【発明の詳細な説明】〔産業上の利用分野〕本発明は収束光ビーム径(光ビームウェスト)測定方法
に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a method for measuring a convergent light beam diameter (light beam waist).
従来の光ビームウェスト測定方法においては、第5図に
示すとおシ、光ヘッド10の出射ビーム金横切るように
配置された一本のナイフェツジ1ix−x’方向に直線
運動あるいは回転運動させて、光軸tナイフが切断する
時間t1モニタセンサ2で受光してオッシロスコープで
Δt’2測ることによりて、測定し、ナイフの移動速度
からビームウェスト全算定している。In the conventional light beam waist measurement method, as shown in FIG. The cutting time t1 of the axis t knife is measured by receiving light with the monitor sensor 2 and measuring Δt'2 with an oscilloscope, and the total beam waist is calculated from the moving speed of the knife.
しかしながら、このビームウェスト測定装置では、最小
ビームウェスト位置までナイフェツジ全Y−Y’方向に
移動させなければならないため、高精度な送り機構が必
要であるQtた、その測定には多くの時間を要し、測定
位置が最小ビームウェスト位置であることの確認が難か
しいので、測定精度に問題があった0したがって本発明の目的は、高精度に短時間で光学ヘッ
ドのビームウェスト全測定できる光ビームウェスト測定
方法を提供することである0本発明の他の目的は、光学
ヘッドのフォーカスセンサの最適位置への設定が容易に
行なえる光ビームウェスト測定方法を提供することであ
る0〔問題点を解決するための手段〕本発明による光ビームウェスト測定方法におい、ては、
光学ヘッドから出射されたレーザビームの光軸と垂直な
方向に対して傾斜して複数個のスリット全役け、レーザ
ビームをこれらのスリット中全通過させ、通過レーザビ
ームをセンナで受光し、受光出力を微分し、微分出力の
ピーク部を検出することによってビームウェストを測定
する。However, with this beam waist measuring device, the knife must be moved in all Y-Y' directions to the minimum beam waist position, which requires a highly accurate feeding mechanism (Qt) and takes a lot of time to measure. However, since it is difficult to confirm that the measurement position is the minimum beam waist position, there is a problem in measurement accuracy. Therefore, an object of the present invention is to develop an optical beam that can measure the entire beam waist of an optical head with high precision and in a short time. It is another object of the present invention to provide a method for measuring the waist of a light beam in which the focus sensor of the optical head can be easily set to the optimum position. Means for Solving] In the optical beam waist measurement method according to the present invention,
A plurality of slits are tilted with respect to the direction perpendicular to the optical axis of the laser beam emitted from the optical head, and the laser beam is passed through all of these slits, and the passing laser beam is received by the sensor. The beam waist is measured by differentiating the output and detecting the peak of the differential output.
次に、本発明の一実施例金示した図面全参照して1本発
明の詳細な説明する。Next, one embodiment of the present invention will be described in detail with reference to all the drawings showing one embodiment of the present invention.
第1図を参照すると、光学ヘッド10の対物レンズ11
から出射されたレーザビーム12の光軸を横切るように
、透明円板50が配置されている。Referring to FIG. 1, the objective lens 11 of the optical head 10
A transparent disk 50 is arranged so as to cross the optical axis of the laser beam 12 emitted from the laser beam 12 .
円板50はわずかに面プレ金もって回転し、その上に中
心から放射状にかつ等間隔に多数の不透明反射膜を設け
ることによってスリット51が形成されている。レーザ
ビーム12はスリブl−51i通過してセンサ60によ
って受光され、また一部は反射されて光学ヘッド10に
戻シフオーカスセンサ101に達する。センサ60には
微分器70が、フォーカスセンサ101には差動アンプ
80がそれぞれ接続されておシ、オシロスコープ90で
両出力を観測する〇第2図に示す:うに、レーザビーム12會横切る円板が
わずかに面ズレ金持っているので、円板上のスリット5
01,502,503,504および505がそれぞれ
A、B、C,DおよびE’t−横切ることになる。セン
サ60の出力全微分器70を通すことにより、第3図に
示すような出力微分波形200が得られるが、この波形
中で最も短かい時間でレーザビームが切断されるところ
、すなわち微分波形ピーク部210が最小ビームウェス
トであり、第4図の波形の時間幅Δt、全測定し、これ
にビーム通過部分の円板周速vi乗することにより、従
来例と同様にビームウェスト径が算出できる。The disk 50 is rotated with a slight flattening, and slits 51 are formed thereon by providing a large number of opaque reflective films radially from the center at equal intervals. The laser beam 12 passes through the sleeve l-51i and is received by the sensor 60, and a portion thereof is reflected back to the optical head 10 and reaches the shift focus sensor 101. A differentiator 70 is connected to the sensor 60, a differential amplifier 80 is connected to the focus sensor 101, and both outputs are observed with an oscilloscope 90. has a slight surface misalignment, so slit 5 on the disc
01, 502, 503, 504 and 505 will intersect A, B, C, D and E't- respectively. By passing the output of the sensor 60 through the total differentiator 70, an output differential waveform 200 as shown in FIG. Section 210 is the minimum beam waist, and the beam waist diameter can be calculated in the same way as in the conventional example by measuring the entire time width Δt of the waveform in FIG. .
更に、この波形観測時に、第3図に示すように、光学ヘ
ッドに設けられたナイフェツジ法等によるフォーカスセ
ンサの出力全差動アンプ通過後のフォーカスエラー信号
300と合わせて見ることにより、フォーカスセンナの
設定の最適位置をビームウェストと同時に目視確認でき
るため、微分波形のピーク値に合わせることが容易に高
精度にできる。Furthermore, when observing this waveform, as shown in FIG. 3, by observing it together with the focus error signal 300 after passing through a fully differential amplifier, which is the output of the focus sensor using the Knifetzge method installed in the optical head, the focus sensor can be determined. Since the optimal setting position can be visually confirmed at the same time as the beam waist, it is easy to match the peak value of the differential waveform with high precision.
本実施例で用いた円板の代りに、板状物を用い傾斜させ
て直線運動させることによっても、ビームウェスト全測
定できる。The entire beam waist can also be measured by using a plate-like object instead of the disk used in this embodiment and moving it in a tilted manner in a straight line.
このように本発明によれば、レーザビームのビームウェ
ストの最小位置に正確にナイフェツジ等で会わせる必要
がなく、スリッI−’I:有する透明な円板50をビー
ムクエスト最小位置付近に概略合わせる事のみで正確な
ビームウェスト最小位置に高精度に設定可能である0As described above, according to the present invention, it is not necessary to precisely match the minimum position of the beam waist of the laser beam with a knife etc., and the transparent disc 50 having the slit I-'I can be roughly aligned near the minimum position of the beam quest. The minimum beam waist position can be set with high precision by simply
@1図は本発明の一実施例の概略碧視図、第2図は本実
施例の動作?説明する図、第3図および第4図は本笑艶
例における各部のイぎ号波形図、第5図は従来例の概略
側面図である。1・・・・・・ナイフェツジ、2・・・・・・モニタセ
ンサ、10・・・・・・光学ヘッド、11・・・・・・
対物Vンズ、12・・・・・・レーザビーム、50・・
・・・・円板、51・・・・・・スリット、60・・・
・・・センサ、70・・・・・・微分器、80・・・・
・・差動アン7’、90・・・・−・オシロスコープ、
101・・・・・・フォ代理入 弁理士 円 原
廿(、第1 凹メ2第 2 図1ネ i 図@Figure 1 is a schematic perspective view of one embodiment of the present invention, and Figure 2 is the operation of this embodiment? The explanatory diagrams, FIGS. 3 and 4, are waveform diagrams of various parts in this glossy example, and FIG. 5 is a schematic side view of the conventional example. 1... Naifetsuji, 2... Monitor sensor, 10... Optical head, 11...
Objective lens, 12... Laser beam, 50...
...Disc, 51...Slit, 60...
...sensor, 70...differentiator, 80...
・・Differential antenna 7', 90・・・・Oscilloscope,
101...... Patent attorney Yen Hara as agent
廿(、1st concave 2nd 2nd figure 1 ne i figure
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16468885AJPS6224117A (en) | 1985-07-24 | 1985-07-24 | Light beam waste measurement |
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16468885AJPS6224117A (en) | 1985-07-24 | 1985-07-24 | Light beam waste measurement |
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6224117Atrue JPS6224117A (en) | 1987-02-02 |
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16468885APendingJPS6224117A (en) | 1985-07-24 | 1985-07-24 | Light beam waste measurement |
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6224117A (en) |
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0863388A1 (en)* | 1997-03-07 | 1998-09-09 | CISE S.p.A. | "Device for the characterisation of laser beams". |
| WO2016124169A1 (en) | 2015-02-06 | 2016-08-11 | Primes Gmbh Messtechnik Für Die Produktion Mit Laserstrahlung | Apparatus and method for beam diagnosis on laser machining lens systems |
| WO2016155690A1 (en) | 2015-04-01 | 2016-10-06 | Primes Gmbh Messtechnik Für Die Produktion Mit Laserstrahlung | Apparatus and method for determining properties of a laser beam |
| JP2020527291A (en)* | 2017-07-12 | 2020-09-03 | スリーディー システムズ インコーポレーテッド | Sensor system for direct calibration of high power density lasers used in direct metal laser melting |
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0863388A1 (en)* | 1997-03-07 | 1998-09-09 | CISE S.p.A. | "Device for the characterisation of laser beams". |
| WO2016124169A1 (en) | 2015-02-06 | 2016-08-11 | Primes Gmbh Messtechnik Für Die Produktion Mit Laserstrahlung | Apparatus and method for beam diagnosis on laser machining lens systems |
| DE102015001421A1 (en) | 2015-02-06 | 2016-08-11 | Primes GmbH Meßtechnik für die Produktion mit Laserstrahlung | Device and method for beam diagnosis on laser processing optics (PRl-2015-001) |
| DE102015001421B4 (en)* | 2015-02-06 | 2016-09-15 | Primes GmbH Meßtechnik für die Produktion mit Laserstrahlung | Device and method for beam diagnosis on laser processing optics (PRl-2015-001) |
| US10245683B2 (en) | 2015-02-06 | 2019-04-02 | Primes Gmbh Messtechnik Fuer Die Produktion Mit Laserstrahlung | Apparatus and method for beam diagnosis on laser processing optics |
| WO2016155690A1 (en) | 2015-04-01 | 2016-10-06 | Primes Gmbh Messtechnik Für Die Produktion Mit Laserstrahlung | Apparatus and method for determining properties of a laser beam |
| DE102015004163A1 (en) | 2015-04-01 | 2016-10-06 | Primes Gmbh | Apparatus and method for determining properties of a laser beam |
| US10184828B2 (en) | 2015-04-01 | 2019-01-22 | Primes Gmbh Messtechnik Fuer Die Produktion Mit Laserstrahlung | Apparatus and method for determining properties of a laser beam |
| JP2020527291A (en)* | 2017-07-12 | 2020-09-03 | スリーディー システムズ インコーポレーテッド | Sensor system for direct calibration of high power density lasers used in direct metal laser melting |
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS63195513A (en) | Optical noncontact position measuring instrument | |
| US6005667A (en) | Optical displacement measurement apparatus and information recording apparatus | |
| JPH1096611A (en) | Shape measuring device | |
| US4410268A (en) | Apparatus for automatically measuring the characteristics of an optical system | |
| EP1577639B1 (en) | Optical axial displacement sensor | |
| US4600301A (en) | Spinning disk calibration method and apparatus for laser Doppler velocimeter | |
| JPH0652170B2 (en) | Optical imaging type non-contact position measuring device | |
| JPS6224117A (en) | Light beam waste measurement | |
| EP0561178B1 (en) | Improvements in or relating to surface curvature measurement | |
| JPS6432105A (en) | Angle deviation measuring instrument for flat plate member | |
| JPH02500615A (en) | Straightness interferometer systems and optics | |
| JPS6035608B2 (en) | Position/attitude control device | |
| JPH07325096A (en) | Speedometer and position information detector | |
| JPH0721581A (en) | Optical pickup | |
| JPS60142204A (en) | Dimension measuring method of object | |
| JP2003121127A (en) | Measuring apparatus | |
| JP2636639B2 (en) | Sample angle and position measurement device | |
| JPH03252513A (en) | Parabolic antenna surface measuring instrument | |
| JPH01118712A (en) | Optical displacement measuring instrument | |
| JPS6349281B2 (en) | ||
| JPH07113610A (en) | Optical axis direction displacement detector for object surface | |
| JPH09229637A (en) | Optical distance measuring device | |
| JPH03225248A (en) | Instrument for adjusting optical axis and measuring beam diameter | |
| JPH02145903A (en) | Displacement measuring apparatus | |
| JPH02201107A (en) | Moving body outer diameter measuring instrument and method |