【０００１】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、ディジタルオシロスコ
ープ等の波形測定装置に係り、特に複数波形を容易に測
定できる波形測定装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a waveform measuring device such as a digital oscilloscope, and more particularly to a waveform measuring device capable of easily measuring a plurality of waveforms.
【０００２】[0002]
【従来の技術】従来、波形測定装置としてのディジタル
オシロスコープにおいては、所定チャンネルの被測定波
形を基準にして複数チャンネルの被測定波形を表示す
る。2. Description of the Related Art Conventionally, in a digital oscilloscope as a waveform measuring device, measured waveforms of a plurality of channels are displayed with the measured waveform of a predetermined channel as a reference.
【０００３】図８に示す従来のディジタルオシロスコー
プ１は、次のような構成になっている。第１の入力端子
２は、第１の入力信号Ｓ１を被測定波形として入力す
る。この入力信号Ｓ１は入力部３に与え、入力部３は、
入力信号Ｓ１をユーザが設定した利得で増幅し又はユー
ザが設定した減衰率で入力信号Ｓ１を減衰させる。アナ
ログディジタル変換回路（Ａ／Ｄ）４は、この入力部３
から出力される入力信号Ｓ１をディジタル信号に変換し
てデータメモリ１２に出力する。The conventional digital oscilloscope 1 shown in FIG. 8 has the following configuration. The first input terminal 2 inputs the first input signal S1 as a waveform to be measured. This input signal S1 is given to the input unit 3, and the input unit 3
The input signal S1 is amplified by the gain set by the user or is attenuated by the attenuation rate set by the user. The analog-digital conversion circuit (A / D) 4 has the input unit 3
The input signal S1 output from is converted into a digital signal and output to the data memory 12.
【０００４】図８のもう１つの入力端子６は、第２の入
力信号Ｓ２を被測定波形として入力する。この入力信号
Ｓ２は入力部７に与え、入力部７は、この入力信号Ｓ２
をユーザが設定した利得で増幅し又はユーザが設定した
減衰率で減衰させる。アナログディジタル変換回路８
は、この入力部７から出力される入力信号Ｓ２をディジ
タル信号に変換してデータメモリ１３に出力する。The other input terminal 6 shown in FIG. 8 inputs the second input signal S2 as a waveform to be measured. The input signal S2 is given to the input section 7, and the input section 7 receives the input signal S2.
Is amplified by the gain set by the user or is attenuated by the attenuation rate set by the user. Analog-digital conversion circuit 8
Converts the input signal S2 output from the input section 7 into a digital signal and outputs the digital signal to the data memory 13.
【０００５】図８の従来のディジタルオシロスコープ１
は１つのドリガ選択回路９を備えている。このトリガ選
択回路９は、ユーザの選択操作に応じて、入力部３又は
入力部７から出力される入力信号Ｓ１又は入力信号Ｓ２
をコンパレータ１０に選択出力する。コンパレータ１０
は、ユーザが設定した所定のしきい値と、このトリガ選
択回路９の選択出力との比較結果をメモリコントローラ
１１に出力する。A conventional digital oscilloscope 1 shown in FIG.
Has one driga selection circuit 9. The trigger selection circuit 9 includes an input signal S1 or an input signal S2 output from the input unit 3 or the input unit 7 in accordance with a selection operation by a user.
Is selectively output to the comparator 10. Comparator 10
Outputs a comparison result of a predetermined threshold value set by the user and the selected output of the trigger selection circuit 9 to the memory controller 11.
【０００６】これにより、１つのトリガ選択回路９及び
コンパレータ１０は、ユーザが選択した入力信号Ｓ１又
は入力信号Ｓ２の信号レベルが所定のしきい値に立ち上
がると、コンパレータ１０の出力信号を立ち上げ、ユー
ザが選択した入力信号Ｓ１又は入力信号Ｓ２に同期した
トリガ信号を生成する。これにより表示装置１８は、こ
のコンパレータ１０の出力信号が立ち上がるタイミング
を基準にして第１及び第２の入力信号Ｓ１及びＳ２を取
り込んで表示する。As a result, one trigger selection circuit 9 and the comparator 10 raise the output signal of the comparator 10 when the signal level of the input signal S1 or the input signal S2 selected by the user rises to a predetermined threshold value. A trigger signal synchronized with the input signal S1 or the input signal S2 selected by the user is generated. As a result, the display device 18 takes in and displays the first and second input signals S1 and S2 based on the timing when the output signal of the comparator 10 rises.
【０００７】すなわちメモリコントローラ１１は、コン
パレータ１０の出力信号が立ち上がるタイミングを基準
にして、ユーザが設定したタイミング（すなわちユーザ
が設定した観測時間に対応するタイミング）で、第１及
び第２のデータメモリ１２，１３を駆動する。これによ
り第１及び第２のデータメモリ１２，１３は、コンパレ
ータ１０の出力信号が立ち上がると、それぞれアナログ
ディジタル変換回路４及び８の出力データをユーザが設
定したタイミングで順次取り込む。これにより、ユーザ
が選択した入力信号Ｓ１又はＳ２を基準にして、ユーザ
が設定した観測時間の分だけ、第１及び第２の入力信号
Ｓ１及びＳ２をデータメモリ１２及び１３に格納する。That is, the memory controller 11 uses the timing at which the output signal of the comparator 10 rises as a reference, and at the timing set by the user (that is, the timing corresponding to the observation time set by the user), the first and second data memories. 12 and 13 are driven. As a result, when the output signal of the comparator 10 rises, the first and second data memories 12 and 13 sequentially fetch the output data of the analog-digital conversion circuits 4 and 8, respectively, at the timing set by the user. As a result, the first and second input signals S1 and S2 are stored in the data memories 12 and 13 for the observation time set by the user with reference to the input signal S1 or S2 selected by the user.
【０００８】メモリコントローラ１１は、中央処理ユニ
ット（ＣＰＵ）１４からの制御コマンドに応じて、所定
のタイミングでデータメモリ１２及び１３の動作を切り
換え、これによりデータメモリ１２及び１３に格納した
入力信号Ｓ１及びＳ２のデータをバス１５に出力する。
表示用メモリ１６は、表示制御回路１７で制御されて動
作し、バス１５に出力された入力信号Ｓ１及びＳ２のデ
ータを順次取り込んで保持すると共に、所定のタイミン
グで表示装置１８に出力する。The memory controller 11 switches the operation of the data memories 12 and 13 at a predetermined timing in response to a control command from the central processing unit (CPU) 14 and thereby the input signal S1 stored in the data memories 12 and 13. And the data of S2 are output to the bus 15.
The display memory 16 operates under the control of the display control circuit 17, sequentially fetches and holds the data of the input signals S1 and S2 output to the bus 15, and outputs them to the display device 18 at a predetermined timing.
【０００９】これにより、図９（Ａ）に示すように、デ
ィジタルオシロスコープ１において、矩形波でなる入力
信号Ｓ１と、図９（Ｂ）に示すように、この入力信号Ｓ
１に同期してバースト状に信号レベルが立ち上がる入力
信号Ｓ２とを、図８の入力端子２及び６にそれぞれ入力
して、図８のトリガ選択回路９でこの入力信号Ｓ１を選
択すると共に（トリガのタイミングを矢印で表す）、観
測時間（測定区間）Ｔを設定すれば、表示装置１８には
図１０に示すように入力信号Ｓ１を基準にして２つの入
力信号Ｓ１及びＳ２を観測することができる。As a result, as shown in FIG. 9A, in the digital oscilloscope 1, the input signal S1 having a rectangular wave and, as shown in FIG. 9B, this input signal S1.
The input signal S2 whose signal level rises in a burst form in synchronization with 1 is input to the input terminals 2 and 6 of FIG. 8 respectively, and the input signal S1 is selected by the trigger selection circuit 9 of FIG. , And the observation time (measurement section) T is set, the display device 18 can observe two input signals S1 and S2 with reference to the input signal S1 as shown in FIG. it can.
【００１０】ディジタルオシロスコープ１においては、
複数の入力信号Ｓ１及びＳ２を同時に観測して、例えば
２つの入力信号Ｓ１及びＳ２が破線で示す規格内に保持
されているか否か、表示装置１８の表示画面Ｍをモニタ
して判断できる。このように、図９の被測定波形として
の入力信号Ｓ１とＳ２は、同期して変化しかつ２入力の
測定した箇所が時間的にほぼ同時であり、同一測定区間
Ｔで測定されている。図９の被測定波形の例では、従来
のディジタルオシロスコープ１を用いても問題がない。In the digital oscilloscope 1,
By observing the plurality of input signals S1 and S2 at the same time, it can be determined by monitoring the display screen M of the display device 18 whether or not the two input signals S1 and S2 are held within the standard shown by the broken line. As described above, the input signals S1 and S2 as the waveforms to be measured in FIG. 9 change synchronously, and the measured portions of the two inputs are temporally substantially the same, and are measured in the same measurement section T. In the example of the measured waveform of FIG. 9, there is no problem even if the conventional digital oscilloscope 1 is used.
【００１１】[0011]
【発明が解決しようとする課題】ところが、図８のディ
ジタルオシロスコープ１では、入力信号の種類によって
は、複数の入力信号を同時に正しく観測できない場合が
ある。However, the digital oscilloscope 1 of FIG. 8 may not be able to correctly observe a plurality of input signals depending on the type of the input signals.
【００１２】例えばビデオテープレコーダの各種波形を
観測する場合、図１１（Ａ）に示すように、所定周期で
信号レベルが立ち上がる入力信号Ｓ１をトリガ用に選択
した場合でも、図１１（Ｂ）に示すように、この入力信
号Ｓ１に同期した入力信号Ｓ２にジッタが発生する場合
がある。この場合、図１１に示すように、入力信号Ｓ２
においては、ジッタの分、入力信号Ｓ１に対して所定期
間ｔだけ変位して信号レベルが立ち上がることにより、
図１２に示すようにディジタルオシロスコープ１で観測
される被測定波形においては、このジッタの分だけ入力
信号Ｓ２の波形が前後に広がって観測される。For example, when observing various waveforms of a video tape recorder, as shown in FIG. 11A, even when the input signal S1 whose signal level rises at a predetermined cycle is selected for triggering, the waveform shown in FIG. As shown, jitter may occur in the input signal S2 synchronized with the input signal S1. In this case, as shown in FIG. 11, the input signal S2
In, the signal level rises due to the displacement of the input signal S1 by a predetermined period t by the amount of jitter,
As shown in FIG. 12, in the waveform to be measured observed by the digital oscilloscope 1, the waveform of the input signal S2 is observed to spread back and forth by this jitter.
【００１３】このようにして、ビデオテープレコーダの
各種波形を観測する場合、入力信号Ｓ２について、バー
スト状に立ち上がる期間だけ観測して調整する場合もあ
る。つまり、被測定波形の判定規格を決めることができ
ない。このような調整工程において、入力信号Ｓ２の波
形が前後に広がって観測されると、結局、ビデオテープ
レコーダを誤調整するおそれがある。In this way, when observing various waveforms of the video tape recorder, the input signal S2 may be observed and adjusted only during the period in which it rises in a burst form. That is, the judgment standard of the measured waveform cannot be determined. In such an adjusting step, if the waveform of the input signal S2 is observed to spread back and forth, the video tape recorder may be erroneously adjusted.
【００１４】これに対して、図１３（Ａ）に示すよう
に、トリガに選択する入力信号Ｓ１に対して、図１３
（Ｂ）に示すように、他方の入力信号Ｓ２が非同期であ
る場合もある。この場合には、ディジタルオシロスコー
プ１でこの２つの入力信号Ｓ１及びＳ２を観測すると、
２つの入力信号Ｓ１及びＳ２を同時に観測することが困
難になる。このような場合には、図８のディジタルオシ
ロスコープ１のトリガ選択回路９の動作を切り換えてそ
れぞれ入力信号Ｓ１及びＳ２をトリガ用に切り換える
か、又は測定もしくは判定したい期間の波形データを取
り込むためには、データメモリ１２及び１３を大容量化
する必要がある。また、波形の判定規格を決めることが
できない。On the other hand, as shown in FIG. 13 (A), the input signal S1 selected as the trigger is changed as shown in FIG.
As shown in (B), the other input signal S2 may be asynchronous. In this case, when observing these two input signals S1 and S2 with the digital oscilloscope 1,
It becomes difficult to observe the two input signals S1 and S2 at the same time. In such a case, the operation of the trigger selection circuit 9 of the digital oscilloscope 1 of FIG. 8 is switched to switch the input signals S1 and S2 for triggering, or in order to capture the waveform data of the period to be measured or judged. It is necessary to increase the capacity of the data memories 12 and 13. Moreover, the judgment standard of the waveform cannot be determined.
【００１５】また、図１４（Ａ）及び（Ｂ）に示すよう
に、観測対象でなる２つの入力信号Ｓ１及びＳ２が、大
きな時間Ｔだけ離れて信号レベルが立ち上がる場合もあ
り、この信号レベルの立ち上がった部分を観測したい場
合もある。この場合には、図８のディジタルオシロスコ
ープ１においては、この２つの信号レベルの立ち上がり
を表示装置１８に表示すると、結局この２つの信号レベ
ルの立ち上った部分を細かく観測できなくなる。従って
この場合においても、結局この２つの入力信号を細かく
観測するためには、トリガ選択回路９の動作を切り換え
てそれぞれ入力信号Ｓ１及びＳ２をトリガ用に切り換え
るか、又は測定もしくは判定したい期間の波形データを
取り込むためには、データメモリ１２及び１３を大容量
化する必要がある。また、波形の判定規格を決めること
ができない。As shown in FIGS. 14 (A) and 14 (B), the two input signals S1 and S2 to be observed may rise in signal level with a large time T apart, and the signal level Sometimes you want to observe the rising part. In this case, in the digital oscilloscope 1 of FIG. 8, when the rising edges of these two signal levels are displayed on the display device 18, the rising portions of these two signal levels cannot be finely observed. Therefore, even in this case, in order to observe these two input signals in detail, the operation of the trigger selection circuit 9 is switched to switch the input signals S1 and S2 respectively for triggering, or the waveform of the period to be measured or determined. In order to take in the data, it is necessary to increase the capacity of the data memories 12 and 13. Moreover, the judgment standard of the waveform cannot be determined.
【００１６】この問題を解決する１つの方法として、各
入力信号Ｓ１及びＳ２に対応して測定波形の数だけ波形
モニタ装置を用意する方法が考えられる。ところが、こ
の場合、各波形モニタ装置の表示をそれぞれ目視確認す
る必要があり、波形観測が煩雑になる欠点がある。また
波形モニタ装置を個別に用意するためには装置の設置場
所を確保する必要があり、さらに製造ライン等に設置し
て波形を自動判定する場合には、判定機構まで個別に作
成する必要がある。As a method of solving this problem, a method of preparing as many waveform monitor devices as the number of measured waveforms corresponding to each input signal S1 and S2 can be considered. However, in this case, it is necessary to visually confirm the display of each waveform monitor device, and there is a drawback that the waveform observation becomes complicated. Moreover, in order to individually prepare the waveform monitor device, it is necessary to secure the installation location of the device, and when it is installed in the manufacturing line etc. and the waveform is automatically judged, it is necessary to individually prepare the judgment mechanism. .
【００１７】本発明は、上記課題に鑑みてなされたもの
で、簡易な構成で、複数の入力信号を同時に正しく観測
することができる波形測定装置を提供することを目的と
する。The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a waveform measuring apparatus having a simple structure and capable of correctly observing a plurality of input signals simultaneously.
【００１８】[0018]
【課題を解決するための手段】上記目的は、本発明にあ
つては、複数の入力信号の波形を測定する波形測定装置
において、第１の入力信号を基準にして、前記第１の入
力信号に同期した第１のトリガ信号を生成する第１のト
リガ生成手段と、第２の入力信号を基準にして、前記第
２の入力信号に同期した第２のトリガ信号を生成する第
２のトリガ生成手段と、前記第１の入力信号を第１のデ
ィジタル信号に変換する第１のアナログディジタル変換
手段と、前記第２の入力信号を第２のディジタル信号に
変換する第２のアナログディジタル変換手段と、前記第
１のトリガ信号を基準にして、前記第１のディジタル信
号を取り込んで出力する第１の波形記録手段と、前記第
２のトリガ信号を基準にして、前記第２のディジタル信
号を取り込んで出力する第２の波形記録手段と、前記第
１及び第２の波形記録手段から出力される前記第１及び
第２のディジタル信号に基づいて、前記第１及び第２の
入力信号を観測するための表示手段と、を備える波形測
定装置により、達成される。According to the present invention, there is provided a waveform measuring apparatus for measuring waveforms of a plurality of input signals, the first input signal being the reference of the first input signal. A first trigger generating means for generating a first trigger signal synchronized with the second trigger signal, and a second trigger for generating a second trigger signal synchronized with the second input signal with reference to the second input signal. Generating means, first analog-digital converting means for converting the first input signal into a first digital signal, and second analog-digital converting means for converting the second input signal into a second digital signal. A first waveform recording means for taking in and outputting the first digital signal based on the first trigger signal; and a second digital signal based on the second trigger signal. Take in and get out Second waveform recording means for observing the first and second input signals based on the first and second digital signals output from the first and second waveform recording means. This is achieved by a waveform measuring device including a display means.
【００１９】本発明にあっては、好ましくは前記第１の
トリガ信号を基準にして、前記第１のディジタル信号を
第１の記録時間の間だけ取り込んだ後、取り込んだ前記
第１のディジタル信号を出力する前記第１の波形記録手
段と、前記第２のトリガ信号を基準にして、前記第２の
ディジタル信号を前記記録時間の間だけ取り込んだ後、
取り込んだ前記第２のディジタル信号を出力する前記第
２の波形記録手段を備える。さらに、本発明にあって
は、好ましくは前記第１の入力信号が波形判定用の規格
に保持されているかを判定する第１の判定手段と、前記
第２の入力信号が波形判定用の規格に保持されているか
を判定する第２の判定手段と、を備える。In the present invention, preferably, with the first trigger signal as a reference, the first digital signal is fetched only during a first recording time, and then the first digital signal is fetched. The first waveform recording means for outputting and the second trigger signal as a reference, and after the second digital signal is captured for the recording time,
It is provided with the second waveform recording means for outputting the captured second digital signal. Further, in the present invention, it is preferable that the first input signal is a waveform determination standard that determines whether the first input signal is held in a waveform determination standard, and the second input signal is a waveform determination standard. Second determining means for determining whether or not it is held in the.
【００２０】[0020]
【作用】上述した構成によれば、第１及び第２の入力信
号Ｓ１及びＳ２にそれぞれ同期したタイミングで、第１
及び第２の入力信号Ｓ１及びＳ２を観測できる。これに
より第１及び第２の入力信号Ｓ１及びＳ２が非同期の場
合、さらにはジッタが発生している場合でも、第１及び
第２の入力信号Ｓ１及びＳ２を同時かつ正確に観測でき
る。ＣＰＵのような第１の判定手段と第２の判定手段に
より、第１及び第２の入力信号Ｓ１及びＳ２について、
各トリガー信号に基づいて狭い判定範囲において第１及
び第２の入力信号Ｓ１及びＳ２の良品、不良品を判定で
きる。According to the above structure, the first and second input signals S1 and S2 are synchronized with each other at the timings.
And the second input signals S1 and S2 can be observed. As a result, the first and second input signals S1 and S2 can be observed simultaneously and accurately even when the first and second input signals S1 and S2 are asynchronous and even when jitter is generated. By the first and second determining means such as a CPU, the first and second input signals S1 and S2 are
Based on each trigger signal, a non-defective product or defective product of the first and second input signals S1 and S2 can be determined in a narrow determination range.
【００２１】[0021]
【実施例】以下、本発明の好適な実施例を添付図面に基
づいて詳細に説明する。尚、以下に述べる実施例は、本
発明の好適な具体例であるから、技術的に好ましい種々
の限定が付されているが、本発明の範囲は、以下の説明
において特に本発明を限定する旨の記載がない限り、こ
れらの態様の限られるものではない。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENT A preferred embodiment of the present invention will be described in detail below with reference to the accompanying drawings. It should be noted that the examples described below are suitable specific examples of the present invention, and therefore, various technically preferable limitations are given, but the scope of the present invention particularly limits the present invention in the following description. Unless otherwise stated, these aspects are not limited.
【００２２】図１は、本発明の波形測定装置の好ましい
実施例であるディジタルオシロスコープ２１を示すブロ
ック図である。図１のディジタルオシロスコープ２１の
構成中、上記従来例と同一符号を付した箇所はこれと同
様の構成であるので、重複する説明は省略する。FIG. 1 is a block diagram showing a digital oscilloscope 21 which is a preferred embodiment of the waveform measuring apparatus of the present invention. In the configuration of the digital oscilloscope 21 shown in FIG. 1, the portions denoted by the same reference numerals as those of the above-mentioned conventional example have the same configuration, and thus the duplicated description will be omitted.
【００２３】図１のディジタルオシロスコープ２１は次
のようになっている。測定波形（被測定波形ともいう）
Ａが加えられる入力端子２は、測定波形Ａをディジタル
信号に変換するＡ／Ｄコンバータ４の入力範囲に適した
レベルに増幅あるいは減衰させる入力部３に接続されて
いる。この入力部３は、測定波形Ａのレベルとエッジを
レベルトリガー設定値と比較するコンパレータ２２に接
続されている。このコンパレータ２２は、第１のトリガ
生成手段である。Ａ／Ｄコンバータ４は、データメモリ
１２に接続されている。同様にして、測定波形（被測定
波形ともいう）Ｂが加えられる入力端子６は、測定波形
Ｂをディジタル信号に変換するＡ／Ｄコンバータ８の入
力範囲に適したレベルに増幅あるいは減衰させる入力部
７に接続されている。この入力部７は、測定波形Ｂのレ
ベルとエッジをレベルトリガー設定値と比較するコンパ
レータ２３に接続されている。このコンパレータ２３
は、第２のトリガ生成手段である。Ａ／Ｄコンバータ８
は、データメモリ１３に接続されている。The digital oscilloscope 21 shown in FIG. 1 is as follows. Measurement waveform (also called measured waveform)
The input terminal 2 to which A is applied is connected to an input section 3 that amplifies or attenuates the measured waveform A to a level suitable for the input range of an A / D converter 4 that converts the measured waveform A into a digital signal. The input unit 3 is connected to a comparator 22 that compares the level and edge of the measured waveform A with a level trigger set value. The comparator 22 is a first trigger generating means. The A / D converter 4 is connected to the data memory 12. Similarly, an input terminal 6 to which a measurement waveform (also referred to as a waveform to be measured) B is added is an input unit for amplifying or attenuating the measurement waveform B to a level suitable for an input range of an A / D converter 8 for converting the measurement waveform B into a digital signal. Connected to 7. The input unit 7 is connected to a comparator 23 that compares the level and edge of the measured waveform B with the level trigger set value. This comparator 23
Is a second trigger generating means. A / D converter 8
Are connected to the data memory 13.
【００２４】このコンパレータ２２は、中央処理ユニッ
ト１４を介して所定の測定開始信号が入力されると、入
力信号Ｓ１とユーザが設定したしきい値との間で比較結
果を得て、この比較結果をトリガ信号として出力する。
同様にコンパレータ２３は、中央処理ユニット１４を介
して所定の測定開始信号が入力されると、入力信号Ｓ２
とユーザが設定したしきい値との間で比較結果を得て、
この比較結果をトリガ信号として出力する。When a predetermined measurement start signal is input through the central processing unit 14, the comparator 22 obtains a comparison result between the input signal S1 and the threshold value set by the user, and the comparison result is obtained. Is output as a trigger signal.
Similarly, the comparator 23 receives the input signal S2 when a predetermined measurement start signal is input via the central processing unit 14.
And the result of comparison between the threshold value set by the user and
The comparison result is output as a trigger signal.
【００２５】測定波形Ａがトリガーレベルになるとコン
パレータ２２が作動し、メモリーコントローラ２４に作
用して、Ａ／Ｄコンバータ４から送られてくる波形デー
タをデータメモリ１２へ格納を開始するか、あるいはＡ
／Ｄコンバータ４から送られてデータメモリ１２に格納
されている波形データに新規データの上書きを禁止す
る。When the measured waveform A reaches the trigger level, the comparator 22 operates and acts on the memory controller 24 to start storing the waveform data sent from the A / D converter 4 in the data memory 12, or A
Overwriting of new data on the waveform data sent from the / D converter 4 and stored in the data memory 12 is prohibited.
【００２６】同様にしかし全く非同期に、測定波形Ｂが
トリガーレベルになるとコンパレータ２３が作動し、メ
モリーコントローラ２５に作用して、Ａ／Ｄコンバータ
８から送られてくる波形データをデータメモリ１３へ格
納を開始するか、あるいはＡ／Ｄコンバータ８から送ら
れてデータメモリ１３に格納されている波形データに新
規データの上書きを禁止する。Similarly, but completely asynchronously, when the measured waveform B reaches the trigger level, the comparator 23 operates and acts on the memory controller 25 to store the waveform data sent from the A / D converter 8 in the data memory 13. Or the overwrite of new data over the waveform data sent from the A / D converter 8 and stored in the data memory 13 is prohibited.
【００２７】図７の従来のディジタルオシロスコープ２
１と異なり、このディジタルオシロスコープ２１におい
ては、この２つコンパレータ２２及び２３のしきい値を
それぞれ独立して設定することができ、この２つのコン
パレータ２２及び２３でそれぞれ入力信号Ｓ１及びＳ２
を基準にしてトリガ信号を生成する。つまり、各入力信
号Ｓ１及びＳ２を基準にして、各入力信号Ｓ１及びＳ２
に同期したトリガ信号を生成することができる。The conventional digital oscilloscope 2 shown in FIG.
1, the thresholds of the two comparators 22 and 23 can be set independently in the digital oscilloscope 21, and the input signals S1 and S2 can be set by the two comparators 22 and 23, respectively.
A trigger signal is generated with reference to. That is, with reference to the respective input signals S1 and S2, the respective input signals S1 and S2
It is possible to generate a trigger signal synchronized with.
【００２８】メモリコントローラ２４及び２５は、好ま
しくはそれぞれこのコンパレータ２２及び２３から出力
されるトリガ信号を基準にして、ユーザが設定した観測
時間に応じてアナログディジタル変換回路４及び８から
出力されるディジタル信号を取り込んで出力する。この
ディジタルオシロスコープ２１においては、好ましくは
この観測時間についても、２つの入力信号Ｓ１及びＳ２
について、それぞれ独立して設定できる。。The memory controllers 24 and 25 preferably use the trigger signals output from the comparators 22 and 23, respectively, as a reference, and the digital signals output from the analog-digital conversion circuits 4 and 8 in accordance with the observation time set by the user. Capture and output signals. In this digital oscilloscope 21, the two input signals S1 and S2 are also preferably used for this observation time.
Can be set independently. .
【００２９】波形測定装置としてのディジタルオシロス
コープ２１は、２つの入力信号Ｓ１及びＳ２に同期した
２系統のトリガ信号を基準にして２つの入力信号Ｓ１及
びＳ２を測定もしくは判定あるいは観測できる。ことに
より、例えば図２に示すように、このディジタルオシロ
スコープ２１をたとえば被測定対象であるビデオテープ
レコーダＶＴＲの製造ラインに設置し、１つのパレット
により同時に搬送される２台のビデオテープレコーダＶ
ＴＲに関する所望の波形を同時に観測することができ
る。The digital oscilloscope 21 as a waveform measuring device can measure, judge or observe the two input signals S1 and S2 with reference to two trigger signals synchronized with the two input signals S1 and S2. As a result, for example, as shown in FIG. 2, this digital oscilloscope 21 is installed on the production line of the video tape recorder VTR to be measured, and two video tape recorders V that are simultaneously conveyed by one pallet are installed.
The desired waveform for TR can be observed simultaneously.
【００３０】図３は、２つの入力信号Ｓ１及びＳ２が非
同期で変化している例を示している。この場合でも、さ
らには２つの入力信号Ｓ１及びＳ２の何れかにジッタが
発生している場合、さらには２つの入力信号Ｓ１及びＳ
２の両方にジッタが発生している場合でも、トリガーポ
イント（矢印で示す）を基準として２つの入力信号Ｓ１
及びＳ２を同時かつ正確に観測することができる。いず
れにしても、矢印で示すように、入力信号Ｓ１及びＳ２
のそれぞれにトリガーを設定することができるので、従
来と異なり波形観測に要する分だけデータメモリ１２及
び１３の容量を確保すれば足り、大容量のメモリを必要
とせず、波形の判定規格を決めることができる。FIG. 3 shows an example in which the two input signals S1 and S2 change asynchronously. Even in this case, when the jitter occurs in any of the two input signals S1 and S2, further, the two input signals S1 and S2.
Even if jitter occurs in both of the two, the two input signals S1 with reference to the trigger point (indicated by the arrow)
And S2 can be observed simultaneously and accurately. In either case, as indicated by the arrows, the input signals S1 and S2
Since it is possible to set a trigger for each of the above, it is sufficient to secure the capacity of the data memories 12 and 13 as much as required for the waveform observation unlike the conventional one, and a large-capacity memory is not required, and the waveform judgment standard is determined. You can
【００３１】さらに観測時間を独立して設定できること
により、ディジタルオシロスコープ２１は、この観測時
間Ｔ１及びＴ２をそれぞれ所望の時間に設定して、非同
期の２つの入力信号Ｓ１及びＳ２を細かく観測すること
ができる。またこれとは逆に波形観測に要する分だけデ
ータメモリ１２及び１３の容量を確保すれば足りること
により、データメモリ１２及び１３に従来と同一の容量
を割当てた場合、その分アナログディジタル変換回路４
及び８のサンプリング周波数を高い周波数に設定でき
る。これにより高い分解能で波形観測することができ
る。Furthermore, since the observation time can be set independently, the digital oscilloscope 21 can set the observation times T1 and T2 to desired times and finely observe the two asynchronous input signals S1 and S2. it can. On the contrary, it is sufficient to secure the capacities of the data memories 12 and 13 by the amount required for the waveform observation. Therefore, when the same capacities as the conventional ones are allocated to the data memories 12 and 13, the analog-to-digital conversion circuit 4 is correspondingly allocated.
And the sampling frequency of 8 can be set to a high frequency. This allows waveform observation with high resolution.
【００３２】図４は、複数の被測定波形の測定または判
定したい期間が、時間的に離れている場合の例である。
この例でも入力信号Ｓ１及びＳ２のそれぞれにトリガー
を設定することができるので、従来と異なり測定または
判定したい期間のみの波形データを取り込める分だけの
データメモリ１２及び１３の容量を確保すれば足り、大
容量のメモリを必要とせず、波形の判定規格を決めるこ
とができる。つまり、それぞれ２つの入力信号Ｓ１及び
Ｓ２に同期した２系統の矢印で示すトリガーポイントと
もいうトリガ信号を基準にして、さらに観測時間を独立
して設定して２つの入力信号Ｓ１及びＳ２を観測できる
ことにより、このような場合でも、観測対象の部分を細
かく観測することができる。FIG. 4 shows an example in which the periods for which a plurality of measured waveforms are desired to be measured or judged are temporally separated.
In this example as well, since triggers can be set for the input signals S1 and S2 respectively, it is sufficient to secure the capacity of the data memories 12 and 13 that can capture the waveform data only for the period to be measured or determined, unlike the prior art. It is possible to determine the waveform judgment standard without requiring a large capacity memory. That is, the two input signals S1 and S2 can be observed by setting the observation time independently based on the trigger signals also referred to as the trigger points indicated by the arrows of the two systems that are respectively synchronized with the two input signals S1 and S2. Thus, even in such a case, the portion to be observed can be observed in detail.
【００３３】この場合、図７の従来のディジタルオシロ
スコープ１の１つの表示画面Ｍ上に、図５に示すように
時間的に離れたこの２つの観測対象の部分を同時に表示
すると、この２つの観測対象を細かく観測できない。In this case, when the two observation target portions which are temporally separated as shown in FIG. 5 are simultaneously displayed on one display screen M of the conventional digital oscilloscope 1 of FIG. 7, the two observations are performed. The object cannot be observed in detail.
【００３４】しかし、本発明の実施例では、図６に示す
ように、観測時間Ｔ１及びＴ２を選定すれば、２つの観
測対象の部分を同時に、しかも拡大して表示することが
できる。それぞれの測定波形Ｓ１，Ｓ２にトリガーポイ
ントを設定できるので、サンプリング間隔を充分に短く
でき、波形の高い周波数成分まで測定が可能である。However, in the embodiment of the present invention, as shown in FIG. 6, if the observation times T1 and T2 are selected, two observation target portions can be displayed simultaneously and in an enlarged manner. Since the trigger point can be set for each of the measurement waveforms S1 and S2, the sampling interval can be shortened sufficiently and the high frequency components of the waveform can be measured.
【００３５】なおこの実施例において、中央処理ユニッ
ト（ＣＰＵ）２６は、測定開始信号を出力して所定期間
経過してもトリガ信号が立ち上がらない場合、対応する
被測定波形としての入力信号は異常と判断して、所定の
処理手順を実行する。In this embodiment, when the central processing unit (CPU) 26 outputs the measurement start signal and the trigger signal does not rise even after the elapse of a predetermined period, the input signal as the corresponding measured waveform is abnormal. A judgment is made and a predetermined processing procedure is executed.
【００３６】以上説明したように、本発明の波形測定装
置では、まず被測定側よりスタート信号（トリガー信
号）を受け取ると、ＣＰＵ２６は各測定チャンネルのＡ
／Ｄコンバータ４，８の出力データの監視を始める。Ａ
／Ｄコンバータ４，８の出力データがある値になると、
つまりトリガーレベルになると、Ａ／Ｄコンバータ４，
８の出力データをそのチャンネルのデータメモリ（波形
メモリともいう）１２，１３に格納を開始する。As described above, in the waveform measuring apparatus of the present invention, when the start signal (trigger signal) is first received from the measured side, the CPU 26 makes the A of each measurement channel.
Monitoring of the output data of the / D converters 4 and 8 is started. A
When the output data of the / D converters 4 and 8 reaches a certain value,
In other words, when the trigger level is reached, the A / D converter 4,
Storage of the output data of No. 8 in the data memory (also called a waveform memory) 12, 13 of that channel is started.
【００３７】各チャンネルの格納が終了すると、ＣＰＵ
２６は直ちに波形を波形規格と比較して合否を判定す
る。全チャンネルの判定が終了すると、１サイクルを終
了とし、結果を出力してまたスタート信号を待つ。も
し、トリガーレベルに達しないチャンネルがあった場合
には、最後に判定を終了してから一定時間経過するか、
次のスタート信号が来た時点で、このチャンネルを不良
として処理する。When the storage of each channel is completed, the CPU
26 immediately compares the waveform with the waveform standard to determine pass / fail. When the determination of all channels is completed, one cycle is completed, the result is output, and the start signal is awaited again. If there is a channel that does not reach the trigger level, a certain period of time has passed since the end of the judgment,
When the next start signal arrives, this channel is treated as defective.
【００３８】上述した本発明の実施例の用途としては、
たとえば同一形状のモールド製品を複数個とる金型にお
いて、成形時のそれぞれの製品の圧力変化の測定や、上
述したような同一のパレットに乗った複数台のＶＴＲの
同時検査など、ほぼ同時に始まるが完全に同時では無い
被測定波形を１台の波形測定装置（波形判定装置）で検
査する場合などである。The applications of the above-described embodiment of the present invention include:
For example, in a mold that takes a plurality of molded products of the same shape, the measurement of the pressure change of each product at the time of molding and the simultaneous inspection of a plurality of VTRs on the same pallet as described above start almost at the same time. This is the case, for example, when the waveforms to be measured that are not completely simultaneous are inspected by one waveform measuring device (waveform determining device).
【００３９】たとえば２台のＶＴＲが検査工程に到着し
て、再生を開始するリモコンのコードを２台に同時に送
り、２台のＶＴＲはそれぞれ再生を開始し、その再生信
号を検査する場合に、それぞれのＶＴＲの信号の再生信
号の波形が検査したい要素であり、両者の時間差は問題
にならない。なお、１台の従来のディジタルオシロスコ
ープ１では、トリガーが各被測定波形ごとに独立して設
定できないので、このような用途では測定チャンネル数
分の波形測定装置が必要であった。For example, when two VTRs arrive at the inspection process and the code of the remote controller for starting the reproduction is simultaneously sent to the two VTRs, the two VTRs respectively start the reproduction and inspect the reproduced signal, The waveform of the reproduced signal of each VTR signal is an element to be inspected, and the time difference between the two does not matter. In one conventional digital oscilloscope 1, the trigger cannot be set independently for each waveform to be measured, so that waveform measuring devices for the number of measurement channels are required for such an application.
【００４０】ところで、上述した実施例において、好ま
しくは、さらに、前記第１の入力信号Ｓ１が波形判定用
の規格に保持されているかを判定する第１の判定手段
と、前記第２の入力信号Ｓ２が波形判定用の規格に保持
されているかを判定する第２の判定手段と、を備えてい
る。この実施例では、この第１の判定手段と第２の判定
手段を、図１のＣＰＵ２６が兼ねている。たとえば図７
（ａ）に示すように、第１の判定手段で第１の入力信号
Ｓ１について測定波形１を良品の波形として判別し、図
７（ｂ）と図７（ｃ）の測定波形２，３を不良品の波形
として判別したい場合に、破線で示す波形の判定範囲を
なるべく狭くする必要がある。By the way, in the above-mentioned embodiment, it is preferable that the first input signal S1 further includes a first determination means for determining whether the first input signal S1 is held in a waveform determination standard, and the second input signal. Second determination means for determining whether S2 is held in the waveform determination standard is provided. In this embodiment, the CPU 26 of FIG. 1 also serves as the first determining means and the second determining means. Figure 7 for example
As shown in (a), the first determination means determines the measurement waveform 1 for the first input signal S1 as a non-defective waveform, and the measurement waveforms 2 and 3 shown in FIGS. 7B and 7C are obtained. When it is desired to determine the waveform as a defective product, it is necessary to narrow the determination range of the waveform indicated by the broken line as much as possible.
【００４１】ところが、測定波形の時間的位置がジッタ
ーなどで一定でない場合に、良品の波形を不良品の波形
として誤判定しないようにするためには、図４（ｄ）に
示すように破線で示す判定範囲を広げる必要がある。こ
のように判定範囲を広げてしまうと、図４（ｅ）に示す
ように図４（ｂ）の測定波形２も良品と判定してしまう
ことになる。However, in order to prevent the waveform of a good product from being erroneously determined as the waveform of a defective product when the time position of the measured waveform is not constant due to jitter or the like, a broken line is used as shown in FIG. 4 (d). It is necessary to expand the judgment range shown. If the determination range is widened in this way, the measured waveform 2 in FIG. 4B will also be determined to be non-defective, as shown in FIG.
【００４２】しかし、本発明の実施例では、図１に各入
力部３，７に入る測定波形である入力信号Ｓ１，Ｓ２に
それぞれトリガー信号を設定できるので、トリガー信号
を基準として破線で示す狭い判定範囲を正確に設定でき
るので、判定範囲を充分に狭くしても誤判定をしないメ
リットがある。このことは、第２の判定手段で第２の入
力信号Ｓ２について測定波形の良、不良を判別する場合
も同じである。In the embodiment of the present invention, however, the trigger signals can be set for the input signals S1 and S2, which are the measurement waveforms input to the input sections 3 and 7, respectively in FIG. Since the judgment range can be set accurately, there is an advantage that an erroneous judgment is not made even if the judgment range is sufficiently narrowed. This is the same when the second determining unit determines whether the measurement waveform of the second input signal S2 is good or bad.
【００４３】上述した本発明の実施例では、複数の波形
を測定する１台の波形測定装置あるいは波形判定装置で
は、複数の被測定波形それぞれにトリガーレベルを設定
することとして、従来１台では困難であった互いに非同
期で変化する波形や、測定したいポイントが時間的に大
きくずれている波形などを１台で同時測定、判定が可能
である。上述した本発明の実施例では、被測定波形間に
ジッターがあっても容易に判定規格が設定できる。被測
定波形間にジッターがあっても正確に判定できる。非同
期の複数の波形の測定、判定が可能である。完全に一致
していない複数台の被検査物を１台の波形測定装置（波
形判定装置、波形検査機）で検査できる。In the above-described embodiment of the present invention, it is difficult to set a trigger level for each of a plurality of measured waveforms with a single waveform measuring apparatus or waveform determining apparatus for measuring a plurality of waveforms, which is difficult with a conventional single apparatus. That is, it is possible to simultaneously measure and determine a waveform that changes asynchronously with each other, or a waveform in which points to be measured are largely deviated in time. In the embodiment of the present invention described above, the judgment standard can be easily set even if there is jitter between the measured waveforms. Accurate judgment is possible even if there is jitter between the measured waveforms. It is possible to measure and judge multiple asynchronous waveforms. It is possible to inspect a plurality of inspected objects that do not completely match with one waveform measuring device (waveform determining device, waveform inspecting device).
【００４４】上述の実施例においては、２つのコンパレ
ータ２２及び２３にそれぞれ入力信号Ｓ１及びＳ２を入
力し、ここでトリガ信号を生成する場合について述べた
が、本発明はこれに限らず、例えばアナログディジタル
変換回路４及び８から出力されるディジタル信号を中央
処理ユニット２６でモニタし、これにより中央処理ユニ
ット２６でそれぞれ入力信号Ｓ１及びＳ２に対応したト
リガ信号を生成するようにしてもよい。In the above-described embodiment, the case where the input signals S1 and S2 are input to the two comparators 22 and 23 respectively and the trigger signal is generated here has been described. However, the present invention is not limited to this, and for example, analog signals can be obtained. The digital signals output from the digital conversion circuits 4 and 8 may be monitored by the central processing unit 26, so that the central processing unit 26 may generate trigger signals corresponding to the input signals S1 and S2, respectively.
【００４５】さらに上述の実施例においては、トリガ信
号を基準にして、アナログディジタル変換回路から出力
されるディジタル信号をデータメモリに格納する場合に
ついて述べたが、本発明はこれに限らず、これとが逆に
トリガ信号を基準にしてデータメモリの書き込みを禁止
し、トリガ信号以前の波形をデータメモリに記録するよ
うにしてもよい。Further, in the above-described embodiment, the case where the digital signal output from the analog-digital conversion circuit is stored in the data memory on the basis of the trigger signal has been described, but the present invention is not limited to this, and is not limited to this. On the contrary, the writing of the data memory may be prohibited based on the trigger signal and the waveform before the trigger signal may be recorded in the data memory.
【００４６】さらに上述の実施例においては、本発明を
ディジタルオシロスコープに適用して２つの入力信号波
形を観測する場合について述べたが、本発明はこれに限
らず、データメモリに取り込んだ入力信号波形を基準に
してこの入力信号を自動判定する場合等に広く適用する
ことができる。Furthermore, in the above-mentioned embodiment, the case where the present invention is applied to a digital oscilloscope to observe two input signal waveforms has been described. However, the present invention is not limited to this, and the input signal waveforms fetched in the data memory are described. The present invention can be widely applied to a case where this input signal is automatically determined with reference to.
【００４７】さらに上述の実施例においては、本発明を
適用して２つの入力信号を測定もしくは判定あるいは観
測する場合について述べたが、本発明は２つの入力信号
を観測する場合に限らず、３つ以上の被測定波形に対応
する入力信号を測定もしくは判定あるいは観測する場合
に広く適用することができる。Further, in the above-mentioned embodiment, the case where the present invention is applied to measure, judge or observe two input signals has been described, but the present invention is not limited to the case of observing two input signals. It can be widely applied to the case of measuring, judging or observing input signals corresponding to one or more waveforms to be measured.
【００４８】[0048]
【発明の効果】以上述べたように、本発明の波形測定装
置によれば、簡易な構成で、複数の入力信号を同時に正
しく観測することができる。As described above, according to the waveform measuring apparatus of the present invention, a plurality of input signals can be correctly observed simultaneously with a simple structure.
【図１】本発明の好ましい実施例であるディジタルオシ
ロスコープを示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing a digital oscilloscope which is a preferred embodiment of the present invention.
【図２】図１の装置により２台のＶＴＲからの信号を測
定している状態を示す斜視図である。FIG. 2 is a perspective view showing a state where signals from two VTRs are being measured by the device of FIG.
【図３】図２の測定における信号波形図である。3 is a signal waveform diagram in the measurement of FIG.
【図４】入力信号が非同期の場合の説明に供する信号波
形図である。FIG. 4 is a signal waveform diagram for explaining a case where an input signal is asynchronous.
【図５】従来装置による観測結果を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing an observation result by a conventional device.
【図６】図１の実施例による観測結果を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing an observation result according to the embodiment of FIG.
【図７】良品と不良品の波形を判定する判定範囲につい
て説明する図である。FIG. 7 is a diagram illustrating a determination range for determining a waveform of a non-defective product and a waveform of a defective product.
【図８】従来のディジタルオシロスコープを示すブロッ
ク図である。FIG. 8 is a block diagram showing a conventional digital oscilloscope.
【図９】図７の従来例における信号波形図である。FIG. 9 is a signal waveform diagram in the conventional example of FIG.
【図１０】図８の観測結果を示す図である。FIG. 10 is a diagram showing an observation result of FIG.
【図１１】図７の従来例における観測上の問題点を示す
信号波形図である。FIG. 11 is a signal waveform diagram showing a problem in observation in the conventional example of FIG.
【図１２】図７の従来例における観測上の問題点を示す
信号波形図である。FIG. 12 is a signal waveform diagram showing a problem in observation in the conventional example of FIG.
【図１３】入力信号が非同期の場合の例を示す信号波形
図である。FIG. 13 is a signal waveform diagram showing an example when an input signal is asynchronous.
【図１４】観測対象の部分が時間的に離れている場合の
例を示す信号波形図である。FIG. 14 is a signal waveform diagram showing an example when the observation target portions are temporally separated.
２、６ 入力端子 ３、７ 入力部 ４ アナログディジタル変換回路
（第１のアナログディジタル変換手段） ８ アナログディジタル変換回路
（第２のアナログディジタル変換手段） ２２ コンパレータ（第１のトリガ生
成手段） ２３ コンパレータ（第２のトリガ生
成手段） １１、２４、２５ メモリ制御回路 １２ データメモリ（第１の波形記録
手段） １３ データメモリ（第２の波形記録
手段） １４ 中央処理ユニット １６ 表示用メモリ（表示手段） １７ 表示用コントローラ（表示手
段） １８ 表示装置（表示手段） ２６ ＣＰＵ（第１の判定手段と第２
の判定手段）2, 6 input terminals 3, 7 input section 4 analog-digital conversion circuit (first analog-digital conversion means) 8 analog-digital conversion circuit (second analog-digital conversion means) 22 comparator (first trigger generation means) 23 comparator (Second trigger generating means) 11, 24, 25 Memory control circuit 12 Data memory (first waveform recording means) 13 Data memory (second waveform recording means) 14 Central processing unit 16 Display memory (display means) 17 Display Controller (Display Means) 18 Display Device (Display Means) 26 CPU (First Judging Means and Second Means)
Determination method)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7943594AJPH07260827A (en) | 1994-03-25 | 1994-03-25 | Apparatus for measuring waveform |
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7943594AJPH07260827A (en) | 1994-03-25 | 1994-03-25 | Apparatus for measuring waveform |
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07260827Atrue JPH07260827A (en) | 1995-10-13 |
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7943594APendingJPH07260827A (en) | 1994-03-25 | 1994-03-25 | Apparatus for measuring waveform |
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07260827A (en) |
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7260489B2 (en) | 2005-01-18 | 2007-08-21 | Shenzhen Mindray Bio-Medical Electronics Co., Ltd. | Method of displaying multi-channel waveforms |
| JP2009097935A (en)* | 2007-10-16 | 2009-05-07 | Hioki Ee Corp | Data processing device |
| JP2017151092A (en)* | 2016-01-13 | 2017-08-31 | テクトロニクス・インコーポレイテッドＴｅｋｔｒｏｎｉｘ，Ｉｎｃ． | Method for triggering test measuring apparatus |
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7260489B2 (en) | 2005-01-18 | 2007-08-21 | Shenzhen Mindray Bio-Medical Electronics Co., Ltd. | Method of displaying multi-channel waveforms |
| JP2009097935A (en)* | 2007-10-16 | 2009-05-07 | Hioki Ee Corp | Data processing device |
| JP2017151092A (en)* | 2016-01-13 | 2017-08-31 | テクトロニクス・インコーポレイテッドＴｅｋｔｒｏｎｉｘ，Ｉｎｃ． | Method for triggering test measuring apparatus |
| US11552620B2 (en) | 2016-01-13 | 2023-01-10 | Tektronix, Inc. | Event activity trigger |
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2593106B2 (en) | Maximum / minimum value detector for input signal | |
| US3987241A (en) | Sampled differential analyzer | |
| JPH07260827A (en) | Apparatus for measuring waveform | |
| JP3141429B2 (en) | Video adjustment device for recording and playback devices | |
| US4755887A (en) | Triggering for waveform recording | |
| US5768155A (en) | Fast undersampling | |
| JPS5965915A (en) | Diagnosis of reading channel | |
| JP3311464B2 (en) | Signal measurement device | |
| US6378092B1 (en) | Integrated circuit testing | |
| US20030128045A1 (en) | Apparatus and method for testing semiconductor storage device | |
| CN115309618B (en) | Input and output delay detection method and system based on RT-Linux system | |
| JP2983109B2 (en) | Resistance inspection device | |
| SU1046766A1 (en) | Device for checking multichannel magnetic recorder | |
| SU1411658A1 (en) | Ultrasonic flaw detector | |
| KR0165308B1 (en) | Apparatus and method for controlling and analyzing image signal | |
| WO2025121020A1 (en) | Test apparatus and test method | |
| RU2040019C1 (en) | Method of testing digital seismoregistering channels | |
| EP0378363A1 (en) | Method of and system for testing the video output signal quality | |
| SU1370614A1 (en) | Device for automatic measurement of amplitude-frequency characteristic parameters of four-terminal network | |
| JPH06111030A (en) | Measured data recording device | |
| JPH02226029A (en) | Disconnection detection device for voltage signal generation circuit | |
| SU1578765A1 (en) | Digital measuring system for checking parameters of tape recorders | |
| SU1509961A1 (en) | Device for counting and measuring the dimensions of objects | |
| JPH0318778A (en) | Integrated circuit element inspection device | |
| JPH04249779A (en) | Apparatus for testing semiconductor |