【０００１】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は磁気ディスク装置の試験
方法に関し、特に磁気ディスク装置自体が備える制御部
により、単独で試験を行う方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for testing a magnetic disk device, and more particularly to a method for independently testing by a control unit included in the magnetic disk device itself.
【０００２】[0002]
【従来の技術】従来、磁気ディスク装置の試験方法は、
磁気ディスク装置の制御装置が試験プログラムを備え、
この試験プログラムに従って磁気ディスク装置を制御し
試験を行っていた。しかしながら、最近では磁気ディス
ク装置の制御装置からの制御を受けることなく、磁気デ
ィスク装置はそれ自体が備える制御部（以下ＣＰＵとい
う）により、単独で試験を行う方法が行われている。こ
こで、磁気ディスク装置がそれ自体のＣＰＵにより単独
で試験を行う方法を、以降セルフテストと呼ぶ。2. Description of the Related Art Conventionally, a test method for a magnetic disk device is as follows.
The control device of the magnetic disk device is equipped with a test program,
The magnetic disk device was controlled and tested according to this test program. However, recently, a method has been used in which a magnetic disk device is independently tested by a control unit (hereinafter, referred to as CPU) included in the magnetic disk device without being controlled by the control device of the magnetic disk device. Here, a method in which the magnetic disk device independently performs a test by its own CPU will be referred to as a self test hereinafter.
【０００３】従来、このセルフテストは、磁気ディスク
装置の電子回路ボード上に搭載されているリード・オン
リー・メモリ（以下ＲＯＭという）の中に、磁気ディス
ク装置を制御するファームウェアとともに試験プログラ
ムも格納し、磁気ディスク装置のＣＰＵがＲＯＭより試
験プログラムを読み込むことにより試験が実行される。Conventionally, in this self-test, a test program is stored in a read-only memory (hereinafter referred to as a ROM) mounted on an electronic circuit board of a magnetic disk device together with firmware for controlling the magnetic disk device. The test is executed by the CPU of the magnetic disk device reading the test program from the ROM.
【０００４】[0004]
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の磁気デ
ィスク装置の試験方法は、セルフテストを実行するため
の試験プログラムがＲＯＭにより供給されるため、試験
内容の変更、例えば、試験規格や試験項目に変更があっ
た場合や、プログラムの不具合、あるいは改善などによ
りプログラムを変更する場合などには、ＲＯＭを一旦磁
気ディスク装置の電子回路ボード上から外し、消去，再
書き込みを行った後、再び電子回路ボードに搭載する必
要があり、これらの行為を行うためには多大の労力を要
するという欠点がある。In the above-described conventional method for testing a magnetic disk device, since the test program for executing the self-test is supplied from the ROM, the test content is changed, for example, the test standard or the test item. When there is a change in the program, or when the program is changed due to a program defect or improvement, etc., remove the ROM from the electronic circuit board of the magnetic disk device once, erase and rewrite, then re-write the electronic program. It has to be mounted on a circuit board and has the drawback that a great deal of labor is required to perform these actions.
【０００５】本発明の目的はこのような欠点を解消し、
セルフテストを行うための試験プログラムを容易に磁気
ディスク装置に供給することにある。The object of the present invention is to overcome these drawbacks,
It is to easily supply a test program for performing a self-test to a magnetic disk device.
【０００６】[0006]
【課題を解決するための手段】本発明は、磁気ディスク
装置がＲＯＭと同じように記憶装置の１つであるという
ことに着目し、ＲＯＭに試験プログラムを格納する代わ
りに、磁気ディクス装置のユーザーが使用できないデー
タ領域上に、磁気ディスク装置を試験するプログラムを
格納するための専用領域を設定し、その領域上に試験プ
ログラムを書き込んだ後、磁気ディスク装置自体のＣＰ
Ｕにより、専用領域上に書かれた試験プログラムを読み
込み、そのプログラムに基づいてセルフテストを行うこ
とを特徴とする。また、試験終了後には専用領域上に書
かれた試験プログラムを消去し、この領域をユーザーの
使用領域に復帰させてもよい。The present invention focuses on the fact that a magnetic disk device is one of the storage devices like a ROM, and instead of storing the test program in the ROM, the user of the magnetic disk device can use it. A dedicated area for storing the program for testing the magnetic disk device is set in a data area that cannot be used by the user, and after writing the test program in that area, the CP of the magnetic disk device itself is set.
It is characterized in that the U reads a test program written in the dedicated area and performs a self-test based on the program. After the test is completed, the test program written in the dedicated area may be erased and this area may be returned to the area used by the user.
【０００７】[0007]
【実施例】次に、本発明の一実施例について、磁気ディ
スク装置の代表的なインターフェースの１つであるスモ
ール・コンピュータ・システム・インターフェース（以
下ＳＣＳＩという）を備える磁気ディスク装置を例に挙
げ図面を参照して説明する。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A magnetic disk device having a small computer system interface (hereinafter referred to as SCSI), which is one of typical interfaces of a magnetic disk device, will be described below as an example of an embodiment of the present invention. Will be described with reference to.
【０００８】図１はセルフテスト用試験プログラムを磁
気ディスク装置に書き込むための構成を示すブロック図
である。FIG. 1 is a block diagram showing a configuration for writing a self-test test program in a magnetic disk device.
【０００９】まず、セルフテスト用試験プログラムを、
磁気ディスク装置３に媒体上のデータ領域上に書き込む
ために、磁気ディスク装置３は制御装置１が持つＳＣＳ
Ｉバス２を通して制御装置１に接続する。制御装置１
は、セルフテスト用試験プログラムをＳＣＳＩバス２を
介して磁気ディスク装置３に送り出すと、磁気ディスク
装置３は内部のＣＰＵの制御により、試験プログラムを
媒体上のデータ領域に書き込む。First, a test program for self-test is
In order to write to the data area on the medium in the magnetic disk device 3, the magnetic disk device 3 has an SCS that the control device 1 has.
It is connected to the control device 1 through the I-bus 2. Control device 1
Sends out the self-test test program to the magnetic disk device 3 via the SCSI bus 2, and the magnetic disk device 3 writes the test program in the data area on the medium under the control of the internal CPU.
【００１０】磁気ディスク装置３のデータ領域に試験プ
ログラムを書き込んだ後は、磁気ディスク装置３は制御
装置１から切り放す。以降、磁気ディスク装置３は制御
装置１からの制御を受けずにセルフテストを行うことが
可能となる。After writing the test program in the data area of the magnetic disk device 3, the magnetic disk device 3 is disconnected from the control device 1. After that, the magnetic disk device 3 can perform the self-test without being controlled by the control device 1.
【００１１】図２は従来の磁気ディスク装置のデータ領
域のマップと本発明によるデータ領域のマップとを比較
して示す図である。FIG. 2 is a diagram showing a comparison of a data area map of a conventional magnetic disk device and a data area map of the present invention.
【００１２】図２（ａ）は従来の磁気ディスク装置のデ
ータ領域４のマップを示す図であって、ＳＣＳＩを持つ
磁気ディスク装置においては、通常、データ領域４はい
くつかの区画に分割し、１つの区画をブロックと呼ぶ。
この区画が０からＮブロックまであると仮定すると、磁
気ディスク装置は０からＭブロックまでの数ブロック
と、ＬからＮブロックまでの数ブロックトを磁気ディス
ク装置の内部で使用するシステム領域５として使用し、
ユーザーがこれらのブロックを使用することはできな
い。従って、ユーザーが使用できる領域はＭからＬブロ
ックまでであり、これをユーザー使用領域６と呼ぶ。FIG. 2A is a diagram showing a map of the data area 4 of the conventional magnetic disk device. In a magnetic disk device having SCSI, the data area 4 is usually divided into several sections. One section is called a block.
Assuming that this partition is from 0 to N blocks, the magnetic disk device uses several blocks from 0 to M blocks and several blocks from L to N blocks as the system area 5 used inside the magnetic disk device. Then
Users cannot use these blocks. Therefore, the area that can be used by the user is from the M block to the L block, which is called the user use area 6.
【００１３】図２（ｂ）は本発明を実施する場合におけ
るデータ領域のマップを示す図であって、本発明におい
ては、システム領域５の他に、ユーザーが使用すること
のできない試験プログラム領域（ＭからＫブロックま
で）７を用意し、この領域に試験プログラムを書き込
む。この試験プログラム領域７はユーザーでは使用でき
ない領域であるため、一度試験プログラムを書き込め
ば、例えば、ユーザーから戻ってきた場合においても、
もう一度試験プログラムを書き込む必要はなく、直ちに
セルフテストを再実行することができる。FIG. 2 (b) is a diagram showing a map of the data area when the present invention is implemented. In the present invention, in addition to the system area 5, a test program area (which cannot be used by the user) 7 from M to K blocks) and write the test program in this area. This test program area 7 is an area that cannot be used by the user, so once the test program is written, for example, even when the user returns,
The self-test can be re-executed immediately without the need to write the test program again.
【００１４】図３は本発明により、実際に磁気ディスク
装置を試験する場合の一例を示すフローチャートであ
る。FIG. 3 is a flowchart showing an example of actually testing the magnetic disk device according to the present invention.
【００１５】磁気ディスク装置３を試験するに当たって
は、まず、制御装置１からの試験であるか、またはセル
フテストであるかを磁気ディスク装置３のＣＰＵに判断
させる選択スイッチを磁気ディスク装置３の電子回路ボ
ード上に搭載しておく。In testing the magnetic disk device 3, first, a selection switch for causing the CPU of the magnetic disk device 3 to determine whether the test is the test from the control device 1 or the self test is performed by the electronic device of the magnetic disk device 3. It is mounted on the circuit board.
【００１６】そして、磁気ディスク装置３に搭載された
この選択スイッチを制御装置１から試験する方に設定す
る（ステップ１０）。次に、図１に示したように、磁気
ディスク装置３を制御装置１に接続し（ステップ１
１）、制御装置５からの制御により磁気ディスク装置３
の初期動作確認と試験を行い、磁気ディスク装置３が正
常に動作し、その機能が満足いくものであることを確認
する（ステップ１２）。その後、図２（ｂ）に示すよう
なデータ領域４のマッピングを行う（ステップ１３）。
これにより、データ領域４は磁気ディスク装置内部で使
用するシステム領域５と、試験プログラムを書き込む試
験プログラム領域７と、ユーザーが使用できるユーザー
使用領域６とにそれぞれ割り付けられる。Then, the selection switch mounted on the magnetic disk device 3 is set by the controller 1 to be tested (step 10). Next, as shown in FIG. 1, the magnetic disk device 3 is connected to the control device 1 (step 1
1), the magnetic disk device 3 under the control of the controller 5
The initial operation is confirmed and tested to confirm that the magnetic disk device 3 operates normally and its function is satisfactory (step 12). After that, the data area 4 is mapped as shown in FIG. 2B (step 13).
As a result, the data area 4 is allocated to the system area 5 used inside the magnetic disk device, the test program area 7 for writing the test program, and the user use area 6 that can be used by the user.
【００１７】次に、試験プログラム領域７について、デ
ータの書き込み及び読み出し試験を行い（ステップ１
４）、試験終了後、セルフテスト用試験プログラムをこ
の領域に書き込む（ステップ１５）。試験プログラム領
域７に試験プログラムを書き込んだ後は、制御装置１よ
り磁気ディスク装置３を取り外し、（ステップ１６）、
磁気ディスク装置３に搭載された選択スイッチの設定を
セルフテストの方に変更する（ステップ１７）。Next, the test program area 7 is subjected to a data write and read test (step 1
4) After completion of the test, the test program for self-test is written in this area (step 15). After writing the test program in the test program area 7, the magnetic disk device 3 is removed from the control device 1 (step 16),
The setting of the selection switch mounted on the magnetic disk device 3 is changed to the self test (step 17).
【００１８】ここまで行った後は、磁気ディスク装置３
に通電するだけで、磁気ディクス装置３は、それ自信が
持つＣＰＵにより、試験プログラム領域７上に書かれた
試験プログラムを読み込み、そのプログラムに基づいて
セルフテストを行う（ステップ１８）。After this, the magnetic disk device 3
The magnetic disk device 3 reads the test program written on the test program area 7 by its own CPU and conducts a self-test based on the program only by energizing the device (step 18).
【００１９】なお、データの書き込み及び読み出し試験
はユーザー使用領域６についてのみ行う。そして、セル
フテストをすべて終了した後は、再び磁気ディスク装置
３に搭載された選択スイッチの設定を制御装置１から試
験する方に変更することによい、磁気ディスク装置３を
通常の使用状態に戻す。The data write / read test is performed only on the user use area 6. Then, after completing all the self-tests, it is preferable to change the setting of the selection switch mounted on the magnetic disk device 3 again from the control device 1 to the one to be tested. The magnetic disk device 3 is returned to the normal use state. .
【００２０】図４は本発明により、実際に磁気ディスク
装置を試験する場合の他の実施例を示すフローチャート
である。図４に示すフローチャートは、図３のフローチ
ャートに、試験プログラム領域解放（ステップ１９）を
追加してものであって、試験プログラム領域７に書き込
まれた試験プログラムを消去し、この領域を解放してユ
ーザー使用領域６をＭからＬブロックまでの状態に復帰
させる。これによって、セルフテストをすべて終了した
後は、再び磁気ディスク装置３に搭載された選択スイッ
チの設定を制御装置１から試験する側に変更することに
より、磁気ディスク装置３を通常の使用状態に戻すよう
にしたものである。FIG. 4 is a flowchart showing another embodiment for actually testing the magnetic disk device according to the present invention. The flowchart shown in FIG. 4 is obtained by adding a test program area release (step 19) to the flowchart of FIG. 3, so that the test program written in the test program area 7 is erased and this area is released. The user use area 6 is returned to the state from M to L blocks. As a result, after completing the self-test, the setting of the selection switch mounted on the magnetic disk device 3 is changed again from the control device 1 to the side to be tested, thereby returning the magnetic disk device 3 to the normal use state. It was done like this.
【００２１】[0021]
【発明の効果】以上説明したように、本発明の磁気ディ
スク装置の試験方法は、磁気ディスク装置の試験プログ
ラムを磁気ディスク装置のデータ面上に書き込むため
に、試験内容の変更、例えば、試験規格や試験項目に変
更があった場合や、プログラムの不具合、あるいは改善
などによりプログラムを変更する場合などにおいて、Ｒ
ＯＭのように一旦電子回路ボードから取り外して、再書
き込みした後再び搭載するといった行為を行う必要がな
く、磁気ディスク装置を制御装置に接続するのみで、容
易に試験プログラムを書き換えることが可能となる。As described above, the method for testing a magnetic disk device of the present invention changes the test content, for example, the test standard, in order to write the test program for the magnetic disk device on the data surface of the magnetic disk device. If there is a change in the test item or the test item, or if the program is changed due to a program defect or improvement, R
Unlike the OM, it is not necessary to remove the electronic circuit board from the electronic circuit board, rewrite it, and then mount it again. It is possible to easily rewrite the test program simply by connecting the magnetic disk device to the control device. .
【００２２】また、試験プログラムは磁気ディスク装置
のデータ面上に記録されているので、停電などで電源が
切れた場合でも試験プログラムは消えることなく、再び
セルフテストを実行することができる。Further, since the test program is recorded on the data surface of the magnetic disk device, even if the power is cut off due to a power failure or the like, the test program does not disappear and the self test can be executed again.
【００２３】さらに、試験プログラムのための専用領域
は試験終了後、ユーザー使用領域に復帰させることによ
り、ユーザーには、ユーザー使用領域を縮小せずに最大
限に提供することができる。Further, the dedicated area for the test program is restored to the user use area after the test is completed, so that the user can be provided with the maximum area without reducing the user use area.
【図１】本発明の一実施例を実現するセルフテスト用試
験プログラムを磁気ディスク装置に書き込むための構成
を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing a configuration for writing a self-test test program for implementing an embodiment of the present invention into a magnetic disk device.
【図２】分図（ａ）は通常の磁気ディスク装置のデータ
領域を示す図であり、分図（ｂ）は本発明を実施する場
合のデータ領域を示す図である。FIG. 2A is a diagram showing a data area of a normal magnetic disk device, and FIG. 2B is a diagram showing a data area when the present invention is carried out.
【図３】本発明による磁気ディスク装置を試験する場合
の一例を示すフローチャートである。FIG. 3 is a flowchart showing an example of testing a magnetic disk device according to the present invention.
【図４】本発明による磁気ディスク装置を試験する場合
の他の例を示すフローチャートである。FIG. 4 is a flowchart showing another example of testing the magnetic disk device according to the present invention.
１ 制御装置 ２ ＳＣＳＩバス ３ 磁気ディスク装置 ４ データ領域 ５ システム領域 ６ ユーザー使用領域 ７ 試験プログラム領域 1 Controller 2 SCSI Bus 3 Magnetic Disk Unit 4 Data Area 5 System Area 6 User Area 7 Test Program Area
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15717192AJPH065008A (en) | 1992-06-17 | 1992-06-17 | Testing method for magnetic disk device |
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15717192AJPH065008A (en) | 1992-06-17 | 1992-06-17 | Testing method for magnetic disk device |
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH065008Atrue JPH065008A (en) | 1994-01-14 |
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15717192AWithdrawnJPH065008A (en) | 1992-06-17 | 1992-06-17 | Testing method for magnetic disk device |
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH065008A (en) |
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100496167B1 (en)* | 1997-12-31 | 2005-09-02 | 삼성전자주식회사 | How to use the maintenance area of the disk for storing information |
| KR100496178B1 (en)* | 1997-12-29 | 2005-09-13 | 삼성전자주식회사 | Information retrieval method of system area in disk for storing information of disk drive for storing information |
| US7457065B2 (en) | 2002-11-28 | 2008-11-25 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. | Systems and methods for hard disk drive optimization and manufacturing |
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100496178B1 (en)* | 1997-12-29 | 2005-09-13 | 삼성전자주식회사 | Information retrieval method of system area in disk for storing information of disk drive for storing information |
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| US7457065B2 (en) | 2002-11-28 | 2008-11-25 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. | Systems and methods for hard disk drive optimization and manufacturing |
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination | Free format text:JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date:19990831 |