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JPS6035574A - 薄膜トランジスタ−基板 - Google Patents

薄膜トランジスタ−基板

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Publication number
JPS6035574A
JPS6035574AJP58144606AJP14460683AJPS6035574AJP S6035574 AJPS6035574 AJP S6035574AJP 58144606 AJP58144606 AJP 58144606AJP 14460683 AJP14460683 AJP 14460683AJP S6035574 AJPS6035574 AJP S6035574A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
thin film
film transistor
transistor
liquid crystal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP58144606A
Other languages
English (en)
Inventor
Shunsuke Kobayashi
駿介 小林
Kiyohiro Uehara
上原 清博
Takamichi Enomoto
孝道 榎本
Wasaburo Oota
太田 和三郎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ricoh Co LtdfiledCriticalRicoh Co Ltd
Priority to JP58144606ApriorityCriticalpatent/JPS6035574A/ja
Publication of JPS6035574ApublicationCriticalpatent/JPS6035574A/ja
Pendinglegal-statusCriticalCurrent

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】(技術分野)この発明は、薄j1メトランシスター基板、詳しくは全
体として可撓性を有する。、j9.11タトランジスタ
ー基板に関する。
(従来技術)ン鼻j喘トランジスター、すなわち、薄膜状に形成され
たトランジスターが知られている(特開昭58−106
860号公報、qX+開昭58−10(i861号公報
、特開昭56−23780号公報等)。
しかし、従来知られている薄膜トランジスターは、ガラ
スや7リコン等、硬質の基板を用い、この硬質基板上に
薄膜トランジスターを形成しており、このため、薄11
・゛Yトランジスターh1.板の形状が、硬a基板によ
り限定されてしまう、薄、塾トランジスター基板が1h
衝!I逃に弱い、基板を薄くすることが困難である、汁
、′扱いにおける作業性が戸、い、等の問題があった。
(目 的)そこで、本発明は、上aC間鵡を解決した、A7?親な
、薄膜トランジスター基、坂の1是イ其を目的とする。
(+1ν b’t )以下、本発明を説明する。
朴゛発明による、薄膜トランジスター基(反は、可撓性
を′7にする基板上に、薄膜トランジスターを形ωこす
ることによりイノ4成される。 河i’lj l・ラン
シスター&に−、ケート知(ψ、絶綴脱、半導体膜、ン
ソー電伊、ドレイン電極を有する。
可撓性を有する基板は、本所、ゆ1の」1j徴の一端を
なすものであるが、各植の可撓性樹脂、例えは、ポリエ
チレンテレフタレート、ポリカーボネート、ポリスルホ
ン、ポリエーテルスルホン、ボリイミド、ポリプロピレ
ン、セルロースアセテート、セルローストリアセテート
、イム+成ポリエステル等がな1適である、以下、具体的な例に即して説明する。
発明者らは、本発明の1実悔例として、液晶表示素子の
液晶、;萬勅用アクティブマ) +1クス型基板を、薄
膜トランジスター基板として作製してみた。
2′1図−′、i−1液晶表示素子の1画素単位の等価
回路を示している。図中、わ号101 、 102は、
それぞれ1、行目、1+1行目のゲート酊り液を、杓号
1(13はJ夕11目のデータ自己年頃を示す。また、
若干刊104は、〕行J列のスイッチング薄喚トランジ
スター、わ号iosは、重荷保持用のキャパシター、符
号106は、液晶によるキャパシターを、それぞれ示す
さて、薄71、・箒トランジスターの作製方法は、前シ
1(の特開昭56−23780号公報等に開示された方
法が知られているが、これらの方法は、いずれも、堆積
(テポジション)、表面酸化、熱拡散等、高温で処理す
る工程を含むから、可鉱性を有する基板として、プラス
チックフィルム等、耐熱性のないものを用いる場合には
、使用できない。
そこで、発明肴らは、以下の如き手働で1.町膜トラン
ジスターマトリックスを形成した。これを、牙2図を参
照して説明する。
矛2図において、で1号】ば、可撓性を治する臥板であ
って、ポリエーテルスルボンの透明フィルムである。
この基板IK、ゲート電険2と、爾′4ドr 、、′、
:持用のキャパシターの一方の1も雛とたーる昂、(1
・11:3とを、形成した(ン:・2図(1))。これ
ら箱俺2.3の形成は、蒸着形成により行った。
ゲートMt12は、牙1図のトランジスター104のゲ
−1ta’%となるべぎもので、矛lI¥iから明らか
なように、ゲート酉已線101Vc接続される。士た、
電極3ば、キャパシター1(15の−カの電極となるべ
きものであって、ゲート配置1drozに接Fjlされ
る。。
なお、電極2,3は、l・々化インジウムで形成したが
、金、アルミニウム衡−を用いてもよい。
次に、とのす(傘2.3の±からさらに、Ql!緑W4
を形成した(男・2図(1))。絶縁膜4の材料は五酸
化タンクル、膜形成は蒸着形成である。
さらに、この絶縁膜4の上から、ゲート電極2の上部に
、半導体膜5を形成した。半導体膜5の材料はテルル、
膜形成は蒸着形成である。
次ぎに、酸化インジウムの蒸着によって、ソース箱棒6
、トビイン市極7を形成した。この状態な牙2図(]V
)に示す。
ソース電極6ば、2・1図に示す如く、データ配線10
3に接続される。
また、ドレイン電極7は、電■3とともに、キャパシタ
ーIυ5を構成し、がっ、液晶駆産I用電極となる。
このようにして、薄膜トランジスターマトリックス基板
が得られた。電極2.3の形成からソース、ドレイン電
@ 6 、 7の形成に到るまで、すべて、蒸着で行っ
た訳であるが、蒸着形成では、基板lを基板の変形高温
以上に加熱することなく膜形成が可能であるので、薄膜
トランジスターの作製のきい、基板1が熱でそこなわれ
ることがない。
なお、膜形成手段として、蒸着のかわりにスパッタリン
グを用いても同様の効果が得られろ。
このようにして得られた、薄膜トランジスターにつき、
坩・3図の如きスイッチング特性を確認した。各曲線3
−1.3−2.3−3.3−4に対し、パラメーターと
しての、データ配線103の電圧VD は、それぞれ、
+2V、UV、’−2V、−4Vである。
トレイン電流か流れると、これにズ・」応する液晶画素
が側角されることになる。
その後、この薄膜トランジスター基板の表面に、配向処
理膜をさらに形成し、表面をラビングした。
また、酸化インジウム膜を形成した板部材に配向処理を
殉し、10μm径のプラスチックビーズを、分散させ、
この板部材と、上gピの如く得られた、液晶駆動用アク
ティブマトリクス型基I7gとを、ヌ・J向させ、周辺
を接着材により/−ルし、内部?1…に液晶を封入して
液晶セルとした。さらに偏光方向が互いに直交した偏光
板の間に、液晶セルを挟持させることにより、ムJ撓件
のある、アクティブマ) l)クス型液晶表示装音が得
られた。
(効 果)以上、本発明によれば新規な、薄膜トランジスター基板
を掠供でとる。
この薄膜トランジスター基板は、Thl撓性を有1“る
基板上に、薄膜トランジスターを形成するので、形状の
自由度か犬とく、また喧−硅化も容易で、11衝察性に
もすぐれ、作業性も極めて良好である。
従って、センザー、能動素子9回路基板4・−として用
いられる際、これらの設置態位や、作業手111iに大
ぎな自由度か得られ、設計の自由串“も九・犬する。な
お、基板として、各種プラスチックをll−1いること
に関しては、従来、プラスチック中の不純物の存在の影
きょ5等から、プラスチックをノル−板として薄膜トラ
ンジスターを作製しても充分な機能を有するトランジス
ターがイ;、トられないとの見解が文献的であったが、
本発明者らの発明によれば、硬質基板を用いる場合に比
して優劣つけがたい機能を有する薄膜トランジスター基
板か得られた。
【図面の簡単な説明】
矛1図は、本発明の1実殉例の、1儀位の2を価回路を
示す図、1・2図は、薄:jt4 トランジスター作製
の手順を示すh99図、坩・3図は、本発明によるン、
f It雉トランジスター基4反の、スイッチング心1
1−を示す図である。■・・・可撓性を有N′7)基板、2・・ゲート市ti
4I、4・絶1ぺJ嘆、5・・半導体膜、6・ソース雷
障、7・・トレイン1■1(酎’?’1 Kゲート電圧

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 可撓性を有する基板上に、ゲート電極、絶縁膜、半導体
    J1り、ソース電極、ドレイン’H? f?を形成して
    、薄膜トランジスターとしたことを特徴とする、薄膜ト
    ランジスター基板。
JP58144606A1983-08-081983-08-08薄膜トランジスタ−基板PendingJPS6035574A (ja)

Priority Applications (1)

Application NumberPriority DateFiling DateTitle
JP58144606AJPS6035574A (ja)1983-08-081983-08-08薄膜トランジスタ−基板

Applications Claiming Priority (1)

Application NumberPriority DateFiling DateTitle
JP58144606AJPS6035574A (ja)1983-08-081983-08-08薄膜トランジスタ−基板

Publications (1)

Publication NumberPublication Date
JPS6035574Atrue JPS6035574A (ja)1985-02-23

Family

ID=15365932

Family Applications (1)

Application NumberTitlePriority DateFiling Date
JP58144606APendingJPS6035574A (ja)1983-08-081983-08-08薄膜トランジスタ−基板

Country Status (1)

CountryLink
JP (1)JPS6035574A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication numberPriority datePublication dateAssigneeTitle
JPS61230370A (ja)*1985-04-051986-10-14Casio Comput Co Ltd半導体装置
JPS6293974A (ja)*1985-10-191987-04-30Nitto Electric Ind Co Ltd薄膜トランジスタアレイ
US6242758B1 (en)1994-12-272001-06-05Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd.Semiconductor device employing resinous material, method of fabricating the same and electrooptical device

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication numberPriority datePublication dateAssigneeTitle
JPS61230370A (ja)*1985-04-051986-10-14Casio Comput Co Ltd半導体装置
JPS6293974A (ja)*1985-10-191987-04-30Nitto Electric Ind Co Ltd薄膜トランジスタアレイ
US6242758B1 (en)1994-12-272001-06-05Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd.Semiconductor device employing resinous material, method of fabricating the same and electrooptical device
US6429053B1 (en)1994-12-272002-08-06Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd.Semiconductor device method of fabricating same, and, electrooptical device
CN1333297C (zh)*1994-12-272007-08-22株式会社半导体能源研究所半导体器件

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