


본 발명은 광통신용 포토 다이오드의 수광감도 측정장치 및 방법에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 포토 다이오드의 수광감도 측정을 용이하게 하면서도, 측정의 정확도 및 정밀도의 신뢰성을 향상시킬 수 있는 포토 다이오드의 수광감도 측정장치 및 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a light receiving sensitivity measuring apparatus and method of a photodiode for optical communication, and more particularly, the light receiving sensitivity of a photodiode that can facilitate the measurement of the light receiving sensitivity of the photodiode, while improving the reliability of the accuracy and precision of the measurement. It relates to a measuring device and a method.
일반적으로, 고속 광통신용 광소자로서 레이저 다이오드와 포토 다이오드를 사용하며, 광송신 및 광수신 모듈로 완성되기 위하여는 다단계의 시험 및 조립공정을 거치게 되기 때문에, 광부품 및 광모듈 제작에 소요되는 비용이 크게 증가되고 있다. 따라서, 광소자의 광특성을 미리 측정하여, 광모듈에 사용되기에 적절한 광소자를 광모듈 조립전에 엄선할 필요성이 있다. 종래에는 수동 정렬방식의 포토 다이오드 수광감도 측정장치를 이용하여 광수신 모듈의 수신감도와 직접적인 관계가 있는 광통신용 포토 다이오드의 수광감도를 측정하였다.In general, laser diodes and photodiodes are used as optical devices for high-speed optical communication, and in order to complete the optical transmission and optical reception modules, a multi-step test and assembly process is required. This is increasing greatly. Therefore, it is necessary to measure the optical characteristics of the optical device in advance, and carefully select the optical device suitable for use in the optical module before assembling the optical module. Conventionally, the photosensitive sensitivity of an optical communication photodiode directly related to the reception sensitivity of a light receiving module was measured using a photodiode receiving sensitivity measuring apparatus of a manual alignment method.
그러면, 첨부된 도1을 참조하여 종래 기술에 따른 포토 다이오드 수광감도 측정장치 및 방법에 대하여 간략히 설명한다.Then, the photodiode receiving sensitivity measuring apparatus and method according to the prior art with reference to the accompanying Figure 1 will be briefly described.
도시된 바와 같이, 종래 기술에 따른 포토 다이오드 수광감도 측정장치는, 일단부에 빛을 발산하는 광원기(1)가 설치되어, 이 광원기(1)로부터 측정하고자하는 파장대의 빛의 이동경로를 제공하는 광섬유(2)와, 상기 광섬유(2)의 종단측 하부에 장착된 시험용 포토 다이오드(3)와, 상기 광섬유(2)의 종단부측 소정위치에 장착되어, 그를 지나는 빛이 상기 시험용 포토 다이오드(3)에 최대한 입사되도록 상기 광섬유(2)를 수평(x,y축 방향) 및 수직(z축 방향)으로 조절하는 x,y,z축 조절기(4)와, 상기 시험용 포토 다이오드(3)가 위치되는 금속재질의 받침대(5)와, 상기 시험용 포토 다이오드(3) 및 받침대(5)에 연결되어 시험용 포토 다이오드(3)에 입사된 광출력을 전류로 환산하여 읽는 전류게이지(6)를 포함한다.As shown, the photodiode receiving sensitivity measuring apparatus according to the prior art is provided with a
이와 같은 구성을 갖는 종래 기술에 따른 포토 다이오드 수광감도 측정장치를 이용하여 포토 다이오드의 수광감도를 측정하는 방법을 간략히 설명한다.A method of measuring the light receiving sensitivity of a photodiode using a photodiode light receiving sensitivity measuring apparatus according to the prior art having such a configuration will be briefly described.
참고로, 상기 광원기(1)로부터 광섬유(2)에 입사된 광출력을 L, 상기 시험용 포토 다이오드(3)의 수광감도를 R, 상기 전류게이지(6)에서 측정된 전류를 A로 나타낸다.For reference, the light output incident on the
먼저, 받침대(5)의 상면에 시험용 포토 다이오드(3)를 위치시킨 다음, 광원기(1)에서 발산된 빛 중에서 선택된 파장의 빛이 광섬유(2)로 전달되면, 광섬유(2)를 지나는 빛이 시험용 포토 다이오드(3)에 최대한 입사되도록 하기 위하여 상기 x,y,z축조절기(4)가 작동하여 광섬유(2)의 타단부 위치를 조절한다.First, the
이어, 상기 광원기(1)로부터 광섬유(2)에 입사된 광출력 L을 측정하고, 상기 시험용 포토 다이오드(3) 및 받침대(5)에 연결되어 있는 전류게이지(6)에 나타난 전류 A를 이용하여, 수광감도(R)=전류(A)/광출력(L)의 공식에 의하여 상기 시험용 포토 다이오드(3)의 수광감도를 계산한다.Then, the light output L incident from the
그러나, 상기한 바와 같은 종래 기술에 따른 포토 다이오드의 수광감도 측정장치 및 방법은, 광원기로부터 광섬유를 통하여 시험용 포토 다이오드에 입사된 광출력이 어느 정도로 포토 다이오드에 수광되는지가 불확실하며, 매 측정시마다 수동으로 정렬하게 되므로 정확한 측정위치를 파악하기 곤란하여 많은 측정오차가 생기는 문제점이 있었다.However, the photosensitive sensitivity measuring apparatus and method of the photodiode according to the prior art as described above is uncertain to what extent the light output incident on the test photodiode from the light source through the optical fiber is received by the photodiode, and every measurement There is a problem that many measurement errors occur because it is difficult to determine the exact measurement position because it is aligned manually.
또한, 광원기로부터의 광출력이 광섬유의 상태에 따라 실질적으로는 적게 나타날 수 있게 되고, 이에 따라 적절한 포토 다이오드를 선별하기 위한 수광감도의 절대평가가 부정확하여, 실질적으로는 우수한 칩을 측정상의 문제로 인하여 버려야 되므로, 제작비용이 증가되는데 다른 문제점이 있었다.In addition, the light output from the light source can be substantially reduced depending on the state of the optical fiber, and thus the absolute evaluation of the light receiving sensitivity for selecting an appropriate photodiode is inaccurate. Because it has to be discarded, there was another problem in increasing the production cost.
따라서, 본 발명은 상기한 바와 같은 문제점을 감안하여 안출한 것으로, 동심원판에 기준 포토 다이오드와 시험용 포토 다이오드를 설치하여 포토 다이오드 수광감도 측정의 안정도 및 정확도에 신뢰성을 가질 수 있도록 하며, 입사되는 광밀도가 측정위치와 상관없이 반복적으로 일정하게 하는 포토 다이오드의 수광감도 측정장치 및 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.Accordingly, the present invention has been made in view of the above-described problems, and by installing a reference photodiode and a test photodiode on a concentric disc, it is possible to have reliability in the stability and accuracy of photodiode light-sensitivity measurement, and incident light It is an object of the present invention to provide an apparatus and method for measuring photosensitive sensitivity of a photodiode in which the density is repeatedly constant regardless of the measurement position.
또한, 본 발명은 빛을 파장에 따라 선택적으로 투과시키는 파장 선택용 광필터를 구비하여 발광 다이오드와 함께 사용하므로써 발광 다이오드의 파장별 수광감도 측정범위를 최대로하는 포토 다이오드의 수광감도 측정장치 및 방법을 제공하는데 다른 목적이 있다.In addition, the present invention is provided with a wavelength selection optical filter for selectively transmitting light according to the wavelength of the photodiode receiving apparatus and method for maximizing the light receiving sensitivity measurement range for each wavelength of the light emitting diode by using it with the light emitting diode There is another purpose to provide.
도1은 종래 기술에 따른 포토 다이오드의 수광감도 측정장치의 구성도.1 is a block diagram of a light receiving sensitivity measuring apparatus of a photodiode according to the prior art.
도2는 본 발명에 따른 포토 다이오드의 수광감도 측정장치의 일실시예 구성도.Figure 2 is a configuration diagram of an embodiment of a light receiving sensitivity measuring apparatus for a photodiode according to the present invention.
*도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for the main parts of the drawings
1 : 외부전원 10 : 하우징1: external power source 10: housing
20 : 발광 다이오드 30 : 광필터20: light emitting diode 30: optical filter
40 : 동심원판 50 : 기준 포토 다이오드40: concentric disc 50: reference photodiode
60 : 시험용 포토 다이오드 70 : 출력게이지60: test photodiode 70: output gauge
80 : 전류게이지 90 : 광필터 고정대80: current gauge 90: optical filter holder
상기 목적을 달성하기 위하여 본 발명은, 전원을 인가받아 발광하는 발광수단; 상기 발광수단에서 발광된 광을 받아 광밀도가 균일하게 분포되는 수광부재; 상기 수광부재상에 인가된 광에너지를 측정하는 광에너지 측정수단; 및 상기 광에너지 측정수단의 일측에 위치되어 수광부재상에 인가된 광에너지를 전류로 변환하여 측정하는 전류측정수단을 포함하는 포토 다이오드의 수광감도 측정장치를 제공한다.In order to achieve the above object, the present invention provides a light emitting means for emitting light by applying power; A light receiving member receiving light emitted from the light emitting means and having a uniform light density; Optical energy measuring means for measuring optical energy applied to the light receiving member; And a current measuring unit positioned on one side of the optical energy measuring unit and measuring current by converting light energy applied on the light receiving member into a current.
또한, 본 발명은 외부전원으로부터 전력을 인가받은 발광 다이오드가 하우징의 내부로 빛을 발산시키는 단계; 상기 발광 다이오드로부터 발산된 빛을 동심원판상의 기준용 포토 다이오드 및 시험용 포토 다이오드가 수광하는 단계; 기준용 포토 다이오드로부터 출력된 광에너지를 출력게이지를 이용하여 측정하는 단계; 시험용 포토 다이오드에 입사된 광출력을 전류로 환산하여 전류게이지를 이용하여 측정하는 단계; 상기 측정된 기준용 포토 다이오드의 수광출력을 기준용 포토 다이오드의 면적으로 나누어 상기 수광부재상의 광밀도를 산출하는 단계; 상기 계산된 수광부재상의 광밀도와 시험용 포토 다이오드의 면적과 곱하여 시험용 포토 다이오드에 입사되는 수광출력을 산출하는 단계; 및 전류게이지를 통해 측정된 전류를 시험용 포토 다이오드에 입사되어 산출된 수광출력으로 나누어 시험용 포토 다이오드의 수광감도를 산출하는 단계를 포함하는 포토 다이오드의 수광감도 측정방법을 더 제공한다.In addition, the present invention comprises the steps of emitting light to the inside of the housing light-emitting diodes received power from an external power source; Receiving light emitted from the light emitting diode by a reference photodiode and a test photodiode on a concentric disc; Measuring the light energy output from the reference photodiode using an output gauge; Measuring the light output incident on the test photodiode by converting the current into a current using a current gauge; Calculating light density on the light receiving member by dividing the measured light receiving output of the reference photodiode by the area of the reference photodiode; Calculating a light receiving output incident on the test photodiode by multiplying the calculated light density on the light receiving member by the area of the test photodiode; And dividing the current measured through the current gauge by the light receiving output calculated by being incident on the test photodiode to calculate the light receiving sensitivity of the test photodiode.
이하, 첨부된 도2를 참조하여 본 발명의 실시예를 상세히 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying Figure 2 will be described an embodiment of the present invention;
도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 포토 다이오드의 수광감도 측정장치는, 외부의 빛을 차단하기 위하여 박스체 형상으로 이루어지고, 외부전원(1)에 연결된 전선이 인입되는 홀이 일측면에 형성된 하우징(10)과, 상기 하우징(10)의 소정 위치에 장착되어 외부전원(1)으로부터 전력을 인가받아 상기 하우징(10)의 내부로 빛을 발산하는 발광 다이오드(20)와, 상기 발광 다이오드(20)의 하측에 위치되어 발광 다이오드(20)로부터 발산된 빛의 파장을 선택적으로 투과시키는 파장 선택용 광필터(30)와, 상기 광필터(30)의 하측에 위치되며 위로 오목한 원판 형상으로 형성되어 상기 발광 다이오드(20)로부터 발산된 빛의 광밀도를 일정하게 분포하는 동심원판(40)과, 상기 동심원판(40)의 상면에 설치되어 광필터(30)를 투과한 빛을 수광하여 출력하는 기준 포토 다이오드(50) 및 시험용 포토 다이오드(60)와, 상기 기준 포토 다이오드(50)에 연결되어 기준 포토 다이오드(50)에 입사되는 광에너지를 측정하는 출력게이지(70)와, 상기 시험용 포토 다이오드(60)에 연결되어 시험용 포토 다이오드(60)에 입사된 광출력을 전류로 환산하여 읽는 전류게이지(80)를 포함한다.As shown, the light receiving sensitivity measuring apparatus of the photodiode according to the present invention is made of a box-shaped in order to block the external light, the housing is formed on one side of the hole in which the wire connected to the
여기서, 상기 발광 다이오드(20)는 동심원판(40)의 반지름에 해당하는 거리에 설치된다.Here, the
그리고, 상기 광필터(30)가 발광 다이오드(20)와 소정거리만큼 이격된 위치에 고정되도록 하우징(10)의 상부 내면에 광필터 고정대(90)가 장착되어 있다.The
또한, 본 실시예에서는 상기 동심원판(40)과 기준 포토 다이오드(50)가 이격되어 있는 것으로 설명하지만, 다른 실시예를 통하여는 상기 동심원판(40) 및 기준 포토 다이오드(50)가 일체로 형성되는 것이 가능하다.In addition, in the present embodiment, the
이와 같은 구성으로 이루어진 본 발명에 따른 측정장치를 이용한 수광감도의 측정방법을 다음과 같이 설명하며, 참고로 상기 동심원판(40)상의 광밀도를 D, 상기 출력게이지(70)로 읽게 되는 수광출력을 P, 상기 기준 포토 다이오드(50)의 면적을 M, 상기 시험용 포토 다이오드(60)의 면적을 N, 상기 시험용 포토 다이오드(60)의 수광출력을 L, 상기 전류게이지(80)에 나타난 전류를 A, 상기 시험용 포토 다이오드(50)의 수광출력을 R이라 나타낸다.A light receiving sensitivity measuring method using the measuring device according to the present invention having such a configuration will be described as follows. For reference, the light receiving power of the light density on the
먼저, 상기 발광 다이오드(20)가 외부로부터 전원을 인가받아 발광할 경우, 발광된 빛 중 특정 파장의 빛만이 광필터(30)를 투과하여 동심원판(40)상에 입사시킨다.  이때, 상기 동심원판(40)상에 입사된 특정 파장의 빛은 광밀도가 균일하게 분포되며 입사된다.First, when the
이어, 상기 기준 포토 다이오드(50)에 수광된 빛의 수광출력을 출력게이지(70)를 통하여 측정한다.  그리고, 상기 시험용 포토 다이오드(60)에 입사된 광출력을 전류로 환산하여 읽은 후에, 하기한 공식에 의하여 시험용 포토 다이오드(60)의 수광감도를 측정하게 된다.Subsequently, the light receiving output of the light received by the
즉, 상기 동심원판(40)상의 광밀도를 D=P/M의 공식으로부터 계산하고, 계산된 광밀도(D)를 이용하여 시험용 포토 다이오드(60)에 입사되는 수광출력을 L=D×N의 공식에 의하여 계산한다.That is, the light density on the
그리고, 상기 시험용 포토 다이오드(60)의 수광감도를 R=A/L의 공식에 의하여 산출하게 된다.Then, the light receiving sensitivity of the
또한, 상기 동심원판(40)상에 입사되는 수광출력은 외부전원을 증가 또는 감소시키므로써 조절하게 되며, 측정용 광파장은 파장 선택용 광필터(30)를 선택적으로 교환 및 설치하므로써 포토 다이오드의 측정시험 및 선별시험을 수행할 수 있게 된다.In addition, the light reception output incident on the
이러한 실험은, 상기 기준 포토 다이오드(50)가 동심원판(40)에 일체로 형성되고, 시험용 샘플이 되는 시험용 포토 다이오드(60)만 교체를 하면서 반복될 수 있다.This experiment may be repeated while the
이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시예 및 도면에 의해 한정되는 것은 아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능함은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.The present invention described above is not limited to the above-described embodiments and drawings, and various substitutions, modifications, and changes can be made without departing from the technical spirit of the present invention. It will be apparent to those who have
상기한 바와 같은, 본 발명에 따른 포토 다이오드의 수광감도 측정장치 및 방법은, 동심원판상에 기준 포토 다이오드와 시험용 포토 다이오드를 설치하기 때문에, 상기 두 다이오드가 동일 조건에서 수광감도를 측정하게 되므로 측정의 정밀도에 신뢰성을 향상시킬 수 있으며, 상기 두 다이오드에 수광되는 빛의 광밀도를 일정하게 유지할 수 있고, 수광감도의 측정을 위한 장치의 설치가 간편한 효과가 있다.As described above, the apparatus and method for measuring light receiving sensitivity of a photodiode according to the present invention, because the reference photodiode and the test photodiode are installed on a concentric disc, the two diodes to measure the light receiving sensitivity under the same conditions. It is possible to improve the reliability in accuracy, to maintain a constant light density of the light received by the two diodes, there is an effect that the installation of the device for the measurement of light sensitivity is easy.
또한, 광파장 선택용 광필터를 적용하여 단일 광원으로부터 입사되는 다양한 파장에 대하여 용이하게 수광감도를 측정할 수 있는 효과가 있다.In addition, there is an effect that the light receiving sensitivity can be easily measured for various wavelengths incident from a single light source by applying an optical wavelength selection optical filter.
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title | 
|---|---|---|---|
| KR1019970058902AKR100243698B1 (en) | 1997-11-08 | 1997-11-08 | Measurement apparatus and method for photodiode responsivity | 
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title | 
|---|---|---|---|
| KR1019970058902AKR100243698B1 (en) | 1997-11-08 | 1997-11-08 | Measurement apparatus and method for photodiode responsivity | 
| Publication Number | Publication Date | 
|---|---|
| KR19990038986A KR19990038986A (en) | 1999-06-05 | 
| KR100243698B1true KR100243698B1 (en) | 2000-02-01 | 
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date | 
|---|---|---|---|
| KR1019970058902AExpired - Fee RelatedKR100243698B1 (en) | 1997-11-08 | 1997-11-08 | Measurement apparatus and method for photodiode responsivity | 
| Country | Link | 
|---|---|
| KR (1) | KR100243698B1 (en) | 
| Publication number | Publication date | 
|---|---|
| KR19990038986A (en) | 1999-06-05 | 
| Publication | Publication Date | Title | 
|---|---|---|
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| KR102619436B1 (en) | Chromaticity measuring device that adjusts the position using the reference light | 
| Date | Code | Title | Description | 
|---|---|---|---|
| A201 | Request for examination | ||
| PA0109 | Patent application | St.27 status event code:A-0-1-A10-A12-nap-PA0109 | |
| PA0201 | Request for examination | St.27 status event code:A-1-2-D10-D11-exm-PA0201 | |
| R17-X000 | Change to representative recorded | St.27 status event code:A-3-3-R10-R17-oth-X000 | |
| R18-X000 | Changes to party contact information recorded | St.27 status event code:A-3-3-R10-R18-oth-X000 | |
| PG1501 | Laying open of application | St.27 status event code:A-1-1-Q10-Q12-nap-PG1501 | |
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| PE0701 | Decision of registration | St.27 status event code:A-1-2-D10-D22-exm-PE0701 | |
| GRNT | Written decision to grant | ||
| PR0701 | Registration of establishment | St.27 status event code:A-2-4-F10-F11-exm-PR0701 | |
| PR1002 | Payment of registration fee | Fee payment year number:1 St.27 status event code:A-2-2-U10-U11-oth-PR1002 | |
| PN2301 | Change of applicant | St.27 status event code:A-5-5-R10-R11-asn-PN2301 St.27 status event code:A-5-5-R10-R13-asn-PN2301 | |
| PG1601 | Publication of registration | St.27 status event code:A-4-4-Q10-Q13-nap-PG1601 | |
| PN2301 | Change of applicant | St.27 status event code:A-5-5-R10-R11-asn-PN2301 St.27 status event code:A-5-5-R10-R13-asn-PN2301 | |
| R17-X000 | Change to representative recorded | St.27 status event code:A-5-5-R10-R17-oth-X000 | |
| PN2301 | Change of applicant | St.27 status event code:A-5-5-R10-R11-asn-PN2301 St.27 status event code:A-5-5-R10-R13-asn-PN2301 | |
| PN2301 | Change of applicant | St.27 status event code:A-5-5-R10-R11-asn-PN2301 St.27 status event code:A-5-5-R10-R13-asn-PN2301 | |
| PR1001 | Payment of annual fee | Fee payment year number:4 St.27 status event code:A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 | |
| PR1001 | Payment of annual fee | Fee payment year number:5 St.27 status event code:A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 | |
| PR1001 | Payment of annual fee | Fee payment year number:6 St.27 status event code:A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 | |
| PR1001 | Payment of annual fee | Fee payment year number:7 St.27 status event code:A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 | |
| PR1001 | Payment of annual fee | Fee payment year number:8 St.27 status event code:A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 | |
| PR1001 | Payment of annual fee | Fee payment year number:9 St.27 status event code:A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 | |
| PR1001 | Payment of annual fee | Fee payment year number:10 St.27 status event code:A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 | |
| R18-X000 | Changes to party contact information recorded | St.27 status event code:A-5-5-R10-R18-oth-X000 | |
| PN2301 | Change of applicant | St.27 status event code:A-5-5-R10-R11-asn-PN2301 St.27 status event code:A-5-5-R10-R13-asn-PN2301 | |
| FPAY | Annual fee payment | Payment date:20091029 Year of fee payment:11 | |
| PR1001 | Payment of annual fee | Fee payment year number:11 St.27 status event code:A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 | |
| PN2301 | Change of applicant | St.27 status event code:A-5-5-R10-R11-asn-PN2301 St.27 status event code:A-5-5-R10-R13-asn-PN2301 | |
| LAPS | Lapse due to unpaid annual fee | ||
| PC1903 | Unpaid annual fee | Not in force date:20101118 Payment event data comment text:Termination Category : DEFAULT_OF_REGISTRATION_FEE St.27 status event code:A-4-4-U10-U13-oth-PC1903 | |
| PC1903 | Unpaid annual fee | Ip right cessation event data comment text:Termination Category : DEFAULT_OF_REGISTRATION_FEE Not in force date:20101118 St.27 status event code:N-4-6-H10-H13-oth-PC1903 | |
| R18-X000 | Changes to party contact information recorded | St.27 status event code:A-5-5-R10-R18-oth-X000 | |
| R18-X000 | Changes to party contact information recorded | St.27 status event code:A-5-5-R10-R18-oth-X000 | |
| R18-X000 | Changes to party contact information recorded | St.27 status event code:A-5-5-R10-R18-oth-X000 | |
| P22-X000 | Classification modified | St.27 status event code:A-4-4-P10-P22-nap-X000 | |
| R18-X000 | Changes to party contact information recorded | St.27 status event code:A-5-5-R10-R18-oth-X000 | |
| R18-X000 | Changes to party contact information recorded | St.27 status event code:A-5-5-R10-R18-oth-X000 | |
| PN2301 | Change of applicant | St.27 status event code:A-5-5-R10-R11-asn-PN2301 St.27 status event code:A-5-5-R10-R13-asn-PN2301 | |
| P22-X000 | Classification modified | St.27 status event code:A-4-4-P10-P22-nap-X000 | |
| P22-X000 | Classification modified | St.27 status event code:A-4-4-P10-P22-nap-X000 | |
| R18-X000 | Changes to party contact information recorded | St.27 status event code:A-5-5-R10-R18-oth-X000 | |
| R18-X000 | Changes to party contact information recorded | St.27 status event code:A-5-5-R10-R18-oth-X000 |