds to form V-NAND devices
US9754779B1 (en)2016-02-192017-09-05Asm Ip Holding B.V.Method for forming silicon nitride film selectively on sidewalls or flat surfaces of trenches
US10529554B2 (en)2016-02-192020-01-07Asm Ip Holding B.V.Method for forming silicon nitride film selectively on sidewalls or flat surfaces of trenches
US10468251B2 (en)2016-02-192019-11-05Asm Ip Holding B.V.Method for forming spacers using silicon nitride film for spacer-defined multiple patterning
US10501866B2 (en)2016-03-092019-12-10Asm Ip Holding B.V.Gas distribution apparatus for improved film uniformity in an epitaxial system
US10343920B2 (en)2016-03-182019-07-09Asm Ip Holding B.V.Aligned carbon nanotubes
US9892913B2 (en)2016-03-242018-02-13Asm Ip Holding B.V.Radial and thickness control via biased multi-port injection settings
US10190213B2 (en)2016-04-212019-01-29Asm Ip Holding B.V.Deposition of metal borides
US10865475B2 (en)2016-04-212020-12-15Asm Ip Holding B.V.Deposition of metal borides and silicides
US10087522B2 (en)2016-04-212018-10-02Asm Ip Holding B.V.Deposition of metal borides
US10032628B2 (en)2016-05-022018-07-24Asm Ip Holding B.V.Source/drain performance through conformal solid state doping
US10367080B2 (en)2016-05-022019-07-30Asm Ip Holding B.V.Method of forming a germanium oxynitride film
KR102592471B1 (ko)2016-05-172023-10-20에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.금속 배선 형성 방법 및 이를 이용한 반도체 장치의 제조 방법
US10388509B2 (en)2016-06-282019-08-20Asm Ip Holding B.V.Formation of epitaxial layers via dislocation filtering
US10612137B2 (en)2016-07-082020-04-07Asm Ip Holdings B.V.Organic reactants for atomic layer deposition
US9859151B1 (en)2016-07-082018-01-02Asm Ip Holding B.V.Selective film deposition method to form air gaps
US9793135B1 (en)2016-07-142017-10-17ASM IP Holding B.VMethod of cyclic dry etching using etchant film
US10714385B2 (en)2016-07-192020-07-14Asm Ip Holding B.V.Selective deposition of tungsten
KR102354490B1 (ko)2016-07-272022-01-21에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판 처리 방법
US10177025B2 (en)2016-07-282019-01-08Asm Ip Holding B.V.Method and apparatus for filling a gap
US9887082B1 (en)2016-07-282018-02-06Asm Ip Holding B.V.Method and apparatus for filling a gap
US10395919B2 (en)2016-07-282019-08-27Asm Ip Holding B.V.Method and apparatus for filling a gap
KR102532607B1 (ko)2016-07-282023-05-15에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판 가공 장치 및 그 동작 방법
US9812320B1 (en)2016-07-282017-11-07Asm Ip Holding B.V.Method and apparatus for filling a gap
US10090316B2 (en)2016-09-012018-10-02Asm Ip Holding B.V.3D stacked multilayer semiconductor memory using doped select transistor channel
US10410943B2 (en)2016-10-132019-09-10Asm Ip Holding B.V.Method for passivating a surface of a semiconductor and related systems
US10643826B2 (en)2016-10-262020-05-05Asm Ip Holdings B.V.Methods for thermally calibrating reaction chambers
US11532757B2 (en)2016-10-272022-12-20Asm Ip Holding B.V.Deposition of charge trapping layers
US10714350B2 (en)2016-11-012020-07-14ASM IP Holdings, B.V.Methods for forming a transition metal niobium nitride film on a substrate by atomic layer deposition and related semiconductor device structures
US10229833B2 (en)2016-11-012019-03-12Asm Ip Holding B.V.Methods for forming a transition metal nitride film on a substrate by atomic layer deposition and related semiconductor device structures
US10435790B2 (en)2016-11-012019-10-08Asm Ip Holding B.V.Method of subatmospheric plasma-enhanced ALD using capacitively coupled electrodes with narrow gap
US10643904B2 (en)2016-11-012020-05-05Asm Ip Holdings B.V.Methods for forming a semiconductor device and related semiconductor device structures
US10134757B2 (en)2016-11-072018-11-20Asm Ip Holding B.V.Method of processing a substrate and a device manufactured by using the method
KR102546317B1 (ko)2016-11-152023-06-21에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기체 공급 유닛 및 이를 포함하는 기판 처리 장치
US10340135B2 (en)2016-11-282019-07-02Asm Ip Holding B.V.Method of topologically restricted plasma-enhanced cyclic deposition of silicon or metal nitride
KR102762543B1 (ko)2016-12-142025-02-05에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판 처리 장치
US11581186B2 (en)2016-12-152023-02-14Asm Ip Holding B.V.Sequential infiltration synthesis apparatus
US11447861B2 (en)2016-12-152022-09-20Asm Ip Holding B.V.Sequential infiltration synthesis apparatus and a method of forming a patterned structure
US9916980B1 (en)2016-12-152018-03-13Asm Ip Holding B.V.Method of forming a structure on a substrate
KR102700194B1 (ko)2016-12-192024-08-28에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판 처리 장치
US10269558B2 (en)2016-12-222019-04-23Asm Ip Holding B.V.Method of forming a structure on a substrate
US10867788B2 (en)2016-12-282020-12-15Asm Ip Holding B.V.Method of forming a structure on a substrate
US11390950B2 (en)2017-01-102022-07-19Asm Ip Holding B.V.Reactor system and method to reduce residue buildup during a film deposition process
US10655221B2 (en)2017-02-092020-05-19Asm Ip Holding B.V.Method for depositing oxide film by thermal ALD and PEALD
US10468261B2 (en)2017-02-152019-11-05Asm Ip Holding B.V.Methods for forming a metallic film on a substrate by cyclical deposition and related semiconductor device structures
US10529563B2 (en)2017-03-292020-01-07Asm Ip Holdings B.V.Method for forming doped metal oxide films on a substrate by cyclical deposition and related semiconductor device structures
US10283353B2 (en)2017-03-292019-05-07Asm Ip Holding B.V.Method of reforming insulating film deposited on substrate with recess pattern
US10103040B1 (en)2017-03-312018-10-16Asm Ip Holding B.V.Apparatus and method for manufacturing a semiconductor device
USD830981S1 (en)2017-04-072018-10-16Asm Ip Holding B.V.Susceptor for semiconductor substrate processing apparatus
KR102457289B1 (ko)2017-04-252022-10-21에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.박막 증착 방법 및 반도체 장치의 제조 방법
US10446393B2 (en)2017-05-082019-10-15Asm Ip Holding B.V.Methods for forming silicon-containing epitaxial layers and related semiconductor device structures
US10892156B2 (en)2017-05-082021-01-12Asm Ip Holding B.V.Methods for forming a silicon nitride film on a substrate and related semiconductor device structures
US10770286B2 (en)2017-05-082020-09-08Asm Ip Holdings B.V.Methods for selectively forming a silicon nitride film on a substrate and related semiconductor device structures
US10504742B2 (en)2017-05-312019-12-10Asm Ip Holding B.V.Method of atomic layer etching using hydrogen plasma
US10886123B2 (en)2017-06-022021-01-05Asm Ip Holding B.V.Methods for forming low temperature semiconductor layers and related semiconductor device structures
US12040200B2 (en)2017-06-202024-07-16Asm Ip Holding B.V.Semiconductor processing apparatus and methods for calibrating a semiconductor processing apparatus
US11306395B2 (en)2017-06-282022-04-19Asm Ip Holding B.V.Methods for depositing a transition metal nitride film on a substrate by atomic layer deposition and related deposition apparatus
US10685834B2 (en)2017-07-052020-06-16Asm Ip Holdings B.V.Methods for forming a silicon germanium tin layer and related semiconductor device structures
KR20190009245A (ko)2017-07-182019-01-28에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.반도체 소자 구조물 형성 방법 및 관련된 반도체 소자 구조물
US11018002B2 (en)2017-07-192021-05-25Asm Ip Holding B.V.Method for selectively depositing a Group IV semiconductor and related semiconductor device structures
US10541333B2 (en)2017-07-192020-01-21Asm Ip Holding B.V.Method for depositing a group IV semiconductor and related semiconductor device structures
US11374112B2 (en)2017-07-192022-06-28Asm Ip Holding B.V.Method for depositing a group IV semiconductor and related semiconductor device structures
US10312055B2 (en)2017-07-262019-06-04Asm Ip Holding B.V.Method of depositing film by PEALD using negative bias
US10590535B2 (en)2017-07-262020-03-17Asm Ip Holdings B.V.Chemical treatment, deposition and/or infiltration apparatus and method for using the same
US10605530B2 (en)2017-07-262020-03-31Asm Ip Holding B.V.Assembly of a liner and a flange for a vertical furnace as well as the liner and the vertical furnace
TWI815813B (zh)2017-08-042023-09-21荷蘭商Asm智慧財產控股公司用於分配反應腔內氣體的噴頭總成
US10770336B2 (en)2017-08-082020-09-08Asm Ip Holding B.V.Substrate lift mechanism and reactor including same
US10692741B2 (en)2017-08-082020-06-23Asm Ip Holdings B.V.Radiation shield
US11139191B2 (en)2017-08-092021-10-05Asm Ip Holding B.V.Storage apparatus for storing cassettes for substrates and processing apparatus equipped therewith
US10249524B2 (en)2017-08-092019-04-02Asm Ip Holding B.V.Cassette holder assembly for a substrate cassette and holding member for use in such assembly
US11769682B2 (en)2017-08-092023-09-26Asm Ip Holding B.V.Storage apparatus for storing cassettes for substrates and processing apparatus equipped therewith
US10236177B1 (en)2017-08-222019-03-19ASM IP Holding B.V..Methods for depositing a doped germanium tin semiconductor and related semiconductor device structures
USD900036S1 (en)2017-08-242020-10-27Asm Ip Holding B.V.Heater electrical connector and adapter
US11830730B2 (en)2017-08-292023-11-28Asm Ip Holding B.V.Layer forming method and apparatus
US11295980B2 (en)2017-08-302022-04-05Asm Ip Holding B.V.Methods for depositing a molybdenum metal film over a dielectric surface of a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures
US11056344B2 (en)2017-08-302021-07-06Asm Ip Holding B.V.Layer forming method
KR102491945B1 (ko)2017-08-302023-01-26에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판 처리 장치
KR102401446B1 (ko)2017-08-312022-05-24에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판 처리 장치
KR102630301B1 (ko)2017-09-212024-01-29에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.침투성 재료의 순차 침투 합성 방법 처리 및 이를 이용하여 형성된 구조물 및 장치
US10844484B2 (en)2017-09-222020-11-24Asm Ip Holding B.V.Apparatus for dispensing a vapor phase reactant to a reaction chamber and related methods
US10658205B2 (en)2017-09-282020-05-19Asm Ip Holdings B.V.Chemical dispensing apparatus and methods for dispensing a chemical to a reaction chamber
US10403504B2 (en)2017-10-052019-09-03Asm Ip Holding B.V.Method for selectively depositing a metallic film on a substrate
US10319588B2 (en)2017-10-102019-06-11Asm Ip Holding B.V.Method for depositing a metal chalcogenide on a substrate by cyclical deposition
US10923344B2 (en)2017-10-302021-02-16Asm Ip Holding B.V.Methods for forming a semiconductor structure and related semiconductor structures
US10910262B2 (en)2017-11-162021-02-02Asm Ip Holding B.V.Method of selectively depositing a capping layer structure on a semiconductor device structure
KR102443047B1 (ko)2017-11-162022-09-14에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판 처리 장치 방법 및 그에 의해 제조된 장치
US11022879B2 (en)2017-11-242021-06-01Asm Ip Holding B.V.Method of forming an enhanced unexposed photoresist layer
CN111344522B (zh)2017-11-272022-04-12阿斯莫Ip控股公司包括洁净迷你环境的装置
WO2019103613A1 (en)2017-11-272019-05-31Asm Ip Holding B.V.A storage device for storing wafer cassettes for use with a batch furnace
US10290508B1 (en)2017-12-052019-05-14Asm Ip Holding B.V.Method for forming vertical spacers for spacer-defined patterning
US10872771B2 (en)2018-01-162020-12-22Asm Ip Holding B. V.Method for depositing a material film on a substrate within a reaction chamber by a cyclical deposition process and related device structures
KR102695659B1 (ko)2018-01-192024-08-14에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.플라즈마 보조 증착에 의해 갭 충진 층을 증착하는 방법
TWI799494B (zh)2018-01-192023-04-21荷蘭商Asm 智慧財產控股公司沈積方法
USD903477S1 (en)2018-01-242020-12-01Asm Ip Holdings B.V.Metal clamp
US11018047B2 (en)2018-01-252021-05-25Asm Ip Holding B.V.Hybrid lift pin
US10535516B2 (en)2018-02-012020-01-14Asm Ip Holdings B.V.Method for depositing a semiconductor structure on a surface of a substrate and related semiconductor structures
USD880437S1 (en)2018-02-012020-04-07Asm Ip Holding B.V.Gas supply plate for semiconductor manufacturing apparatus
US11081345B2 (en)2018-02-062021-08-03Asm Ip Holding B.V.Method of post-deposition treatment for silicon oxide film
WO2019158960A1 (en)2018-02-142019-08-22Asm Ip Holding B.V.A method for depositing a ruthenium-containing film on a substrate by a cyclical deposition process
US10896820B2 (en)2018-02-142021-01-19Asm Ip Holding B.V.Method for depositing a ruthenium-containing film on a substrate by a cyclical deposition process
US10731249B2 (en)2018-02-152020-08-04Asm Ip Holding B.V.Method of forming a transition metal containing film on a substrate by a cyclical deposition process, a method for supplying a transition metal halide compound to a reaction chamber, and related vapor deposition apparatus
KR102636427B1 (ko)2018-02-202024-02-13에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판 처리 방법 및 장치
US10658181B2 (en)2018-02-202020-05-19Asm Ip Holding B.V.Method of spacer-defined direct patterning in semiconductor fabrication
US10975470B2 (en)2018-02-232021-04-13Asm Ip Holding B.V.Apparatus for detecting or monitoring for a chemical precursor in a high temperature environment
US11473195B2 (en)2018-03-012022-10-18Asm Ip Holding B.V.Semiconductor processing apparatus and a method for processing a substrate
US11629406B2 (en)2018-03-092023-04-18Asm Ip Holding B.V.Semiconductor processing apparatus comprising one or more pyrometers for measuring a temperature of a substrate during transfer of the substrate
US11114283B2 (en)2018-03-162021-09-07Asm Ip Holding B.V.Reactor, system including the reactor, and methods of manufacturing and using same
KR102646467B1 (ko)2018-03-272024-03-11에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판 상에 전극을 형성하는 방법 및 전극을 포함하는 반도체 소자 구조
US10510536B2 (en)2018-03-292019-12-17Asm Ip Holding B.V.Method of depositing a co-doped polysilicon film on a surface of a substrate within a reaction chamber
US11230766B2 (en)2018-03-292022-01-25Asm Ip Holding B.V.Substrate processing apparatus and method
US11088002B2 (en)2018-03-292021-08-10Asm Ip Holding B.V.Substrate rack and a substrate processing system and method
KR102501472B1 (ko)2018-03-302023-02-20에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판 처리 방법
KR102600229B1 (ko)2018-04-092023-11-10에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판 지지 장치, 이를 포함하는 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법
US12025484B2 (en)2018-05-082024-07-02Asm Ip Holding B.V.Thin film forming method
TWI811348B (zh)2018-05-082023-08-11荷蘭商Asm 智慧財產控股公司藉由循環沉積製程於基板上沉積氧化物膜之方法及相關裝置結構
US12272527B2 (en)2018-05-092025-04-08Asm Ip Holding B.V.Apparatus for use with hydrogen radicals and method of using same
KR20190129718A (ko)2018-05-112019-11-20에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판 상에 피도핑 금속 탄화물 막을 형성하는 방법 및 관련 반도체 소자 구조
KR102596988B1 (ko)2018-05-282023-10-31에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판 처리 방법 및 그에 의해 제조된 장치
US11718913B2 (en)2018-06-042023-08-08Asm Ip Holding B.V.Gas distribution system and reactor system including same
TWI840362B (zh)2018-06-042024-05-01荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司水氣降低的晶圓處置腔室
US11286562B2 (en)2018-06-082022-03-29Asm Ip Holding B.V.Gas-phase chemical reactor and method of using same
KR102568797B1 (ko)2018-06-212023-08-21에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판 처리 시스템
US10797133B2 (en)2018-06-212020-10-06Asm Ip Holding B.V.Method for depositing a phosphorus doped silicon arsenide film and related semiconductor device structures
TWI873894B (zh)2018-06-272025-02-21荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司用於形成含金屬材料及包含含金屬材料的膜及結構之循環沉積方法
KR102854019B1 (ko)2018-06-272025-09-02에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.금속 함유 재료를 형성하기 위한 주기적 증착 방법 및 금속 함유 재료를 포함하는 필름 및 구조체
KR102686758B1 (ko)2018-06-292024-07-18에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.박막 증착 방법 및 반도체 장치의 제조 방법
US10612136B2 (en)2018-06-292020-04-07ASM IP Holding, B.V.Temperature-controlled flange and reactor system including same
US10755922B2 (en)2018-07-032020-08-25Asm Ip Holding B.V.Method for depositing silicon-free carbon-containing film as gap-fill layer by pulse plasma-assisted deposition
US10388513B1 (en)2018-07-032019-08-20Asm Ip Holding B.V.Method for depositing silicon-free carbon-containing film as gap-fill layer by pulse plasma-assisted deposition
US10767789B2 (en)2018-07-162020-09-08Asm Ip Holding B.V.Diaphragm valves, valve components, and methods for forming valve components
US10483099B1 (en)2018-07-262019-11-19Asm Ip Holding B.V.Method for forming thermally stable organosilicon polymer film
US11053591B2 (en)2018-08-062021-07-06Asm Ip Holding B.V.Multi-port gas injection system and reactor system including same
US10883175B2 (en)2018-08-092021-01-05Asm Ip Holding B.V.Vertical furnace for processing substrates and a liner for use therein
US10829852B2 (en)2018-08-162020-11-10Asm Ip Holding B.V.Gas distribution device for a wafer processing apparatus
US11430674B2 (en)2018-08-222022-08-30Asm Ip Holding B.V.Sensor array, apparatus for dispensing a vapor phase reactant to a reaction chamber and related methods
KR102707956B1 (ko)2018-09-112024-09-19에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.박막 증착 방법
US11024523B2 (en)2018-09-112021-06-01Asm Ip Holding B.V.Substrate processing apparatus and method
CN110970344B (zh)2018-10-012024-10-25Asmip控股有限公司衬底保持设备、包含所述设备的系统及其使用方法
US11232963B2 (en)2018-10-032022-01-25Asm Ip Holding B.V.Substrate processing apparatus and method
KR102592699B1 (ko)2018-10-082023-10-23에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판 지지 유닛 및 이를 포함하는 박막 증착 장치와 기판 처리 장치
US10847365B2 (en)2018-10-112020-11-24Asm Ip Holding B.V.Method of forming conformal silicon carbide film by cyclic CVD
US10811256B2 (en)2018-10-162020-10-20Asm Ip Holding B.V.Method for etching a carbon-containing feature
KR102605121B1 (ko)2018-10-192023-11-23에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판 처리 장치 및 기판 처리 방법
KR102546322B1 (ko)2018-10-192023-06-21에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판 처리 장치 및 기판 처리 방법
USD948463S1 (en)2018-10-242022-04-12Asm Ip Holding B.V.Susceptor for semiconductor substrate supporting apparatus
US10381219B1 (en)2018-10-252019-08-13Asm Ip Holding B.V.Methods for forming a silicon nitride film
US12378665B2 (en)2018-10-262025-08-05Asm Ip Holding B.V.High temperature coatings for a preclean and etch apparatus and related methods
US11087997B2 (en)2018-10-312021-08-10Asm Ip Holding B.V.Substrate processing apparatus for processing substrates
KR102748291B1 (ko)2018-11-022024-12-31에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판 지지 유닛 및 이를 포함하는 기판 처리 장치
US11572620B2 (en)2018-11-062023-02-07Asm Ip Holding B.V.Methods for selectively depositing an amorphous silicon film on a substrate
US10818758B2 (en)2018-11-162020-10-27Asm Ip Holding B.V.Methods for forming a metal silicate film on a substrate in a reaction chamber and related semiconductor device structures
US10847366B2 (en)2018-11-162020-11-24Asm Ip Holding B.V.Methods for depositing a transition metal chalcogenide film on a substrate by a cyclical deposition process
US10559458B1 (en)2018-11-262020-02-11Asm Ip Holding B.V.Method of forming oxynitride film
US12040199B2 (en)2018-11-282024-07-16Asm Ip Holding B.V.Substrate processing apparatus for processing substrates
US11217444B2 (en)2018-11-302022-01-04Asm Ip Holding B.V.Method for forming an ultraviolet radiation responsive metal oxide-containing film
KR102636428B1 (ko)2018-12-042024-02-13에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판 처리 장치를 세정하는 방법
US11158513B2 (en)2018-12-132021-10-26Asm Ip Holding B.V.Methods for forming a rhenium-containing film on a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures
TWI874340B (zh)2018-12-142025-03-01荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司形成裝置結構之方法、其所形成之結構及施行其之系統
TWI866480B (zh)2019-01-172024-12-11荷蘭商Asm Ip 私人控股有限公司藉由循環沈積製程於基板上形成含過渡金屬膜之方法
KR102727227B1 (ko)2019-01-222024-11-07에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판 처리 장치
CN111524788B (zh)2019-02-012023-11-24Asm Ip私人控股有限公司氧化硅的拓扑选择性膜形成的方法
TWI873122B (zh)2019-02-202025-02-21荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司填充一基板之一表面內所形成的一凹槽的方法、根據其所形成之半導體結構、及半導體處理設備
TWI838458B (zh)2019-02-202024-04-11荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司用於3d nand應用中之插塞填充沉積之設備及方法
KR102626263B1 (ko)2019-02-202024-01-16에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.처리 단계를 포함하는 주기적 증착 방법 및 이를 위한 장치
TWI845607B (zh)2019-02-202024-06-21荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司用來填充形成於基材表面內之凹部的循環沉積方法及設備
TWI842826B (zh)2019-02-222024-05-21荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司基材處理設備及處理基材之方法
KR102782593B1 (ko)2019-03-082025-03-14에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.SiOC 층을 포함한 구조체 및 이의 형성 방법
US11742198B2 (en)2019-03-082023-08-29Asm Ip Holding B.V.Structure including SiOCN layer and method of forming same
KR102858005B1 (ko)2019-03-082025-09-09에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.실리콘 질화물 층을 선택적으로 증착하는 방법, 및 선택적으로 증착된 실리콘 질화물 층을 포함하는 구조체
JP2020167398A (ja)2019-03-282020-10-08エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェードアオープナーおよびドアオープナーが提供される基材処理装置
KR102809999B1 (ko)2019-04-012025-05-19에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.반도체 소자를 제조하는 방법
KR20200123380A (ko)2019-04-192020-10-29에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.층 형성 방법 및 장치
KR20200125453A (ko)2019-04-242020-11-04에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기상 반응기 시스템 및 이를 사용하는 방법
KR20200130121A (ko)2019-05-072020-11-18에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.딥 튜브가 있는 화학물질 공급원 용기
US11289326B2 (en)2019-05-072022-03-29Asm Ip Holding B.V.Method for reforming amorphous carbon polymer film
KR20200130652A (ko)2019-05-102020-11-19에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.표면 상에 재료를 증착하는 방법 및 본 방법에 따라 형성된 구조
JP7612342B2 (ja)2019-05-162025-01-14エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェーウェハボートハンドリング装置、縦型バッチ炉および方法
JP7598201B2 (ja)2019-05-162024-12-11エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェーウェハボートハンドリング装置、縦型バッチ炉および方法
USD975665S1 (en)2019-05-172023-01-17Asm Ip Holding B.V.Susceptor shaft
USD947913S1 (en)2019-05-172022-04-05Asm Ip Holding B.V.Susceptor shaft
USD935572S1 (en)2019-05-242021-11-09Asm Ip Holding B.V.Gas channel plate
USD922229S1 (en)2019-06-052021-06-15Asm Ip Holding B.V.Device for controlling a temperature of a gas supply unit
KR20200141002A (ko)2019-06-062020-12-17에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.배기 가스 분석을 포함한 기상 반응기 시스템을 사용하는 방법
KR20200141931A (ko)2019-06-102020-12-21에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.석영 에피택셜 챔버를 세정하는 방법
KR20200143254A (ko)2019-06-112020-12-23에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.개질 가스를 사용하여 전자 구조를 형성하는 방법, 상기 방법을 수행하기 위한 시스템, 및 상기 방법을 사용하여 형성되는 구조
USD944946S1 (en)2019-06-142022-03-01Asm Ip Holding B.V.Shower plate
USD931978S1 (en)2019-06-272021-09-28Asm Ip Holding B.V.Showerhead vacuum transport
KR20210005515A (ko)2019-07-032021-01-14에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판 처리 장치용 온도 제어 조립체 및 이를 사용하는 방법
JP7499079B2 (ja)2019-07-092024-06-13エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー同軸導波管を用いたプラズマ装置、基板処理方法
CN112216646A (zh)2019-07-102021-01-12Asm Ip私人控股有限公司基板支撑组件及包括其的基板处理装置
KR20210010307A (ko)2019-07-162021-01-27에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판 처리 장치
KR20210010816A (ko)2019-07-172021-01-28에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.라디칼 보조 점화 플라즈마 시스템 및 방법
KR102860110B1 (ko)2019-07-172025-09-16에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.실리콘 게르마늄 구조를 형성하는 방법
US11643724B2 (en)2019-07-182023-05-09Asm Ip Holding B.V.Method of forming structures using a neutral beam
TWI839544B (zh)2019-07-192024-04-21荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司形成形貌受控的非晶碳聚合物膜之方法
KR20210010817A (ko)2019-07-192021-01-28에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.토폴로지-제어된 비정질 탄소 중합체 막을 형성하는 방법
TWI851767B (zh)2019-07-292024-08-11荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司用於利用n型摻雜物及/或替代摻雜物選擇性沉積以達成高摻雜物併入之方法
CN112309900A (zh)2019-07-302021-02-02Asm Ip私人控股有限公司基板处理设备
US12169361B2 (en)2019-07-302024-12-17Asm Ip Holding B.V.Substrate processing apparatus and method
CN112309899A (zh)2019-07-302021-02-02Asm Ip私人控股有限公司基板处理设备
US11227782B2 (en)2019-07-312022-01-18Asm Ip Holding B.V.Vertical batch furnace assembly
US11587815B2 (en)2019-07-312023-02-21Asm Ip Holding B.V.Vertical batch furnace assembly
US11587814B2 (en)2019-07-312023-02-21Asm Ip Holding B.V.Vertical batch furnace assembly
CN112323048B (zh)2019-08-052024-02-09Asm Ip私人控股有限公司用于化学源容器的液位传感器
CN112342526A (zh)2019-08-092021-02-09Asm Ip私人控股有限公司包括冷却装置的加热器组件及其使用方法
USD965524S1 (en)2019-08-192022-10-04Asm Ip Holding B.V.Susceptor support
USD965044S1 (en)2019-08-192022-09-27Asm Ip Holding B.V.Susceptor shaft
JP2021031769A (ja)2019-08-212021-03-01エーエスエム アイピー ホールディング ビー.ブイ.成膜原料混合ガス生成装置及び成膜装置
USD940837S1 (en)2019-08-222022-01-11Asm Ip Holding B.V.Electrode
USD979506S1 (en)2019-08-222023-02-28Asm Ip Holding B.V.Insulator
USD930782S1 (en)2019-08-222021-09-14Asm Ip Holding B.V.Gas distributor
USD949319S1 (en)2019-08-222022-04-19Asm Ip Holding B.V.Exhaust duct
KR20210024423A (ko)2019-08-222021-03-05에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.홀을 구비한 구조체를 형성하기 위한 방법
US11286558B2 (en)2019-08-232022-03-29Asm Ip Holding B.V.Methods for depositing a molybdenum nitride film on a surface of a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures including a molybdenum nitride film
KR20210024420A (ko)2019-08-232021-03-05에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.비스(디에틸아미노)실란을 사용하여 peald에 의해 개선된 품질을 갖는 실리콘 산화물 막을 증착하기 위한 방법
KR102806450B1 (ko)2019-09-042025-05-12에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.희생 캡핑 층을 이용한 선택적 증착 방법
KR102733104B1 (ko)2019-09-052024-11-22에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판 처리 장치
US11562901B2 (en)2019-09-252023-01-24Asm Ip Holding B.V.Substrate processing method
CN112593212B (zh)2019-10-022023-12-22Asm Ip私人控股有限公司通过循环等离子体增强沉积工艺形成拓扑选择性氧化硅膜的方法
TWI846953B (zh)2019-10-082024-07-01荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司基板處理裝置
TW202128273A (zh)2019-10-082021-08-01荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司氣體注入系統、及將材料沉積於反應室內之基板表面上的方法
KR20210042810A (ko)2019-10-082021-04-20에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.활성 종을 이용하기 위한 가스 분배 어셈블리를 포함한 반응기 시스템 및 이를 사용하는 방법
TWI846966B (zh)2019-10-102024-07-01荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司形成光阻底層之方法及包括光阻底層之結構
US12009241B2 (en)2019-10-142024-06-11Asm Ip Holding B.V.Vertical batch furnace assembly with detector to detect cassette
TWI834919B (zh)2019-10-162024-03-11荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司氧化矽之拓撲選擇性膜形成之方法
US11637014B2 (en)2019-10-172023-04-25Asm Ip Holding B.V.Methods for selective deposition of doped semiconductor material
KR102845724B1 (ko)2019-10-212025-08-13에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.막을 선택적으로 에칭하기 위한 장치 및 방법
KR20210050453A (ko)2019-10-252021-05-07에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판 표면 상의 갭 피처를 충진하는 방법 및 이와 관련된 반도체 소자 구조
US11646205B2 (en)2019-10-292023-05-09Asm Ip Holding B.V.Methods of selectively forming n-type doped material on a surface, systems for selectively forming n-type doped material, and structures formed using same
KR20210054983A (ko)2019-11-052021-05-14에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.도핑된 반도체 층을 갖는 구조체 및 이를 형성하기 위한 방법 및 시스템
US11501968B2 (en)2019-11-152022-11-15Asm Ip Holding B.V.Method for providing a semiconductor device with silicon filled gaps
KR102861314B1 (ko)2019-11-202025-09-17에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판의 표면 상에 탄소 함유 물질을 증착하는 방법, 상기 방법을 사용하여 형성된 구조물, 및 상기 구조물을 형성하기 위한 시스템
US11450529B2 (en)2019-11-262022-09-20Asm Ip Holding B.V.Methods for selectively forming a target film on a substrate comprising a first dielectric surface and a second metallic surface
CN112951697B (zh)2019-11-262025-07-29Asmip私人控股有限公司基板处理设备
CN120432376A (zh)2019-11-292025-08-05Asm Ip私人控股有限公司基板处理设备
CN112885692B (zh)2019-11-292025-08-15Asmip私人控股有限公司基板处理设备
JP7527928B2 (ja)2019-12-022024-08-05エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー基板処理装置、基板処理方法
KR20210070898A (ko)2019-12-042021-06-15에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판 처리 장치
KR20210078405A (ko)2019-12-172021-06-28에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.바나듐 나이트라이드 층을 형성하는 방법 및 바나듐 나이트라이드 층을 포함하는 구조
KR20210080214A (ko)2019-12-192021-06-30에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판 상의 갭 피처를 충진하는 방법 및 이와 관련된 반도체 소자 구조
JP7730637B2 (ja)2020-01-062025-08-28エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェーガス供給アセンブリ、その構成要素、およびこれを含む反応器システム
JP7636892B2 (ja)2020-01-062025-02-27エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェーチャネル付きリフトピン
US11993847B2 (en)2020-01-082024-05-28Asm Ip Holding B.V.Injector
KR20210093163A (ko)2020-01-162021-07-27에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.고 종횡비 피처를 형성하는 방법
KR102675856B1 (ko)2020-01-202024-06-17에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.박막 형성 방법 및 박막 표면 개질 방법
TWI889744B (zh)2020-01-292025-07-11荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司污染物捕集系統、及擋板堆疊
TW202513845A (zh)2020-02-032025-04-01荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司半導體裝置結構及其形成方法
KR20210100010A (ko)2020-02-042021-08-13에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.대형 물품의 투과율 측정을 위한 방법 및 장치
US11776846B2 (en)2020-02-072023-10-03Asm Ip Holding B.V.Methods for depositing gap filling fluids and related systems and devices
TW202146691A (zh)2020-02-132021-12-16荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司氣體分配總成、噴淋板總成、及調整至反應室之氣體的傳導率之方法
KR20210103956A (ko)2020-02-132021-08-24에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.수광 장치를 포함하는 기판 처리 장치 및 수광 장치의 교정 방법
TWI855223B (zh)2020-02-172024-09-11荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司用於生長磷摻雜矽層之方法
CN113410160A (zh)2020-02-282021-09-17Asm Ip私人控股有限公司专用于零件清洁的系统
KR20210113043A (ko)2020-03-042021-09-15에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.반응기 시스템용 정렬 고정구
KR20210116240A (ko)2020-03-112021-09-27에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.조절성 접합부를 갖는 기판 핸들링 장치
US11876356B2 (en)2020-03-112024-01-16Asm Ip Holding B.V.Lockout tagout assembly and system and method of using same
KR102775390B1 (ko)2020-03-122025-02-28에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.타겟 토폴로지 프로파일을 갖는 층 구조를 제조하기 위한 방법
US12173404B2 (en)2020-03-172024-12-24Asm Ip Holding B.V.Method of depositing epitaxial material, structure formed using the method, and system for performing the method
KR102755229B1 (ko)2020-04-022025-01-14에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.박막 형성 방법
TWI887376B (zh)2020-04-032025-06-21荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司半導體裝置的製造方法
TWI888525B (zh)2020-04-082025-07-01荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司用於選擇性蝕刻氧化矽膜之設備及方法
US11821078B2 (en)2020-04-152023-11-21Asm Ip Holding B.V.Method for forming precoat film and method for forming silicon-containing film
KR20210128343A (ko)2020-04-152021-10-26에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.크롬 나이트라이드 층을 형성하는 방법 및 크롬 나이트라이드 층을 포함하는 구조
US11996289B2 (en)2020-04-162024-05-28Asm Ip Holding B.V.Methods of forming structures including silicon germanium and silicon layers, devices formed using the methods, and systems for performing the methods
KR20210130646A (ko)2020-04-212021-11-01에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판을 처리하기 위한 방법
TW202208671A (zh)2020-04-242022-03-01荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司形成包括硼化釩及磷化釩層的結構之方法
KR102866804B1 (ko)2020-04-242025-09-30에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.냉각 가스 공급부를 포함한 수직형 배치 퍼니스 어셈블리
CN113555279A (zh)2020-04-242021-10-26Asm Ip私人控股有限公司形成含氮化钒的层的方法及包含其的结构
KR20210132600A (ko)2020-04-242021-11-04에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.바나듐, 질소 및 추가 원소를 포함한 층을 증착하기 위한 방법 및 시스템
KR20210132612A (ko)2020-04-242021-11-04에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.바나듐 화합물들을 안정화하기 위한 방법들 및 장치
KR102783898B1 (ko)2020-04-292025-03-18에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.고체 소스 전구체 용기
KR20210134869A (ko)2020-05-012021-11-11에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.Foup 핸들러를 이용한 foup의 빠른 교환
KR102788543B1 (ko)2020-05-132025-03-27에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.반응기 시스템용 레이저 정렬 고정구
TW202146699A (zh)2020-05-152021-12-16荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司形成矽鍺層之方法、半導體結構、半導體裝置、形成沉積層之方法、及沉積系統
KR20210143653A (ko)2020-05-192021-11-29에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판 처리 장치
KR20210145079A (ko)2020-05-212021-12-01에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판을 처리하기 위한 플랜지 및 장치
KR102795476B1 (ko)2020-05-212025-04-11에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.다수의 탄소 층을 포함한 구조체 및 이를 형성하고 사용하는 방법
TWI873343B (zh)2020-05-222025-02-21荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司用於在基材上形成薄膜之反應系統
KR20210146802A (ko)2020-05-262021-12-06에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.붕소 및 갈륨을 함유한 실리콘 게르마늄 층을 증착하는 방법
TWI876048B (zh)2020-05-292025-03-11荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司基板處理方法
TW202212620A (zh)2020-06-022022-04-01荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司處理基板之設備、形成膜之方法、及控制用於處理基板之設備之方法
TW202208659A (zh)2020-06-162022-03-01荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司沉積含硼之矽鍺層的方法
TW202218133A (zh)2020-06-242022-05-01荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司形成含矽層之方法
TWI873359B (zh)2020-06-302025-02-21荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司基板處理方法
US12431354B2 (en)2020-07-012025-09-30Asm Ip Holding B.V.Silicon nitride and silicon oxide deposition methods using fluorine inhibitor
TW202202649A (zh)2020-07-082022-01-16荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司基板處理方法
KR20220010438A (ko)2020-07-172022-01-25에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.포토리소그래피에 사용하기 위한 구조체 및 방법
KR20220011092A (ko)2020-07-202022-01-27에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.전이 금속층을 포함하는 구조체를 형성하기 위한 방법 및 시스템
TWI878570B (zh)2020-07-202025-04-01荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司用於沉積鉬層之方法及系統
US12322591B2 (en)2020-07-272025-06-03Asm Ip Holding B.V.Thin film deposition process
KR20220021863A (ko)2020-08-142022-02-22에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.기판 처리 방법
US12040177B2 (en)2020-08-182024-07-16Asm Ip Holding B.V.Methods for forming a laminate film by cyclical plasma-enhanced deposition processes
TW202228863A (zh)2020-08-252022-08-01荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司清潔基板的方法、選擇性沉積的方法、及反應器系統
US11725280B2 (en)2020-08-262023-08-15Asm Ip Holding B.V.Method for forming metal silicon oxide and metal silicon oxynitride layers
TW202229601A (zh)2020-08-272022-08-01荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司形成圖案化結構的方法、操控機械特性的方法、裝置結構、及基板處理系統
TW202217045A (zh)2020-09-102022-05-01荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司沉積間隙填充流體之方法及相關系統和裝置
USD990534S1 (en)2020-09-112023-06-27Asm Ip Holding B.V.Weighted lift pin
KR20220036866A (ko)2020-09-162022-03-23에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.실리콘 산화물 증착 방법
USD1012873S1 (en)2020-09-242024-01-30Asm Ip Holding B.V.Electrode for semiconductor processing apparatus
TWI889903B (zh)2020-09-252025-07-11荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司基板處理方法
US12009224B2 (en)2020-09-292024-06-11Asm Ip Holding B.V.Apparatus and method for etching metal nitrides
KR20220045900A (ko)2020-10-062022-04-13에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.실리콘 함유 재료를 증착하기 위한 증착 방법 및 장치
CN114293174A (zh)2020-10-072022-04-08Asm Ip私人控股有限公司气体供应单元和包括气体供应单元的衬底处理设备
TW202229613A (zh)2020-10-142022-08-01荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司於階梯式結構上沉積材料的方法
TW202232565A (zh)2020-10-152022-08-16荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司製造半導體裝置之方法及使用乙太網路控制自動化技術之基板處理裝置
TW202217037A (zh)2020-10-222022-05-01荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司沉積釩金屬的方法、結構、裝置及沉積總成
TW202223136A (zh)2020-10-282022-06-16荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司用於在基板上形成層之方法、及半導體處理系統
TW202229620A (zh)2020-11-122022-08-01特文特大學沉積系統、用於控制反應條件之方法、沉積方法
TW202229795A (zh)2020-11-232022-08-01荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司具注入器之基板處理設備
TW202235649A (zh)2020-11-242022-09-16荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司填充間隙之方法與相關之系統及裝置
TW202235675A (zh)2020-11-302022-09-16荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司注入器、及基板處理設備
US12255053B2 (en)2020-12-102025-03-18Asm Ip Holding B.V.Methods and systems for depositing a layer
TW202233884A (zh)2020-12-142022-09-01荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司形成臨限電壓控制用之結構的方法
US11946137B2 (en)2020-12-162024-04-02Asm Ip Holding B.V.Runout and wobble measurement fixtures
TW202232639A (zh)2020-12-182022-08-16荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司具有可旋轉台的晶圓處理設備
TW202226899A (zh)2020-12-222022-07-01荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司具匹配器的電漿處理裝置
TW202231903A (zh)2020-12-222022-08-16荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司過渡金屬沉積方法、過渡金屬層、用於沉積過渡金屬於基板上的沉積總成
TW202242184A (zh)2020-12-222022-11-01荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司前驅物膠囊、前驅物容器、氣相沉積總成、及將固態前驅物裝載至前驅物容器中之方法
USD981973S1 (en)2021-05-112023-03-28Asm Ip Holding B.V.Reactor wall for substrate processing apparatus
USD980813S1 (en)2021-05-112023-03-14Asm Ip Holding B.V.Gas flow control plate for substrate processing apparatus
USD980814S1 (en)2021-05-112023-03-14Asm Ip Holding B.V.Gas distributor for substrate processing apparatus
USD990441S1 (en)2021-09-072023-06-27Asm Ip Holding B.V.Gas flow control plate
USD1060598S1 (en)2021-12-032025-02-04Asm Ip Holding B.V.Split showerhead cover

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication numberPriority datePublication dateAssigneeTitle
JPH0673543A (ja)*1992-08-281994-03-15Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd連続真空蒸着装置
JP2004010989A (ja)*2002-06-102004-01-15Sony Corp薄膜形成装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication numberPriority datePublication dateAssigneeTitle
JPH0673543A (ja)*1992-08-281994-03-15Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd連続真空蒸着装置
JP2004010989A (ja)*2002-06-102004-01-15Sony Corp薄膜形成装置

Also Published As

Publication numberPublication date
KR20100020834A (ko)2010-02-23

Similar Documents

PublicationPublication DateTitle
KR101017170B1 (ko)백 메탈 공정챔버
US8183502B2 (en)Mounting table structure and heat treatment apparatus
US7901545B2 (en)Ionized physical vapor deposition (iPVD) process
KR100628888B1 (ko)샤워 헤드 온도 조절 장치 및 이를 갖는 막 형성 장치
EP2248595B1 (en)Apparatus for depositing organic material and depositing method thereof
KR20010079978A (ko)다중 챔버 반도체 웨이퍼 처리 시스템중 전이 챔버를사용하여 반도체 웨이퍼상에 재료를 증착하기 위한 방법및 장치
JP2001329370A (ja)Cvd装置
JP2003119562A (ja)インラインスパッタリング装置及びスパッタリング方法
US12344929B2 (en)Multi-functional shutter disk for thin film deposition chamber
TWI762461B (zh)具有多組四腔室的設備及處理腔室系統
US20130101749A1 (en)Method and Apparatus for Enhanced Film Uniformity
US8889547B2 (en)Sputtering and aligning multiple layers having different boundaries
JP7741097B2 (ja)ウエハエッジにおける材料特性を維持するためのリップシールエッジエクスクルージョン処理
US20230175114A1 (en)Sputtering apparatus and control method
KR20120121266A (ko)태양전지 제조용 열처리장치 및 이에 의하여 제조된 태양전지
KR100959213B1 (ko)백 메탈 공정챔버
KR20100020831A (ko)백 메탈 공정챔버
KR100875357B1 (ko)백 메탈 공정 챔버 시스템
WO2011142193A1 (ja)金属膜形成システム、金属膜形成方法及びコンピュータ記憶媒体
US20140174907A1 (en)High Deposition Rate Chamber with Co-Sputtering Capabilities
KR102191323B1 (ko)자동화된 기판 측면부 증착 방법
JP2001230217A (ja)基板処理装置及び方法
KR20060085358A (ko)막 형성 장치
KR20090056166A (ko)백 메탈 공정챔버
US20140144771A1 (en)Cooling Efficiency Method for Fluid Cooled Sputter Guns

Legal Events

DateCodeTitleDescription
A201Request for examination
PA0109Patent application

St.27 status event code:A-0-1-A10-A12-nap-PA0109

PA0201Request for examination

St.27 status event code:A-1-2-D10-D11-exm-PA0201

PG1501Laying open of application

St.27 status event code:A-1-1-Q10-Q12-nap-PG1501

E902Notification of reason for refusal
PE0902Notice of grounds for rejection

St.27 status event code:A-1-2-D10-D21-exm-PE0902

E13-X000Pre-grant limitation requested

St.27 status event code:A-2-3-E10-E13-lim-X000

P11-X000Amendment of application requested

St.27 status event code:A-2-2-P10-P11-nap-X000

P13-X000Application amended

St.27 status event code:A-2-2-P10-P13-nap-X000

E701Decision to grant or registration of patent right
PE0701Decision of registration

St.27 status event code:A-1-2-D10-D22-exm-PE0701

GRNTWritten decision to grant
PR0701Registration of establishment

St.27 status event code:A-2-4-F10-F11-exm-PR0701

PR1002Payment of registration fee

St.27 status event code:A-2-2-U10-U11-oth-PR1002

Fee payment year number:1

PG1601Publication of registration

St.27 status event code:A-4-4-Q10-Q13-nap-PG1601

LAPSLapse due to unpaid annual fee
PC1903Unpaid annual fee

St.27 status event code:A-4-4-U10-U13-oth-PC1903

Not in force date:20140217

Payment event data comment text:Termination Category : DEFAULT_OF_REGISTRATION_FEE

PC1903Unpaid annual fee

St.27 status event code:N-4-6-H10-H13-oth-PC1903

Ip right cessation event data comment text:Termination Category : DEFAULT_OF_REGISTRATION_FEE

Not in force date:20140217

P22-X000Classification modified

St.27 status event code:A-4-4-P10-P22-nap-X000

PN2301Change of applicant

St.27 status event code:A-5-5-R10-R13-asn-PN2301

St.27 status event code:A-5-5-R10-R11-asn-PN2301

R18-X000Changes to party contact information recorded

St.27 status event code:A-5-5-R10-R18-oth-X000

P22-X000Classification modified

St.27 status event code:A-4-4-P10-P22-nap-X000


[8]ページ先頭

©2009-2025 Movatter.jp