KR100841902B1 - Liquid Crystal Display Panel Reinspection System and Liquid Crystal Display Panel Inspection Reinspection Method - Google Patents

Abstract

Translated fromKorean

액정표시패널을 재검사하는 시스템에 있어서, 액정표시패널의 검사 결과 나타난 불량 검사 정보를 저장하는 저장부와 상기 저장된 불량 검사 정보를 시각화하는 시각화부로 이루어진 제어부; 상기 저장된 불량 검사 정보 및 시각화된 정보를 합성하는 합성부; 상기 합성된 정보를 검사용 보드로 전송하는 전송부; 및 상기 전송된 정보를 액정표시패널 상에 직접 표시하는 표시부로 이루어지는 것을 특징으로 한다. 한편, 상기 시각화부는 불량 검사 정보를 화살표 또는 좌표번호로 표시하는 것을 특징으로 하며, 상기 불량 검사 정보가 하나 이상인 경우, 동시에 또는 순차적으로 표시될 수 있다.A system for re-inspecting a liquid crystal display panel, comprising: a control unit including a storage unit storing defect inspection information resulting from an inspection of the liquid crystal display panel and a visualization unit visualizing the stored defect inspection information; A synthesizer configured to synthesize the stored defect inspection information and the visualized information; A transmission unit for transmitting the synthesized information to a test board; And a display unit for directly displaying the transmitted information on the liquid crystal display panel. On the other hand, the visualization unit is characterized in that to display the defect inspection information by an arrow or a coordinate number, when the defect inspection information is one or more, it may be displayed simultaneously or sequentially.

기존에는 액정표시패널의 불량 정보를 1차적으로 확인한 후, 확인된 좌표값을 이용하여 다시 불량 정보를 찾아보는 방법을 이용했기 때문에 직접 패널 상에서 불량 검사 정보를 확인할 수가 없어서 시간 및 효율이 떨어진다는 단점이 있었다. 그러나, 본 발명에 의하면, 액정표시패널을 재검사하는 경우 불량 검사 정보를 직접 액정표시패널 상에 나타내기 때문에 한번에 불량 검사 정보를 확인하여 액정표시패널을 폐기하거나 불량 검사 정보를 수선하기 쉬워졌다는 장점이 있다.In the past, the defect information of the liquid crystal display panel was first checked, and then the defect information was searched again by using the confirmed coordinate value. There was this. However, according to the present invention, when re-inspecting the liquid crystal display panel, defect inspection information is directly displayed on the liquid crystal display panel, so it is easy to confirm the defect inspection information at once and to discard the liquid crystal display panel or to repair the defective inspection information. have.

액정표시패널, 불량 검사 정보, 검사 방법LCD panel, defect inspection information, inspection method

Description

Translated fromKorean

액정표시패널 재검사 시스템 및 이를 이용한 액정표시패널 제검사 재검사 방법{System for reexaminating LCD and Method for reexaminating LCD using thereof}System for reexaminating LCD and Method for reexaminating LCD using example

도 1은 본 발명에 따른 액정표시패널의 셀 불량 검사의 시스템 구성도,1 is a system configuration diagram of cell defect inspection of a liquid crystal display panel according to the present invention;

도 2는 도 1에 따른 시스템 구성도를 구체적으로 나타낸 도면,2 is a view showing in detail the system configuration according to FIG.

도 3은 본 발명에 따른 액정표시패널의 불량 셀을 검사하는 단계를 나타낸 흐름도이다.3 is a flowchart illustrating a step of inspecting defective cells of the liquid crystal display panel according to the present invention.

♣도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명♣♣ Explanation of symbols for the main parts of the drawing

1: 저장부 2: 시각화부            1: storage unit 2: visualization unit

3: 합성부 4: 전송부            3: synthesis section 4: transmission section

5: 표시부     5: display unit

본 발명은 액정표시소자(Liquid Crystal Display Device : "LCD") 셀 불량의 재검사 시스템 및 재검사 방법에 관한 것으로서, 특히 불량 셀의 재검사시 검사 시 간이 단축되고 작업 효율을 향상시키기 위한 발명이다.BACKGROUND OF THEINVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a re-inspection system and re-inspection method of a liquid crystal display device (“LCD”) cell failure, and more particularly, to reduce inspection time and improve work efficiency when re-inspecting a defective cell.

액정표시소자는 셀 단위를 이루는 액정 셀의 형성 공정을 동반하는 패널 상판 및 하판의 제조공정과, 액정 배향을 위한 배향막의 형성 및 러빙 공정과, 상판 및 하판의 합착 공정과, 합착된 상판 및 하판 사이에 액정을 주입하고 봉지하는 공정 등의 과정을 거쳐 완성된다. 이때 액정표시소자에 색상불량, 암점 등의 점 결함이나 인접한 데이터 라인간의 단락으로 인해 발생하는 선 결함 등이 발생하게 되며, 이러한 결함은 불량 셀 검사작업에 의하여 발견되어 폐기 또는 수선 작업이 진행된다.The liquid crystal display device includes a manufacturing process of the upper and lower panels of the panel, and a process of forming and rubbing the alignment layer for liquid crystal alignment, bonding the upper and lower plates, and bonding the upper and lower plates together. The process is completed through a process of injecting and encapsulating a liquid crystal in between. In this case, line defects generated due to point defects such as color defects, dark spots, or short circuits between adjacent data lines are generated in the liquid crystal display device. Such defects are detected by a defective cell inspection operation and are disposed of or repaired.

불량 셀을 탐지하기 위하여 완성된 액정 패널의 화면에 테스트 패턴을 띄워 불량이 있는 셀을 찾는다. 즉, 액정표시소자가 완성된 후 검사단계를 거쳐 불량 셀의 정보가 저장장치에 저장이 되면, 저장된 좌표값과 액정표시소자의 화면을 비교하면서 불량 위치를 찾아 불량을 수정하거나 혹은 불량이 수정될 수 없는 정도의 결함인 경우에는 액정표시소자를 폐기시킨다.In order to detect a defective cell, a test pattern is displayed on the screen of the completed liquid crystal panel to find a defective cell. That is, when the information of the defective cell is stored in the storage device after the liquid crystal display device is completed and the inspection step is performed, the defective coordinates may be found or corrected by comparing the stored coordinate values with the screen of the liquid crystal display device. In the case of defects of an indefinite degree, the liquid crystal display element is discarded.

종래의 액정표시소자의 셀 불량 검사방법을 좀 더 구체적으로 살펴보면, 검사될 액정패널을 로딩하고 검사하는 단계, 검사부에 안착된 액정패널에 테스트 패턴 신호를 공급하는 단계, 검사 과정에서 셀 불량이 발견된 위치의 좌표값을 획득하는 단계, 액정패널의 불량 셀을 레이저 빔을 이용해서 수선하는 단계 등을 거쳐 액정표시소자의 불량 셀을 검사하고 수선한다. 상기 불량 셀의 좌표값 획득 단계에서는 검사장치를 통하여 액정표시소자의 셀 결함을 확인하게 되는데, 작업자는 색상 불량, 휘점, 암점 및 선 결함 등 불량 셀을 검출하게 된다. 이때 액정패널의 화 면에 수동 조작 박스의 조작 버튼에 의해 움직이는 커서가 뜨고, 화면의 에지부에는 커서의 X-Y 좌표값이 표시된다. 작업자는 불량 셀의 위치를 파악한 다음, 수동 조작 박스의 커서 조작 버튼을 조작하여 커서의 위치를 불량 셀의 위치로 이동시키게 된다. 커서가 불량 셀의 위치로 이동되면 화면의 에지부에는 불량 셀의 X-Y좌표 값이 표시되는데, 작업자는 화면에 나타난 불량 셀의 좌표값을 모두 종이에 적거나 따로 저장장치에 저장한다. 이러한 방식으로 불량 셀들의 좌표값을 모두 알아낸 후, 불량 셀이 발견된 패널은 레이저 수선부로 이송되어 수선 작업이 이루어진다. 이때 2차 검사 작업시, 검사자는 불량 셀의 좌표값을 액정표시패널과 하나씩 비교하면서 다시 불량 셀들을 검사한다.Looking at the cell defect inspection method of the conventional liquid crystal display device in more detail, the step of loading and inspecting the liquid crystal panel to be inspected, supplying a test pattern signal to the liquid crystal panel seated on the inspection unit, found a cell defect in the inspection process The defective cells of the liquid crystal display are inspected and repaired by acquiring coordinate values of the positions, and repairing the defective cells of the liquid crystal panel using a laser beam. In the acquiring coordinate value of the defective cell, a cell defect of the liquid crystal display device is identified through an inspection apparatus. The operator detects a defective cell such as color defect, bright spot, dark spot and line defect. At this time, the cursor moving by the operation button of the manual operation box appears on the screen of the liquid crystal panel, and the X-Y coordinate value of the cursor is displayed on the edge of the screen. After determining the position of the defective cell, the operator operates the cursor manipulation button of the manual manipulation box to move the position of the cursor to the position of the defective cell. When the cursor is moved to the position of the defective cell, the X-Y coordinate value of the defective cell is displayed on the edge of the screen, and the operator writes all the coordinate values of the defective cell on the paper or stores them separately in the storage device. After all the coordinate values of the defective cells are found in this manner, the panel in which the defective cells are found is transferred to the laser repair unit to perform repair work. At this time, during the second inspection operation, the inspector compares the coordinate values of the defective cells with the liquid crystal display panel one by one and inspects the defective cells again.

그러나, 이러한 액정패널의 검사 과정은 불량 셀의 좌표값을 수동 조작을 통하여 일일이 찾아야 하고, 2차 검사시에는 1차 검사시에 기록한 좌표값을 액정표시패널과 하나씩 비교해야 하는 불편함이 있다. 또한 저장된 좌표값을 다시 액정표시패널과 비교해서 불량 셀을 검사하기 때문에 작업 능률이 저하될 뿐만 아니라 수선 작업시 오류가 발생할 소지가 있어 수선 작업에 있어서 수율이 저하된다는 문제가 발생할 수 있다. 또한 액정표시소자의 불량 셀 검사 및 수선 작업에 많은 시간이 소요되게 된다.However, in the inspection process of the liquid crystal panel, the coordinate values of the defective cells must be found manually through manual manipulation, and in the second inspection, the coordinate values recorded at the first inspection are compared with the liquid crystal display panel one by one. In addition, since the stored coordinate values are compared with the liquid crystal display panel again to inspect the defective cells, the work efficiency may be degraded, and errors may occur during the repair work, which may cause a problem that the yield is reduced in the repair work. In addition, a lot of time is required to inspect and repair defective cells of the liquid crystal display.

본 발명은 상기와 같은 문제를 해결하기 위한 것으로서, 액정표시패널의 불량 검사 정보를 직접 패널 상에 시각화하여 검사 작업의 시간이 단축되고, 작업 능률이 향상되며 액정표시패널의 수선 작업 및 폐기 작업이 효율적으로 이루어지는 것을 목적으로 한다.The present invention is to solve the above problems, by visualizing the defect inspection information of the liquid crystal display panel directly on the panel to reduce the time of inspection work, improve the work efficiency and repair and disposal of the liquid crystal display panel It aims at making it efficient.

본 발명은 액정표시패널을 재검사하는 시스템에 있어서, 액정표시패널의 1차 불량 검사 결과 나타난 점결함 또는 선결함을 포함하는 불량 검사 정보와 검사화면을 저장하는 저장부와 상기 저장된 불량 검사 정보를 시각화하는 시각화부로 구성되는 제어부; 상기 저장된 불량 검사 정보 및 시각화된 정보를 합성하는 합성부; 상기 합성된 정보를 검사용 보드로 전송하는 전송부; 및 상기 전송된 정보를 액정표시패널 상에 직접 표시하는 표시부로 이루어지는 것을 특징으로 한다.The present invention provides a system for re-inspecting a liquid crystal display panel, comprising: a storage unit storing defect inspection information and an inspection screen including point defects or predecessors as a result of the first defect inspection of the liquid crystal display panel, and visualizing the stored defect inspection information. A controller configured as a visualization unit; A synthesizer configured to synthesize the stored defect inspection information and the visualized information; A transmission unit for transmitting the synthesized information to a test board; And a display unit for directly displaying the transmitted information on the liquid crystal display panel.

또한 상기 시각화부는 불량 검사 정보를 화살표 또는 좌표번호로 표시하는 것을 특징으로 하며, 상기 불량 검사 정보가 하나 이상인 경우, 동시에 또는 순차적으로 표시되는 것을 특징으로 한다.In addition, the visualization unit is characterized by displaying the defect inspection information by an arrow or a coordinate number, and when the defect inspection information is one or more, characterized in that displayed simultaneously or sequentially.

또한, 본 발명은 액정표시패널을 재검사하는 방법에 있어서, 액정표시패널의 1차 불량 검사 결과 나타난 점결함 또는 선결함을 포함하는 불량 검사 정보를 저장하는 저장단계; 상기 저장된 불량 검사 정보를 시각화하는 시각화단계; 상기 불량 검사 정보와 시각화된 불량 검사 정보를 합성하는 합성단계; 상기 시각화된 검사 정보를 검사용 보드로 전송하는 전송단계; 및 상기 전송된 불량 검사 정보를 액정표시패널 상에 직접 표시하는 표시단계;로 이루어지는 것을 특징으로 한다.       The present invention also provides a method for re-inspecting a liquid crystal display panel, the method comprising: a storing step of storing defect inspection information including point defects or predecessors as a result of the first defect inspection of the liquid crystal display panel; A visualization step of visualizing the stored defect inspection information; A synthesis step of synthesizing the defect inspection information and visualized defect inspection information; A transmission step of transmitting the visualized inspection information to an inspection board; And a display step of directly displaying the transmitted defect inspection information on the liquid crystal display panel.

또한, 상기 시각화 단계는 불량 정보를 화살표 또는 좌표번호로 표시하는 것을 특징으로 하며, 상기 표시단계에서는 상기 불량 검사 정보가 하나 이상인 경우, 동시에 또는 순차적으로 표시되는 것을 특징으로 한다.In addition, the visualization step is characterized by displaying the failure information by the arrow or the coordinate number, in the display step, characterized in that the at least one failure inspection information, characterized in that displayed simultaneously or sequentially.

도 1은 본 발명에 따른 액정표시패널의 셀 불량 검사의 시스템 구성도이고, 도 2는 본 발명에 따른 액정표시패널의 셀 불량 검사의 시스템 구성의 구체도로서, 이하에서는 도 1 및 도 2를 참고로 본원 발명의 시스템에 대하여 설명하기로 한다.FIG. 1 is a system configuration diagram of cell defect inspection of a liquid crystal display panel according to the present invention, and FIG. 2 is a detailed diagram of a system configuration of cell defect inspection of a liquid crystal display panel according to the present invention. For reference, the system of the present invention will be described.

컴퓨터나 TV 등에 이용되는 액정표시패널의 제조가 완성된 후에, 액정표시패널에 불량 셀이 있는지 검사하는 1차 불량 검사 단계를 거친다. 완성된 액정표시패널이 검사장치로 이동하면 검사기는 액정표시패널을 로딩한다. 이때 셀 별 색상불량, 휘점(항상 켜져 있는 셀), 암점 등의 점 결함과 인접한 데이터 라인간의 단락으로 인해 발생하는 선 결함 등의 액정 패널의 불량을 검사할 수 있다. 상기 1차 불량 검사 단계를 거친 정보를 이용하여 액정표시패널의 재검사를 실시한다.After the manufacture of the liquid crystal display panel used for a computer, a TV, or the like is completed, a first defect inspection step of inspecting the liquid crystal display panel for defective cells is performed. When the completed liquid crystal display panel is moved to the inspection apparatus, the inspector loads the liquid crystal display panel. In this case, defects in the liquid crystal panel, such as line defects caused by short-circuits between point defects such as color defects, bright spots (always lit cells) and dark spots, and adjacent data lines, may be inspected. The liquid crystal display panel is retested using the information that has passed the first defect inspection step.

본 발명은 도 1에 도시된 것과 같이, 액정표시패널의 검사 결과 나타난 불량 검사 정보 및 검사화면을 저장하는 저장부(1)와, 상기 저장된 불량 검사 정보를 시각화하는 시각화부(2)와, 상기 저장된 불량 검사 정보 및 시각화된 정보를 합성하는 합성부(3), 상기 합성된 정보를 검사용 보드로 전송하는 전송부(4), 및 상기 전송된 정보를 액정표시패널 상에 직접 표시하는 표시부(5)로 구성된다.As shown in FIG. 1, the present invention provides astorage unit 1 for storing defect inspection information and an inspection screen, which are displayed as a result of an inspection of a liquid crystal display panel, avisualization unit 2 for visualizing the stored defect inspection information, and Asynthesizer 3 for synthesizing the stored defect inspection information and the visualized information, atransmission unit 4 for transmitting the synthesized information to an inspection board, and a display unit for directly displaying the transmitted information on a liquid crystal display panel ( 5) consists of.

저장부(1)는 액정표시패널에서 불량 셀이 있는지 여부를 검사하면서 나타난 불량 검사 정보(B)를 찾아 좌표값(X,Y)을 저장하고, 또한, 후술할 표시부(5)로 전송하기 위한 검사화면(A)이 저장되어 있다. 여기서 검사화면(A)은 액정표시패널을 재검사할 때 검사자가 용이하게 검사할 수 있도록 특정 패턴이 표시되는 그림파일로써, 일반적으로 bmp형식으로 저장되어 있으며, 액정표시패널의 재검사시 배경화면으로 나타난다.Thestorage unit 1 searches for the defect inspection information B that is displayed while inspecting whether there are any defective cells in the liquid crystal display panel, stores the coordinate values (X, Y), and transmits them to thedisplay unit 5 to be described later. The inspection screen A is stored. Here, the inspection screen (A) is a picture file in which a specific pattern is displayed so that the inspector can easily inspect when re-inspecting the liquid crystal display panel. The test screen (A) is generally stored in a bmp format and appears as a background screen when the liquid crystal display panel is inspected again. .

시각화부(2)는 상기 저장된 불량 검사 정보(B)를 액정표시패널 상에 직접 표시될 수 있도록 화살표 또는 좌표번호로 표시하여 좌표값을 시각화한다. 시각화하는 방법은 도 2에 나타난 바와 같이 불량 검사 정보(B)를 화살표 또는 좌표번호등으로 이미지화할 수 있으며, 불량 셀에 대응되는 위치에 원형 또는 별 형상으로 표시하여 검사자의 눈에 인식이 용이하도록 다양한 형상의 이미지를 이용할 수 있다.Thevisualization unit 2 visualizes the coordinate value by displaying the stored defect inspection information B by an arrow or a coordinate number so as to be directly displayed on the liquid crystal display panel. In the visualization method, as illustrated in FIG. 2, the defect inspection information B may be imaged by an arrow or a coordinate number, and the like may be displayed in a circular or star shape at a position corresponding to the defective cell so as to be easily recognized by the examiner's eyes. Various shapes of images can be used.

합성부(3)에서는 상기 저장부(1)에 저장된 검사화면(A)과 시각화부(2)에 의해 시각화된 불량 검사 정보(B)를 통합하여 전송할 수 있도록, 검사화면(A)과 시각화된 불량 검사정보(B)를 합성한다. 여기서, 합성된 이미지는 여러가지 형식의 파일로 저장될 수 있는데, 일반적으로 BMP형식의 파일로 저장된다. 즉, 시각화된 이미지로 생성된 불량 검사 정보(B)는 하나의 이미지 파일로 되며, 이때, 불량검사정보(B)의 불량 좌표값에 대응되는 검사파일(A)의 위치에 시각화된 불량검사정보(B)가 위치하도록 합성된다. 따라서, 배경화면으로 나타나는 검사화면(A) 위에 불량 검사 정보(B)의 좌표값과 화살표등으로 시각화된 이미지가 합성되어 액정표시패널 상에 직접 표시되기 때문에, 종래기술과 달리 별도로 마련된 불량 검사 정보 시트와 액정표시패널을 각각 확인하여 위치를 찾아낼 필요가 없다. 즉, 액정표시패널 상에 시각화된 정보를 이용하여 불량 셀의 위치를 직접 확인할 수 있다. 한편, 최근 포토샵 등을 이용하여 그림파일등의 파일에 다양한 형상이나 그림 또는 글자로 사진을 꾸미는 프로그램이 많이 개발되었는데, 이러한 통상적으로 이용되는 프로그램을 본 발명에 적용할 수도 있다.Thesynthesizer 3 visualizes the inspection screen A and the inspection screen A so that the inspection screen A stored in thestorage unit 1 and the defect inspection information B visualized by thevisualization unit 2 can be integrated and transmitted. The defect inspection information B is synthesized. In this case, the synthesized image may be stored in a file of various formats. In general, the synthesized image may be stored in a BMP format file. That is, the defect inspection information B generated as a visualized image becomes one image file, and at this time, the defect inspection information visualized at the position of the inspection file A corresponding to the defect coordinate value of the defect inspection information B is Synthesized such that (B) is located. Therefore, since the image visualized by the coordinate value of the defect inspection information B and the arrow or the like is synthesized and displayed directly on the liquid crystal display panel on the inspection screen A which appears as the background screen, defect inspection information provided separately from the prior art. It is not necessary to find the position by checking the sheet and the liquid crystal display panel respectively. That is, the location of the defective cell can be directly confirmed using the information visualized on the liquid crystal display panel. On the other hand, recently, a lot of programs for decorating pictures with various shapes, pictures, or letters in files such as picture files using Photoshop and the like have been developed. Such a commonly used program may be applied to the present invention.

여기서, 상술한 저장부(1), 시각화부(2), 합성부(3)는 모두 도 2의 PC검사기 프로그램에 대응될 수 있다.Thestorage unit 1, thevisualization unit 2, and thesynthesis unit 3 may all correspond to the PC inspector program of FIG. 2.

다음으로, 전송부(4)는 상기의 합성부(3)에 의해 합성된 정보를 표시부(5)로 전송한다. 전송부(4)에서 표시부(5)로 정보가 전송되는 방식은 여러가지가 이용될 수 있다. 즉, 도 2에서 보는 바와 같이, 전송부(4)인 BMP PCI 카드에서 표시부(5)인 QBPG 보드로 신호를 전송하여 합성된 정보가 액정표시패널 상으로 전송될 수 있다. PCI는 고속운영을 위해 마이크로프로세서와 가깝게 위치해 있는 확장 슬롯들에 부착된 장치들 간의 상호접속 시스템으로, 데이터 전송을 가능하게 한다. QBPG 보드는 수신측에 위치하여 BMP PCI 카드의 TTL버퍼에서 전송한 TTL 신호를 수신하여 처리한다. Next, thetransmission unit 4 transmits the information synthesized by thesynthesis unit 3 to thedisplay unit 5. Various methods of transmitting information from thetransmitter 4 to thedisplay unit 5 may be used. That is, as shown in FIG. 2, the synthesized information may be transmitted on the liquid crystal display panel by transmitting a signal from the BMP PCI card, which is thetransmitter 4, to the QBPG board, which is thedisplay unit 5. PCI is an interconnect system between devices attached to expansion slots located close to the microprocessor for high speed operation, enabling data transfer. The QBPG board is located at the receiving side and receives and processes the TTL signal transmitted from the TTL buffer of the BMP PCI card.

또 다른 방식으로는, PCI 데이터 신호인 TTL 병렬 신호를 단일 데이터 스트림으로 직렬화하여 고속 데이터인 LVDS 신호로 만들어 송신하고, 수신측에서 신호를 복원하여 TTL 신호를 전송할 수 있는 PCI 데이터 신호의 변환 전송 방식이 이용될 수 있다. 더욱 구체적으로는, 송신측에서 TTL 병렬 신호를 입력받으면, TTL 병렬 신호를 단일 데이터 스트림으로 직렬화하여 LVDS 신호를 형성하고, 형성한 LVDS 신호를 송신하는 단계와 상기 단계 후 수신측에서 LVDS 신호를 수신하여 직렬 데이터인 LVDS 신호를 병렬 데이터인 TTL 신호로 복원시키는 단계로 LCD 화면에 검사 정보를 전송한다.In another method, a PCI data signal is converted and transmitted by serializing a TTL parallel signal, which is a PCI data signal, into a single data stream to form an LVDS signal, which is a high-speed data, and transmitting a TTL signal by restoring the signal at a receiver. This can be used. More specifically, when the transmitting side receives the TTL parallel signal, serializing the TTL parallel signal into a single data stream to form an LVDS signal, transmitting the formed LVDS signal, and receiving the LVDS signal after the step is received. Then, the test information is transmitted to the LCD screen by restoring the serial data LVDS signal to the parallel data TTL signal.

표시부(5)는 상기와 같은 방식으로 전송된 정보를 수신하여 액정표시패널 상 에 합성된 불량 검사 정보를 표시한다.Thedisplay unit 5 receives the transmitted information in the above manner and displays the defect inspection information synthesized on the liquid crystal display panel.

한편,불량 검사 정보(B)가 하나 이상 존재하는 경우, 불량 검사 정보(B)를동시에 또는 순차적으로 표시할 수 있다. 즉, 불량 검사 정보(B)가 여러 개 있는 경우에, 불량 검사 정보를 한꺼번에 액정 표시패널 상에 표시할 수도 있고, 액정표시패널의 상부에서 하부로, 또는 좌측에서 우측으로 한 개씩 순차적으로 표시할 수도 있다. 한 개씩 순차적으로 불량 검사 정보가 표시되는 경우에는 엔터를 치거나 커서를 움직이면 다음 불량 셀로 이동하는 방식 등이 이용될 수 있다.On the other hand, when one or more defect inspection information B exists, the defect inspection information B can be displayed simultaneously or sequentially. That is, when there are a plurality of defect inspection information (B), the defect inspection information may be displayed on the liquid crystal display panel at a time, one by one from the top to the bottom of the liquid crystal display panel, or left to right one by one It may be. When the failure inspection information is sequentially displayed one by one, a method of moving to the next defective cell by pressing enter or moving the cursor may be used.

도 3은 본 발명에 따른 액정표시패널의 불량 셀을 검사하는 단계를 나타낸 흐름도로서, 이하에서는 도 3을 참고로 본원 발명의 방법에 대하여 설명하기로 한다.3 is a flowchart illustrating a step of inspecting a defective cell of a liquid crystal display panel according to the present invention. Hereinafter, the method of the present invention will be described with reference to FIG. 3.

컴퓨터나 TV 등에 이용되는 액정표시패널의 제조가 완성된 후에, 액정표시패널에 불량 셀이 있는지 검사하는 1차 불량 검사 단계를 거친다. 완성된 액정표시패널이 검사장치로 이동하면 검사기는 액정표시패널을 로딩한다. 이때 셀 별 색상불량, 휘점(항상 켜져 있는 셀), 암점 등의 점 결함과 인접한 데이터 라인간의 단락으로 인해 발생하는 선 결함 등의 액정 패널의 불량을 검사할 수 있다. 상기 1차 불량 검사 단계를 거친 정보를 이용하여 액정표시패널의 재검사를 실시한다.After the manufacture of the liquid crystal display panel used for a computer, a TV, or the like is completed, a first defect inspection step of inspecting the liquid crystal display panel for defective cells is performed. When the completed liquid crystal display panel is moved to the inspection apparatus, the inspector loads the liquid crystal display panel. In this case, defects in the liquid crystal panel, such as line defects caused by short-circuits between point defects such as color defects, bright spots (always lit cells) and dark spots, and adjacent data lines, may be inspected. The liquid crystal display panel is retested using the information that has passed the first defect inspection step.

본 발명에 따른 액정표시패널의 재검사 방법은, 액정표시패널의 검사 결과 나타난 불량 정보를 저장하는 저장단계, 상기 저장된 불량 검사 정보를 시각화하는 시각화단계, 상기 불량 검사 정보와 시각화된 정보를 합성하는 합성단계, 상기 시각화된 검사 정보를 검사용 보드로 전송하는 전송단계; 및 상기 전송된 불량 정보를 액정표시패널 상에 직접 표시하는 표시단계로 이루어진다.Re-testing method of a liquid crystal display panel according to the present invention, the storage step of storing the defect information resulting from the inspection of the liquid crystal display panel, the visualization step of visualizing the stored defect inspection information, the synthesis to synthesize the defect inspection information and the visualized information A step of transmitting the visualized inspection information to an inspection board; And a display step of directly displaying the transmitted defect information on the liquid crystal display panel.

저장단계에서는 상기 1차 불량 검사 및 재검사를 통하여 나타난 액정표시패널의 검사 파일(A)과 불량 검사 정보(B)는 모두 저장부(1)에 저장된다. 상기 검사를 통하여 저장된 불량 검사 정보(B)는 액정표시패널의 좌표값(X,Y)으로 저장이 된다. 여기서, 액정표시패널의 패턴 및 불량 검사 정보를 검사하는 단계와 이를 컴퓨터에 좌표값으로 저장하는 방식은 종래에도 사용하던 방식을 따른다.In the storing step, both the inspection file A and the defect inspection information B of the liquid crystal display panel displayed through the first defect inspection and the re-inspection are stored in thestorage unit 1. The defect inspection information B stored through the inspection is stored as coordinate values X and Y of the liquid crystal display panel. Here, the method of inspecting the pattern and the defect inspection information of the liquid crystal display panel and storing them as coordinate values in the computer follows the conventional method.

다음으로, 상기 저장된 불량 검사 정보(B)로 부터 시각화된 이미지를 생성하는 시각화 단계에서는 상기 불량 검사 정보(B)의 좌표값과 대응되는 위치의 액정표시패널 위에 화살표 표시가 되거나 좌표번호로 표시되도록 시각화한다. 시각화하는 방법은 도 1에 나타난 바와 같이 화살표 또는 좌표번호로 표시할 수 있으며, 불량 셀 위에 원형 또는 별 형상으로 표시하여 검사자의 눈에 인식이 용이하도록 다양한 형상을 이용할 수 있다. 시각화된 이미지는 검사파일(A)와 마찬가지로 BMP파일 형식으로 생성된다.Next, in the visualization step of generating a visualized image from the stored defective inspection information (B), an arrow mark or a coordinate number is displayed on the liquid crystal display panel at a position corresponding to the coordinate value of the defective inspection information (B). Visualize. The visualization method may be indicated by an arrow or a coordinate number as shown in FIG. 1, and may be displayed in a circular or star shape on a defective cell so that various shapes may be used to easily recognize the eye of the examiner. The visualized image is generated in the BMP file format like the inspection file A.

합성단계에서는 저장부(1)에 저장된 검사파일(A)과 시각화단계에서 시각화된 이미지로 생성된 불량 검사 정보(B)를 하나의 파일로 합성한다. 즉, 검사파일(A)에 시각화 단계에서 시각화된 이미지로 생성된 불량 검사 정보(B)를 하나의 이미지 파일로 만들게 된다. 이때, 불량검사정보(B)의 불량 좌표값에 대응되는 검사파일(A)의 위치에 시각화된 불량검사정보(B)가 위치하도록 합성된다. 즉, 불량 검사 정보의 좌표값에 해당되는 위치에 화살표 또는 좌표번호 등이 표시되도록 한다.In the synthesizing step, the inspection file A stored in thestorage unit 1 and the defect inspection information B generated as the image visualized in the visualization step are synthesized into one file. That is, the defect inspection information B generated as the image visualized in the visualization step in the inspection file A is made into one image file. At this time, the visualized defect inspection information B is synthesized at the position of the inspection file A corresponding to the defect coordinate value of the defect inspection information B. That is, an arrow or a coordinate number is displayed at a position corresponding to the coordinate value of the defect inspection information.

전송단계에서는 이렇게 합성된 정보를 표시부(5)로 전송된다. 상기의 합성된 정보가 표시부(5)로 전송되는 방식은 앞서 설명한 본 발명에 따른 액정표시패널의 재검사 시스템에서 이용한 방식과 동일하다.In the transmitting step, the synthesized information is transmitted to thedisplay unit 5. The synthesized information is transmitted to thedisplay unit 5 in the same manner as used in the re-inspection system of the liquid crystal display panel according to the present invention.

표시단계에서는 상기 합성된 정보가 전송되면 액정표시패널 상에 직접 불량 셀이 있는 위치가 화살표나 좌표번호 등으로 표시된다. 따라서 검사자가 한눈에 불량 셀을 확인할 수 있으며, 불량 셀을 수정할 경우에도 편리하게 이용될 수 있다. 즉, 종래에는 불량 검사 정보를 수정하기 위하여 불량 검사 정보가 기록된 시트와 액정표시패널의 위치를 일일이 대조해 보야야 하는 불편함이 있었으나, 상기와 같은 방법을 이용하면 불량 검사 정보가 액정표시패널 상에 직접 표시되므로 불량 검사 정보를 확인하는 방법이 자동화되어 검사자의 효율이 높아지며 오류율이 낮아지게 된다. 상기 불량 검사 정보가 하나 이상 존재하는 경우, 불량 검사 정보를 동시에 또는 순차적으로 표시될 수 있다. 즉, 불량 검사 정보가 여러 개 있는 경우에, 불량 검사 정보를 한꺼번에 액정 표시패널 상에 표시할 수도 있고, 액정표시패널의 상부에서 하부로, 또는 좌측에서 우측으로 한 개씩 순차적으로 표시할 수도 있다. 한 개씩 순차적으로 불량 검사 정보가 표시되는 경우에는 엔터를 치거나 커서를 움직이면 다음 불량 셀로 이동하는 방식 등이 이용될 수 있다.In the display step, when the synthesized information is transmitted, the position where the defective cell is directly displayed on the liquid crystal display panel is indicated by an arrow or a coordinate number. Therefore, the inspector can check the defective cells at a glance, and can be conveniently used even when correcting the defective cells. That is, in the related art, in order to correct the defect inspection information, it is inconvenient to check the position of the sheet on which the defect inspection information is recorded and the position of the liquid crystal display panel one by one. However, when the above method is used, the defect inspection information is displayed on the liquid crystal display panel. Because it is directly displayed on the screen, the method of checking the defect inspection information is automated, thereby increasing the inspector's efficiency and lowering the error rate. When one or more pieces of the defect inspection information exist, the defect inspection information may be displayed simultaneously or sequentially. That is, when there is a plurality of defect inspection information, the defect inspection information may be displayed on the liquid crystal display panel at once, or may be sequentially displayed one by one from the top to the bottom of the liquid crystal display panel or from left to right. When the failure inspection information is sequentially displayed one by one, a method of moving to the next defective cell by pressing enter or moving the cursor may be used.

이상과 같이 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이, 당해 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 가능한 다양한 변형 가능한 범위까지 본 발명의 청구 범위 기재의 범위 내에 있는 것으로 본다.Without departing from the gist of the invention claimed in the claims as described above, anyone skilled in the art to which the invention belongs should be within the scope of the claims described in the present invention to the extent possible various modifications possible see.

상술한 바와 같이, 본 발명은 액정표시패널의 셀 불량을 검사하는 방법으로서, 1차 검사시 발견된 셀 불량의 좌표값과 상기 좌표값의 시각화된 정보를 합성하여 액정표시패널만을 보고도 불량 셀의 위치를 빠르고 정확하게 확인할 수 있도록 하였다. 따라서 액정패널의 불량 셀의 위치를 쉽게 파악하여 불량 셀의 수선 작업이 용이하게 되었으며, 불량 셀의 수선 작업시 발생할 수 있는 오류 발생이 낮아져 수율도 향상될 수 있게 되었다.As described above, the present invention is a method for inspecting a cell defect of a liquid crystal display panel, wherein the coordinate value of the cell defect found during the first inspection and the visualized information of the coordinate value are synthesized to see only the defective cell. It was possible to check the location of the fast and accurate. Therefore, the location of the defective cells of the liquid crystal panel can be easily identified to facilitate the repair work of the defective cells, and the error occurrence that can occur during the repair work of the defective cells can be lowered, thereby improving the yield.

Claims (6)

Translated fromKorean

액정표시패널을 재검사하는 시스템에 있어서,In the system for re-inspecting the liquid crystal display panel,액정표시패널의 1차 불량 검사 결과 나타난 상기 액정표시패널의 셀 별 점결함 또는 선결함을 포함하는 불량 검사 정보 및 검사화면을 저장하는 저장부;A storage unit which stores defect inspection information and an inspection screen including point defects or predefects for each cell of the liquid crystal display panel which are displayed as a result of the primary defect inspection of the liquid crystal display panel;상기 저장된 불량 검사 정보를 시각화하는 시각화부;A visualization unit for visualizing the stored defect inspection information;상기 저장된 불량 검사 정보 및 시각화된 정보를 합성하는 합성부;A synthesizer configured to synthesize the stored defect inspection information and the visualized information;상기 합성된 정보를 검사용 보드로 전송하는 전송부; 및A transmission unit for transmitting the synthesized information to a test board; And상기 전송된 정보를 액정표시패널 상에 직접 표시하는 표시부;로 이루어지는 것을 특징으로 하는 액정표시패널의 재검사 시스템.And a display unit for directly displaying the transmitted information on the liquid crystal display panel.제 1 항에 있어서,The method of claim 1,상기 시각화부는 불량 검사 정보를 화살표 또는 좌표번호로 표시하는 것을 특징으로 하는 액정표시패널의 재검사 시스템.The visualization unit re-examination system of the liquid crystal display panel, characterized in that for displaying the defect inspection information by the arrow or coordinate number.제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,The method according to claim 1 or 2,상기 표시부는 상기 불량 검사 정보가 하나 이상인 경우, 동시에 또는 순차적으로 표시하는 것을 특징으로 하는 액정표시패널의 재검사 시스템.And the display unit displays simultaneously or sequentially when the defect inspection information is one or more.삭제delete삭제delete삭제delete

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