JP7683902B2 - Inspection device and inspection system - Google Patents

Description

Translated fromJapanese

本発明は、検査装置、および、検査システムに関する。The present invention relates to an inspection device and an inspection system.

従来、特許文献１（特開２０１４－０４８１７８号公報）に開示されているように、物品に対して電磁波としてのＸ線を照射し、検査画像としてのＸ線画像を作成することで、物品の異常を検出する検査装置が知られている。As disclosed in Patent Document 1 (JP 2014-048178 A), there is a known inspection device that detects abnormalities in an object by irradiating the object with X-rays as electromagnetic waves and creating an X-ray image as an inspection image.

上記の特許文献１に記載の検査装置では、Ｘ線透視像信号の値が、所定の閾値よりも小さい場合に検査対象に異物が混入していると判定する。また、上記の特許文献１では、異物ありと判定された領域（画素）を視認できるように、異物ありと判定された領域を赤色に塗りつぶす例が示されている。The inspection device described in theabove Patent Document 1 determines that a foreign object is present in the inspection object when the value of the X-ray fluoroscopic image signal is smaller than a predetermined threshold value. Theabove Patent Document 1 also shows an example in which an area (pixel) determined to contain a foreign object is filled in red so that the area can be visually identified.

上記の特許文献１に記載の検査装置では、異常確信度を、Ｘ線画像から容易に確認することができない。The inspection device described inPatent Document 1 above does not allow the degree of certainty of an abnormality to be easily confirmed from X-ray images.

本開示の課題は、異常確信度を容易に確認することができる検査装置を提供することである。The objective of this disclosure is to provide an inspection device that can easily check the degree of certainty of anomalies.

第１観点に係る検査装置は、物品を検査する検査装置である。検査装置は、照射部と、検出部と、画像生成部と、表示部と、制御部と、を備える。照射部は、物品に電磁波を照射する。検出部は、物品を透過した又は物品に反射した電磁波を検出する。画像生成部は、検出部の検出結果に基づいて、物品の検査画像を生成する。表示部は、検査画像を表示する。制御部は、表示部における検査画像の表示態様を変更させる。制御部は、検査画像を構成する画素ごとに、異常状態の確からしさを示す異常確信度を算出する。制御部は、異常確信度の大きさに基づき画素の表示態様を変化させる。The inspection device according to the first aspect is an inspection device that inspects an object. The inspection device includes an irradiation unit, a detection unit, an image generation unit, a display unit, and a control unit. The irradiation unit irradiates an electromagnetic wave onto the object. The detection unit detects the electromagnetic wave that has passed through the object or been reflected by the object. The image generation unit generates an inspection image of the object based on the detection result of the detection unit. The display unit displays the inspection image. The control unit changes the display mode of the inspection image on the display unit. The control unit calculates an abnormality certainty indicating the likelihood of an abnormal state for each pixel constituting the inspection image. The control unit changes the display mode of the pixel based on the magnitude of the abnormality certainty.

この構成によれば、異常確信度を確認することが容易である。This configuration makes it easy to confirm the anomaly confidence level.

第２観点に係る検査装置は、第１観点に係る検査装置であって、画素は、画素値として色相を含む。制御部は、異常確信度の大きさに基づき画素の表示態様を変化させる際に、異なる異常確信度に対し異なる色相が対応するように変化させる。The inspection device according to the second aspect is the inspection device according to the first aspect, in which the pixels include a hue as a pixel value. When changing the display mode of the pixels based on the magnitude of the abnormality certainty, the control unit changes the display mode so that different hues correspond to different abnormality certainty.

第３観点に係る検査装置は、第１観点又は第２観点に係る検査装置であって、画素は、画素値として明度、輝度、彩度のうち少なくとも一つを含む。制御部は、異常確信度の大きさに基づき画素の表示態様を変化させる際に、異なる異常確信度に対し明度、輝度、彩度のうち少なくとも一つの大きさが異なるものが対応するように変化させる。The inspection device according to the third aspect is the inspection device according to the first or second aspect, in which the pixels include at least one of lightness, luminance, and saturation as pixel values. When changing the display mode of the pixels based on the magnitude of the abnormality certainty, the control unit changes the display mode of the pixels so that at least one of the lightness, luminance, and saturation has a different magnitude corresponding to different abnormality certainty.

第４観点に係る検査装置は、第１観点から第３観点のいずれかに記載の検査装置であって、制御部は、異常確信度が第１閾値以上である画素と、第１閾値未満である画素との表示態様を異ならせる。且つ、制御部は、異常確信度が第１閾値以上である画素については異常確信度に応じて表示態様を変化させ、検査画像を視覚的に区分して、表示部に表示させる。The inspection device according to the fourth aspect is the inspection device according to any one of the first to third aspects, in which the control unit differentiates the display mode of pixels whose anomaly confidence level is equal to or greater than a first threshold from pixels whose anomaly confidence level is less than the first threshold. Furthermore, the control unit changes the display mode of pixels whose anomaly confidence level is equal to or greater than the first threshold in accordance with the anomaly confidence level, visually dividing the inspection image and displaying it on the display unit.

第５観点に係る検査装置は、第４観点に係る検査装置であって、制御部は、異常確信度が第１閾値未満である画素については検査画像における画素値に基づいて表示部に表示させる。The inspection device according to the fifth aspect is the inspection device according to the fourth aspect, in which the control unit causes the display unit to display pixels whose abnormality confidence level is less than the first threshold value based on the pixel value in the inspection image.

第６観点に係る検査装置は、第１観点から第３観点のいずれかに記載の検査装置であって、制御部は、異常確信度が第１閾値以上である画素と、第１閾値未満である画素との表示態様を異ならせる。且つ、制御部は、第１閾値未満である画素については異常確信度に応じて表示態様を変化させ、検査画像を視覚的に区分して、表示部に表示させる。The inspection device according to the sixth aspect is the inspection device according to any one of the first to third aspects, in which the control unit differentiates the display mode of pixels whose anomaly confidence level is equal to or greater than a first threshold value from pixels whose anomaly confidence level is less than the first threshold value. The control unit also changes the display mode of pixels whose anomaly confidence level is less than the first threshold value according to the anomaly confidence level, visually dividing the inspection image and displaying it on the display unit.

第７観点に係る検査装置は、第６観点に係る検査装置であって、制御部は、異常確信度が第１閾値以上である画素と、第１閾値未満である画素との表示態様を異ならせる。且つ、制御部は、異常確信度が第１閾値以上である画素については検査画像における画素値に基づいて、表示部に表示させる。The inspection device according to the seventh aspect is the inspection device according to the sixth aspect, in which the control unit differentiates the display mode of pixels whose abnormality confidence level is equal to or greater than a first threshold value from pixels whose abnormality confidence level is less than the first threshold value. Furthermore, the control unit causes the display unit to display pixels whose abnormality confidence level is equal to or greater than the first threshold value based on pixel values in the inspection image.

第８観点に係る検査装置は、第６観点又は第７観点に係る検査装置であって、制御部は、異常確信度が第１閾値よりも小さい閾値である第２閾値未満である画素については、検査画像における画素値に基づいて表示部に表示させる。The inspection device according to the eighth aspect is the inspection device according to the sixth or seventh aspect, and the control unit causes the display unit to display, on the basis of the pixel value in the inspection image, pixels whose abnormality certainty is less than a second threshold value that is smaller than the first threshold value.

第９観点に係る検査装置は、第６観点から第８観点のいずれかに記載の検査装置であって、制御部は、異常確信度が第１閾値未満である画素であって、且つ、異常確信度が第１閾値以上である画素からの距離が所定範囲内に位置する画素を、検査画像における画素値に基づいて、表示部に表示させる。The inspection device according to the ninth aspect is the inspection device according to any one of the sixth to eighth aspects, in which the control unit causes the display unit to display, based on pixel values in the inspection image, pixels whose abnormality confidence level is less than a first threshold value and that are located within a predetermined distance from pixels whose abnormality confidence level is equal to or greater than the first threshold value.

第１０観点に係る検査装置は、第６観点から第９観点のいずれかに記載の検査装置であって、制御部は、異常確信度が第１閾値未満である画素であって、且つ、異常確信度が第１閾値以上である画素からの距離が所定範囲内に位置する画素に対して、マーキングを行って表示させる。The inspection device according to the tenth aspect is the inspection device according to any one of the sixth to ninth aspects, in which the control unit performs marking and displays pixels whose abnormality confidence level is less than a first threshold value and that are located within a predetermined distance from a pixel whose abnormality confidence level is equal to or greater than the first threshold value.

第１１観点に係る検査システムは、第１観点から第１０観点のいずれかに記載の検査装置と、振分部と、を備える。振分部は、物品を、第１方向と、第１方向とは異なる第２方向とに振り分ける。検査装置の制御部は、検査画像に含まれる画素のうち、異常確信度の大きさが第１閾値以上である画素が所定数以上である場合に、検査画像に対応する物品に異常があると判断して、振分部に、物品を第１方向に振り分けさせる。制御部は、それ以外の場合に、検査画像に対応する物品に異常がないと判断して、振分部に、物品を第２方向に振り分けさせる。An inspection system according to an eleventh aspect includes an inspection device according to any one of the first to tenth aspects, and a sorting unit. The sorting unit sorts the items into a first direction and a second direction different from the first direction. When a predetermined number or more of pixels in the inspection image have an abnormality certainty level equal to or greater than a first threshold, the control unit of the inspection device determines that the item corresponding to the inspection image has an abnormality and causes the sorting unit to sort the items into the first direction. In other cases, the control unit determines that the item corresponding to the inspection image does not have an abnormality and causes the sorting unit to sort the items into the second direction.

この検査システムは、異常確信度を確認することが容易な検査装置を備えている。このため、第１１観点に係る検査システムでは、作業効率が向上する。This inspection system is equipped with an inspection device that makes it easy to confirm the degree of certainty of anomaly. Therefore, the inspection system according to the eleventh aspect improves work efficiency.

本発明に係る検査装置および、検査システムでは、異常確信度の確認が容易である。The inspection device and inspection system of the present invention make it easy to confirm the degree of certainty of anomalies.

本発明の一実施形態である検査装置の外観を示す斜視図である。1 is a perspective view showing the appearance of an inspection device according to an embodiment of the present invention;検査装置が組み込まれる検査システムの概略図である。1 is a schematic diagram of an inspection system in which the inspection device is incorporated.検査装置のシールドボックスの内部の概略図である。FIG. 2 is a schematic diagram of the inside of a shielding box of the inspection device.検知部によって検出される透過Ｘ線の強度の例を示すグラフである。11 is a graph showing an example of the intensity of transmitted X-rays detected by a detection unit.表示部と表示部に表示される検査画像の例を示す概略図である。3 is a schematic diagram showing an example of a display unit and an inspection image displayed on the display unit. FIG.制御装置のブロック図である。FIG. 2 is a block diagram of a control device.ニューラルネットワークの構成を示す模式図である。FIG. 2 is a schematic diagram showing the configuration of a neural network.画像生成部により生成される画像の一例である。4 is an example of an image generated by an image generating unit.画像処理部の処理によって作成される検査画像の一例である。4 is an example of an inspection image created by processing of an image processing unit.画像処理部の処理によって作成される検査画像の一例である。4 is an example of an inspection image created by processing of an image processing unit.画像処理部の処理によって作成される検査画像の一例である。4 is an example of an inspection image created by processing of an image processing unit.検査装置が物品を検査する処理のフローチャートである。4 is a flowchart of a process in which the inspection device inspects an item.画像処理部の処理によって作成される検査画像の一例である。4 is an example of an inspection image created by processing of an image processing unit.画像処理部の処理によって作成される検査画像の一例である。4 is an example of an inspection image created by processing of an image processing unit.画像処理部の処理によって作成される検査画像の一例である。4 is an example of an inspection image created by processing of an image processing unit.画像処理部の処理によって作成される検査画像の一例である。4 is an example of an inspection image created by processing of an image processing unit.第２実施形態に係る制御装置のブロック図である。FIG. 11 is a block diagram of a control device according to a second embodiment.第２実施形態に係る表示部と表示部に表示される検査画像の例を示す概略図である。13 is a schematic diagram showing an example of a display unit according to a second embodiment and an inspection image displayed on the display unit. FIG.第２実施形態に係る画像処理部の処理によって作成される検査画像の一例である。13 is an example of an inspection image created by processing of an image processing unit according to the second embodiment.第２実施形態に係る画像処理部の処理によって作成される検査画像の一例である。13 is an example of an inspection image created by processing of an image processing unit according to the second embodiment.第２実施形態に係る画像処理部の処理によって作成される検査画像の一例である。13 is an example of an inspection image created by processing of an image processing unit according to the second embodiment.第２実施形態に係る画像処理部の処理によって作成される検査画像の一例である。13 is an example of an inspection image created by processing of an image processing unit according to the second embodiment.第２実施形態に係る画像処理部の処理によって作成される検査画像の一例である。13 is an example of an inspection image created by processing of an image processing unit according to the second embodiment.従来技術に係る検査装置によって生成される検査画像の一例である。1 is an example of an inspection image generated by an inspection device according to the prior art.

以下、本開示の一実施形態に係る検査装置について図面を参照しながら説明する。なお、以下の実施形態は、具体例であって、技術的範囲を限定するものではなく、趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更可能である。また、以下の図面では各構成部材の大きさの関係が実際のものとは異なる場合がある。Below, an inspection device according to an embodiment of the present disclosure will be described with reference to the drawings. Note that the following embodiment is a specific example and does not limit the technical scope, and can be modified as appropriate without departing from the spirit of the invention. Also, the size relationships between the components in the following drawings may differ from the actual ones.

＜第１実施形態＞
（１）検査システムの全体構成
検査システム１００及び検査システム１００に含まれる検査装置１０の概要を、図１及び図２を参照しながら説明する。 First Embodiment
(1) Overall Configuration of the Inspection System An overview of theinspection system 100 and theinspection device 10 included in theinspection system 100 will be described with reference to FIGS. 1 and 2. FIG.

図１は、本開示に係る検査装置１０の一実施形態であるＸ線検査装置の外観を示す斜視図である。なお、後述するように、本開示はＸ線検査装置のみに適用されるものではなく、多種多様な装置に適用可能である。図２は、検査装置１０が組み込まれる検査システム１００の概略図である。検査システム１００は、検査装置１０と、振分部７０と、を備える。本実施形態に係る検査システム１００では、検査装置１０と振分部７０とがそれぞれ別体に構成されている。検査装置１０と振分部７０とは、通信線等によって電気的に接続されている。この構成により、検査装置１０の後述する制御部５２は、検査装置１０と、振分部７０とを制御することができる。検査システム１００は、物品Ｐの検査を行う。検査システム１００において、物品Ｐは、前段コンベア６０によって検査装置１０まで搬送される。図２では、物品Ｐが搬送される方向は、矢印で示されている。FIG. 1 is a perspective view showing the appearance of an X-ray inspection device, which is an embodiment of theinspection device 10 according to the present disclosure. As will be described later, the present disclosure is applicable not only to X-ray inspection devices, but also to a wide variety of devices. FIG. 2 is a schematic diagram of aninspection system 100 in which theinspection device 10 is incorporated. Theinspection system 100 includes theinspection device 10 and asorting unit 70. In theinspection system 100 according to the present embodiment, theinspection device 10 and the sortingunit 70 are configured separately. Theinspection device 10 and the sortingunit 70 are electrically connected by a communication line or the like. With this configuration, thecontrol unit 52 of theinspection device 10, which will be described later, can control theinspection device 10 and the sortingunit 70. Theinspection system 100 inspects the item P. In theinspection system 100, the item P is transported to theinspection device 10 by the front-stage conveyor 60. In FIG. 2, the direction in which the item P is transported is indicated by an arrow.

検査装置１０は、前段コンベア６０によって連続的に搬送されてくる物品Ｐに電磁波としてのＸ線を照射することにより、物品Ｐの検査を行う。例えば、本実施形態に係る検査装置１０は、物品Ｐの異物混入検査を行い、検査結果に基づいて物品Ｐを良品又は不良品に分類する。なお、後述するように、本開示に係る検査装置が行う検査は異物混入検査に限定されるものではなく、検査装置１０は多種多様な検査を実施することができる。検査装置１０によって行われた検査の結果は、制御部５２によって、検査装置１０の下流側に配置されている振分部７０の振分部制御装置１７０に送られる。Theinspection device 10 inspects the items P by irradiating the items P, which are continuously transported by the front-stage conveyor 60, with X-rays as electromagnetic waves. For example, theinspection device 10 according to this embodiment inspects the items P for foreign matter contamination and classifies the items P as good or defective based on the inspection results. As will be described later, the inspection performed by the inspection device according to the present disclosure is not limited to foreign matter contamination inspection, and theinspection device 10 can perform a wide variety of inspections. The results of the inspection performed by theinspection device 10 are sent by thecontrol unit 52 to the sortingunit control device 170 of the sortingunit 70, which is located downstream of theinspection device 10.

振分部制御装置１７０は、検査装置１０において良品と判断された物品Ｐを、第１方向Ｄ１へ振り分けるように振分部７０を制御する。第１方向Ｄ１は、例えば良品を排出する後段コンベア８０へと向かう方向である。振分部制御装置１７０は、検査装置１０において不良品と判断された物品Ｐを、第２方向Ｄ２へ振り分けるように振分部７０を制御する。第２方向Ｄ２は、例えば不良品排出方向であり、第２方向Ｄ２に振り分けられた物品Ｐは、検査システム１００から排出される。詳細は後述する。The sortingsection control device 170 controls thesorting section 70 to sort the items P that have been determined to be good products by theinspection device 10 in a first direction D1. The first direction D1 is, for example, the direction toward thedownstream conveyor 80 that discharges good products. The sortingsection control device 170 controls thesorting section 70 to sort the items P that have been determined to be defective products by theinspection device 10 in a second direction D2. The second direction D2 is, for example, the direction in which defective products are discharged, and the items P sorted in the second direction D2 are discharged from theinspection system 100. Details will be described later.

なお、限定するものではないが、本実施形態における物品Ｐは、例えば鶏肉である。また、物品Ｐに含まれる異物は、例えば骨である。In this embodiment, the item P is, for example, chicken meat, but is not limited thereto. Furthermore, the foreign object contained in the item P is, for example, a bone.

（２）検査装置の詳細な説明
本実施形態に係る検査装置１０は、主として、シールドボックス１１と、搬送ユニット１２と、照射部２０と、検出部３０と、表示部４０と、制御装置５０と、から構成される。 (2) Detailed Description of the Inspection Apparatus Theinspection apparatus 10 according to this embodiment is mainly composed of ashielding box 11, atransport unit 12, anirradiation unit 20, adetection unit 30, adisplay unit 40, and acontrol device 50.

（２－１）シールドボックス
図３は、検査装置１０のシールドボックス１１の内部の概略図である。シールドボックス１１は、検査装置１０のケーシングである。図１に示されるように、シールドボックス１１の両側面には、物品Ｐを搬出入するための開口１１ａが形成されている。開口１１ａは、シールドボックス１１の外部から内部に物品Ｐを搬入するため、又は、シールドボックス１１の内部から外部に物品Ｐを搬出するために用いられる。開口１１ａは、遮蔽のれん１９により塞がれている。遮蔽のれん１９は、シールドボックス１１の内部から外部へのＸ線の漏洩を抑える。遮蔽のれん１９は、タングステンシートから成形される。遮蔽のれん１９は、物品Ｐが搬出入される時に物品Ｐによって押しのけられる。 (2-1) Shielding Box FIG. 3 is a schematic diagram of the inside of theshielding box 11 of theinspection device 10. Theshielding box 11 is a casing of theinspection device 10. As shown in FIG. 1, anopening 11a is formed on both sides of theshielding box 11 for carrying an article P in and out. Theopening 11a is used for carrying an article P from the outside to the inside of theshielding box 11, or for carrying an article P from the inside of theshielding box 11 to the outside. Theopening 11a is blocked by a shieldingcurtain 19. The shieldingcurtain 19 suppresses leakage of X-rays from the inside of theshielding box 11 to the outside. The shieldingcurtain 19 is formed from a tungsten sheet. The shieldingcurtain 19 is pushed aside by the article P when the article P is carried in or out.

シールドボックス１１の内部には、搬送ユニット１２、照射部２０、検出部３０及び制御装置５０等が収容されている。シールドボックス１１の正面上部には、表示部４０、入力用のキー、及び、電源スイッチ等が配置されている。Theshielding box 11 contains atransport unit 12, anirradiation unit 20, adetection unit 30, acontrol device 50, etc. Theshielding box 11 has adisplay unit 40, input keys, a power switch, etc., located at the top front of the box.

（２－２）搬送ユニット
搬送ユニット１２は、シールドボックス１１の内部を通過するように物品Ｐを搬送するためのベルトコンベアである。図１に示されるように、搬送ユニット１２は、シールドボックス１１の両側面に形成された開口１１ａを貫通するように配置されている。 (2-2) Transport Unit Thetransport unit 12 is a belt conveyor for transporting the article P through the inside of theshielding box 11. As shown in Fig. 1, thetransport unit 12 is disposed so as to pass throughopenings 11a formed on both side surfaces of theshielding box 11.

搬送ユニット１２は、主として、コンベアモータ１２ａと、エンコーダ１２ｂと、コンベアローラ１２ｃと、無端状のベルト１２ｄとから構成されている。コンベアローラ１２ｃは、コンベアモータ１２ａによって駆動される。コンベアローラ１２ｃの駆動により、ベルト１２ｄが回転し、ベルト１２ｄ上の物品Ｐが搬送される。図４において、物品Ｐが搬送される方向は矢印で示されている。Thetransport unit 12 is mainly composed of aconveyor motor 12a, anencoder 12b, aconveyor roller 12c, and anendless belt 12d. Theconveyor roller 12c is driven by theconveyor motor 12a. The driving of theconveyor roller 12c rotates thebelt 12d, and the article P on thebelt 12d is transported. In FIG. 4, the direction in which the article P is transported is indicated by an arrow.

搬送ユニット１２による物品Ｐの搬送速度は、検査装置１０のオペレータによって入力された設定速度に応じて変動する。制御装置５０は、設定速度に基づいてコンベアモータ１２ａをインバータ制御し、物品Ｐの搬送速度を細かく制御する。搬送ユニット１２のエンコーダ１２ｂは、コンベアモータ１２ａの回転速度を検出することで物品Ｐの搬送速度を算出し、制御装置５０に送信する。The transport speed of the item P by thetransport unit 12 varies according to the set speed input by the operator of theinspection device 10. Thecontrol device 50 inverter controls theconveyor motor 12a based on the set speed, precisely controlling the transport speed of the item P. Theencoder 12b of thetransport unit 12 detects the rotation speed of theconveyor motor 12a to calculate the transport speed of the item P and transmits it to thecontrol device 50.

なお、搬送ユニット１２は、搬送機構としてベルトコンベアを用いているが、ベルトコンベアの代わりにトップチェーンコンベア及び回転テーブル等を搬送機構として用いてもよい。Although thetransport unit 12 uses a belt conveyor as the transport mechanism, a top chain conveyor and a rotating table, etc. may be used as the transport mechanism instead of the belt conveyor.

（２－３）照射部
照射部２０は、シールドボックス１１内部の所定の位置まで搬送ユニット１２によって搬送された物品Ｐに、電磁波の一例としてのＸ線を照射するＸ線源である。照射部２０から照射されるＸ線には、様々なエネルギーのＸ線が含まれている。 (2-3) Irradiation Unit Theirradiation unit 20 is an X-ray source that irradiates X-rays, which are an example of electromagnetic waves, to the object P transported by thetransport unit 12 to a predetermined position inside theshield box 11. The X-rays irradiated from theirradiation unit 20 include X-rays of various energies.

図３に示されるように、照射部２０は、搬送ユニット１２の上方に配置されている。照射部２０は、搬送ユニット１２の下方に配置される検出部３０に向けて扇状のＸ線（放射光）を照射する。Ｘ線の照射範囲ＩＲは、図３に示されるように、搬送ユニット１２の搬送面に対して垂直であり、かつ、搬送ユニット１２によって物品Ｐが搬送される方向に対して直交する方向に広がる。換言すると、照射部２０から照射されるＸ線は、ベルト１２ｄの幅方向に広がる。As shown in FIG. 3, theirradiation unit 20 is disposed above thetransport unit 12. Theirradiation unit 20 irradiates fan-shaped X-rays (radiation light) toward thedetection unit 30 disposed below thetransport unit 12. As shown in FIG. 3, the X-ray irradiation range IR is perpendicular to the transport surface of thetransport unit 12 and extends in a direction perpendicular to the direction in which the article P is transported by thetransport unit 12. In other words, the X-rays irradiated from theirradiation unit 20 extend in the width direction of thebelt 12d.

（２－４）検出部
検出部３０は、照射部２０から照射されたＸ線を検出するセンサである。具体的には、検出部３０は、搬送ユニット１２によって搬送された物品Ｐを透過したＸ線である透過Ｘ線を検出する。 (2-4) Detection Section Thedetection section 30 is a sensor that detects X-rays irradiated from theirradiation section 20. Specifically, thedetection section 30 detects transmitted X-rays that have passed through the object P transported by thetransport unit 12.

図３に示されるように、検出部３０は、搬送ユニット１２のベルト１２ｄの下方に配置されている。検出部３０は、複数のＸ線検出素子３０ａから構成されている。複数のＸ線検出素子３０ａは、搬送ユニット１２によって物品Ｐが搬送される方向に直交する方向（ベルト１２ｄの幅方向）に沿って一直線に水平に配置されている。As shown in FIG. 3, thedetection unit 30 is disposed below thebelt 12d of thetransport unit 12. Thedetection unit 30 is composed of multipleX-ray detection elements 30a. The multipleX-ray detection elements 30a are arranged horizontally in a straight line along a direction perpendicular to the direction in which the article P is transported by the transport unit 12 (the width direction of thebelt 12d).

検出部３０は、透過Ｘ線を検出し、検出された透過Ｘ線の強度に応じた電圧を示すＸ線透過信号を出力する。Ｘ線透過信号は、後述するように、物品Ｐの透過画像（検査画像）の生成に用いられる。図４は、検出部３０によって検出される透過Ｘ線の強度の例を示すグラフである。グラフの横軸は、検出部３０上の位置を表す。グラフの縦軸は、検出部３０が検出した透過Ｘ線の強度を表す。Thedetection unit 30 detects the transmitted X-rays and outputs an X-ray transmission signal indicating a voltage corresponding to the intensity of the detected transmitted X-rays. The X-ray transmission signal is used to generate a transmitted image (inspection image) of the item P, as described below. FIG. 4 is a graph showing an example of the intensity of transmitted X-rays detected by thedetection unit 30. The horizontal axis of the graph represents the position on thedetection unit 30. The vertical axis of the graph represents the intensity of transmitted X-rays detected by thedetection unit 30.

物品Ｐの検査画像では、透過Ｘ線の検出量の多いところが明るく（輝度が高く）表示され、透過Ｘ線の検出量が少ないところが暗く（輝度が低く）表示される。すなわち、物品Ｐの検査画像の明暗（輝度）は、透過Ｘ線の検出量に依存する。図４に示されるように、物品Ｐを透過したＸ線の検出量は、物品Ｐを透過しなかったＸ線の検出量より低い。In the inspection image of the item P, areas where a large amount of transmitted X-rays is detected are displayed brightly (high brightness), and areas where a small amount of transmitted X-rays is detected are displayed darkly (low brightness). In other words, the brightness (brightness) of the inspection image of the item P depends on the amount of transmitted X-rays detected. As shown in Figure 4, the amount of X-rays that have passed through the item P is lower than the amount of X-rays that have not passed through the item P.

（２－５）表示部
本実施形態において、表示部４０は、タッチパネル機能付きの液晶ディスプレイである。表示部４０は、検査装置１０の入力部としても機能する。表示部４０には、例えば物品Ｐの検査結果等が表示される。また、図５に示されるように、表示部４０には、物品Ｐの良否判断に関するパラメータの入力のための画面等が表示される。 (2-5) Display Unit In this embodiment, thedisplay unit 40 is a liquid crystal display with a touch panel function. Thedisplay unit 40 also functions as an input unit of theinspection device 10. For example, the inspection results of the item P are displayed on thedisplay unit 40. Also, as shown in Fig. 5, thedisplay unit 40 displays a screen for inputting parameters related to the pass/fail judgment of the item P, etc.

検査装置１０のオペレータは、表示部４０を操作して、検査パラメータ及び動作設定情報等を入力することができる。検査パラメータとは、物品Ｐの良否を判定するために必要なパラメータである。具体的には、検査パラメータは、物品Ｐに含まれる異常（異物）の有無を判定するために用いられる第１閾値Ｋ１等の閾値や、異常確信度等である。動作設定情報とは、物品Ｐの検査速度、及び、搬送ユニット１２の搬送方向等の情報である。The operator of theinspection device 10 can operate thedisplay unit 40 to input inspection parameters, operation setting information, etc. Inspection parameters are parameters necessary for determining whether the item P is good or bad. Specifically, the inspection parameters are thresholds such as the first threshold K1 used to determine the presence or absence of an abnormality (foreign matter) contained in the item P, the abnormality certainty, etc. Operation setting information is information such as the inspection speed of the item P and the conveying direction of the conveyingunit 12.

本実施形態において、第１閾値Ｋ１は、物品の異常確信度に関する閾値である。本実施形態においては、物品Ｐの検査画像を構成する画素の異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上となることで、又は、第１閾値Ｋ１以下となることで、検査画像の表示態様が変化する。詳細は後述する。In this embodiment, the first threshold K1 is a threshold related to the abnormality certainty of the item. In this embodiment, when the magnitude of the abnormality certainty of the pixels constituting the inspection image of the item P becomes equal to or greater than the first threshold K1, or becomes equal to or less than the first threshold K1, the display mode of the inspection image changes. Details will be described later.

本実施形態において、異常確信度は、物品Ｐに生じている異常状態の確からしさを示すパラメータである。物品Ｐに生じている異常状態とは、例えば、物品Ｐに異物が混入されている状態等を含む。異常確信度は、物品Ｐの検査画像を構成する画素から算出することができる。詳細は後述する。In this embodiment, the abnormality certainty is a parameter that indicates the likelihood of an abnormal state occurring in the item P. An abnormal state occurring in the item P includes, for example, a state in which a foreign object has been mixed into the item P. The abnormality certainty can be calculated from the pixels that make up the inspection image of the item P. Details will be described later.

本実施形態において、第１閾値Ｋ１は、異常確信度の上限又は下限を限度として設定することができる。限定するものではないが、本実施形態において、異常確信度の下限は０で、上限は２５５とする。本実施形態において、第１閾値Ｋ１は、例えば異常確信度１５０に設定されるものとする。In this embodiment, the first threshold K1 can be set to the upper or lower limit of the abnormality confidence level. Although not limited thereto, in this embodiment, the lower limit of the abnormality confidence level is 0 and the upper limit is 255. In this embodiment, the first threshold K1 is set to, for example, an abnormality confidence level of 150.

本開示に係る検査装置１０は、第１閾値Ｋ１の大きさの変更をオペレータ（ユーザ）から受け付ける閾値変更部９０を備える。後述する制御部５２は、閾値変更部９０が受け付けた変更に応じて、検査画像の画素の表示態様を変化させる。Theinspection device 10 according to the present disclosure includes athreshold change unit 90 that accepts a change to the magnitude of the first threshold K1 from an operator (user). Thecontrol unit 52, which will be described later, changes the display mode of the pixels of the inspection image in response to the change accepted by thethreshold change unit 90.

本実施形態において、閾値変更部９０は、表示部４０に表示される（図５参照）。検査装置１０のオペレータは、閾値変更部９０を通じて、第１閾値Ｋ１を変更することができる。第１閾値Ｋ１は、例えば図５に示すようなトグルスイッチ９１を左右にスライドさせることで変更することができる。ただし、第１閾値Ｋ１の変更手段はこれに限定されるものではなく、第１閾値Ｋ１は、ボタン、目盛、手入力、タッチ操作、その他様々な手段によって、変更されるものであってもよい。In this embodiment, thethreshold change unit 90 is displayed on the display unit 40 (see FIG. 5). An operator of theinspection device 10 can change the first threshold K1 through thethreshold change unit 90. The first threshold K1 can be changed, for example, by sliding atoggle switch 91 as shown in FIG. 5 left and right. However, the means for changing the first threshold K1 is not limited to this, and the first threshold K1 may be changed by a button, a scale, manual input, touch operation, or various other means.

表示部４０は、制御装置５０に接続されており、制御装置５０と信号の送受信を行う。表示部４０によって入力された検査パラメータ及び動作設定情報は、制御装置５０の記憶部５１に記憶される。Thedisplay unit 40 is connected to thecontrol device 50 and transmits and receives signals to and from thecontrol device 50. The inspection parameters and operation setting information input by thedisplay unit 40 are stored in the memory unit 51 of thecontrol device 50.

（２－６）制御装置
制御装置５０は、主として、ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ及びＨＤＤ（ハードディスクドライブ）等によって構成されている。なお、ＨＤＤの代わりにＳＳＤ（ソリッドステートドライブ）が用いられてもよい。制御装置５０は、図示されない表示制御回路、入力回路及び通信ポート等も備えている。表示制御回路は、表示部４０の表示を制御する回路である。入力回路は、表示部４０のタッチパネル及び入力キーを介してオペレータによって入力された入力データを取り込む回路である。通信ポートは、プリンタ等の外部機器、及び、ＬＡＮ等のネットワークとの接続を可能にするポートである。 (2-6) Control Device Thecontrol device 50 is mainly composed of a CPU, ROM, RAM, and HDD (hard disk drive), etc. An SSD (solid state drive) may be used instead of the HDD. Thecontrol device 50 also includes a display control circuit, an input circuit, a communication port, etc., which are not shown. The display control circuit is a circuit that controls the display of thedisplay unit 40. The input circuit is a circuit that takes in input data entered by an operator via the touch panel and input keys of thedisplay unit 40. The communication port is a port that enables connection to external devices such as a printer, and a network such as a LAN.

図６は、制御装置５０のブロック図である。制御装置５０は、主として、記憶部５１と、制御部５２と、を有する。制御装置５０は例えば、コンベアモータ１２ａ、エンコーダ１２ｂ、照射部２０、検出部３０及び表示部４０等に電気的に接続されている。制御装置５０は、エンコーダ１２ｂからコンベアモータ１２ａの回転数に関するデータを取得し、そのデータに基づいて物品Ｐの移動距離を算出する。制御装置５０は、検出部３０から出力されたＸ線透過信号を受信し、搬送ユニット１２のベルト１２ｄ上の物品ＰがＸ線の照射範囲ＩＲに到達したタイミングを検出する。Figure 6 is a block diagram of thecontrol device 50. Thecontrol device 50 mainly includes a memory unit 51 and acontrol unit 52. Thecontrol device 50 is electrically connected to, for example, theconveyor motor 12a, theencoder 12b, theirradiation unit 20, thedetection unit 30, and thedisplay unit 40. Thecontrol device 50 obtains data on the number of rotations of theconveyor motor 12a from theencoder 12b, and calculates the travel distance of the item P based on the data. Thecontrol device 50 receives the X-ray transmission signal output from thedetection unit 30, and detects the timing when the item P on thebelt 12d of thetransport unit 12 reaches the X-ray irradiation range IR.

なお、本実施形態に係る制御装置５０は、一実施例にすぎない。制御装置５０は、本実施形態に係る制御装置５０が発揮する機能と同様の機能を、論理回路等のハードウェアにより実現してもよいし、ハードウェアとソフトウェアとの組合せにより実現してもよい。Thecontrol device 50 according to this embodiment is merely one example. Thecontrol device 50 may achieve functions similar to those achieved by thecontrol device 50 according to this embodiment using hardware such as a logic circuit, or may achieve the functions using a combination of hardware and software.

また、制御装置５０に代えて、又は、制御装置５０とともに、本実施形態で説明する制御装置５０の機能の一部又は全部を実現する制御装置を有してもよい。例えば、後述する画像生成部５２ａの機能は、制御装置５０以外の制御装置によって実現されてもよい。In addition, instead of or together with thecontrol device 50, a control device that realizes some or all of the functions of thecontrol device 50 described in this embodiment may be provided. For example, the functions of theimage generating unit 52a described below may be realized by a control device other than thecontrol device 50.

また、制御装置５０は、本実施形態で説明する機能の一部又は全部を有していなくてもよい。例えば、本実施形態で説明する制御装置５０の機能の一部又は全部は、検査装置１０とは別の場所に設置されるサーバ等により実現されてもよい。換言すると、制御装置５０の機能は、検査装置１０だけで実行されなくてもよく、検査装置１０とは別に設置される図示しないサーバ等により実現されてもよい。Thecontrol device 50 may not have some or all of the functions described in this embodiment. For example, some or all of the functions of thecontrol device 50 described in this embodiment may be realized by a server or the like installed in a location separate from theinspection device 10. In other words, the functions of thecontrol device 50 do not have to be executed only by theinspection device 10, but may be realized by a server or the like (not shown) installed separately from theinspection device 10.

（２－６－１）記憶部
記憶部５１には、制御部５２に実行させる各種プログラムが記憶されている。また、記憶部５１には、表示部４０からオペレータにより入力された検査パラメータ、デフォルト値として記憶されている検査パラメータ、及び異常（異物）検査の検査結果等が記憶される。オペレータにより入力された検査パラメータには、オペレータにより閾値変更部９０を通じて入力された第１閾値Ｋ１を含む。記憶部５１は、主として、画像記憶部５１ａと、教師データ記憶部５１ｂと、を有する。 (2-6-1) Storage Unit The storage unit 51 stores various programs to be executed by thecontrol unit 52. The storage unit 51 also stores inspection parameters input by the operator from thedisplay unit 40, inspection parameters stored as default values, and inspection results of anomaly (foreign substance) inspection. The inspection parameters input by the operator include a first threshold value K1 input by the operator through the thresholdvalue changing unit 90. The storage unit 51 mainly has animage storage unit 51a and a teacherdata storage unit 51b.

（２－６－１－１）画像記憶部
画像記憶部５１ａは、検査画像に関するデータを記憶する。検査画像に関するデータとは、ここでは例えば異物無し画像データや、異物混み画像データである。異物無し画像データとは、異物や仮想異物を含まない物品Ｐに係る画像データのことを指す。異物無し画像データは、Ｈ×Ｗの２次元配列である。異物混み画像データとは、異物や仮想異物を含む物品Ｐに係る画像データのことを指す。異物混み画像データは、異物無し画像データと同様に、Ｈ×Ｗの２次元配列である。画像記憶部５１ａに記憶される異物混み画像データ及び異物無し画像データは、限定するものではないが、後述する画像生成部５２ａによって取得されるものであってもよい。 (2-6-1-1) Image Storage Unit Theimage storage unit 51a stores data related to the inspection image. The data related to the inspection image here is, for example, image data without foreign matter and image data with foreign matter. Image data without foreign matter refers to image data related to an object P that does not contain foreign matter or virtual foreign matter. The image data without foreign matter is a two-dimensional array of H×W. Image data with foreign matter refers to image data related to an object P that contains foreign matter or virtual foreign matter. The image data with foreign matter is a two-dimensional array of H×W, similar to the image data without foreign matter. The image data with foreign matter and the image data without foreign matter stored in theimage storage unit 51a are not limited to, and may be acquired by theimage generation unit 52a described later.

具体的には、異物混み画像データは、例えば、異物を含む物品Ｐを検査装置１０の搬送ユニット１２に流し、画像生成部５２ａによる処理を経ることで取得されてもよい。この場合、異物は例えば、プラスチック片や金属片や骨等であってもよいし、異物混み画像データを取得するために用意されたテストピースであってもよい。あるいは、異物混み画像データは、例えば、検査画像の任意の場所に、仮想的な異物の画像を手動で追加することにより取得されてもよい。あるいは、異物混み画像データは、例えば、検査画像に仮想的な異物の画像を自動で追加するプログラムを実行することにより取得されてもよい。Specifically, the foreign-matter-containing image data may be obtained, for example, by feeding an item P containing foreign matter into thetransport unit 12 of theinspection device 10 and processing the image by theimage generation unit 52a. In this case, the foreign matter may be, for example, a piece of plastic, a piece of metal, or a bone, or may be a test piece prepared for obtaining the foreign-matter-containing image data. Alternatively, the foreign-matter-containing image data may be obtained, for example, by manually adding an image of a virtual foreign matter to any location of the inspection image. Alternatively, the foreign-matter-containing image data may be obtained, for example, by executing a program that automatically adds an image of a virtual foreign matter to the inspection image.

このほか、異物混み画像データや異物無し画像データは、例えばオペレータによってデータ入力されることで、画像記憶部５１ａに記憶されるものであってもよい。In addition, image data containing foreign matter and image data without foreign matter may be stored in theimage storage unit 51a, for example, by data input by an operator.

（２－６－１－２）教師データ記憶部
教師データ記憶部５１ｂは、後述する学習部５２ｃが物品Ｐに関する特徴を取得するために使用する教師データを記憶する。教師データは、主として、画像記憶部５１ａに記憶されている検査画像から抽出された画像データ、及び、その他のデータである。その他のデータは、例えば、物品Ｐの検査画像において、物品Ｐの異常（例えば、異物等）が存在する領域（例えば、異物等の異常に該当する画素の位置）に関するデータである。教師データの詳細及び利用方法については、後述する。 (2-6-1-2) Teacher Data Storage Unit The teacherdata storage unit 51b stores teacher data that is used by thelearning unit 52c, described below, to acquire features related to the item P. The teacher data is mainly image data extracted from the inspection image stored in theimage storage unit 51a, and other data. The other data is, for example, data related to an area in the inspection image of the item P where an abnormality (e.g., a foreign object, etc.) of the item P exists (e.g., the position of a pixel corresponding to an abnormality such as a foreign object). Details of the teacher data and how it is used will be described later.

（２－６－２）制御部
制御部５２は、記憶部５１に記憶された各種プログラムを呼び出して実行し、検査装置１０の各部の制御を行う。例えば、制御部５２は、照射部２０のＸ線照射タイミングや、Ｘ線照射量を制御する。 (2-6-2) Control Unit Thecontrol unit 52 calls up and executes various programs stored in the storage unit 51, and controls each unit of theinspection device 10. For example, thecontrol unit 52 controls the X-ray irradiation timing and X-ray irradiation amount of theirradiation unit 20.

また、制御部５２は、主として、画像生成部５２ａと、教師データ取得部５２ｂと、学習部５２ｃと、画像処理部５２ｄと、検査部５２ｅと、を有する。これらは、記憶部５１に記憶されているプログラムを実行することによって実現される機能である。Thecontrol unit 52 mainly includes animage generating unit 52a, a teacherdata acquiring unit 52b, alearning unit 52c, animage processing unit 52d, and aninspection unit 52e. These are functions that are realized by executing a program stored in the memory unit 51.

（２－６－２－１）画像生成部
画像生成部５２ａは、検出部３０によって検出された透過Ｘ線量に基づいて、図８に示すような物品ＰのＸ線画像（検査画像）を生成する。図８に示すように、物品Ｐの検査画像では、透過Ｘ線の検出量の多い領域が明るく（輝度が高く）表示され、透過Ｘ線の検出量が少ない領域が暗く（輝度が低く）表示される。すなわち、物品Ｐの検査画像の明暗（輝度）は、透過Ｘ線の検出量に依存する。画像生成部５２ａが生成する検査画像において、輝度が最低値である領域の画素は黒く、輝度が最高値である画素は白で表示される。換言すると、画像生成部５２ａが生成する検査画像は、無彩色の画像である。図８に示す領域Ａ１、Ａ２、Ａ３、Ａ４は、輝度が低い領域である。一方で、領域Ｂ１は、輝度が高い領域である。 (2-6-2-1) Image Generation Unit Theimage generation unit 52a generates an X-ray image (inspection image) of the article P as shown in FIG. 8 based on the amount of transmitted X-ray detected by thedetection unit 30. As shown in FIG. 8, in the inspection image of the article P, an area where a large amount of transmitted X-ray is detected is displayed bright (high brightness), and an area where a small amount of transmitted X-ray is detected is displayed dark (low brightness). That is, the brightness (brightness) of the inspection image of the article P depends on the amount of transmitted X-ray detected. In the inspection image generated by theimage generation unit 52a, pixels in an area with the lowest brightness are displayed black, and pixels with the highest brightness are displayed white. In other words, the inspection image generated by theimage generation unit 52a is an achromatic image. Areas A1, A2, A3, and A4 shown in FIG. 8 are areas with low brightness. On the other hand, area B1 is an area with high brightness.

ただし、図８の表示は一例であり、実際には、輝度の高い領域であっても、異物が混入している恐れがあり、また、輝度が低い領域であっても、異物が混入しているとは限らない。このため、画像生成部５２ａで生成された段階の検査画像では、異物を確認することが容易ではない。However, the display in Figure 8 is only an example, and in reality, even areas with high brightness may contain foreign matter, and areas with low brightness do not necessarily contain foreign matter. For this reason, it is not easy to confirm foreign matter in the inspection image generated by theimage generation unit 52a.

画像生成部５２ａは、検出部３０の各Ｘ線検出素子から出力されるＸ線透過信号を所定の短い時間間隔で取得し、取得したＸ線透過信号に基づいて検査画像を生成する。画像生成部５２ａは、扇状のＸ線の照射範囲ＩＲ（図４参照）を物品Ｐが通過する際に各Ｘ線検出素子から出力されるＸ線透過信号に基づいて、物品Ｐの検査画像を生成する。照射範囲ＩＲにおける物品Ｐの有無は、検出部３０が出力する信号の出力のタイミングにより判断される。Theimage generating unit 52a acquires the X-ray transmission signals output from each X-ray detection element of thedetection unit 30 at a predetermined short time interval, and generates an inspection image based on the acquired X-ray transmission signals. Theimage generating unit 52a generates an inspection image of the item P based on the X-ray transmission signals output from each X-ray detection element when the item P passes through the fan-shaped X-ray irradiation range IR (see FIG. 4). The presence or absence of the item P in the irradiation range IR is determined by the timing of the output of the signal from thedetection unit 30.

画像生成部５２ａは、検出部３０の各Ｘ線検出素子３０ａから得られる透過Ｘ線の強度に関する所定の時間間隔ごとのデータを時系列的に沿ってマトリックス状につなぎ合わせて、物品Ｐの検査画像を生成する。Theimage generating unit 52a generates an inspection image of the item P by combining data on the intensity of transmitted X-rays obtained from eachX-ray detection element 30a of thedetection unit 30 at predetermined time intervals in a chronological matrix form.

（２－６－２－２）教師データ取得部
教師データ取得部５２ｂは、学習部５２ｃが使用する教師データを、画像記憶部５１ａから取得する。画像記憶部５１ａには、異物無し画像データや、異物混み画像データが記憶されている。異物無し画像データとは、異物や仮想異物を含まない物品Ｐに係る画像データのことを指す。異物無し画像データは、Ｈ×Ｗの２次元配列である。異物混み画像データとは、異物や仮想異物を含む物品Ｐに係る画像データのことを指す。異物混み画像データは、異物無し画像データと同様に、Ｈ×Ｗの２次元配列である。 (2-6-2-2) Teacher Data Acquisition Unit The teacherdata acquisition unit 52b acquires teacher data used by thelearning unit 52c from theimage storage unit 51a. Image data without foreign objects and image data containing foreign objects are stored in theimage storage unit 51a. The image data without foreign objects refers to image data relating to an object P that does not contain foreign objects or virtual foreign objects. The image data without foreign objects is a two-dimensional array of H×W. The image data containing foreign objects refers to image data relating to an object P that contains foreign objects or virtual foreign objects. The image data containing foreign objects is a two-dimensional array of H×W, similar to the image data without foreign objects.

教師データ取得部５２ｂは、画像記憶部５１ａに記憶されているこれらの異物無し画像データや、異物混み画像データを教師データとして取得する。例えば、教師データ取得部５２ｂは、画像記憶部５１ａに予め記憶されている異物無し画像データや異物混み画像データを、合わせて数百枚又は数千枚取得する。The teacherdata acquisition unit 52b acquires the foreign-substance-free image data and foreign-substance-containing image data stored in theimage storage unit 51a as teacher data. For example, the teacherdata acquisition unit 52b acquires a total of several hundred or several thousand pieces of foreign-substance-free image data and foreign-substance-containing image data that are pre-stored in theimage storage unit 51a.

（２－６－２－３）学習部
学習部５２ｃは、教師データ取得部５２ｂが取得した教師データを用いて、学習モデル１３６の学習処理を実行する。学習モデル１３６に用いられる機械学習の例としては、ニューラルネットワーク、サポートベクターマシン、ランダムフォレスト等が挙げられる。 (2-6-2-3) Learning Unit Thelearning unit 52c uses the teacher data acquired by the teacherdata acquisition unit 52b to execute a learning process for thelearning model 136. Examples of machine learning used in thelearning model 136 include a neural network, a support vector machine, and a random forest.

学習部５２ｃは、教師データ取得部５２ｂが取得した異物無し画像データや異物混み画像データに係る多数の教師データを用いて学習モデル１３６を生成する。Thelearning unit 52c generates alearning model 136 using a large amount of training data related to image data without foreign objects and image data containing foreign objects acquired by the trainingdata acquisition unit 52b.

本実施形態では、図７に示すように、学習モデル１３６は、畳み込みニューラルネットワーク（ＣＮＮ）１３０である。畳み込みニューラルネットワーク１３０は、入力層１３１、中間層１３２及び出力層１３３を含む。In this embodiment, as shown in FIG. 7, thelearning model 136 is a convolutional neural network (CNN) 130. The convolutionalneural network 130 includes aninput layer 131, anintermediate layer 132, and anoutput layer 133.

入力層１３１では、異物無し画像データや異物混み画像データからなる教師データが入力される。入力層１３１は、Ｈ×Ｗの２次元配列を入力できるように構成する。In theinput layer 131, training data consisting of image data without foreign objects and image data with foreign objects is input. Theinput layer 131 is configured so that it can input a two-dimensional array of H x W.

中間層１３２は、畳み込み層１３２ａとプーリング層１３２ｂとを有する。畳み込み層１３２ａは、画像データの局所的な特徴を抽出する層である。プーリング層１３２ｂは、画像データの局所的な特徴をまとめる層である。畳み込み層１３２ａとプーリング層１３２ｂとは、交互に繰り返す構成を取るものであってもよい。畳み込み層１３２ａ及びプーリング層１３２ｂの構成は、ＲｅｓＮｅｔ（Ｒｅｓｉｄｕａｌ Ｎｅｔｗｏｒｋ）等の代表的なモデルを用いてもよい。また、畳み込み層１３２ａ及びプーリング層１３２ｂの構成は、例えば、正解率が最良となるように、適宜カスタマイズされてもよい。中間層１３２の最後の層は、全結合層１３２ｃとする。畳み込み層１３２ａ及びプーリング層１３２ｂは、各層のノードを用いた演算によって、入力層１３１を通じて入力される異物無し画像データや異物混み画像データの特徴を抽出する。全結合層１３２ｃは、畳み込み層１３２ａ及びプーリング層１３２ｂを通して特徴部分が取り出された経過画像を１つのノードに結合し、活性化関数によって変換した値を特徴ベクトルとして出力する。限定するものではないが、中間層１３２では、活性化関数の一例としてＲｅＬＵ関数を用いる。全結合層１３２ｃが出力した特徴ベクトルは、出力層１３３に送出される。Theintermediate layer 132 has aconvolution layer 132a and apooling layer 132b. Theconvolution layer 132a is a layer that extracts local features of image data. Thepooling layer 132b is a layer that consolidates local features of image data. Theconvolution layer 132a and thepooling layer 132b may be configured to be repeated alternately. Theconvolution layer 132a and thepooling layer 132b may be configured using a representative model such as ResNet (Residual Network). In addition, theconvolution layer 132a and thepooling layer 132b may be configured as appropriate to optimize the accuracy rate, for example. The last layer of theintermediate layer 132 is a fully connectedlayer 132c. Theconvolution layer 132a and thepooling layer 132b extract features of the image data without foreign objects or image data with foreign objects input through theinput layer 131 by calculations using the nodes of each layer. The fully connectedlayer 132c connects the time series image from which the feature parts have been extracted through theconvolution layer 132a and thepooling layer 132b to one node, and outputs the value converted by the activation function as a feature vector. Although not limited thereto, theintermediate layer 132 uses the ReLU function as an example of the activation function. The feature vector output by the fully connectedlayer 132c is sent to theoutput layer 133.

出力層１３３では、例えば、物品Ｐの異常状態の確からしさを示す異常確信度が出力される。本実施形態における異常状態とは、限定するものではないが、例えば物品Ｐに異物が含まれている状態である。出力層１３３の活性化関数は、例えば、シグモイド関数を用いる。Theoutput layer 133 outputs, for example, an abnormality certainty indicating the likelihood of an abnormal state of the item P. In this embodiment, an abnormal state is, but is not limited to, a state in which a foreign object is contained in the item P. The activation function of theoutput layer 133 is, for example, a sigmoid function.

畳み込みニューラルネットワーク１３０の損失関数は、例えば、交差エントロピーを用いる。畳み込みニューラルネットワーク１３０の最適化は、例えば最急降下法等を用いる。The loss function of the convolutionalneural network 130 is, for example, cross entropy. The optimization of the convolutionalneural network 130 is, for example, performed using the steepest descent method.

学習部５２ｃは、上記機械学習を実行することにより、画像生成部５２ａが生成した検査画像が入力されることで、検査画像を構成する画素ごとに、異常確信度を算出（出力）する学習モデル１３６を生成する。Thelearning unit 52c executes the above machine learning, and generates alearning model 136 that calculates (outputs) an abnormality confidence level for each pixel constituting the inspection image by inputting the inspection image generated by theimage generation unit 52a.

本実施形態に係る学習モデル１３６は、例えば、検査画像の輝度に基づいて異常確信度を算出するよう機械学習が行われたものであってもよい。この場合、検査画像において、画素値としての輝度が小さい領域の画素（換言すると、透過したＸ線の強度が弱い領域の画素）については、異常確信度を大きく算出するものであってもよい。また、該当画素の画素値と、近傍の画素の画素値との関係性から、異常確信度を算出するものであってもよい。Thelearning model 136 according to this embodiment may be one that has undergone machine learning to calculate the abnormality confidence level based on the luminance of the inspection image. In this case, the abnormality confidence level may be calculated to be large for pixels in an area of the inspection image where the luminance as pixel value is low (in other words, pixels in an area where the intensity of the transmitted X-rays is low). The abnormality confidence level may also be calculated from the relationship between the pixel value of the pixel and the pixel values of nearby pixels.

本実施形態に係る学習モデル１３６は、画像生成部５２ａが生成した検査画像に対して自動的に異常確信度を算出する。ただし、検査画像は、画像生成部５２ａや検査部５２ｅ、その他記憶部５１に記憶された各種プログラムを制御部５２が実行することによって、学習モデル１３６に入力されるものであってもよい。この場合、学習モデル１３６は、検査画像が入力されるごとに異常確信度を算出する。Thelearning model 136 according to this embodiment automatically calculates the abnormality confidence level for the inspection image generated by theimage generation unit 52a. However, the inspection image may be input to thelearning model 136 by thecontrol unit 52 executing various programs stored in theimage generation unit 52a, theinspection unit 52e, or other programs stored in the storage unit 51. In this case, thelearning model 136 calculates the abnormality confidence level each time an inspection image is input.

ここでは、学習モデル１３６は、検査画像を構成する画素の異常確信度の大きさを、０～２５５の２５６段階に分類する。Here, thelearning model 136 classifies the magnitude of the abnormality confidence of the pixels that make up the test image into 256 levels from 0 to 255.

（２－６－２－４）画像処理部
画像処理部５２ｄは、画像生成部５２ａで生成された検査画像であって、学習モデル１３６によって画素ごとの異常確信度が算出された検査画像に対して画像処理を行う。画像処理部５２ｄは、検査画像の画素ごとの異常確信度の大きさに基づき、検査画像を構成する画素の表示態様を変化させる。当該検査画像は、表示部４０に表示される。 (2-6-2-4) Image Processing Unit Theimage processing unit 52d performs image processing on the inspection image generated by theimage generation unit 52a, where the abnormality certainty factor for each pixel has been calculated by thelearning model 136. Theimage processing unit 52d changes the display mode of the pixels constituting the inspection image, based on the magnitude of the abnormality certainty factor for each pixel of the inspection image. The inspection image is displayed on thedisplay unit 40.

詳細には、画像処理部５２ｄは、検査画像を構成する画素ごとの異常確信度の大きさに基づき、検査画像の画素の表示態様を変化させる際に、異なる異常確信度に対し異なる色相が対応するように変化させる。In detail, when changing the display mode of the pixels of the inspection image based on the magnitude of the abnormality confidence for each pixel constituting the inspection image, theimage processing unit 52d changes the display mode so that different hues correspond to different abnormality confidences.

（ａ）例えば、画像処理部５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である検査画像の画素と、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満である検査画像の画素との表示態様を異ならせる。なおかつ、画像処理部５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である画素については異常確信度に応じて表示態様を変化させ、検査画像を視覚的に区分させる。以下、このような表示態様を、第１表示態様と呼ぶことがある。(a) For example, theimage processing unit 52d differentiates the display mode of pixels of the inspection image whose magnitude of the abnormality certainty is equal to or greater than the first threshold K1 from the display mode of pixels of the inspection image whose magnitude of the abnormality certainty is less than the first threshold K1. Furthermore, for pixels whose magnitude of the abnormality certainty is equal to or greater than the first threshold K1, theimage processing unit 52d changes the display mode according to the abnormality certainty, thereby visually distinguishing the inspection images. Hereinafter, such a display mode may be referred to as the first display mode.

（ｂ）上記の（ａ）で説明した態様（第１表示態様）で検査画像を表示する場合、好ましくは、画像処理部５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満である検査画像の画素については、検査画像における画素が有する画素値に基づいて表示部４０に表示させる。以下、このような表示態様を、第２表示態様と呼ぶことがある。(b) When the test image is displayed in the manner described in (a) above (first display manner), theimage processing unit 52d preferably causes thedisplay unit 40 to display pixels of the test image whose magnitude of abnormality certainty is less than the first threshold value K1 based on the pixel value of the pixel in the test image. Hereinafter, such a display manner may be referred to as the second display manner.

以下、具体的に説明する。The details are explained below.

（ａ）第１表示態様
第１表示態様では、画像処理部５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である画素については異常確信度に応じて表示態様を変化させ、検査画像を視覚的に区分させる。 (a) First display mode In the first display mode, theimage processing unit 52d changes the display mode for pixels whose magnitude of the abnormality certainty is equal to or greater than the first threshold K1 in accordance with the abnormality certainty, thereby visually dividing the examination image.

例えば、本実施形態に係る画像処理部５２ｄは、画像生成部５２ａで生成された検査画像（図８参照）に対して、画像処理を行うことで、図９Ａの（ａ）に示すような検査画像を作成し、表示部４０のＣ１で示す領域（図５参照）に表示させる。For example, theimage processing unit 52d according to this embodiment performs image processing on the inspection image generated by theimage generating unit 52a (see FIG. 8) to generate an inspection image as shown in FIG. 9A (a), and displays it in the area indicated by C1 on the display unit 40 (see FIG. 5).

図９Ａの（ａ）において、Ａ１、Ａ２、Ａ３、Ａ４で示される領域は、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上の画素からなる領域である。上記の通り、本実施形態では、第１閾値Ｋ１は異常確信度１５０に設定されている。このため、図９Ａの（ａ）において、Ａ１、Ａ２、Ａ３、Ａ４で示される領域は、異常確信度の大きさが１５０以上の画素からなる領域であると考えられる。換言すると、領域Ａ１、Ａ２、Ａ３、Ａ４は、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１を上回る程度に、異常状態が生じている恐れがあると考えられる領域である。より具体的には、領域Ａ１、Ａ２、Ａ３、Ａ４には、例えば異物が混入している恐れがある。なお、図９Ａの（ａ）に示すように、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満である画素によって構成される領域は、表示部４０に表示されていない。9A(a), the regions indicated by A1, A2, A3, and A4 are regions made up of pixels whose abnormality confidence level is equal to or greater than the first threshold K1. As described above, in this embodiment, the first threshold K1 is set to an abnormality confidence level of 150. Therefore, the regions indicated by A1, A2, A3, and A4 in FIG. 9A(a) are considered to be regions made up of pixels whose abnormality confidence level is equal to or greater than 150. In other words, the regions A1, A2, A3, and A4 are regions in which it is considered that an abnormal state may occur to the extent that the abnormality confidence level exceeds the first threshold K1. More specifically, the regions A1, A2, A3, and A4 may contain, for example, foreign matter. Note that, as shown in FIG. 9A(a), the regions made up of pixels whose abnormality confidence level is less than the first threshold K1 are not displayed on thedisplay unit 40.

以下、図９の（ａ）においては、領域Ａ１を構成する画素の異常確信度が最も大きく、Ａ２、Ａ３、Ａ４、の順に、異常確信度が低下しているものとして説明する。本実施形態において、検査画像を構成する各画素の画素値としての色相は、第１閾値Ｋ１の大きさに応じて変化する。より具体的には、検査画像の各画素から算出される異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１をどの程度上回っているかに応じて、検査画像の各画素の表示態様は変化する。ここで、画像処理部５２ｄは、例えば、異常確信度が大きい画素から順に、赤色、橙色、緑色、空色に対応させるとする。この場合、例えば、最も異常確信度が大きい画素からなるＡ１の領域が赤色に、次いで異常確信度が大きい画素からなるＡ２の領域が橙色に、次いで異常確信度が大きい画素からなるＡ３の領域が緑色に、次いで異常確信度が大きい画素からなるＡ４の領域が空色に対応しており、画像処理部５２ｄは、各領域を、各領域が対応する色で表示部４０に表示させる。ただし、これらの表示の態様はあくまでも一例であって、例えば、各異常確信度に対応する色は、適宜変更可能である。詳細は以下の（ｂ）や変形例１Ｉで後述する。In the following, in FIG. 9A, the abnormality confidence of the pixels constituting the region A1 is the highest, and the abnormality confidence decreases in the order of A2, A3, and A4. In this embodiment, the hue as the pixel value of each pixel constituting the inspection image changes according to the magnitude of the first threshold K1. More specifically, the display mode of each pixel of the inspection image changes according to how much the magnitude of the abnormality confidence calculated from each pixel of the inspection image exceeds the first threshold K1. Here, theimage processing unit 52d corresponds, for example, to red, orange, green, and sky blue in order of the pixels with the largest abnormality confidence. In this case, for example, the region A1 consisting of pixels with the largest abnormality confidence corresponds to red, the region A2 consisting of pixels with the next largest abnormality confidence corresponds to orange, the region A3 consisting of pixels with the next largest abnormality confidence corresponds to green, and the region A4 consisting of pixels with the next largest abnormality confidence corresponds to sky blue, and theimage processing unit 52d displays each region on thedisplay unit 40 in the color to which each region corresponds. However, these display modes are merely examples, and for example, the colors corresponding to each abnormality certainty level can be changed as appropriate. Details will be described below in (b) and in Modification Example 1I.

なお、図面の都合上、本願図面において色相の変化は、ハッチングの態様を変化させることで表現している。For convenience of the drawings, changes in hue are represented in the drawings of this application by changing the hatching pattern.

このように、本実施形態に係る画像処理部５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である画素と、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満である画素と、の表示態様を異ならせている。なおかつ、画像処理部５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である画素については異常確信度に応じて表示態様を変化させ、検査画像を視覚的に区分させている。In this manner, theimage processing unit 52d according to this embodiment differentiates the display mode of pixels whose magnitude of abnormality confidence is equal to or greater than the first threshold K1 from pixels whose magnitude of abnormality confidence is less than the first threshold K1. Furthermore, for pixels whose magnitude of abnormality confidence is equal to or greater than the first threshold K1, theimage processing unit 52d changes the display mode according to the abnormality confidence, thereby visually dividing the test image.

図９Ａの（ａ）に示すように、本実施形態に係る検査装置１０によって表示される検査画像では、異常確信度を確認することが容易である。As shown in FIG. 9A (a), the inspection image displayed by theinspection device 10 according to this embodiment makes it easy to confirm the degree of anomaly certainty.

また、画像生成部５２ａで生成された無彩色の検査画像（図８参照）と比較して、画像処理部５２ｄによる処理を経た有彩色の検査画像（図９Ａの（ａ）参照）は、異物の有無や異常確信度の大きさを直感的に把握することができる。In addition, compared to the achromatic inspection image (see FIG. 8) generated by theimage generation unit 52a, the chromatic inspection image (see FIG. 9A (a)) processed by theimage processing unit 52d allows the user to intuitively grasp the presence or absence of a foreign object and the degree of abnormality certainty.

なお、図９Ａの（ａ）に示すように、表示部４０には、異常確信度の大きさに対応したカラーバー４５が表示されていてもよい。これにより、本実施形態に係る検査装置１０のオペレータは、異常確信度をより容易に確認することができる。図９Ａの（ａ）では、上方から下方に向けて、確信度が大きいものから順に、表示される色相を並べて表示している。検査装置１０のオペレータは、カラーバー４５を確認することで、異常確信度が、第１閾値Ｋ１をどの程度上回っているかを確認することができる。ここでは、カラーバー４５は、第１閾値Ｋ１に対する異常確信度の相対的な大きさを示すものである。例えば、カラーバー４５の上部４５ａに表示されている色に対応した色が表示されている領域（図９Ａの（ａ）では、領域Ａ１）は、異常確信度が第１閾値Ｋ１を大きく上回っている画素によって構成されている領域である。また、カラーバー４５の底部４５ｂの色に対応した色が表示されている領域（図９Ａの（ａ）では、領域Ａ４）は、異常確信度が第１閾値Ｋ１を僅かに上回る画素によって構成されている領域である。この構成によれば、カラーバー４５を参照することで、各領域を構成する画素の異常確信度が、第１閾値Ｋ１をどの程度上回っているのかを容易に確認することができる。As shown in FIG. 9A (a), thedisplay unit 40 may display acolor bar 45 corresponding to the magnitude of the abnormality confidence. This allows the operator of theinspection device 10 according to this embodiment to more easily check the abnormality confidence. In FIG. 9A (a), the displayed hues are arranged from top to bottom in descending order of confidence. The operator of theinspection device 10 can check the degree to which the abnormality confidence exceeds the first threshold value K1 by checking thecolor bar 45. Here, thecolor bar 45 indicates the relative magnitude of the abnormality confidence with respect to the first threshold value K1. For example, the area in which a color corresponding to the color displayed in theupper part 45a of thecolor bar 45 is displayed (area A1 in FIG. 9A (a)) is an area made up of pixels whose abnormality confidence is significantly higher than the first threshold value K1. Also, the area in which a color corresponding to the color of thebottom part 45b of thecolor bar 45 is displayed (area A4 in FIG. 9A (a)) is an area made up of pixels whose abnormality confidence is slightly higher than the first threshold value K1. With this configuration, by referring to thecolor bar 45, it is possible to easily check to what extent the abnormality confidence of the pixels constituting each region exceeds the first threshold value K1.

ただし、カラーバー４５による表示は、上記の例に限定されるものではなく、カラーバー４５は、異常確信度の絶対的な大きさに対応するものであってもよい。例えば、カラーバー４５には、２５６階調の色相が表示されているものであってもよい。この場合、カラーバーの上部４５ａは、異常確信度の最大値（ここでは、２５５）に対応する色を表示し、底部４５ｂは、異常確信度の最小値（ここでは、０）に対応した色を表示する。また、この場合、第１閾値Ｋ１に対応する色相を示すマーク（矢印等）が、カラーバー４５とともに表示されるものであってもよい。However, the display by thecolor bar 45 is not limited to the above example, and thecolor bar 45 may correspond to the absolute magnitude of the abnormality confidence level. For example, thecolor bar 45 may display 256 gradations of hue. In this case, theupper part 45a of the color bar displays a color corresponding to the maximum value of the abnormality confidence level (here, 255), and thebottom part 45b displays a color corresponding to the minimum value of the abnormality confidence level (here, 0). In this case, a mark (such as an arrow) indicating the hue corresponding to the first threshold value K1 may be displayed together with thecolor bar 45.

また、第１閾値Ｋ１の変更は、カラーバー４５から受け付けるものであってもよい。換言すると、カラーバー４５は、閾値変更部９０として機能するものであってもよい。この場合、カラーバー４５は、図５に示すようなトグルスイッチ９１を有するものであってもよい。あるいは、図９Ａの（ｂ）に示すように、表示部４０には、カラーバー４５とともに、閾値変更部９０が表示されるものであってもよい。The change in the first threshold K1 may be received from thecolor bar 45. In other words, thecolor bar 45 may function as thethreshold change unit 90. In this case, thecolor bar 45 may have atoggle switch 91 as shown in FIG. 5. Alternatively, as shown in FIG. 9A (b), thedisplay unit 40 may display thethreshold change unit 90 together with thecolor bar 45.

なお、本実施形態においては、画像生成部５２ａで生成された検査画像は、画像処理部５２ｄによる処理を経ることで、画素値としての色相を含む検査画像となる。In this embodiment, the inspection image generated by theimage generation unit 52a is processed by theimage processing unit 52d to become an inspection image that includes hue as a pixel value.

（ｂ）第２表示態様
第２表示態様では、画像処理部５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である画素については異常確信度に応じて表示態様を変化させ、検査画像を視覚的に区分させる。なおかつ、画像処理部５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満である検査画像の画素については、検査画像における画素が有する画素値に基づいて表示部４０に表示させる。 (b) Second Display Mode In the second display mode, theimage processor 52d changes the display mode for pixels whose magnitude of the abnormality certainty is equal to or greater than the first threshold K1 in accordance with the abnormality certainty, thereby visually dividing the inspection image. Furthermore, theimage processor 52d causes thedisplay unit 40 to display pixels of the inspection image whose magnitude of the abnormality certainty is less than the first threshold K1 based on the pixel values of the pixels in the inspection image.

例えば、本実施形態に係る画像処理部５２ｄは、画像生成部５２ａで生成された検査画像（図８参照）に対して、画像処理を行うことで、図１０の（ａ）に示すような検査画像を作成し、表示部４０のＣ１で示す領域に表示させる。For example, theimage processing unit 52d according to this embodiment performs image processing on the inspection image (see FIG. 8) generated by theimage generating unit 52a to generate an inspection image as shown in FIG. 10(a) and display it in the area indicated by C1 on thedisplay unit 40.

図１０の（ａ）において、Ａ１、Ａ２、Ａ３、で示される領域は、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上の画素からなる領域である。図１０の（ａ）において、領域Ａ４、Ｂ１は、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満の画素からなる領域である。In FIG. 10(a), the regions indicated by A1, A2, and A3 are regions made up of pixels whose abnormality confidence level is equal to or greater than the first threshold value K1. In FIG. 10(a), the regions A4 and B1 are regions made up of pixels whose abnormality confidence level is less than the first threshold value K1.

ここで、画像処理部５２ｄは、例えば、異常確信度が大きい画素から順に、赤色、橙色、緑色、に対応させるとする。この場合、例えば、最も異常確信度が大きい画素からなるＡ１の領域が赤色に、次いで異常確信度が大きい画素からなるＡ２の領域が橙色に、次いで異常確信度が大きい画素からなるＡ３の領域が緑色に、対応しており、画像処理部５２ｄは、各領域を、各領域が対応する色で表示部４０に表示させる。ただし、これらの表示はあくまでも一例であって、適宜変更可能である。Here, theimage processing unit 52d, for example, corresponds the pixels with the greatest abnormality confidence to red, orange, and green in that order. In this case, for example, the A1 region consisting of pixels with the highest abnormality confidence corresponds to red, the A2 region consisting of pixels with the next highest abnormality confidence corresponds to orange, and the A3 region consisting of pixels with the next highest abnormality confidence corresponds to green, and theimage processing unit 52d displays each region on thedisplay unit 40 in the color that each region corresponds to. However, these displays are merely examples and can be changed as appropriate.

また、図１０の（ａ）に示すように、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満である画素からなる領域Ａ４、Ｂ１については、検査画像における画素が有する画素値に基づいて表示部４０に表示されている。換言すると、制御部５２は、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満である画素からなる領域については、画像生成部５２ａによって生成された状態から特に処理を加えることなく、表示部４０に表示する。なお、本願図面において、検査画像における画素値に基づいて表示される領域については、斜線のハッチングを付して表現している（図８参照）。As shown in FIG. 10(a), the regions A4 and B1, which are made up of pixels whose abnormality confidence level is less than the first threshold value K1, are displayed on thedisplay unit 40 based on the pixel values of the pixels in the test image. In other words, thecontrol unit 52 displays the regions, which are made up of pixels whose abnormality confidence level is less than the first threshold value K1, on thedisplay unit 40 without applying any special processing to the state generated by theimage generation unit 52a. In the drawings of the present application, the regions displayed based on the pixel values in the test image are represented by diagonal hatching (see FIG. 8).

このように、画像処理部５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である画素については、異常確信度に応じて表示態様を変化させる一方で、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満である画素については、画素が有する画素値に基づいて表示部４０に表示させている。このため、本実施形態に係る検査装置１０では、異常確信度を確認することが容易である。In this way, for pixels whose magnitude of abnormality confidence is equal to or greater than the first threshold K1, theimage processing unit 52d changes the display mode according to the abnormality confidence, while for pixels whose magnitude of abnormality confidence is less than the first threshold K1, theimage processing unit 52d displays the pixel on thedisplay unit 40 based on the pixel value of the pixel. Therefore, theinspection device 10 according to this embodiment makes it easy to check the abnormality confidence.

また、本実施形態に係る検査装置１０のオペレータは、検査画像において、物品Ｐと、異常確信度が第１閾値Ｋ１を超える画素からなる領域と、の関係を確認することが容易である。例えば、物品Ｐと、異常確信度が第１閾値Ｋ１を超える画素からなる領域と、の位置関係を確認することが容易である。このように、本実施形態に係る検査装置１０では、異常確信度をより容易に確認することができる。In addition, an operator of theinspection device 10 according to this embodiment can easily confirm the relationship between the item P and the area made up of pixels whose abnormality certainty exceeds the first threshold value K1 in the inspection image. For example, it is easy to confirm the positional relationship between the item P and the area made up of pixels whose abnormality certainty exceeds the first threshold value K1. In this way, theinspection device 10 according to this embodiment makes it easier to confirm the abnormality certainty.

（２－６－２－５）検査部
検査部５２ｅは、学習モデル１３６によって算出された異常確信度を用いて、物品Ｐに異常が生じているか否か（物品Ｐが良品であるか否か）を判断する。限定するものではないが、本実施形態における異常状態とは、物品Ｐに異物が混入されている状態である。 (2-6-2-5) Inspection Unit Theinspection unit 52e judges whether or not an abnormality has occurred in the item P (whether or not the item P is a non-defective item) by using the abnormality certainty calculated by thelearning model 136. Although not limited thereto, the abnormal state in this embodiment refers to a state in which a foreign object is mixed into the item P.

検査部５２ｅは、学習モデル１３６に入力された検査画像に含まれる画素のうち、第１閾値Ｋ１を超える異常確信度を有する画素が所定数以上である場合に、検査画像に対応する物品Ｐに異常がある（物品Ｐは不良品である）と判断して、振分部７０に、物品Ｐを第１方向Ｄ１に振分けさせる。なお、所定数、とは、所定割合、を意味するものとして解釈することもできる。より詳細には、本実施形態に係る検査システム１００の制御部５２の一機能としての検査部５２ｅは、学習モデル１３６に入力された検査画像に含まれる画素のうち、第１閾値Ｋ１以上の異常確信度を有する画素が所定割合以上存在する場合に、検査画像に対応する物品Ｐに異常がある（物品Ｐは不良品である）と判断して、振分部７０に、物品Ｐを第１方向Ｄ１に振分けさせる。When a predetermined number or more of pixels having an abnormality confidence level exceeding the first threshold K1 are present among the pixels included in the inspection image input to thelearning model 136, theinspection unit 52e determines that the item P corresponding to the inspection image is abnormal (the item P is a defective product) and causes theallocation unit 70 to allocate the item P to the first direction D1. Note that the "predetermined number" can also be interpreted as meaning a predetermined ratio. More specifically, theinspection unit 52e, which is one function of thecontrol unit 52 of theinspection system 100 according to this embodiment, determines that the item P corresponding to the inspection image is abnormal (the item P is a defective product) and causes theallocation unit 70 to allocate the item P to the first direction D1 when a predetermined ratio or more of pixels having an abnormality confidence level exceeding the first threshold K1 are present among the pixels included in the inspection image input to thelearning model 136.

検査部５２ｅは、上記以外の場合に、検査画像に対応する物品Ｐに異常がない（物品Ｐは良品である）と判断して、振分部７０に、物品Ｐを第２方向Ｄ２に振り分けさせる。In cases other than those described above, theinspection unit 52e determines that there is no abnormality in the item P corresponding to the inspection image (the item P is a good product) and causes thesorting unit 70 to sort the item P in the second direction D2.

本実施形態において、検査部５２ｅは、例えば検査の結果を振分部制御装置１７０に送る。振分部制御装置１７０は、検査装置１０において良品と判断された物品Ｐを、第１方向Ｄ１へ振り分けるように振分部７０を制御する。第１方向Ｄ１は、例えば良品を排出する後段コンベア８０へと向かう方向である。振分部制御装置１７０は、検査装置１０において不良品と判断された物品Ｐを、第２方向Ｄ２へ振り分けるように振分部７０を制御する。第２方向Ｄ２は、例えば不良品排出方向であり、第２方向Ｄ２に振り分けられた物品Ｐは、検査システム１００から排出される。In this embodiment, theinspection unit 52e sends the inspection results to the sortingunit control device 170, for example. The sortingunit control device 170 controls the sortingunit 70 to sort the items P determined to be good by theinspection device 10 in the first direction D1. The first direction D1 is, for example, the direction toward thedownstream conveyor 80 that discharges good items. The sortingunit control device 170 controls the sortingunit 70 to sort the items P determined to be defective by theinspection device 10 in the second direction D2. The second direction D2 is, for example, the direction in which defective items are discharged, and the items P sorted in the second direction D2 are discharged from theinspection system 100.

なお、検査部５２ｅは、学習モデル１３６に入力された検査画像に含まれる画素のうち、第１閾値Ｋ１以上の異常確信度を有する画素が、所定数以上連続して存在する場合や、所定範囲内に所定数以上存在している場合に、検査画像に対応する物品Ｐに異常がある（物品Ｐは不良品である）と判断するものであってもよい。Theinspection unit 52e may determine that there is an abnormality in the item P corresponding to the inspection image (the item P is a defective product) when there are a predetermined number or more consecutive pixels with an abnormality confidence level equal to or higher than the first threshold value K1 among the pixels included in the inspection image input to thelearning model 136, or when there are a predetermined number or more within a predetermined range.

（３）検査装置の動作
本実施形態に係る検査システム１００が行う動作について、図１１を用いて説明する。なお、図１１に示される処理の流れはあくまでも一例であり、矛盾のない範囲で適宜変更されてもよい。例えば各ステップの前後に、図示されていない他のステップが含まれていてもよく、互いに矛盾しない範囲で各ステップの順序が適宜変更されてもよい。 (3) Operation of the Inspection Apparatus The operation of theinspection system 100 according to this embodiment will be described with reference to Fig. 11. The process flow shown in Fig. 11 is merely an example, and may be changed as appropriate within a range that does not contradict. For example, other steps not shown may be included before or after each step, and the order of each step may be changed as appropriate within a range that does not contradict each other.

（３－１）
まず、ステップＳ１では、検査システム１００のオペレータによって、検査装置１０の閾値変更部９０から第１閾値Ｋ１が設定（入力）される。 (3-1)
First, in step S<b>1 , an operator of theinspection system 100 sets (inputs) a first threshold value K<b>1 through the thresholdvalue changing unit 90 of theinspection device 10 .

次に、ステップＳ２では、画像生成部５２ａが、Ｘ線検出素子３０ａから出力されたＸ線透過信号を用いて、ベルト１２ｄを流れる物品ＰのＸ線画像（検査画像）を生成する。Next, in step S2, theimage generating unit 52a generates an X-ray image (inspection image) of the item P traveling on thebelt 12d using the X-ray transmission signal output from theX-ray detection element 30a.

次に、ステップＳ３では、学習モデル１３６によって検査画像を構成する画素の異常確信度が算出される。Next, in step S3, thelearning model 136 calculates the abnormality confidence of the pixels that make up the inspection image.

次に、ステップＳ４では、画像処理部５２ｄが、ステップＳ１で設定された第１閾値Ｋ１やステップＳ３で算出された異常確信度に基づき、検査画像に対して画像処理を行う。Next, in step S4, theimage processing unit 52d performs image processing on the test image based on the first threshold value K1 set in step S1 and the abnormality confidence calculated in step S3.

次に、ステップＳ５では、検査部５２ｅが、ステップＳ３で算出された異常確信度に基づき、異常判定を実行する。異常判定の結果は、制御装置５０や振分部制御装置１７０に信号として出力される。Next, in step S5, theinspection unit 52e performs an abnormality determination based on the abnormality confidence calculated in step S3. The result of the abnormality determination is output as a signal to thecontrol device 50 and the distributionunit control device 170.

ステップＳ５で不合格（異常あり）と判定された場合には、ステップＳ６に進む。If step S5 determines that the test has failed (there is an abnormality), proceed to step S6.

ステップＳ６では、表示部４０に、検査に不合格であった旨を示す表示と、ステップＳ４で作成された検査画像とが表示される。換言すると、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上の画素からなる領域と、第１閾値Ｋ１未満の画素からなる領域とで、検査画像の表示態様が異なる検査画像が表示される。In step S6, thedisplay unit 40 displays a message indicating that the test has failed and the test image created in step S4. In other words, the test image is displayed in a different manner in a region consisting of pixels whose abnormality confidence level is equal to or greater than the first threshold value K1 and in a region consisting of pixels whose abnormality confidence level is less than the first threshold value K1.

次に、ステップＳ７では、振分部制御装置１７０から、振分部７０に対し、検査に不合格の物品Ｐを第２方向Ｄ２へ振り分けるように命令がなされる。Next, in step S7, the sortingunit control device 170 commands the sortingunit 70 to sort the items P that have failed the inspection in the second direction D2.

一方、ステップＳ５で合格（異常なし）と判定された場合には、ステップＳ８に進む。ステップＳ８では、表示部４０に、異常検査に合格であった旨を示す表示と、ステップＳ４で作成された検査画像とが表示される。On the other hand, if it is determined to be a pass (no abnormalities) in step S5, the process proceeds to step S8. In step S8, thedisplay unit 40 displays a message indicating that the abnormality test was passed, along with the test image created in step S4.

次に、ステップＳ９では、異常検査に合格した物品Ｐが、第１方向Ｄ１へと搬送される。Next, in step S9, the item P that has passed the abnormality inspection is transported in the first direction D1.

（４）制御部の機能
以下、本開示に係る検査装置１０の制御部５２の機能について説明する。 (4) Functions of the Control Unit The functions of thecontrol unit 52 of theinspection device 10 according to the present disclosure will be described below.

本実施形態において、制御部５２は、記憶部５１に記憶されている所定のプログラムを実施することで、画像生成部５２ａ、教師データ取得部５２ｂ、学習部５２ｃ、画像処理部５２ｄ及び検査部５２ｅとして機能する。ここでは、特に、制御部５２が有する画像処理部５２ｄとしての機能について説明する。In this embodiment, thecontrol unit 52 functions as animage generating unit 52a, a teacherdata acquiring unit 52b, alearning unit 52c, animage processing unit 52d, and aninspection unit 52e by executing a predetermined program stored in the memory unit 51. Here, the function of thecontrol unit 52 as theimage processing unit 52d will be described in particular.

（４－１）
従来技術に係る検査装置では、Ｘ線透視像信号の値が、所定の閾値よりも小さい場合に検査対象に異物が混入していると判定する。これは、異常確信度が所定の閾値よりも大きいことと対応している。また、従来技術に係る検査装置では、異物ありと判定された領域（画素）を視認できるように、異物ありと判定された領域に対して、着色処理（例えば、赤色に塗りつぶす処理など）を行うことがある。このため、従来技術に係る検査装置では、図２３の（ａ）に示すような検査画像が表示部に表示されることが考えられる。 (4-1)
In the inspection device according to the conventional technology, when the value of the X-ray fluoroscopic image signal is smaller than a predetermined threshold, it is determined that a foreign object is present in the inspection object. This corresponds to the abnormality certainty being greater than a predetermined threshold. In addition, in the inspection device according to the conventional technology, a coloring process (e.g., a process of filling in red) may be performed on the area (pixel) determined to have a foreign object so that the area can be visually recognized. For this reason, in the inspection device according to the conventional technology, it is considered that an inspection image such as that shown in FIG. 23(a) is displayed on the display unit.

図２３の（ａ）は、従来技術に係る検査装置によって生成された検査画像の一例である。図２３の（ａ）では、異物ありと判定された領域ａ１、ａ２、ａ３、ａ４のそれぞれを構成する画素に、着色処理が行われているものとする。図２３の（ａ）において、画素から算出される異常確信度は、領域ａ１が最も大きく、領域ａ２、領域ａ３、領域ａ４、領域ｂ１の順に異常確信度が低下するものとする。なお、領域ｂ１は、異常確信度が第１閾値Ｋ１未満の画素からなる領域であるものとする。しかしながら、図２３の（ａ）に示す通り、従来技術に係る検査画像には、領域ａ１、ａ２、ａ３、ａ４、の各領域を構成する画素に係る異常確信度の大きさが反映されていない。このため、例えば検査装置から誤検出が生じていることが判明した際に、適切な第１閾値Ｋ１を把握する事が困難である。以下、具体的に説明する。Figure 23 (a) is an example of an inspection image generated by an inspection device according to the conventional technology. In Figure 23 (a), it is assumed that coloring processing is performed on the pixels constituting each of the regions a1, a2, a3, and a4 that are determined to contain a foreign object. In Figure 23 (a), it is assumed that the abnormality confidence calculated from the pixels is the largest in region a1, and the abnormality confidence decreases in the order of region a2, region a3, region a4, and region b1. It is assumed that region b1 is an area consisting of pixels whose abnormality confidence is less than the first threshold value K1. However, as shown in Figure 23 (a), the magnitude of the abnormality confidence of the pixels constituting each of the regions a1, a2, a3, and a4 is not reflected in the inspection image according to the conventional technology. For this reason, for example, when it is found that a false detection has occurred from the inspection device, it is difficult to grasp the appropriate first threshold value K1. A specific explanation will be given below.

例えば、従来技術に係る検査装置において、検査用のサンプルの物品Ｐを切り開いて異物の有無を確認するなどして、物品Ｐの図２３の（ａ）に示される領域ａ１、ａ２、ａ３には異物が含まれているが、領域ａ４には実際には異物が含まれていない（領域ａ４の異物は誤検出である）ことが判明した場合を想定する。この場合、オペレータは、領域ａ１、ａ２、ａ３を構成する画素の異常確信度の大きさを下回り、かつ、領域ａ４の異常確信度の大きさを上回るように、第１閾値Ｋ１の設定を変更する必要がある。しかしながら、図２３の（ａ）には、領域ａ１、ａ２、ａ３及びａ４の各領域を構成する画素の異常確信度の大きさが反映されていない。換言すると、領域ａ１、ａ２、ａ３及びａ４を構成する画素の異常確信度の大きさが、第１閾値Ｋ１をどの程度上回っているのかが示されていない。このため、従来技術の検査装置に係るオペレータは、領域ａ１、ａ２、ａ３を構成する画素の異常確信度を下回り、かつ、領域ａ４の異常確信度を上回る第１閾値Ｋ１を見出すために、第１閾値Ｋ１の微調整を繰り返す必要があった。具体的には、第１閾値Ｋ１を実際に増減させて、異常確信度が第１閾値Ｋ１を上回る領域を確認し（異常確信度が第１閾値Ｋ１を上回らなくなる領域を確認し）、所望の結果が得られるかを試す必要があった。そのため、オペレータは、適切な第１閾値Ｋ１を設定するための調整に時間がかかっていた。For example, in a conventional inspection device, a sample item P for inspection is cut open to check for the presence or absence of foreign matter, and it is assumed that areas a1, a2, and a3 shown in FIG. 23(a) of the item P contain foreign matter, but area a4 does not actually contain foreign matter (the foreign matter in area a4 is a false positive). In this case, the operator needs to change the setting of the first threshold K1 so that the abnormality confidence of the pixels constituting areas a1, a2, and a3 is lower than that of the pixels constituting areas a1, a2, and a3, and exceeds that of area a4. However, FIG. 23(a) does not reflect the abnormality confidence of the pixels constituting areas a1, a2, a3, and a4. In other words, it is not shown to what extent the abnormality confidence of the pixels constituting areas a1, a2, a3, and a4 exceeds the first threshold K1. For this reason, an operator of an inspection device of the conventional technology had to repeatedly fine-tune the first threshold K1 to find a first threshold K1 that is below the anomaly confidence level of the pixels that make up areas a1, a2, and a3 and exceeds the anomaly confidence level of area a4. Specifically, the operator had to actually increase or decrease the first threshold K1 to check the area where the anomaly confidence level exceeds the first threshold K1 (check the area where the anomaly confidence level no longer exceeds the first threshold K1) and try to see if the desired result could be obtained. For this reason, the operator had to spend a lot of time making adjustments to set an appropriate first threshold K1.

また、例えば、従来技術に係る検査装置において、物品Ｐの図２３の（ａ）に示される領域ａ１、ａ２、ａ４には異物が含まれているが、領域ａ３には実際には異物が含まれていないことが判明した場合を想定する。この場合、領域ａ３の異物は誤検出であるが、領域ａ４の異物は正しく検出されていることになる。そのため、異物検出を確実に行うためには、領域ａ４に対応する異物が確実に検出されるように第１閾値Ｋ１を設定することが必要となる。しかしながら、領域ａ３を構成する画素の異常確信度は、領域ａ４を構成する画素の異常確信度よりも大きい。そのため、領域ａ３の異物が誤検出されず、且つ領域ａ４の異物が検出されるように第１閾値Ｋ１を設定することは不可能である。しかしながら、従来技術に係る検査装置において、オペレータは、領域ａ３及び領域ａ４を構成する画素の異常確信度がどの程度第１閾値Ｋ１を上回っているか、表示により即座に把握することができない。そのため、オペレータは、実際に第１閾値Ｋ１の値を増減させて、領域ａ３及び／又は領域ａ４における各々の異常確信度が第１閾値Ｋ１を超えて又は下回って、領域ａ３及び領域ａ４における着色処理の有無が変化する様子を確認するまでは、領域ａ３が誤検出されず、且つ領域ａ４が検出されるように第１閾値Ｋ１を設定することは不可能であるという事実を認識することができなかった。そのため、オペレータは、設定不可能な調整を試みてしまい、適切な第１閾値Ｋ１を設定するための調整に無用な時間を費やす可能性があった。なお、この場合は、例えば、領域ａ４に係る異物の検出を優先するため、領域ａ３に係る誤検出を許容して、領域ａ３の異常確信度及び領域ａ４の異常確信度がいずれも第１閾値Ｋ１を上回るように調整するのが好ましい。For example, in an inspection device according to the prior art, it is assumed that the areas a1, a2, and a4 shown in FIG. 23(a) of the item P contain foreign matter, but the area a3 does not actually contain foreign matter. In this case, the foreign matter in the area a3 is erroneously detected, but the foreign matter in the area a4 is correctly detected. Therefore, in order to reliably detect foreign matter, it is necessary to set the first threshold value K1 so that the foreign matter corresponding to the area a4 is reliably detected. However, the abnormality confidence of the pixels constituting the area a3 is greater than the abnormality confidence of the pixels constituting the area a4. Therefore, it is impossible to set the first threshold value K1 so that the foreign matter in the area a3 is not erroneously detected and the foreign matter in the area a4 is detected. However, in an inspection device according to the prior art, an operator cannot immediately grasp from the display to what extent the abnormality confidence of the pixels constituting the areas a3 and a4 exceeds the first threshold value K1. Therefore, the operator could not recognize the fact that it is impossible to set the first threshold value K1 so that the region a3 is not erroneously detected and the region a4 is detected until the operator actually increases or decreases the value of the first threshold value K1 and checks whether or not the coloring process is performed in the region a3 and the region a4 by checking whether or not the coloring process is performed in the region a3 and the region a4 is performed by exceeding or falling below the first threshold value K1. Therefore, the operator may attempt an adjustment that cannot be set, and waste time in adjusting to set an appropriate first threshold value K1. In this case, for example, in order to prioritize the detection of a foreign object in the region a4, it is preferable to allow the erroneous detection in the region a3 and adjust so that the abnormality confidence of the region a3 and the abnormality confidence of the region a4 both exceed the first threshold value K1.

このように、従来技術に係る検査装置では、画素の異常確信度の大きさが、検査画像に反映されていない。この場合、従来技術に係る検査装置において、例えば異常の誤検出が抑制されるような最適な第１閾値Ｋ１を把握することは、非常に時間のかかる作業となる。As such, in the inspection device according to the conventional technology, the magnitude of the anomaly confidence level of a pixel is not reflected in the inspection image. In this case, in the inspection device according to the conventional technology, for example, determining the optimal first threshold value K1 that suppresses false detection of an anomaly is a very time-consuming task.

（４－２）
一方で、本実施形態に係る検査装置１０では、画像処理部５２ｄによる画像処理が行われる。本実施形態に係る画像処理部５２ｄは、検査画像を構成する画素から算出される異常確信度の大きさに基づき、検査画像を構成する画素の表示態様を変化させる。 (4-2)
On the other hand, in theinspection device 10 according to the present embodiment, image processing is performed by theimage processing unit 52d. Theimage processing unit 52d according to the present embodiment changes the display mode of the pixels constituting the inspection image based on the magnitude of the abnormality certainty calculated from the pixels constituting the inspection image.

詳細には、画像処理部５２ｄは、大きさが異なる異常確信度に対し異なる色相が対応するように表示態様を変化させる。In detail, theimage processor 52d changes the display mode so that different hues correspond to different magnitudes of abnormality certainty.

例えば、画像処理部５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である画素と、第１閾値Ｋ１未満である画素との表示態様を異ならせる。なおかつ、画像処理部５２ｄは、第１閾値Ｋ１以上である画素については異常確信度の大きさに応じて表示態様を変化させる。For example, theimage processing unit 52d changes the display mode of pixels whose abnormality confidence level is equal to or greater than the first threshold K1 and pixels whose abnormality confidence level is less than the first threshold K1. Furthermore, theimage processing unit 52d changes the display mode of pixels whose abnormality confidence level is equal to or greater than the first threshold K1 according to the abnormality confidence level.

また、例えば画像処理部５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満である検査画像の画素については、検査画像における画素が有する画素値に基づいて表示部４０に表示させる。Furthermore, for example, theimage processing unit 52d causes thedisplay unit 40 to display, for pixels of the inspection image whose magnitude of the abnormality certainty is less than the first threshold value K1, based on the pixel value of the pixel in the inspection image.

このため、表示部４０には、例えば図１０の（ｂ）に示すような検査画像が表示される。図１０の（ｂ）に示す通り、検査画像には、領域Ａ１、Ａ２、Ａ３、Ａ４、の各領域を構成する画素に係る異常確信度が反映されている。このため、例えば検査装置１０から誤検出が生じていることが判明した際に、適切な第１閾値Ｋ１を把握することが容易である。以下、具体的に説明する。For this reason, thedisplay unit 40 displays an inspection image such as that shown in FIG. 10(b). As shown in FIG. 10(b), the inspection image reflects the abnormality confidence levels for the pixels that make up each of the areas A1, A2, A3, and A4. For this reason, for example, when it is determined that a false positive has occurred from theinspection device 10, it is easy to determine an appropriate first threshold value K1. This is explained in detail below.

例えば、検査装置１０において、検査用のサンプルの物品Ｐを切り開いて異物の有無を確認するなどして、物品Ｐの図１０の（ｂ）に示される領域Ａ１、Ａ２、Ａ３には異物が含まれているが、領域Ａ４には異物が含まれていない（領域Ａ４の異物は誤検出である）ことが判明した場合を想定する。この場合、オペレータは、領域Ａ１、Ａ２、Ａ３を構成する画素の異常確信度を下回り、かつ、領域Ａ４を構成する画素の異常確信度を上回るように、第１閾値Ｋ１を変更する必要がある。図１０の（ｂ）に示すように、検査画像には、領域Ａ１、Ａ２、Ａ３及びＡ４を構成する画素の異常確信度の大きさが反映されている。換言すると、領域Ａ１、Ａ２、Ａ３及びＡ４を構成する画素の異常確信度の大きさが、第１閾値Ｋ１をどの程度上回っているのかが示されている。このため、ここでは、領域Ａ３を構成する画素の異常確信度の大きさを下回り、かつ、領域Ａ４を構成する画素の異常確信度の大きさを上回るように第１閾値Ｋ１の変更を行うことで、誤検出が抑制されることがオペレータに容易に確認される。For example, assume that theinspection device 10 cuts open an item P of a sample for inspection to check for the presence or absence of foreign matter, and finds that the areas A1, A2, and A3 shown in FIG. 10(b) of the item P contain foreign matter, but the area A4 does not contain foreign matter (the foreign matter in the area A4 is a false positive). In this case, the operator needs to change the first threshold K1 so that it is lower than the abnormality confidence of the pixels that make up the areas A1, A2, and A3, and higher than the abnormality confidence of the pixels that make up the area A4. As shown in FIG. 10(b), the magnitude of the abnormality confidence of the pixels that make up the areas A1, A2, A3, and A4 is reflected in the inspection image. In other words, it shows how much the magnitude of the abnormality confidence of the pixels that make up the areas A1, A2, A3, and A4 exceeds the first threshold K1. Therefore, by changing the first threshold K1 so that it is less than the magnitude of the abnormality confidence of the pixels that make up area A3 and more than the magnitude of the abnormality confidence of the pixels that make up area A4, the operator can easily confirm that false detections are suppressed.

また、例えば、検査装置１０において、物品Ｐの図１０の（ｂ）に示される領域Ａ１、Ａ２、Ａ４には異物が含まれているが、領域Ａ３には実際には異物が含まれていないことが判明した場合を想定する。この場合、領域Ａ３の異物は誤検出であるが、領域Ａ４の異物は正しく検出されていることになる。ここで、オペレータは、検査装置１０における領域Ａ１、Ａ２、Ａ３の表示の態様（例えば、異常確信度の大きさに対応させた色）を確認すれば、即座に領域Ａ３を構成する画素の異常確信度が領域Ａ４を構成する画素の異常確信度よりも大きいことを理解できる。そのため、領域Ａ３が誤検出されず、且つ領域Ａ４が検出されるように第１閾値Ｋ１を設定することは不可能であるという事実を、実際に第１閾値Ｋ１の値を増減させることなく認識することができる。したがって、オペレータは、無用な調整を試みることがなくなる。Also, for example, assume that theinspection device 10 finds that the areas A1, A2, and A4 shown in FIG. 10(b) of the item P contain foreign matter, but that the area A3 does not actually contain foreign matter. In this case, the foreign matter in the area A3 is erroneously detected, but the foreign matter in the area A4 is correctly detected. Here, if the operator checks the display mode of the areas A1, A2, and A3 in the inspection device 10 (for example, the color corresponding to the magnitude of the abnormality certainty), the operator can immediately understand that the abnormality certainty of the pixels that make up the area A3 is greater than the abnormality certainty of the pixels that make up the area A4. Therefore, the operator can recognize the fact that it is impossible to set the first threshold value K1 so that the area A3 is not erroneously detected and the area A4 is detected, without actually increasing or decreasing the value of the first threshold value K1. Therefore, the operator will not attempt to make unnecessary adjustments.

このように、本実施形態に係る検査装置１０では、最適な第１閾値Ｋ１を容易に把握することができる。また、これにより、オペレータは、最適な第１閾値Ｋ１を設定するための調整を、従来よりも短い時間で行うことができるようになる。In this way, theinspection device 10 according to this embodiment makes it easy to determine the optimal first threshold value K1. This also enables the operator to make adjustments to set the optimal first threshold value K1 in a shorter time than in the past.

（４－３）
また、本実施形態に係る検査装置１０では、異常確信度の大きさに応じて色相を変化させることで、異常確信度の大きい領域を２次元的に表示することができる。例えば、本実施形態に係る検査装置１０の制御部５２は、図１２に示すような検査画像を表示部４０の領域Ｃ１に表示させる。図１２では、物品Ｐのベルト１２ｄにおける搬送方向をＸとして、物品Ｐの幅方向をＹとする。 (4-3)
Furthermore, in theinspection device 10 according to this embodiment, the hue is changed according to the magnitude of the abnormality certainty, so that the area with a high abnormality certainty can be displayed two-dimensionally. For example, thecontrol unit 52 of theinspection device 10 according to this embodiment displays an inspection image as shown in Fig. 12 in the area C1 of thedisplay unit 40. In Fig. 12, the conveying direction of the article P on thebelt 12d is designated as X, and the width direction of the article P is designated as Y.

図１２では、領域Ａ１と領域Ａ２とが、物品Ｐの搬送方向Ｘにおいて共通する座標であるＸ１に、それぞれ位置している。一方で、領域Ａ１は幅方向ＹにおいてＹ１に、領域Ａ２は幅方向ＹにおいてＹ２に、それぞれ位置することから、領域Ａ１と領域Ａ２とは明確に区別されて表示部４０に表示される。In FIG. 12, area A1 and area A2 are located at a common coordinate X1 in the conveying direction X of item P. On the other hand, area A1 is located at Y1 in the width direction Y, and area A2 is located at Y2 in the width direction Y, so area A1 and area A2 are displayed on thedisplay unit 40 as clearly distinguished.

あるいは、図１２では、領域Ａ１と領域Ａ５とが、物品Ｐの幅方向Ｙにおいて共通する座標であるＹ１にそれぞれ位置している。しかしながら、領域Ａ１は搬送方向ＸにおいてＸ１に、領域Ａ５は搬送方向ＸにおいてＸ２に、それぞれ位置することから、領域Ａ１と領域Ａ５とは明確に区別されて表示部４０に表示される。Alternatively, in FIG. 12, area A1 and area A5 are each located at a common coordinate Y1 in the width direction Y of item P. However, since area A1 is located at X1 in the conveying direction X and area A5 is located at X2 in the conveying direction X, area A1 and area A5 are displayed on thedisplay unit 40 as clearly distinguished.

このように、物品Ｐに、異常確信度が所定の閾値（基準値）を超えている画素からなる領域が複数存在する場合であって、当該複数の領域が搬送方向又は幅方向のいずれかにおいて共通する座標に位置する場合であっても、本実施形態における検査装置１０では、各領域の正確な位置と、各領域を構成する画素の異常確信度の大きさと、を同時に表示部４０に表示することができている。換言すると、本実施形態に係る検査装置１０では、異常が生じている恐れがある画素からなる領域の２次元的な表示と、異常が生じている恐れがある画素からなる領域における異常確信度の大きさの表示と、が両立されている。In this way, even if there are multiple areas on an item P made up of pixels whose abnormality confidence exceeds a predetermined threshold (reference value) and the multiple areas are located at common coordinates in either the conveyance direction or the width direction, theinspection device 10 of this embodiment can simultaneously display the exact position of each area and the magnitude of the abnormality confidence of the pixels that make up each area on thedisplay unit 40. In other words, theinspection device 10 of this embodiment is able to both two-dimensionally display areas made up of pixels where an abnormality may occur and display the magnitude of the abnormality confidence in the areas made up of pixels where an abnormality may occur.

このため、本実施形態に係る検査装置１０のオペレータは、物品Ｐの検査画像において、異常が生じている恐れがある画素からなる領域を正確に、確認することができ、かつ、当該領域における異常確信度の大きさを正確に確認することができる。As a result, an operator of theinspection device 10 according to this embodiment can accurately identify areas in the inspection image of the item P that are made up of pixels that may contain an abnormality, and can also accurately confirm the degree of abnormality certainty in those areas.

また、本実施形態に係る検査装置１０のオペレータは、異常が生じている恐れがある画素からなる領域を直ちに確認することができ、かつ、当該領域における異常確信度の大きさを直ちに確認することができる。In addition, an operator of theinspection device 10 according to this embodiment can immediately identify areas made up of pixels that may contain anomalies, and can immediately confirm the degree of anomaly confidence in those areas.

また、本実施形態の検査装置１０に係るオペレータは、異常確信度が、閾値（基準値）をどの程度上回っているのか、直ちに把握（理解）することができる。In addition, an operator using theinspection device 10 of this embodiment can immediately grasp (understand) to what extent the abnormality certainty exceeds the threshold value (reference value).

（５）特徴
（５－１）
本実施形態に係る検査装置１０は、物品Ｐを検査する検査装置１０である。検査装置１０は、照射部２０と、検出部３０と、画像生成部５２ａと、表示部４０と、制御部５２と、を備える。照射部２０は、物品Ｐに電磁波を照射する。なお、限定するものではないが、本実施形態において、電磁波はＸ線である。検出部３０は、物品Ｐを透過したＸ線を検出する。画像生成部５２ａは、検出部３０の検出結果に基づいて、物品Ｐの検査画像を生成する。表示部４０は、検査画像を表示する。制御部５２は、表示部４０における検査画像の表示態様を変更させる。制御部５２は、検査画像を構成する画素ごとに、異常状態の確からしさを示す異常確信度を算出する。制御部５２は、異常確信度の大きさに基づき画素の表示態様を変化させる。 (5) Features (5-1)
Theinspection device 10 according to this embodiment is aninspection device 10 that inspects an item P. Theinspection device 10 includes anirradiation unit 20, adetection unit 30, animage generation unit 52a, adisplay unit 40, and acontrol unit 52. Theirradiation unit 20 irradiates the item P with electromagnetic waves. In this embodiment, the electromagnetic waves are X-rays, although this is not limited thereto. Thedetection unit 30 detects the X-rays that have passed through the item P. Theimage generation unit 52a generates an inspection image of the item P based on the detection result of thedetection unit 30. Thedisplay unit 40 displays the inspection image. Thecontrol unit 52 changes the display mode of the inspection image on thedisplay unit 40. Thecontrol unit 52 calculates an abnormality certainty indicating the likelihood of an abnormal state for each pixel constituting the inspection image. Thecontrol unit 52 changes the display mode of the pixel based on the magnitude of the abnormality certainty.

この検査装置１０では、異常確信度を確認することが容易である。Thisinspection device 10 makes it easy to confirm the degree of abnormality certainty.

（５－２）
本実施形態に係る検査装置１０では、画素は、画素値として色相を含む。制御部５２は、異常確信度の大きさに基づき画素の表示態様を変化させる際に、異なる異常確信度に対し異なる色相が対応するように変化させる。 (5-2)
In theinspection device 10 according to the present embodiment, the pixels include a hue as a pixel value. When changing the display mode of the pixel based on the magnitude of the abnormality certainty, thecontrol unit 52 changes the display mode of the pixel so that different hues correspond to different abnormality certainty.

この検査装置１０では、異常確信度を確認することが容易である。Thisinspection device 10 makes it easy to confirm the degree of abnormality certainty.

（５－３）
本実施形態に係る検査装置１０では、制御部５２は、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素と、第１閾値Ｋ１未満である画素との表示態様を異ならせる。且つ、制御部５２は、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素については異常確信度に応じて表示態様を変化させ、検査画像を視覚的に区分して、表示部４０に表示させる。 (5-3)
In theinspection device 10 according to this embodiment, thecontrol unit 52 differentiates the display mode of pixels whose anomaly certainty is equal to or greater than the first threshold K1 from pixels whose anomaly certainty is less than the first threshold K1. For pixels whose anomaly certainty is equal to or greater than the first threshold K1, thecontrol unit 52 changes the display mode in accordance with the anomaly certainty, visually dividing the inspection image and displaying it on thedisplay unit 40.

この検査装置１０では、異常確信度を確認することが容易である。Thisinspection device 10 makes it easy to confirm the degree of abnormality certainty.

また、この検査装置１０では、最適な第１閾値Ｋ１を容易に把握することができる。In addition, with thisinspection device 10, the optimal first threshold value K1 can be easily determined.

また、この検査装置１０では、異常が生じている恐れがある領域を容易に確認することができる。さらに、この検査装置１０では、当該領域における異常確信度の大きさを容易に確認することができる。In addition, with thisinspection device 10, it is possible to easily check areas where an abnormality may occur. Furthermore, with thisinspection device 10, it is possible to easily check the degree of abnormality certainty in the area.

また、この検査装置１０では、異常が生じている恐れがある領域を直ちに確認することができる。さらに、この検査装置１０では、当該領域における異常確信度の大きさを直ちに確認することができる。In addition, with thisinspection device 10, it is possible to immediately check areas where an abnormality may occur. Furthermore, with thisinspection device 10, it is possible to immediately check the degree of abnormality certainty in the area.

（５－４）
本実施形態に係る検査装置１０では、制御部５２は、異常確信度が第１閾値Ｋ１未満である画素については、検査画像における画素値に基づいて表示部４０に表示させる。 (5-4)
In theinspection device 10 according to this embodiment, thecontrol unit 52 causes thedisplay unit 40 to display, for pixels whose abnormality certainty level is less than the first threshold value K1, based on the pixel value in the inspection image.

この検査装置１０では、異常確信度を確認することが容易である。Thisinspection device 10 makes it easy to confirm the degree of abnormality certainty.

また、この検査装置１０では、検査画像において、物品Ｐと、異常確信度が第１閾値Ｋ１を超える領域と、の関係を確認することが容易である。このため、この検査装置１０では、異常確信度をより容易に確認することができる。In addition, with thisinspection device 10, it is easy to confirm the relationship between the item P and the area in the inspection image where the abnormality certainty exceeds the first threshold value K1. Therefore, with thisinspection device 10, it is easier to confirm the abnormality certainty.

また、この検査装置１０では、最適な第１閾値Ｋ１を容易に把握することができる。In addition, with thisinspection device 10, the optimal first threshold value K1 can be easily determined.

また、この検査装置１０では、異常が生じている恐れがある領域を容易に確認することができる。さらに、この検査装置１０では、当該領域における異常確信度の大きさを容易に確認することができる。In addition, with thisinspection device 10, it is possible to easily check areas where an abnormality may occur. Furthermore, with thisinspection device 10, it is possible to easily check the degree of abnormality certainty in the area.

また、この検査装置１０では、異常が生じている恐れがある領域を直ちに確認することができる。さらに、この検査装置１０では、当該領域における異常確信度の大きさを直ちに確認することができる。In addition, with thisinspection device 10, it is possible to immediately check areas where an abnormality may occur. Furthermore, with thisinspection device 10, it is possible to immediately check the degree of abnormality certainty in the area.

（５－５）
本実施形態に係る検査システム１００は、検査装置１０と、振分部７０と、を備える。振分部７０は、物品Ｐを、第１方向Ｄ１と、第１方向Ｄ１とは異なる第２方向Ｄ２とに振り分ける。制御部５２は、検査画像に含まれる画素のうち、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である画素が所定数以上である場合に、検査画像に対応する物品Ｐに異常があると判断して、振分部７０に、物品Ｐを第１方向Ｄ１に振り分けさせる。制御部５２は、それ以外の場合に、検査画像に対応する物品Ｐに異常がないと判断して、振分部７０に、物品Ｐを第２方向Ｄ２に振り分けさせる。 (5-5)
Theinspection system 100 according to the present embodiment includes aninspection device 10 and asorting unit 70. The sortingunit 70 sorts the items P into a first direction D1 and a second direction D2 different from the first direction D1. When a predetermined number of pixels in the inspection image have an abnormality certainty level equal to or greater than a first threshold value K1, thecontrol unit 52 determines that the item P corresponding to the inspection image has an abnormality and causes thesorting unit 70 to sort the item P into the first direction D1. In other cases, thecontrol unit 52 determines that the item P corresponding to the inspection image has no abnormality and causes thesorting unit 70 to sort the item P into the second direction D2.

この検査システム１００は、異常確信度を確認することが容易な検査装置１０を備えている。このため、本実施形態に係る検査システム１００では、作業効率が向上する。Thisinspection system 100 is equipped with aninspection device 10 that makes it easy to check the anomaly confidence level. Therefore, theinspection system 100 according to this embodiment improves work efficiency.

（６）変形例
上記実施形態は、以下の変形例に示すように適宜変形が可能である。各変形例は、矛盾が生じない範囲で、本実施形態に係る変形例や他の実施形態に係る変形例と組み合わせて適用されてもよい。なお、上記の第１実施形態と同様の構成については同様の符号を付し、その詳細な説明は省略する。 (6) Modifications The above embodiment can be modified as appropriate as shown in the following modifications. Each modification may be applied in combination with the modification according to this embodiment and the modification according to another embodiment to the extent that no contradiction occurs. Note that the same reference numerals are used for configurations similar to those of the first embodiment, and detailed descriptions thereof will be omitted.

（６－１）変形例１Ａ
上記実施形態では、制御部５２（画像処理部５２ｄ）が、異常確信度の大きさに基づき検査画像の画素の表示態様を変化させる際に、異なる異常確信度に対し異なる色相が対応するように変化させる検査装置１０について説明した。しかしながら、本開示に係る検査装置の例はこれに限定されるものではなく、例えば検査装置は、検査画像の画素値として、明度、輝度、彩度のうち少なくとも一つを含むものであってもよい。この場合、検査装置は、制御部が異常確信度の大きさに基づき画素の表示態様を変化させる際に、明度、輝度、彩度のうち少なくとも一つの大きさが異なるものが対応するように変化させる検査装置であってもよい。例えば検査装置は、制御部が異常確信度の大きさに基づき画素の表示態様を変化させる際に、異常確信度の大きさに対応して輝度が変化するように、検査画像の画素の表示態様を変化させるものであってもよい。 (6-1) Modification 1A
In the above embodiment, the control unit 52 (image processing unit 52d) has been described as aninspection device 10 that changes the display mode of the pixels of the inspection image based on the magnitude of the abnormality confidence so that different hues correspond to different abnormality confidences when the control unit 52 (image processing unit 52d) changes the display mode of the pixels of the inspection image based on the magnitude of the abnormality confidence. However, the example of the inspection device according to the present disclosure is not limited to this, and for example, the inspection device may include at least one of lightness, luminance, and saturation as the pixel value of the inspection image. In this case, the inspection device may be an inspection device that changes the display mode of the pixels based on the magnitude of the abnormality confidence so that at least one of the lightness, luminance, and saturation has a different magnitude. For example, the inspection device may change the display mode of the pixels of the inspection image so that the luminance changes in response to the magnitude of the abnormality confidence when the control unit changes the display mode of the pixels based on the magnitude of the abnormality confidence.

あるいは、本変形例に係る検査装置は、異なる異常確信度に対し、異なる色相とともに、明度、輝度、彩度のうち少なくとも一つの大きさが異なるものが対応するように、検査画像の画素の表示態様を変化させるものであってもよい。例えば検査装置は、異常確信度の大きさに応じて、色相とともに、輝度が変化するように、検査画像の画素の表示態様を変化させるものであってもよい。Alternatively, the inspection device according to this modified example may change the display mode of pixels of the inspection image so that different anomaly certainty levels correspond to different hues as well as different magnitudes of at least one of lightness, luminance, and saturation. For example, the inspection device may change the display mode of pixels of the inspection image so that luminance changes along with hue depending on the magnitude of the anomaly certainty level.

本変形例に係る検査装置は、表示部４０が有する性能の制約上、表示部４０に表示可能な色相が限定される場合等に有効である。例えば、本変形例に係る検査装置は、表示部４０として安価なディスプレイ等を用いる場合であっても、異常確信度を明確に反映させることができる。このため、本変形例においては、検査装置の低コスト化が実現される。The inspection device according to this modified example is effective in cases where the hues that can be displayed on thedisplay unit 40 are limited due to performance constraints of thedisplay unit 40. For example, the inspection device according to this modified example can clearly reflect the degree of abnormality certainty even when an inexpensive display or the like is used as thedisplay unit 40. Therefore, in this modified example, the inspection device can be manufactured at a low cost.

また、本変形例に係る検査装置は、上記実施形態と同様に、異常確信度の確認が容易である。Furthermore, the inspection device according to this modified example makes it easy to confirm the degree of certainty of anomalies, just like the above embodiment.

（６－２）変形例１Ｂ
上記実施形態では、電磁波の一例としてのＸ線を物品Ｐに照射する検査装置１０について説明した。しかしながら、本開示に係る検査装置の例はこれに限定されるものではなく、例えば検査装置は、赤外線を物品Ｐに照射するものであってもよい。この場合、異常確信度は、物品Ｐを透過又は反射した赤外線の量や強度に基づいて算出されるものであってもよい。 (6-2) Modification 1B
In the above embodiment, theinspection device 10 has been described which irradiates the item P with X-rays as an example of electromagnetic waves. However, the example of the inspection device according to the present disclosure is not limited to this, and for example, the inspection device may irradiate the item P with infrared rays. In this case, the abnormality certainty level may be calculated based on the amount or intensity of infrared rays transmitted through or reflected by the item P.

このほか、本開示に係る検査装置は、物品の検査において一般的に用いられる光によって対象物品の検査を行う装置であれば、紫外線および可視光等を用いて物品Ｐの検査を行う装置に適用可能である。In addition, the inspection device according to the present disclosure can be applied to devices that inspect item P using ultraviolet light, visible light, etc., as long as the device inspects the target item using light that is commonly used in inspecting items.

また、本変形例に係る検査装置は、上記実施形態と同様に、異常確信度の確認が容易である。Furthermore, the inspection device according to this modified example makes it easy to confirm the degree of certainty of anomalies, just like the above embodiment.

（６－３）変形例１Ｃ
上記実施形態では、機械学習を行うことで生成された学習モデル１３６によって算出された異常確信度を用いて物品の検査を行う検査装置１０について説明した。しかしながら、本開示に係る検査装置の例はこれに限定されるものではない。すなわち、本開示に係る検査装置において、異常確信度の算出手段は、適宜選択されればよい。 (6-3) Modification 1C
In the above embodiment, theinspection device 10 that inspects an item using an anomaly certainty calculated by thelearning model 136 generated by performing machine learning has been described. However, the example of the inspection device according to the present disclosure is not limited to this. That is, in the inspection device according to the present disclosure, the calculation means for the anomaly certainty may be appropriately selected.

本変形例における検査装置は、例えば、Ｘ線透過信号の強度を異常確信度とするものであってもよい。この場合、容易な構成で異常確信度を算出することができる。The inspection device in this modified example may, for example, use the intensity of the X-ray transmission signal as the abnormality confidence level. In this case, the abnormality confidence level can be calculated with a simple configuration.

また、本変形例に係る検査装置は、上記実施形態と同様に、異常確信度の確認が容易である。Furthermore, the inspection device according to this modified example makes it easy to confirm the degree of certainty of anomalies, just like the above embodiment.

（６－４）変形例１Ｄ
上記実施形態では、物品Ｐの検査として、異物混入検査を行う検査装置１０について説明した。しかしながら、本開示に係る検査装置が行う検査はこれに限定されるものではなく、例えば検査装置は、割れ検査や、欠品検査や、物品内部の空洞検査や、形状検査を行うものであってもよい。また、物品Ｐは上記実施形態で説明したものに限定されず、様々な物品Ｐ（例えば袋状の物品など）を検査対象とすることができる。この場合、異常状態とは、物品Ｐに割れ（ひび割れ）が生じている状態や、物品Ｐの内容物が破損している状態や、物品Ｐの内容物の欠品状態や、物品Ｐの内部に空洞部分が存在している状態や、物品Ｐが変形している状態を指すものであってもよい。この場合に、検査装置１０は、これらの異常状態が発生している確からしさを、各画素毎に異常確信度として算出する。 (6-4) Modification 1D
In the above embodiment, theinspection device 10 that performs a foreign matter contamination inspection as an inspection of the item P has been described. However, the inspection performed by the inspection device according to the present disclosure is not limited to this, and for example, the inspection device may perform a crack inspection, a missing item inspection, a hollow inspection inside the item, or a shape inspection. In addition, the item P is not limited to the one described in the above embodiment, and various items P (for example, bag-shaped items, etc.) can be inspected. In this case, the abnormal state may refer to a state in which the item P has a crack (crack), a state in which the contents of the item P are damaged, a state in which the contents of the item P are missing, a state in which a hollow part exists inside the item P, or a state in which the item P is deformed. In this case, theinspection device 10 calculates the likelihood that these abnormal states have occurred as an abnormality certainty for each pixel.

また、本変形例に係る検査装置は、変形例１Ａに示す構成と組み合わせることで、噛みこみ検査を行うものであってもよい。この場合、物品は例えば内容物を含む袋状の物品であり、異常状態とは、当該物品のシール部において内容物の噛み込みが生じている状態を指すものであってもよい。The inspection device according to this modification may also be combined with the configuration shown in modification 1A to perform a jam inspection. In this case, the article may be, for example, a bag-shaped article containing contents, and the abnormal state may refer to a state in which the contents are jammed in the sealed portion of the article.

（６－５）変形例１Ｅ
上記実施形態では、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素と、第１閾値Ｋ１未満である画素との表示態様を異ならせて、検査画像を表示部４０に表示する検査装置１０について説明した。しかしながら、本開示に係る検査装置が行う表示の態様はこれに限定されるものではなく、例えば検査装置は、閾値を考慮することなく、異常確信度の大きさに基づき画素の表示態様を変化させた検査画像を表示部４０に表示させるものであってもよい。 (6-5) Modification 1E
In the above embodiment, theinspection device 10 has been described, which displays an inspection image on thedisplay unit 40 by differentiating the display mode of pixels whose anomaly certainty is equal to or greater than the first threshold value K1 from the display mode of pixels whose anomaly certainty is less than the first threshold value K1. However, the display mode performed by the inspection device according to the present disclosure is not limited to this, and for example, the inspection device may display an inspection image on thedisplay unit 40 in which the display mode of pixels is changed based on the magnitude of the anomaly certainty without taking the threshold value into consideration.

本変形例に係る検査装置は、例えば、図１３の（ａ）に示すような検査画像を表示部４０に表示させる。ここでは、検査画像を構成する全画素の異常確信度の大きさが、検査画像に反映されている。また、ここでは、異なる異常確信度に対し異なる色相が対応するように、検査画像の表示態様が変化している。換言すると、本変形例に係る検査装置では、異常確信度が全面的にカラーマップ化された検査画像が、表示部４０の領域Ｃ１に表示される。The inspection device according to this modified example displays an inspection image, for example, as shown in FIG. 13(a) on thedisplay unit 40. Here, the magnitude of the abnormality confidence of all pixels constituting the inspection image is reflected in the inspection image. Also, here, the display mode of the inspection image is changed so that different hues correspond to different abnormality confidences. In other words, in the inspection device according to this modified example, an inspection image in which the abnormality confidence is color-mapped across its entirety is displayed in area C1 of thedisplay unit 40.

また、本変形例に係る検査装置は、例えば図１３の（ｂ）に示すように、物品Ｐの輪郭を抽出して表示するものであってもよい。この場合、異常確信度の大きさを確認することがさらに容易になる。The inspection device according to this modified example may also extract and display the outline of the item P, as shown in FIG. 13(b), for example. In this case, it becomes even easier to confirm the magnitude of the abnormality certainty.

なお、本変形例に係る検査装置は、上記実施形態において、第１閾値Ｋ１を最小値（最小単位）に設定する事でも実現される。The inspection device according to this modified example can also be realized by setting the first threshold value K1 to the minimum value (smallest unit) in the above embodiment.

本変形例に係る検査装置は、上記実施形態と同様に、異常確信度の確認が容易である。The inspection device according to this modified example makes it easy to confirm the degree of certainty of anomalies, just like the above embodiment.

（６－６）変形例１Ｆ
上記実施形態では、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素と、第１閾値Ｋ１未満である画素との表示態様を異ならせて、検査画像を表示部４０に表示する検査装置１０について説明した。しかしながら、本開示に係る検査装置の例はこれに限定されるものではない。例えば検査装置は、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素についてマーキングを行うものであってもよい。本変形例に係るマーキングは、限定するものではないが、例えば画素の異常確信度が第１閾値Ｋ１以上であると判定された領域を、円で囲む処理である（図１４参照）。ただし、本変形例にかかるマーキングの態様はこれに限定されるものではなく、例えば異常確信度が第１閾値Ｋ１以上であると判定された領域を矩形で囲む処理であってもよい。この場合、囲まれた領域の内部が、異常確信度に応じた表示態様（例えば、色）として表示される。 (6-6) Modification 1F
In the above embodiment, theinspection device 10 has been described, which displays an inspection image on thedisplay unit 40 by differentiating the display mode of pixels whose abnormality confidence is equal to or greater than the first threshold K1 from that of pixels whose abnormality confidence is less than the first threshold K1. However, the example of the inspection device according to the present disclosure is not limited to this. For example, the inspection device may perform marking on pixels whose abnormality confidence is equal to or greater than the first threshold K1. The marking according to this modification is, but is not limited to this, a process of surrounding an area in which the abnormality confidence of the pixel is determined to be equal to or greater than the first threshold K1 with a circle (see FIG. 14). However, the marking mode according to this modification is not limited to this, and may be, for example, a process of surrounding an area in which the abnormality confidence is determined to be equal to or greater than the first threshold K1 with a rectangle. In this case, the inside of the surrounded area is displayed in a display mode (for example, color) according to the abnormality confidence.

本変形例においては、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である画素からなる領域が強調して表示されるため、異常状態の見落としが抑制される。本変形例に係る検査装置は例えば、物品Ｐに混入された異物が極小である場合等に有効である。In this modified example, the area consisting of pixels whose abnormality certainty level is equal to or greater than the first threshold value K1 is highlighted, which reduces the risk of overlooking an abnormal state. The inspection device according to this modified example is effective, for example, in cases where the foreign matter mixed into the item P is extremely small.

本変形例に係る検査装置は、上記実施形態と同様に、異常確信度の確認が容易である。The inspection device according to this modified example makes it easy to confirm the degree of certainty of anomalies, just like the above embodiment.

（６－７）変形例１Ｇ
上記実施形態では、検査装置１０の制御部５２が、学習部５２ｃによって学習モデル１３６の機械学習を行う例について説明した。しかしながら、本開示に係る検査装置の例はこれに限定されるものではなく、例えば、検査装置と学習部とはそれぞれ別体であってもよい。 (6-7) Modification 1G
In the above embodiment, an example has been described in which thecontrol unit 52 of theinspection device 10 uses thelearning unit 52c to perform machine learning of thelearning model 136. However, the example of the inspection device according to the present disclosure is not limited to this, and for example, the inspection device and the learning unit may be separate entities.

また、本開示に係る検査装置は、検査装置とは別体の機械学習装置（図示省略）が有する学習部によって生成された学習モデルを用いるものであってもよい。この場合、検査装置は機械学習装置と有線又は無線で接続されることにより、機械学習装置によって生成された学習モデルと通信を行うものであってもよい。この場合、検査装置は、外部のクラウドサーバと通信して、このクラウドサーバから機械学習装置によって生成された学習モデルをダウンロードして用いるように構成されていても良い。The inspection device according to the present disclosure may also use a learning model generated by a learning unit of a machine learning device (not shown) separate from the inspection device. In this case, the inspection device may be connected to the machine learning device via a wired or wireless connection, and communicate with the learning model generated by the machine learning device. In this case, the inspection device may be configured to communicate with an external cloud server and download and use the learning model generated by the machine learning device from the cloud server.

（６－８）変形例１Ｈ
上記実施形態では、検査装置１０の制御部５２が、学習部５２ｃによって学習モデル１３６の機械学習を行う例について説明した。しかしながら、本開示に係る検査装置の例はこれに限定されるものではなく、例えば検査装置は、予め機械学習済みの学習モデルを用いるものであってもよい。 (6-8) Modification 1H
In the above embodiment, an example has been described in which thecontrol unit 52 of theinspection device 10 uses thelearning unit 52c to perform machine learning of thelearning model 136. However, the example of the inspection device according to the present disclosure is not limited to this, and for example, the inspection device may use a learning model that has been machine-learned in advance.

例えば、検査装置１０とは別体の機械学習装置によって予め機械学習が行われた学習モデルを用いるものであってもよい。For example, a learning model that has been machine-learned in advance by a machine learning device separate from theinspection device 10 may be used.

（６－９）変形例１Ｉ
上記実施形態では、制御部５２は、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である検査画像の画素と、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満である検査画像の画素と、の表示態様を異ならせることで、検査画像を視覚的に区分して表示部４０に表示させると説明した。 (6-9) Modification 1I
In the above embodiment, it was explained that thecontrol unit 52 visually divides the inspection image and displays it on thedisplay unit 40 by differentiating the display manner of pixels of the inspection image whose magnitude of abnormality certainty is equal to or greater than the first threshold value K1 from pixels of the inspection image whose magnitude of abnormality certainty is less than the first threshold value K1.

異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である検査画像の画素と、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満である検査画像の画素と、の表示態様を異ならせる表示の一例として、上記実施形態では、図９Ａの（ａ）や、図１０の（ａ）に示すような表示態様を説明したが、本開示に係る検査装置による表示の例は、これらに限定されるものではない。As an example of a display in which the display mode of pixels of an inspection image whose magnitude of abnormality confidence is equal to or greater than the first threshold value K1 is different from that of pixels of an inspection image whose magnitude of abnormality confidence is less than the first threshold value K1, the display modes shown in FIG. 9A(a) and FIG. 10(a) have been described in the above embodiment, but examples of displays by the inspection device according to the present disclosure are not limited to these.

本変形例に係る検査装置では、例えば図９Ｂに示すように、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満である画素からなる領域については表示部４０に表示させず、且つ、物品Ｐの輪郭部分を示す画素については抽出して表示部４０に表示させることで、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である検査画像の画素と、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満である検査画像の画素と、の表示態様を異ならせてもよい。In the inspection device according to this modified example, as shown in FIG. 9B, for example, thedisplay unit 40 is not displayed for the area consisting of pixels whose abnormality confidence level is less than the first threshold value K1, and pixels showing the outline of the item P are extracted and displayed on thedisplay unit 40, thereby differentiating the display manner of pixels of the inspection image whose abnormality confidence level is equal to or greater than the first threshold value K1 from that of pixels of the inspection image whose abnormality confidence level is less than the first threshold value K1.

また、本変形例に係る検査装置では、異常確信度が第１閾値Ｋ１未満である画素からなる領域の輝度、明度、彩度、色相等に、補正を行うことで、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素からなる領域と、異常確信度が第１閾値Ｋ１未満である画素からなる領域と、を視覚的に区分して表示部４０に表示させるものであってもよい。例えば、異常確信度が第１閾値Ｋ１未満である画素からなる領域の色相を、一律に白色に変化させて表示させるものであってもよい。In addition, the inspection device according to this modified example may perform corrections to the luminance, brightness, saturation, hue, etc. of a region made up of pixels whose abnormality confidence level is less than the first threshold value K1, so that a region made up of pixels whose abnormality confidence level is equal to or greater than the first threshold value K1 and a region made up of pixels whose abnormality confidence level is less than the first threshold value K1 are visually distinguished and displayed on thedisplay unit 40. For example, the hue of a region made up of pixels whose abnormality confidence level is less than the first threshold value K1 may be uniformly changed to white for display.

あるいは、異常確信度が第１閾値Ｋ１未満の画素からなる領域については、例えば輝度を小さくする等の補正を行うものであってもよい。Alternatively, for regions consisting of pixels whose abnormality confidence level is less than the first threshold K1, corrections such as reducing the brightness may be performed.

本変形例に係る検査装置は、上記実施形態と同様に、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素からなる領域と、異常確信度が第１閾値Ｋ１未満である画素からなる領域と、の表示態様を視覚的に区分させることができる。As in the above embodiment, the inspection device according to this modified example can visually distinguish the display mode between an area made up of pixels whose abnormality confidence level is equal to or greater than the first threshold value K1 and an area made up of pixels whose abnormality confidence level is less than the first threshold value K1.

本変形例に係る検査装置は、上記実施形態と同様に、異常確信度の確認が容易である。The inspection device according to this modified example makes it easy to confirm the degree of certainty of anomalies, just like the above embodiment.

（６－１０）変形例１Ｊ
上記実施形態では説明を省略したが、画像処理部５２ｄによって処理が行われた検査画像は、処理が行われた際に設定されていた第１閾値Ｋ１とともに、記憶部５１に記憶されるものであってもよい。また、記憶部５１に記憶される検査画像は、オペレータによって確認可能な態様で、記憶部５１に記憶されるものであってもよい。これにより、オペレータは例えば、第１閾値Ｋ１の変更の履歴と、各変更に伴い表示された検査画像の履歴とを適宜確認することができる。 (6-10) Modification 1J
Although not described in the above embodiment, the inspection image processed by theimage processing unit 52d may be stored in the storage unit 51 together with the first threshold value K1 that was set when the processing was performed. The inspection image stored in the storage unit 51 may be stored in the storage unit 51 in a form that can be confirmed by an operator. This allows the operator to appropriately confirm, for example, the history of changes to the first threshold value K1 and the history of the inspection images displayed in accordance with each change.

本変形例に係る検査装置では、オペレータは、過去に行った第１閾値Ｋ１の変更の履歴と、各変更に伴い表示された検査画像の履歴とを参照することができる。このため、本変形例の検査装置に係るオペレータは、適切な第１閾値Ｋ１をより容易に把握することができる。In the inspection device of this modified example, the operator can refer to the history of past changes to the first threshold value K1 and the history of the inspection images displayed following each change. This allows the operator of the inspection device of this modified example to more easily determine the appropriate first threshold value K1.

（６－１１）変形例１Ｋ
上記実施形態では、表示部４０には、カラーバー４５が表示されていてもよいと説明した。しかしながら、本開示に係る検査装置の例はこれに限定されるものではなく、検査装置は例えば、カラーバー４５とともに、又はカラーバー４５に代えて、数値化された異常確信度を表示部４０に表示させるものであってもよい。 (6-11) Modification 1K
In the above embodiment, it has been described that thecolor bar 45 may be displayed on thedisplay unit 40. However, the example of the inspection device according to the present disclosure is not limited to this, and the inspection device may, for example, display the quantified abnormality certainty on thedisplay unit 40 together with thecolor bar 45 or instead of thecolor bar 45.

異常確信度が、学習モデル１３６によって、大きさに応じて２５６段階に分類されることは上記の通りである。本変形例に係る検査装置では、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である画素が所定数又は所定割合集合している領域が検出された検査画像は、当該領域を構成する画素の異常確信度の大きさが数値として視覚的に表示される。例えば、本変形例に係る検査装置では、当該領域を構成する画素の異常確信度の大きさを示す数値のうち、最も大きい異常確信度の数値が表示される。あるいは、例えば、当該領域を構成する画素の異常確信度の大きさを示す数値のうち、最も小さい異常確信度の数値が表示される。As described above, the abnormality confidence level is classified into 256 levels according to the magnitude by thelearning model 136. In the inspection device according to this modified example, for an inspection image in which a predetermined number or a predetermined percentage of pixels whose abnormality confidence level is equal to or greater than the first threshold value K1 are detected, the magnitude of the abnormality confidence level of the pixels constituting the area is visually displayed as a numerical value. For example, in the inspection device according to this modified example, the largest abnormality confidence level numerical value is displayed among the numerical values indicating the magnitude of the abnormality confidence level of the pixels constituting the area. Alternatively, for example, the smallest abnormality confidence level numerical value is displayed among the numerical values indicating the magnitude of the abnormality confidence level of the pixels constituting the area.

あるいは、例えば、本変形例に係る検査装置では、図１５の（ａ）に示すような検査画像が表示部４０の領域Ｃ１に表示される。図１５の（ａ）では、領域を構成する画素の異常確信度の大きさを示す数値のうち、最も大きい異常確信度の数値が、第１閾値Ｋ１をどの程度上回っているのかが数値として表示される。これにより、例えば第１閾値Ｋ１が１５０に設定されている場合に、図１５の（ａ）の領域Ａ１を確認したオペレータは、領域Ａ１を構成する画素の異常確信度の最大値が１９９であることを把握する。Alternatively, for example, in the inspection device according to this modified example, an inspection image as shown in FIG. 15(a) is displayed in area C1 of thedisplay unit 40. In FIG. 15(a), the extent to which the largest abnormality confidence value among the values indicating the magnitude of the abnormality confidence of the pixels constituting the area exceeds the first threshold value K1 is displayed as a numerical value. As a result, for example, when the first threshold value K1 is set to 150, an operator checking area A1 in FIG. 15(a) will understand that the maximum abnormality confidence value of the pixels constituting area A1 is 199.

このように、本変形例に係る検査装置では、検査画像の画素の異常確信度の大きさが数値として表示部４０に表示されるため、オペレータは、異常確信度の詳細な大きさを容易に確認することができる。In this way, in the inspection device of this modified example, the magnitude of the abnormality confidence of the pixels of the inspection image is displayed as a numerical value on thedisplay unit 40, so that the operator can easily check the detailed magnitude of the abnormality confidence.

また、本変形例に係る検査装置は、図１５の（ａ）における領域Ａ１及び領域Ａ５や、領域Ａ２及び領域Ａ６のように、異なる異常確信度の大きさを有する複数の画素からなる領域が重複している場合であっても、各領域における異常確信度の大きさの確認が容易である。In addition, the inspection device according to this modified example makes it easy to confirm the magnitude of abnormality confidence in each region, even when regions consisting of multiple pixels with different abnormality confidence levels overlap, such as regions A1 and A5, or regions A2 and A6 in FIG. 15(a).

本変形例に係る検査装置は、上記実施形態と同様に、異常確信度の確認が容易である。The inspection device according to this modified example makes it easy to confirm the degree of certainty of anomalies, just like the above embodiment.

また、本変形例に係る検査装置は、異常確信度が数値化されて検査画像に反映されるため、異常確信度の詳細な大きさが確認できる。In addition, the inspection device according to this modified example converts the abnormality confidence level into a numerical value and reflects it in the inspection image, allowing the detailed magnitude of the abnormality confidence level to be confirmed.

（６－１２）変形例１Ｌ
変形例１Ｄで説明したように、本開示に係る検査装置は、物品Ｐとして、袋状の物品を検査するものであってもよい。検査装置が袋状の物品を検査する場合、袋状の物品におけるシール部等のように、異物として誤検出されやすい領域の画素や、当該領域の付近の領域の画素に対して、マスク処理が行われることが考えられる。 (6-12) Modification Example 1L
As described in Modification 1D, the inspection device according to the present disclosure may inspect a bag-shaped article as the article P. When the inspection device inspects a bag-shaped article, it is considered that a mask process is performed on pixels in an area that is likely to be erroneously detected as a foreign object, such as a seal portion of the bag-shaped article, and pixels in an area near the area.

本変形例に係る検査装置は、マスク処理が行われた領域の画素と、異常確信度の大きさに基づき表示態様を変化させた画素と、が視覚的に区分された検査画像を表示部４０に表示するものであってもよい。The inspection device according to this modified example may display an inspection image on thedisplay unit 40 in which pixels in the masked area are visually distinguished from pixels whose display mode is changed based on the magnitude of the abnormality confidence level.

本変形例に係る検査装置は、上記実施形態と同様に、異常確信度の確認が容易である。The inspection device according to this modified example makes it easy to confirm the degree of certainty of anomalies, just like the above embodiment.

また、本変形例に係る検査装置は、異物として誤検出されやすい領域の画素にマスク処理を行うことで、異物の誤検出を抑制することができる。In addition, the inspection device according to this modified example can suppress erroneous detection of foreign objects by performing mask processing on pixels in areas that are likely to be erroneously detected as foreign objects.

（６－１３）変形例１Ｍ
上記実施形態では、それぞれが別体に構成された検査装置１０と振分部７０とが、通信線等によって接続されることで、検査システム１００を構成する例について説明した。しかしながら、本開示に係る検査システム１００の例はこれに限定されるものではなく、例えば検査システム１００は、一体に構成された検査装置１０と振分部７０とを備えるものであってもよい。 (6-13) Modification 1M
In the above embodiment, an example has been described in which theinspection device 10 and the sortingunit 70, which are configured separately, are connected by a communication line or the like to configure theinspection system 100. However, the example of theinspection system 100 according to the present disclosure is not limited to this, and for example, theinspection system 100 may include theinspection device 10 and the sortingunit 70 that are configured as an integral unit.

＜第２実施形態＞
（１）第２実施形態に係る検査装置
本開示の第２実施形態に係る検査システム１００及び検査システム１００に含まれる検査装置１１０について説明する。 Second Embodiment
(1) Inspection Apparatus According to a Second Embodiment Aninspection system 100 according to a second embodiment of the present disclosure and aninspection apparatus 110 included in theinspection system 100 will be described.

なお、第２実施形態に係る検査装置１１０は、第１実施形態に係る検査装置１０が有する機能と、第２実施形態に係る検査装置１１０が有する機能と、を切り替え可能に構成された検査装置であってもよい。換言すると、本開示は、第１実施形態に係る検査装置１０が有する機能と、第２実施形態に係る検査装置１１０が有する機能と、の両方の機能を有する検査装置によって実施されるものであってもよい。この場合、例えば検査装置１１０は、第１実施形態に係る検査装置１０が有する機能と、第２実施形態に係る検査装置１１０が有する機能と、を切り替えるボタン等を表示部１４０に有するものであってもよい。Theinspection device 110 according to the second embodiment may be an inspection device configured to be able to switch between the functions of theinspection device 10 according to the first embodiment and the functions of theinspection device 110 according to the second embodiment. In other words, the present disclosure may be implemented by an inspection device having both the functions of theinspection device 10 according to the first embodiment and the functions of theinspection device 110 according to the second embodiment. In this case, for example, theinspection device 110 may have a button or the like on thedisplay unit 140 for switching between the functions of theinspection device 10 according to the first embodiment and the functions of theinspection device 110 according to the second embodiment.

図１６は、検査システム１００に含まれる検査装置１１０が有する制御装置１５０のブロック構成図である。検査システム１００は、検査装置１１０の構成を除き、第１実施形態に係る検査システム１００と実質的に共通した構成を採る。また、検査装置１１０は、制御装置１５０の構成を除き、第１実施形態に係る検査装置１０と実質的に共通した構成を採る。以下では、説明の簡略化のため、第１実施形態との相違点についてのみ説明する。Figure 16 is a block diagram of thecontrol device 150 of theinspection device 110 included in theinspection system 100. Except for the configuration of theinspection device 110, theinspection system 100 has a configuration substantially in common with theinspection system 100 according to the first embodiment. Also, except for the configuration of thecontrol device 150, theinspection device 110 has a configuration substantially in common with theinspection device 10 according to the first embodiment. For the sake of simplicity, only the differences from the first embodiment will be described below.

（２）表示部
表示部１４０は、タッチパネル機能付きの液晶ディスプレイである。表示部１４０は、検査装置１１０の入力部としても機能する。表示部１４０には、例えば物品Ｐの検査結果等が表示される。また、図１５に示されるように、表示部１４０には、物品Ｐの良否判断に関するパラメータの入力のための画面等が表示される。 (2) Display Unit Thedisplay unit 140 is a liquid crystal display with a touch panel function. Thedisplay unit 140 also functions as an input unit for theinspection device 110. For example, the inspection results of the item P are displayed on thedisplay unit 140. Also, as shown in Fig. 15, thedisplay unit 140 displays a screen for inputting parameters related to determining whether the item P is good or bad.

検査装置１１０のオペレータは、表示部１４０を操作して、検査パラメータ及び動作設定情報等を入力することができる。検査パラメータとは、物品Ｐの良否を判定するために必要なパラメータである。具体的には、検査パラメータは、物品Ｐに含まれる異常（異物）の有無を判定するために用いられる第１閾値Ｋ１や第２閾値Ｋ２等の閾値や、異常確信度等である。動作設定情報とは、物品Ｐの検査速度、及び、搬送ユニット１２の搬送方向等の情報である。The operator of theinspection device 110 can operate thedisplay unit 140 to input inspection parameters, operation setting information, etc. The inspection parameters are parameters necessary for determining whether the item P is good or bad. Specifically, the inspection parameters are thresholds such as the first threshold K1 and the second threshold K2 used to determine the presence or absence of an abnormality (foreign matter) contained in the item P, the abnormality certainty, etc. The operation setting information is information such as the inspection speed of the item P and the conveying direction of the conveyingunit 12.

第１閾値Ｋ１及び第２閾値Ｋ２は、異常確信度に関する閾値である。第２閾値Ｋ２は、第１閾値Ｋ１よりも小さい閾値である。動作設定情報とは、物品Ｐの検査速度、及び、搬送ユニット１２の搬送方向等の情報である。The first threshold K1 and the second threshold K2 are thresholds related to the degree of certainty of anomaly. The second threshold K2 is a threshold smaller than the first threshold K1. The operation setting information is information such as the inspection speed of the item P and the conveying direction of the conveyingunit 12.

本実施形態において、第１閾値Ｋ１は、物品の異常確信度に関する閾値である。本実施形態においては、物品Ｐの検査画像を構成する画素の異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上となることで、又は第１閾値Ｋ１以下となることで、検査画像の表示態様が変化する。In this embodiment, the first threshold K1 is a threshold related to the abnormality certainty of the item. In this embodiment, when the magnitude of the abnormality certainty of the pixels constituting the inspection image of the item P becomes equal to or greater than the first threshold K1, or becomes equal to or less than the first threshold K1, the display mode of the inspection image changes.

本実施形態において、第２閾値Ｋ２は、物品の異常確信度に関する閾値である。本実施形態に係る制御装置１５０は、異常確信度の大きさが第２閾値Ｋ２未満である画素は、検査画像における画素値に基づいて表示部１４０に表示させる。詳細は後述する。In this embodiment, the second threshold K2 is a threshold related to the abnormality certainty of the item. Thecontrol device 150 according to this embodiment causes thedisplay unit 140 to display pixels whose abnormality certainty magnitude is less than the second threshold K2 based on the pixel value in the inspection image. Details will be described later.

本実施形態において、第１閾値Ｋ１及び第２閾値Ｋ２は、異常確信度の上限又は下限を限度として設定することができる。限定するものではないが、本実施形態において、異常確信度の下限は０で、上限は２５５とする。本実施形態において、第１閾値Ｋ１は、例えば異常確信度１５０に設定される。本実施形態において、第２閾値Ｋ２は、例えば異常確信度５に設定される。このように、第２閾値Ｋ２を異常確信度の下限に近い数値に設定することで、検査画像における異常確信度が小さい領域を画素値に基づいて表示させることができる。第１閾値Ｋ１及び第２閾値Ｋ２は、閾値変更部１９０によって適宜変更可能である。In this embodiment, the first threshold K1 and the second threshold K2 can be set to the upper or lower limit of the abnormality confidence level. Although not limited thereto, in this embodiment, the lower limit of the abnormality confidence level is 0, and the upper limit is 255. In this embodiment, the first threshold K1 is set to, for example, an abnormality confidence level of 150. In this embodiment, the second threshold K2 is set to, for example, an abnormality confidence level of 5. In this way, by setting the second threshold K2 to a value close to the lower limit of the abnormality confidence level, areas in the inspection image with low abnormality confidence levels can be displayed based on pixel values. The first threshold K1 and the second threshold K2 can be changed as appropriate by thethreshold change unit 190.

本開示に係る検査装置１１０は、第１閾値Ｋ１の大きさの変更をオペレータ（ユーザ）から受け付ける閾値変更部１９０を備える。後述する制御部１５２は、閾値変更部１９０が受け付けた変更に応じて、画素の表示態様を変更させる。Theinspection device 110 according to the present disclosure includes athreshold change unit 190 that accepts a change to the magnitude of the first threshold K1 from an operator (user). The control unit 152, which will be described later, changes the display mode of the pixels in accordance with the change accepted by thethreshold change unit 190.

本実施形態において、閾値変更部１９０は、表示部１４０に表示される（図１７参照）。検査装置１１０のオペレータは、閾値変更部１９０を通じて、第１閾値Ｋ１及び第２閾値Ｋ２を変更することができる。第１閾値Ｋ１は、例えば図１７に示すようなトグルスイッチ１９１で変更可能である。第２閾値Ｋ２は、例えば図１７に示すような矢印１９２で変更可能である。ただし、第１閾値Ｋ１及び第２閾値Ｋ２の変更手段はこれらに限定されるものではなく、ボタンや目盛操作、手入力、その他様々な手段によって、適宜変更することが可能である。In this embodiment, thethreshold change unit 190 is displayed on the display unit 140 (see FIG. 17). An operator of theinspection device 110 can change the first threshold K1 and the second threshold K2 through thethreshold change unit 190. The first threshold K1 can be changed, for example, by atoggle switch 191 as shown in FIG. 17. The second threshold K2 can be changed, for example, by anarrow 192 as shown in FIG. 17. However, the means for changing the first threshold K1 and the second threshold K2 are not limited to these, and they can be changed as appropriate by buttons, scale operation, manual input, and various other means.

表示部１４０は、制御装置１５０に接続されており、制御装置１５０と信号の送受信を行う。表示部１４０によって入力された検査パラメータ及び動作設定情報は、制御装置１５０の記憶部１５１に記憶される。Thedisplay unit 140 is connected to thecontrol device 150 and transmits and receives signals to and from thecontrol device 150. The inspection parameters and operation setting information input by thedisplay unit 140 are stored in the memory unit 151 of thecontrol device 150.

（３）制御装置
制御装置１５０は、記憶部１５１と制御部１５２とを有する。 (3) Control Device Thecontrol device 150 includes a storage unit 151 and a control unit 152 .

制御部１５２は、記憶部１５１に記憶された各種プログラムを呼び出して実行し、検査装置１１０の各部の制御を行う。例えば、制御部１５２は、照射部２０のＸ線照射タイミングや、Ｘ線照射量を制御する。The control unit 152 calls up and executes various programs stored in the memory unit 151, and controls each part of theinspection device 110. For example, the control unit 152 controls the timing of X-ray irradiation by theirradiation unit 20 and the amount of X-ray irradiation.

また、制御部１５２は、主として、画像生成部５２ａと、教師データ取得部５２ｂと、学習部５２ｃと、画像処理部１５２ｄと、と、検査部５２ｅと、を有する。これらは、記憶部１５１に記憶されているプログラムを実行することによって実現される機能である。The control unit 152 mainly includes animage generating unit 52a, a teacherdata acquiring unit 52b, alearning unit 52c, animage processing unit 152d, and aninspection unit 52e. These are functions that are realized by executing a program stored in the memory unit 151.

以下、画像処理部１５２ｄについて説明する。Theimage processing unit 152d is described below.

（３－１）画像処理部
画像処理部１５２ｄは、画像生成部５２ａで生成された検査画像であって、学習モデル１３６によって画素ごとの異常確信度が算出された検査画像に画像処理を行う。画像処理部１５２ｄは、検査画像の画素ごとの異常確信度の大きさに基づき、検査画像を構成する画素の表示態様を変化させる。当該検査画像は、表示部１４０に表示される。 (3-1) Image Processing UnitImage processing unit 152d performs image processing on the inspection image generated byimage generation unit 52a, where the abnormality certainty factor for each pixel has been calculated by learningmodel 136.Image processing unit 152d changes the display mode of the pixels constituting the inspection image, based on the magnitude of the abnormality certainty factor for each pixel of the inspection image. The inspection image is displayed ondisplay unit 140.

詳細には、画像処理部１５２ｄは、検査画像を構成する画素ごとの異常確信度の大きさに基づき、検査画像の画素の表示態様を変化させる際に、異なる異常確信度に対し異なる色相が対応するように変化させる。当該検査画像は、表示部１４０に表示される。In detail, when changing the display mode of the pixels of the test image based on the magnitude of the abnormality certainty for each pixel constituting the test image, theimage processing unit 152d changes the display mode so that different hues correspond to different abnormality certainty. The test image is displayed on thedisplay unit 140.

（ａ）例えば画像処理部１５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である画素と、第１閾値Ｋ１未満である画素との表示態様を異ならせる。且つ、画像処理部１５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満である画素については異常確信度の大きさに応じて表示態様を変化させ、検査画像を視覚的に区分して、表示部１４０に表示させる。以下、このような表示態様を、第１表示態様と呼ぶことがある。(a) For example, theimage processing unit 152d differentiates the display mode of pixels whose magnitude of abnormality certainty is equal to or greater than a first threshold K1 from pixels whose magnitude of abnormality certainty is less than the first threshold K1. Furthermore, for pixels whose magnitude of abnormality certainty is less than the first threshold K1, theimage processing unit 152d changes the display mode according to the magnitude of the abnormality certainty, visually dividing the test image and displaying it on thedisplay unit 140. Hereinafter, such a display mode may be referred to as a first display mode.

（ｂ）上記の（ａ）で説明した態様（第１表示態様）で検査画像を表示する場合、好ましくは、画像処理部１５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である画素と、第１閾値Ｋ１未満である画素との表示態様を異ならせる。且つ、画像処理部１５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である画素からなる領域については、検査画像における画素値に基づいて表示部１４０に表示させる。以下、このような表示態様を、第２表示態様と呼ぶことがある。(b) When the test image is displayed in the mode (first display mode) described in (a) above, preferably, theimage processing unit 152d differentiates the display mode for pixels whose abnormality certainty magnitude is equal to or greater than the first threshold K1 from pixels whose abnormality certainty magnitude is less than the first threshold K1. Furthermore, theimage processing unit 152d causes thedisplay unit 140 to display an area consisting of pixels whose abnormality certainty magnitude is equal to or greater than the first threshold K1 based on the pixel values in the test image. Hereinafter, such a display mode may be referred to as the second display mode.

（ｃ）上記の（ａ）又は（ｂ）で説明した態様（第１表示態様又は第２表示態様）で検査画像を表示する場合、さらに好ましくは、画像処理部１５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満である画素のうち、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１よりも小さい閾値である第２閾値Ｋ２未満である画素については、検査画像における画素値に基づいて表示部１４０に表示させる。以下、このような表示態様を、第３表示態様と呼ぶことがある。(c) When the test image is displayed in the mode described in (a) or (b) above (first display mode or second display mode), more preferably, theimage processing unit 152d causes thedisplay unit 140 to display, based on the pixel values in the test image, pixels whose magnitude of abnormality certainty is less than the first threshold value K1 and whose magnitude of abnormality certainty is less than the second threshold value K2, which is a threshold value smaller than the first threshold value K1. Hereinafter, such a display mode may be referred to as the third display mode.

（ｄ）上記の（ａ）～（ｃ）のうちいずれかに示す態様（第１表示態様から第３表示態様のうちいずれか）で検査画像を表示する場合、さらに好ましくは、画像処理部１５２ｄは、異常確信度が第１閾値Ｋ１未満である画素であって、且つ、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素からの距離が所定範囲内に位置する画素に対して、マーキングを行って表示部１４０に表示させる。(d) When the test image is displayed in any of the modes (a) to (c) above (any of the first to third display modes), it is more preferable that theimage processing unit 152d marks pixels whose abnormality confidence level is less than the first threshold value K1 and that are located within a predetermined distance from pixels whose abnormality confidence level is equal to or greater than the first threshold value K1, and causes the marking to be displayed on thedisplay unit 140.

以下、具体的に説明する。The details are explained below.

（ａ）第１表示態様
第１表示態様では、画像処理部１５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満である画素については異常確信度の大きさに応じて表示態様を変化させ、検査画像を視覚的に区分して、表示部１４０に表示させる。 (a) First display mode In the first display mode, theimage processing unit 152d changes the display mode for pixels whose magnitude of abnormality certainty is less than the first threshold value K1 in accordance with the magnitude of the abnormality certainty, visually dividing the examination image and displaying it on thedisplay unit 140.

例えば、本実施形態に係る画像処理部１５２ｄは、画像生成部５２ａで生成された検査画像（図８参照）に対して、画像処理を行うことで、図１８の（ａ）に示すような検査画像を作成する。For example, theimage processing unit 152d according to this embodiment performs image processing on the inspection image generated by theimage generating unit 52a (see FIG. 8) to generate an inspection image as shown in FIG. 18(a).

図１８の（ａ）において、Ａ１、Ａ２、Ａ４で示される領域は、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上の画素からなる領域である。図１８の（ａ）において、Ａ３、Ｂ１で表示される領域は、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満の画素からなる領域である。上記の通り、本実施形態では、第１閾値Ｋ１は異常確信度１５０に設定されている。このため、図１８の（ａ）のＡ１、Ａ２、Ａ４で示される領域は、異常確信度の大きさが１５０以上の画素からなる領域であると考えられる。一方で、図１８の（ａ）のＡ３、Ｂ１で示される領域は、異常確信度の大きさが１５０未満の画素からなる領域であると考えられる。In FIG. 18(a), the areas indicated by A1, A2, and A4 are areas made up of pixels whose abnormality confidence level is equal to or greater than the first threshold value K1. In FIG. 18(a), the areas indicated by A3 and B1 are areas made up of pixels whose abnormality confidence level is less than the first threshold value K1. As described above, in this embodiment, the first threshold value K1 is set to an abnormality confidence level of 150. For this reason, the areas indicated by A1, A2, and A4 in FIG. 18(a) are considered to be areas made up of pixels whose abnormality confidence level is equal to or greater than 150. On the other hand, the areas indicated by A3 and B1 in FIG. 18(a) are considered to be areas made up of pixels whose abnormality confidence level is less than 150.

図１８の（ａ）においては、Ａ３、Ｂ１の順に、異常確信度が低下しているものとして説明する。ここで、画像処理部１５２ｄは、例えば、異常確信度が大きい順に、空色、青色、に対応させるものとする。この場合、Ａ３の領域が空色に、Ｂ１の領域が青色に対応しており、画像処理部１５２ｄは、各領域を、各領域が対応する色で表示部１４０に表示させる。ただし、これらの表示はあくまでも一例であって、適宜変更可能である。In FIG. 18(a), the explanation will be given assuming that the abnormality confidence decreases in the order of A3, B1. Here, theimage processing unit 152d corresponds, for example, to sky blue, blue in descending order of abnormality confidence. In this case, the A3 region corresponds to sky blue, and the B1 region corresponds to blue, and theimage processing unit 152d displays each region on thedisplay unit 140 in the color that each region corresponds to. However, these displays are merely examples and can be changed as appropriate.

なお、図１８の（ａ）に示すように、ここでは、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上の画素からなる領域については、表示部１４０に表示させていない。ただし、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である画素からなる領域の表示の態様は、これに限定されるものではない。詳細は、以下の（ｂ）や変形例２Ａで後述する。As shown in FIG. 18(a), thedisplay unit 140 does not display the area made up of pixels whose abnormality confidence level is equal to or greater than the first threshold value K1. However, the manner in which the area made up of pixels whose abnormality confidence level is equal to or greater than the first threshold value K1 is displayed is not limited to this. Details will be described below in (b) and in Modification Example 2A.

このように、画像処理部１５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である画素と、第１閾値Ｋ１未満である画素との表示態様を異ならせている。且つ、画像処理部１５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満である画素については異常確信度の大きさに応じて表示態様を変化させ、検査画像を視覚的に区分して、表示部１４０に表示させている。In this way, theimage processing unit 152d differentiates the display mode of pixels whose abnormality confidence level is equal to or greater than the first threshold value K1 from pixels whose abnormality confidence level is less than the first threshold value K1. Furthermore, for pixels whose abnormality confidence level is less than the first threshold value K1, theimage processing unit 152d changes the display mode according to the abnormality confidence level, visually dividing the test image and displaying it on thedisplay unit 140.

また、本実施形態に係る検査装置１１０では、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１を下回る画素の表示態様が、異常確信度の大きさに応じて変化する。このため、検査装置１１０のオペレータは、異常確信度が第１閾値Ｋ１を下回る画素の中で、比較的異常確信度が大きい画素について容易に確認することができる。このため、本実施形態に係る検査装置１１０のオペレータは、第１閾値Ｋ１の変更（調整）を行うことなく、検査画像における異常の取り逃がし（未検出）の有無を確認することができる。In addition, in theinspection device 110 according to this embodiment, the display mode of pixels whose abnormality confidence level is below the first threshold K1 changes according to the magnitude of the abnormality confidence level. Therefore, the operator of theinspection device 110 can easily check pixels whose abnormality confidence level is relatively high among pixels whose abnormality confidence level is below the first threshold K1. Therefore, the operator of theinspection device 110 according to this embodiment can check whether any abnormality has been missed (undetected) in the inspection image without changing (adjusting) the first threshold K1.

（ｂ）第２表示態様
第２表示態様では、画像処理部１５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である画素からなる領域については、検査画像における画素値に基づいて表示部１４０に表示させる。 (b) Second display mode In the second display mode, theimage processing unit 152d causes thedisplay unit 140 to display, based on the pixel values in the inspection image, an area consisting of pixels whose abnormality certainty level is equal to or greater than the first threshold value K1.

例えば、本実施形態に係る画像処理部１５２ｄは、画像生成部５２ａで生成された検査画像（図８参照）に対して、画像処理を行うことで、図１９の（ａ）に示すような検査画像を作成する。For example, theimage processing unit 152d according to this embodiment performs image processing on the inspection image generated by theimage generating unit 52a (see FIG. 8) to create an inspection image as shown in FIG. 19(a).

図１９の（ａ）において、Ａ１、Ａ２、Ａ４で示される領域は、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上の画素からなる領域である。図１９の（ａ）において、Ａ３、Ｂ１で表示される領域は、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満の画素からなる領域である。In FIG. 19(a), the regions indicated by A1, A2, and A4 are regions made up of pixels whose abnormality confidence level is equal to or greater than the first threshold value K1. In FIG. 19(a), the regions indicated by A3 and B1 are regions made up of pixels whose abnormality confidence level is less than the first threshold value K1.

図１９の（ａ）では、Ａ３、Ｂ１の順に、異常確信度の大きさが低下しているものとして説明する。ここで、画像処理部１５２ｄは、例えば、異常確信度が大きい順に、空色、青色、に対応させるものとする。この場合、Ａ３の領域が空色に、Ｂ１の領域が青色に対応しており、画像処理部１５２ｄは、各領域を、各領域が対応する色で表示部１４０に表示させる。ただし、これらの表示はあくまでも一例であって、適宜変更可能である。In FIG. 19(a), the abnormality confidence level decreases in the order of A3, B1. Here, theimage processing unit 152d corresponds, for example, to sky blue, blue in descending order of abnormality confidence level. In this case, the A3 region corresponds to sky blue, and the B1 region corresponds to blue, and theimage processing unit 152d displays each region in the corresponding color on thedisplay unit 140. However, these displays are merely examples and can be changed as appropriate.

また、図１９の（ａ）に示すように、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である画素からなる領域Ａ１、Ａ２、Ａ４については、検査画像における画素が有する画素値に基づいて表示部１４０に表示されている。Also, as shown in FIG. 19(a), areas A1, A2, and A4 consisting of pixels whose abnormality confidence level is equal to or greater than the first threshold value K1 are displayed on thedisplay unit 140 based on the pixel values of the pixels in the test image.

このように、画像処理部１５２ｄは、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素と、第１閾値Ｋ１未満である画素との表示態様を異ならせる。且つ、画像処理部１５２ｄは、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素からなる領域については検査画像における画素値に基づいて、表示部１４０に表示させている。In this way, theimage processing unit 152d differentiates the display mode of pixels whose abnormality confidence level is equal to or greater than the first threshold value K1 from pixels whose abnormality confidence level is less than the first threshold value K1. Furthermore, theimage processing unit 152d causes thedisplay unit 140 to display an area consisting of pixels whose abnormality confidence level is equal to or greater than the first threshold value K1 based on the pixel values in the inspection image.

このため、検査装置１１０のオペレータは、異常確信度が第１閾値Ｋ１を下回る画素の中で、比較的異常確信度が大きい画素について容易に確認することができる。Therefore, the operator of theinspection device 110 can easily identify pixels with a relatively high abnormality confidence level among pixels whose abnormality confidence level is below the first threshold value K1.

また、本実施形態に係る検査装置１１０では、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１を下回る画素の表示態様が変化し、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上の画素は、検査画像における画素値に基づいて表示部１４０に表示される。このため、検査装置１１０のオペレータは、異物として表示されている領域が、確かに異物足り得るものであるのか、検査画像における画素値に基づいて判断することができる。より具体的には、検査装置１１０のオペレータは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である画素からなる領域について、検査画像に表示される輝度に基づいて判断することができる。また、検査装置１１０のオペレータは、学習モデル１３６の学習精度を確認することができる。In addition, in theinspection device 110 according to this embodiment, the display mode of pixels whose abnormality confidence level is below the first threshold K1 changes, and pixels whose abnormality confidence level is equal to or greater than the first threshold K1 are displayed on thedisplay unit 140 based on the pixel values in the inspection image. Therefore, the operator of theinspection device 110 can determine whether an area displayed as a foreign object is indeed a foreign object based on the pixel values in the inspection image. More specifically, the operator of theinspection device 110 can determine whether an area consisting of pixels whose abnormality confidence level is equal to or greater than the first threshold K1 is a foreign object based on the luminance displayed in the inspection image. The operator of theinspection device 110 can also check the learning accuracy of thelearning model 136.

また、本実施形態に係る検査装置１１０のオペレータは、第１閾値Ｋ１の変更（調整）を行うことなく、検査画像における異常の取り逃がし（未検出）の有無を確認することができる。In addition, an operator of theinspection device 110 according to this embodiment can check whether any abnormalities have been missed (undetected) in the inspection image without changing (adjusting) the first threshold value K1.

（ｃ）第３表示態様
第３表示態様では、画像処理部１５２ｄは、異常確信度の大きさが第２閾値Ｋ２未満である画素については、検査画像における画素値に基づいて表示部１４０に表示させる。 (c) Third Display Mode In the third display mode,image processing unit 152d causesdisplay unit 140 to display, for pixels whose magnitude of abnormality certainty is less than second threshold value K2, based on the pixel value in the inspection image.

例えば、本実施形態に係る画像処理部１５２ｄは、画像生成部５２ａで生成された検査画像（図８参照）に対して、画像処理を行うことで、図２０の（ａ）に示すような検査画像を作成する。For example, theimage processing unit 152d according to this embodiment performs image processing on the inspection image generated by theimage generating unit 52a (see FIG. 8) to generate an inspection image as shown in FIG. 20(a).

図２０の（ａ）において、Ａ１、Ａ２、Ａ４で示される領域は、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上の画素からなる領域である。図２０の（ａ）において、Ａ３で表示される領域は、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満の画素からなる領域である。図２０の（ａ）において、Ｂ１で表示される領域は、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満であり、かつ、異常確信度の大きさが第２閾値Ｋ２未満である画素からなる領域である。この場合、画像処理部１５２ｄは、領域Ａ３を、領域Ａ３の画素の異常確信度に対応する色（例えば空色）で表示部１４０に表示させる。20(a), the areas indicated by A1, A2, and A4 are areas made up of pixels whose abnormality confidence level is equal to or greater than the first threshold K1. In FIG. 20(a), the area indicated by A3 is an area made up of pixels whose abnormality confidence level is less than the first threshold K1. In FIG. 20(a), the area indicated by B1 is an area made up of pixels whose abnormality confidence level is less than the first threshold K1 and less than the second threshold K2. In this case, theimage processing unit 152d causes thedisplay unit 140 to display area A3 in a color (e.g., sky blue) that corresponds to the abnormality confidence level of the pixels in area A3.

また、図２０の（ａ）に示すように、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素からなる領域Ａ１、Ａ２、Ａ４と、異常確信度が第２閾値Ｋ２未満である画素からなる領域Ｂ１については、検査画像における画素が有する画素値に基づいて表示部１４０に表示されている。Also, as shown in FIG. 20(a), regions A1, A2, and A4 consisting of pixels whose abnormality confidence level is equal to or greater than the first threshold value K1, and region B1 consisting of pixels whose abnormality confidence level is less than the second threshold value K2 are displayed on thedisplay unit 140 based on the pixel values of the pixels in the inspection image.

このように、画像処理部１５２ｄは、異常確信度が第１閾値Ｋ１よりも小さい閾値である第２閾値Ｋ２未満である画素については、検査画像における画素値に基づいて表示部１４０に表示させている。In this way, for pixels whose abnormality confidence level is less than the second threshold K2, which is a threshold smaller than the first threshold K1, theimage processing unit 152d causes thedisplay unit 140 to display the pixel based on the pixel value in the inspection image.

本実施形態に係る検査装置１１０のオペレータは、検査画像の画素における異常確信度が第１閾値Ｋ１未満の領域であって、かつ、検査画像の画素における異常確信度が第２閾値Ｋ２以上である領域について確認することができる。このため、この検査装置１１０では、異常確信度を確認することが容易である。An operator of theinspection device 110 according to this embodiment can check areas of the pixels of the inspection image where the anomaly confidence level is less than the first threshold value K1 and areas where the anomaly confidence level is equal to or greater than the second threshold value K2. Therefore, with thisinspection device 110, it is easy to check the anomaly confidence level.

なお、本実施形態において、第２閾値Ｋ２は、異常確信度の下限に近い数値に設定されている。このため、本実施形態に係る検査装置１１０のオペレータは、明らかに異常が生じている恐れがない領域（異常確信度の大きさが第２閾値Ｋ２未満である領域）については、異常確信度の表示がされていない検査画像を確認することができる。ここでは、「明らかに異常が生じている恐れがない領域」とは例えば、領域Ｂ１を指す。このため、本実施形態に係る検査装置１１０では、実際の物品Ｐの様子を確認しながら、異常の有無を確認することができる。従って、本実施形態に係る検査装置１１０のオペレータは、異常確信度をより容易に確認することができる。In this embodiment, the second threshold K2 is set to a value close to the lower limit of the abnormality confidence level. Therefore, the operator of theinspection device 110 according to this embodiment can check the inspection image in which the abnormality confidence level is not displayed for areas where there is clearly no risk of an abnormality occurring (areas where the magnitude of the abnormality confidence level is less than the second threshold K2). Here, "areas where there is clearly no risk of an abnormality occurring" refers to, for example, area B1. Therefore, with theinspection device 110 according to this embodiment, it is possible to check the presence or absence of an abnormality while checking the actual state of the item P. Therefore, the operator of theinspection device 110 according to this embodiment can check the abnormality confidence level more easily.

本実施形態に係る検査装置１１０のオペレータは、第１閾値Ｋ１の変更（調整）を行うことなく、検査画像における異常の取り逃がし（未検出）の有無を確認することができる。An operator of theinspection device 110 according to this embodiment can check whether any abnormalities have been missed (undetected) in the inspection image without changing (adjusting) the first threshold value K1.

（ｄ）第４表示態様
第４表示態様では、画像処理部１５２ｄは、異常確信度が第１閾値Ｋ１未満である画素であって、且つ、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素からの距離が所定範囲内に位置する画素に対して、マーキングを行って表示させる。 (d) Fourth display mode In the fourth display mode, theimage processing unit 152d marks and displays pixels whose abnormality certainty level is less than the first threshold value K1 and that are located within a predetermined distance from a pixel whose abnormality certainty level is equal to or greater than the first threshold value K1.

例えば、本実施形態に係る画像処理部１５２ｄは、画像生成部５２ａで生成された検査画像（図８参照）に対して、画像処理を行うことで、図２１に示すような検査画像を作成する。For example, theimage processing unit 152d according to this embodiment performs image processing on the inspection image generated by theimage generating unit 52a (see FIG. 8) to create an inspection image as shown in FIG. 21.

図２１において、Ａ１、Ａ２、で示される領域は、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上の画素からなる領域である。図２１において、Ａ３、Ａ４で表示される領域は、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満の画素からなる領域である。図２１において、Ｂ１で表示される領域は、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満であり、かつ、異常確信度の大きさが第２閾値Ｋ２未満である画素からなる領域である。In FIG. 21, the areas indicated by A1 and A2 are areas made up of pixels whose abnormality confidence level is equal to or greater than the first threshold K1. In FIG. 21, the areas indicated by A3 and A4 are areas made up of pixels whose abnormality confidence level is less than the first threshold K1. In FIG. 21, the area indicated by B1 is an area made up of pixels whose abnormality confidence level is less than the first threshold K1 and less than the second threshold K2.

ここで、画像処理部１５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満であって且つ第２閾値Ｋ２以上である画素からなる領域であるＡ３、Ａ４については、異常確信度の大きさに応じて表示態様を変化させ、検査画像を視覚的に区分して、表示部１４０に表示させる。画像処理部１５２ｄは、例えば、異常確信度が大きい順に、空色、青色、に対応させるものとする。この場合、Ａ３の領域が空色に、Ａ４の領域が青色に対応しており、画像処理部１５２ｄは、各領域を、各領域が対応する色で表示部１４０に表示させる。Here, for A3 and A4, which are regions made up of pixels whose magnitude of abnormality confidence is less than the first threshold K1 and equal to or greater than the second threshold K2, theimage processing unit 152d changes the display mode according to the magnitude of the abnormality confidence, visually divides the examination image, and displays it on thedisplay unit 140. For example, theimage processing unit 152d corresponds to sky blue, blue, etc., in descending order of abnormality confidence. In this case, the A3 region corresponds to sky blue, and the A4 region corresponds to blue, and theimage processing unit 152d displays each region on thedisplay unit 140 in the color that each region corresponds to.

さらに、画像処理部１５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満であって、且つ、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素（ここでは、領域Ａ１、Ａ２を構成する画素）からの距離が所定範囲内に位置する画素に対して、マーキングを行っている。Furthermore, theimage processing unit 152d marks pixels whose abnormality confidence level is less than the first threshold value K1 and whose distance from pixels (here, the pixels constituting areas A1 and A2) whose abnormality confidence level is equal to or greater than the first threshold value K1 is within a predetermined range.

このように、画像処理部１５２ｄは、異常確信度が第１閾値Ｋ１未満である画素であって、且つ、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素からの距離が所定範囲内に位置する画素に対して、マーキングを行って表示部１４０に表示させている。In this way, theimage processing unit 152d marks pixels whose abnormality confidence level is less than the first threshold value K1 and is located within a predetermined distance from a pixel whose abnormality confidence level is equal to or greater than the first threshold value K1, and displays the pixels on thedisplay unit 140.

本実施形態に係る検査装置１１０は、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上の画素からなる領域と、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満の画素からなる領域と、を視覚的に明確に区分して表示する。このため、検査装置１１０のオペレータは、異常確信度をより容易に確認することができる。Theinspection device 110 according to this embodiment visually clearly distinguishes and displays an area made up of pixels whose abnormality confidence level is equal to or greater than the first threshold value K1 from an area made up of pixels whose abnormality confidence level is less than the first threshold value K1. This allows the operator of theinspection device 110 to more easily confirm the abnormality confidence level.

（４）制御部の機能
以下、本開示に係る検査装置１１０の制御部１５２の機能について説明する。 (4) Functions of the Control Unit The following describes the functions of the control unit 152 of theinspection device 110 according to the present disclosure.

本実施形態において、制御部１５２は、記憶部１５１に記憶されている所定のプログラムを実施することで、画像生成部５２ａ、教師データ取得部５２ｂ、学習部５２ｃ、画像処理部１５２ｄ及び検査部５２ｅとして機能する。ここでは、制御部１５２が有する画像処理部１５２ｄとしての機能について説明する。In this embodiment, the control unit 152 functions as animage generating unit 52a, a teacherdata acquiring unit 52b, alearning unit 52c, animage processing unit 152d, and aninspection unit 52e by executing a predetermined program stored in the memory unit 151. Here, the function of the control unit 152 as theimage processing unit 152d will be described.

（４－１）
従来技術に係る検査装置では、Ｘ線透視像信号の値が、所定の閾値よりも小さい場合に検査対象に異物が混入していると判定する。これは、異常確信度が所定の閾値よりも大きいことと対応している。また、従来技術に係る検査装置では、異物ありと判定された領域（画素）を視認できるように、異物ありと判定された領域に着色処理（例えば、赤色に塗りつぶす処理など）を行うことがある。このため、従来技術に係る検査装置では、図２３の（ｂ）に示すような検査画像が表示部に表示されることが考えられる。 (4-1)
In the inspection device according to the conventional technology, when the value of the X-ray fluoroscopic image signal is smaller than a predetermined threshold, it is determined that a foreign object is present in the inspection object. This corresponds to the abnormality certainty being greater than a predetermined threshold. In addition, in the inspection device according to the conventional technology, a coloring process (e.g., a process of filling in red) may be performed on the area (pixel) determined to have a foreign object so that the area can be visually recognized. For this reason, in the inspection device according to the conventional technology, it is considered that an inspection image such as that shown in FIG. 23(b) is displayed on the display unit.

図２３の（ｂ）は、従来技術に係る検査装置によって生成された検査画像の一例である。図２３の（ｂ）において、領域ａ１、ａ２のそれぞれを構成する画素には着色処理が行われているものとする。また図２３の（ｂ）において、領域ａ３、ａ４、ｂ１のそれぞれを構成する画素については、検査画像における画素値に基づいて表示されているものとする。図２３の（ｂ）において、画素の異常確信度は領域ａ１が最も大きく、領域ａ２、領域ａ３、領域ａ４、領域ｂ１の順に異常確信度が低下するものとする。なお、領域ａ３、ａ４及び領域ｂ１は、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満の画素からなる領域とする。しかしながら、図２３の（ｂ）に示すように、従来技術に係る検査画像には、領域ａ１、ａ２、ａ３、ａ４、の各領域を構成する画素に係る異常確信度の大きさが反映されていない。このため、例えば検査装置から未検出が生じていることが判明した際に、適切な第１閾値Ｋ１を把握することが困難となる。以下、具体的に説明する。Figure 23(b) is an example of an inspection image generated by an inspection device according to the conventional technology. In Figure 23(b), it is assumed that the pixels constituting each of the regions a1 and a2 have been colored. In Figure 23(b), it is assumed that the pixels constituting each of the regions a3, a4, and b1 are displayed based on the pixel values in the inspection image. In Figure 23(b), it is assumed that the abnormality confidence of the pixels is the highest in region a1, and the abnormality confidence decreases in the order of region a2, region a3, region a4, and region b1. It is assumed that regions a3, a4, and region b1 are regions consisting of pixels whose abnormality confidence is less than the first threshold K1. However, as shown in Figure 23(b), the abnormality confidence of the pixels constituting each of the regions a1, a2, a3, and a4 is not reflected in the inspection image according to the conventional technology. For this reason, for example, when it is found that non-detection has occurred from the inspection device, it is difficult to grasp the appropriate first threshold K1. A specific explanation will be given below.

ここでは、従来技術に係る検査装置において、検査用のサンプルの物品Ｐを切り開いて異物の有無を確認するなどして、物品Ｐの図２３の（ｂ）に示される領域ａ１、ａ２、に加えて、実際には領域ａ３にも異物が含まれている（領域ａ３の異物は未検出である）ことが判明した場合を想定する。この場合、オペレータは、領域ａ１、ａ２を構成する画素の異常確信度だけでなく、領域ａ３を構成する画素の異常確信度をも下回るように、第１閾値Ｋ１を変更する必要がある。一方で、第１閾値Ｋ１の変更次第では、領域ａ３の異常確信度のみならず、領域ａ４の異常確信度をも下回ることで、領域ａ４の誤検出を招く恐れがある。しかしながら、図２３の（ｂ）には、領域ａ１、ａ２、ａ３及びａ４を構成する画素の異常確信度の大きさが反映されていない。このため、オペレータは、領域ａ１、ａ２、ａ３を構成する画素の異常確信度を下回り、かつ、領域ａ４を構成する画素の異常確信度を上回る第１閾値Ｋ１を把握するために、第１閾値Ｋ１の微調整を繰り返す必要があった。Here, in the conventional inspection device, a sample item P for inspection is cut open to check for the presence or absence of foreign matter, and it is assumed that in addition to the areas a1 and a2 shown in FIG. 23(b) of the item P, a foreign matter is actually contained in the area a3 (the foreign matter in the area a3 is not detected). In this case, the operator needs to change the first threshold value K1 so that it is lower than not only the abnormality confidence of the pixels constituting the areas a1 and a2 but also the abnormality confidence of the pixels constituting the area a3. On the other hand, depending on the change in the first threshold value K1, it may be lower than not only the abnormality confidence of the area a3 but also the abnormality confidence of the area a4, which may lead to a false detection of the area a4. However, the magnitude of the abnormality confidence of the pixels constituting the areas a1, a2, a3, and a4 is not reflected in FIG. 23(b). For this reason, the operator had to repeatedly fine-tune the first threshold value K1 in order to determine a first threshold value K1 that was lower than the abnormality confidence level of the pixels that make up areas a1, a2, and a3, and higher than the abnormality confidence level of the pixels that make up area a4.

このように、従来技術に係る検査装置では、画素の異常確信度の大きさが、検査画像に反映されない場合がある。この場合、従来技術に係る検査装置において、異常の未検出がない最適な第１閾値Ｋ１を把握することは、非常に時間のかかる作業となっている。As such, in conventional inspection devices, the magnitude of the anomaly confidence level of a pixel may not be reflected in the inspection image. In such cases, it is a very time-consuming task for conventional inspection devices to determine the optimal first threshold value K1 that results in no undetected anomalies.

（４－２）
一方で、本実施形態における検査装置１１０では、画像処理部１５２ｄによる画像処理が行われる。 (4-2)
On the other hand, in theinspection device 110 of this embodiment, image processing is performed by theimage processing unit 152d.

本実施形態に係る画像処理部１５２ｄは、検査画像を構成する画素から算出される異常確信度の大きさに基づき、検査画像を構成する画素の表示態様を変化させる。Theimage processing unit 152d according to this embodiment changes the display mode of the pixels that make up the inspection image based on the magnitude of the abnormality certainty calculated from the pixels that make up the inspection image.

例えば、本実施形態に係る画像処理部１５２ｄは、上記の第１表示態様～第４表示態様で説明した処理を行い、検査画像を表示させる。For example, theimage processing unit 152d according to this embodiment performs the processes described in the first to fourth display modes above to display the inspection image.

このため、表示部１４０には、例えば図２１に示すような検査画像が表示される。図２１では、領域Ａ１と領域Ａ２と領域Ｂ１を構成する画素については検査画像の画素値に基づいて表示されており、領域Ａ３、Ａ４の画素については異常確信度の大きさに応じて表示態様が変化している。ここでは、領域Ａ１、Ａ２は異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上の画素からなる領域であり、領域Ａ３、Ａ４は異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満かつ第２閾値Ｋ２以上の画素からなる領域であり、領域Ｂ１は異常確信度の大きさが第２閾値Ｋ２未満の画素からなる領域である。また、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満の画素であって、領域Ａ１、Ａ３からの距離が所定範囲内に位置する画素に対して、マーキングが行われている。For this reason, thedisplay unit 140 displays an inspection image such as that shown in FIG. 21. In FIG. 21, the pixels constituting the regions A1, A2, and B1 are displayed based on the pixel values of the inspection image, and the display mode of the pixels in the regions A3 and A4 changes according to the magnitude of the abnormality confidence. Here, the regions A1 and A2 are regions made up of pixels whose abnormality confidence is equal to or greater than the first threshold K1, the regions A3 and A4 are regions made up of pixels whose abnormality confidence is less than the first threshold K1 and equal to or greater than the second threshold K2, and the region B1 is a region made up of pixels whose abnormality confidence is less than the second threshold K2. In addition, pixels whose abnormality confidence is less than the first threshold K1 and are located within a predetermined distance from the regions A1 and A3 are marked.

ここでは、検査用のサンプルの物品Ｐを切り開いて異物の有無を確認するなどして、物品Ｐには、図２１に示される領域Ａ１、Ａ２、に加えて、領域Ａ３にも異物が含まれている（領域Ａ３の異物は未検出である）ことが判明した場合を想定する。また、領域Ａ４には異物が含まれていないことが判明した場合を想定する。本実施形態に係る検査装置１１０においては、図２１に示すように、領域Ａ３、Ａ４を構成する画素の異常確信度が反映されている。換言すると、領域Ａ３、Ａ４の異常確信度が、第１閾値Ｋ１をどの程度下回っているのかが示されている。Here, we will assume that an inspection sample item P is cut open to check for the presence of foreign matter, and that it is found that the item P contains foreign matter in area A3 in addition to areas A1 and A2 shown in FIG. 21 (no foreign matter in area A3 has been detected). We will also assume that it is found that area A4 does not contain foreign matter. In theinspection device 110 according to this embodiment, as shown in FIG. 21, the abnormality confidence of the pixels that make up areas A3 and A4 is reflected. In other words, it shows to what extent the abnormality confidence of areas A3 and A4 is below the first threshold K1.

このため、領域Ａ３を構成する画素の異常確信度を下回り、且つ、領域Ａ４を構成する画素の異常確信度を上回るように第１閾値Ｋ１を変更することで、未検出が抑制されることが、検査装置１１０のオペレータに容易に確認される。Therefore, by changing the first threshold K1 so that it is lower than the abnormality confidence level of the pixels that make up area A3 and higher than the abnormality confidence level of the pixels that make up area A4, the operator of theinspection device 110 can easily confirm that non-detection is suppressed.

このように、本実施形態に係る検査装置１１０では、最適な第１閾値Ｋ１を容易に把握することができる。また、本実施形態に係る検査装置１１０では、最適な第１閾値Ｋ１をただちに把握することができる。In this way, theinspection device 110 according to this embodiment can easily determine the optimal first threshold value K1. Furthermore, theinspection device 110 according to this embodiment can immediately determine the optimal first threshold value K1.

（５）特徴
（５－１）
本実施形態に係る検査装置１１０では、制御部１５２は、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素と、第１閾値Ｋ１未満である画素との表示態様を異ならせる。且つ、制御部１５２は、第１閾値Ｋ１未満である画素については異常確信度に応じて表示態様を変化させ、検査画像を視覚的に区分して、表示部１４０に表示させる。 (5) Features (5-1)
In theinspection device 110 according to this embodiment, the control unit 152 differentiates the display mode of pixels whose anomaly certainty is equal to or greater than the first threshold K1 from pixels whose anomaly certainty is less than the first threshold K1. For pixels whose anomaly certainty is less than the first threshold K1, the control unit 152 changes the display mode in accordance with the anomaly certainty, visually dividing the inspection image and displaying it on thedisplay unit 140.

本実施形態に係る検査装置１１０のオペレータは、検査画像における異常確信度が第１閾値Ｋ１を超えない領域の中で、比較的異常確信度が大きい領域について確認することができる。このため、この検査装置１１０では、異常確信度を確認することが容易である。An operator of theinspection device 110 according to this embodiment can check areas in the inspection image where the abnormality certainty is relatively high among areas where the abnormality certainty does not exceed the first threshold K1. Therefore, with thisinspection device 110, it is easy to check the abnormality certainty.

また、本実施形態に係る検査装置１１０のオペレータは、第１閾値Ｋ１の調整を行うことなく、検査画像における異常の取り逃がし（未検出）の有無を確認することができる。In addition, an operator of theinspection device 110 according to this embodiment can check whether any abnormalities have been missed (undetected) in the inspection image without adjusting the first threshold value K1.

また、本実施形態に係る検査装置１１０のオペレータは、異常の取り逃がし（未検出）が発生した際は、最適な第１閾値Ｋ１を容易に把握することができる。In addition, the operator of theinspection device 110 according to this embodiment can easily determine the optimal first threshold value K1 when an abnormality is missed (undetected).

（５－２）
本実施形態に係る検査装置１１０では、制御部１５２は、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素と、第１閾値Ｋ１未満である画素との表示態様を異ならせる。且つ、画像処理部１５２ｄは、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素からなる領域については検査画像における画素値に基づいて、表示部１４０に表示させる。 (5-2)
In theinspection device 110 according to this embodiment, the control unit 152 differentiates the display mode between pixels whose anomaly certainty is equal to or greater than the first threshold K1 and pixels whose anomaly certainty is less than the first threshold K1. Furthermore, theimage processing unit 152d causes thedisplay unit 140 to display an area consisting of pixels whose anomaly certainty is equal to or greater than the first threshold K1 based on the pixel values in the inspection image.

本実施形態に係る検査装置１１０のオペレータは、検査画像における異常確信度が第１閾値Ｋ１を超えない領域の中で、比較的異常確信度が大きい領域について確認することができる。このため、この検査装置１１０では、異常確信度を確認することが容易である。An operator of theinspection device 110 according to this embodiment can check areas in the inspection image where the abnormality certainty is relatively high among areas where the abnormality certainty does not exceed the first threshold K1. Therefore, with thisinspection device 110, it is easy to check the abnormality certainty.

また、本実施形態に係る検査装置１１０のオペレータは、第１閾値Ｋ１の調整を行うことなく、検査画像における異常の取り逃がし（未検出）の有無を確認することができる。In addition, an operator of theinspection device 110 according to this embodiment can check whether any abnormalities have been missed (undetected) in the inspection image without adjusting the first threshold value K1.

また、本実施形態に係る検査装置１１０のオペレータは、異常の取り逃がし（未検出）が発生した際は、最適な第１閾値Ｋ１を容易に把握することができる。In addition, the operator of theinspection device 110 according to this embodiment can easily determine the optimal first threshold value K1 when an abnormality is missed (undetected).

また、本実施形態に係る検査装置１１０のオペレータは、異物として表示されている領域が、確かに異物足り得るものであるのか、検査画像における画素値に基づいて判断することができる。In addition, an operator of theinspection device 110 according to this embodiment can determine whether an area displayed as a foreign body is indeed a foreign body based on pixel values in the inspection image.

（５－３）
本実施形態に係る検査装置１１０では、制御部１５２は、異常確信度が第１閾値Ｋ１よりも小さい閾値である第２閾値Ｋ２未満である画素については、検査画像における画素値に基づいて表示部１４０に表示させる。 (5-3)
In theinspection device 110 according to this embodiment, the control unit 152 causes thedisplay unit 140 to display, based on the pixel value in the inspection image, pixels whose abnormality certainty is less than a second threshold K2, which is a threshold smaller than the first threshold K1.

本実施形態に係る検査装置１１０のオペレータは、検査画像における異常確信度が第１閾値Ｋ１を超えない領域であって、かつ、検査画像における異常確信度が第２閾値Ｋ２異常である領域、について確認することができる。このため、この検査装置１１０では、異常確信度を確認することが容易である。An operator of theinspection device 110 according to this embodiment can check areas in the inspection image where the abnormality confidence level does not exceed the first threshold K1, and areas in the inspection image where the abnormality confidence level is abnormal at the second threshold K2. Therefore, with thisinspection device 110, it is easy to check the abnormality confidence level.

また、本実施形態に係る検査装置１１０のオペレータは、明らかに異常が生じている恐れが無い領域については、異常確信度の表示がされていない検査画像を確認することができる。このため、この検査装置１１０では、異常確信度の大きさをより容易に確認することができる。In addition, an operator of theinspection device 110 according to this embodiment can check the inspection image in which the abnormality confidence level is not displayed for areas where there is no obvious risk of an abnormality occurring. Therefore, with thisinspection device 110, it is easier to check the magnitude of the abnormality confidence level.

本実施形態に係る検査装置１１０のオペレータは、第１閾値Ｋ１の調整を行うことなく検査画像における異常の取り逃がし（未検出）の有無を確認することができる。An operator of theinspection device 110 according to this embodiment can check whether any abnormalities have been missed (undetected) in the inspection image without adjusting the first threshold value K1.

また、本実施形態に係る検査装置１１０のオペレータは、異常の取り逃がし（未検出）が発生した際は、最適な第１閾値Ｋ１を容易に把握することができる。In addition, the operator of theinspection device 110 according to this embodiment can easily determine the optimal first threshold value K1 when an abnormality is missed (undetected).

（５－４）
本実施形態に係る検査装置１１０では、制御部１５２は、異常確信度が第１閾値Ｋ１未満である画素であって、且つ、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素からの距離が所定範囲内に位置する画素に対して、マーキングを行って表示させる。 (5-4)
In theinspection device 110 according to this embodiment, the control unit 152 marks and displays pixels whose abnormality certainty level is less than the first threshold value K1 and that are located within a predetermined distance from a pixel whose abnormality certainty level is equal to or greater than the first threshold value K1.

本実施形態に係る検査装置１１０は、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上の画素からなる領域と、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満の画素からなる領域と、を視覚的に明確に区分して表示する。このため、この検査装置１１０のオペレータは、異常確信度をより容易に確認することができる。Theinspection device 110 according to this embodiment visually clearly distinguishes and displays an area made up of pixels whose abnormality confidence level is equal to or greater than the first threshold value K1 from an area made up of pixels whose abnormality confidence level is less than the first threshold value K1. This allows the operator of theinspection device 110 to more easily confirm the abnormality confidence level.

また、本実施形態に係る検査装置１１０のオペレータは、異常の取り逃がし（未検出）が発生した際は、最適な第１閾値Ｋ１を容易に把握することができる。In addition, the operator of theinspection device 110 according to this embodiment can easily determine the optimal first threshold value K1 when an abnormality is missed (undetected).

（６）変形例
上記実施形態は、以下の変形例に示すように適宜変形が可能である。各変形例は、矛盾が生じない範囲で、本実施形態に係る変形例や他の実施形態に係る変形例と組み合わせて適用されてもよい。なお、上記の第２実施形態と同様の構成については同様の符号を付し、その詳細な説明は省略する。 (6) Modifications The above embodiment can be modified as appropriate as shown in the following modifications. Each modification may be applied in combination with the modification according to this embodiment or the modification according to another embodiment to the extent that no contradiction occurs. Note that the same reference numerals are used for configurations similar to those of the second embodiment, and detailed descriptions thereof will be omitted.

（６－１）変形例２Ａ
上記実施形態では、制御部１５２（画像処理部１５２ｄ）が、異常確信度の大きさに基づき検査画像の画素の表示態様を変化させる際に、異なる異常確信度に対し異なる色相が対応するように変化させる検査装置１１０について説明した。しかしながら、本開示に係る検査装置の例はこれに限定されるものではなく、例えば検査装置は、検査画像の画素値として、明度、輝度、彩度のうち少なくとも一つを含むものであってもよい。 (6-1) Modification 2A
In the above embodiment, the control unit 152 (image processing unit 152d) has been described as changing the display mode of pixels of the inspection image based on the magnitude of the abnormality certainty so that different hues correspond to different abnormality certainty. However, examples of the inspection device according to the present disclosure are not limited to this, and for example, the inspection device may include at least one of lightness, luminance, and saturation as the pixel value of the inspection image.

本変形例に係る検査装置は、制御部が異常確信度の大きさに基づき画素の表示態様を変化させる際に、明度、輝度、彩度のうち少なくとも一つの大きさが異なるものが対応するように変化させる検査装置であってもよい。例えば検査装置は、異常確信度の大きさに応じて、輝度が変化するように、検査画像の画素の表示態様を変化させるものであってもよい。The inspection device according to this modified example may be an inspection device that changes at least one of the lightness, luminance, and saturation so that the magnitude of the lightness, luminance, and saturation is different when the control unit changes the display mode of the pixel based on the magnitude of the abnormality certainty. For example, the inspection device may change the display mode of the pixel of the inspection image so that the luminance changes according to the magnitude of the abnormality certainty.

あるいは、本変形例に係る検査装置は、異なる異常確信度に対し、異なる色相とともに、明度、輝度、彩度のうち少なくとも一つの大きさが異なるものが対応するように、検査画像の画素の表示態様を変化させるものであってもよい。例えば検査装置は、異常確信度の大きさに応じて、色相とともに、輝度が変化するように、検査画像の画素の表示態様を変化させるものであってもよい。Alternatively, the inspection device according to this modified example may change the display mode of pixels of the inspection image so that different anomaly certainty levels correspond to different hues as well as different magnitudes of at least one of lightness, luminance, and saturation. For example, the inspection device may change the display mode of pixels of the inspection image so that luminance changes along with hue depending on the magnitude of the anomaly certainty level.

本変形例は、例えば表示部１４０の性能の制約上、表示部１４０に表示可能な色相の数が限定される場合等に有効である。換言すると、本変形例に係る検査装置は、表示部１４０として、安価なディスプレイ等を用いる場合であっても、異常確信度を明確に反映させることができる。このため、本変形例においては、検査装置の低コスト化が実現される。This modified example is effective in cases where the number of hues that can be displayed on thedisplay unit 140 is limited due to performance constraints of thedisplay unit 140. In other words, the inspection device according to this modified example can clearly reflect the abnormality certainty even when an inexpensive display or the like is used as thedisplay unit 140. Therefore, this modified example achieves low costs for the inspection device.

本変形例に係る検査装置は、上記実施形態と同様に、異常確信度の確認が容易である。The inspection device according to this modified example makes it easy to confirm the degree of certainty of anomalies, just like the above embodiment.

（６－２）変形例２Ｂ
上記実施形態では、表示部１４０にカラーバー４５が表示されている例について説明した。しかしながら、本開示に係る検査装置の例はこれに限定されるものではなく、例えば検査装置は、カラーバー４５とともに、又はカラーバー４５に代えて、数値化された異常確信度を表示部１４０に表示させるものであってもよい。 (6-2) Modification 2B
In the above embodiment, an example has been described in which thecolor bar 45 is displayed on thedisplay unit 140. However, the example of the inspection device according to the present disclosure is not limited to this, and for example, the inspection device may display a quantified abnormality certainty on thedisplay unit 140 together with thecolor bar 45 or instead of thecolor bar 45.

例えば、本変形例に係る検査装置では、図１５の（ｂ）に示すような検査画像が表示部１４０の領域Ｃ１に表示される。図１５の（ｂ）では、各領域を構成する画素の異常確信度の大きさを示す数値のうち、最も大きい異常確信度の数値が、第１閾値Ｋ１に対してどの程度不足しているのかが数値として表示される。これにより、例えば第１閾値Ｋ１が１５０に設定されている場合に、図１５の（ｂ）の領域Ａ１を確認したオペレータは、領域Ａ１を構成する画素の異常確信度の最大値が１４０であることを把握できる。For example, in the inspection device according to this modified example, an inspection image as shown in FIG. 15(b) is displayed in area C1 of thedisplay unit 140. In FIG. 15(b), the extent to which the largest abnormality confidence value among the values indicating the magnitude of the abnormality confidence of the pixels constituting each area falls short of the first threshold value K1 is displayed as a numerical value. As a result, for example, if the first threshold value K1 is set to 150, an operator checking area A1 in FIG. 15(b) can understand that the maximum abnormality confidence value of the pixels constituting area A1 is 140.

このように、本変形例に係る検査装置では、検査画像の画素の異常確信度の大きさが数値として表示部１４０に表示されるため、オペレータは、異常確信度の詳細な大きさを容易に確認することができる。In this way, in the inspection device of this modified example, the magnitude of the abnormality confidence of the pixels of the inspection image is displayed as a numerical value on thedisplay unit 140, so that the operator can easily check the detailed magnitude of the abnormality confidence.

また、本変形例に係る検査装置は、図１５の（ｂ）における領域Ａ１及び領域Ａ５や、領域Ａ２及び領域Ａ６のように、異なる異常確信度の大きさを有する複数の画素からなる領域が重複している場合であっても、各領域における異常確信度の大きさの確認が容易である。In addition, the inspection device according to this modified example makes it easy to confirm the magnitude of abnormality confidence in each region, even when regions consisting of multiple pixels with different abnormality confidence levels overlap, such as regions A1 and A5, or regions A2 and A6 in FIG. 15(b).

本変形例に係る検査装置は、上記実施形態と同様に、異常確信度の確認が容易である。The inspection device according to this modified example makes it easy to confirm the degree of certainty of anomalies, just like the above embodiment.

また、本変形例に係る検査装置は、異常確信度が数値化されて検査画像に反映されるため、異常確信度の詳細な大きさが確認できる。In addition, the inspection device according to this modified example converts the abnormality confidence level into a numerical value and reflects it in the inspection image, allowing the detailed magnitude of the abnormality confidence level to be confirmed.

（６－３）変形例２Ｃ
上記実施形態では、制御部１５２は、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素からなる領域と、第１閾値Ｋ１未満である画素との表示態様を異ならせることで、検査画像を視覚的に区分して表示部１４０に表示させると説明した。 (6-3) Modification 2C
In the above embodiment, it was explained that the control unit 152 visually divides the inspection image and displays it on thedisplay unit 140 by differentiating the display mode of an area consisting of pixels whose abnormality certainty level is equal to or greater than the first threshold value K1 from pixels whose abnormality certainty level is less than the first threshold value K1.

異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素からなる領域と、第１閾値Ｋ１未満である画素との表示態様を異ならせることで、検査画像を視覚的に区分して表示部１４０に表示させる態様の一例として、上記実施形態では図１８の（ａ）や図１９の（ａ）に示すような表示態様を説明したが、本開示に係る検査装置による表示の例は、これらに限定されるものではない。In the above embodiment, the display modes shown in FIG. 18(a) and FIG. 19(a) are described as examples of a manner in which the inspection image is visually divided and displayed on thedisplay unit 140 by differentiating the display mode of the region consisting of pixels whose abnormality confidence level is equal to or greater than the first threshold value K1 from that of pixels whose abnormality confidence level is less than the first threshold value K1. However, examples of displays by the inspection device according to the present disclosure are not limited to these.

本変形例に係る検査装置では、例えば図１８の（ｂ）に示すように、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素からなる領域を表示させず、且つ、物品Ｐの輪郭部分を示す画素については抽出して表示させることで、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素からなる領域と、第１閾値Ｋ１未満である画素からなる領域との表示態様を異ならせてもよい。In the inspection device according to this modified example, as shown in FIG. 18(b), for example, the display manner of the area made up of pixels whose abnormality confidence level is equal to or greater than the first threshold value K1 may be made different from that of the area made up of pixels whose abnormality confidence level is less than the first threshold value K1 by not displaying the area made up of pixels whose abnormality confidence level is equal to or greater than the first threshold value K1 and by extracting and displaying the pixels that indicate the contour portion of the item P.

あるいは、本変形例に係る検査装置では、例えば図１９の（ｂ）に示すように、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素については画素値に基づいて表示させ、且つ、物品Ｐの輪郭部分を示す画素については抽出して表示させることで、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素からなる領域と、第１閾値Ｋ１未満である画素との表示態様を異ならせてもよい。Alternatively, in the inspection device according to this modified example, as shown in (b) of FIG. 19, for example, pixels whose abnormality confidence level is equal to or greater than the first threshold value K1 may be displayed based on the pixel value, and pixels showing the contour of the item P may be extracted and displayed, thereby differentiating the display mode of the area made up of pixels whose abnormality confidence level is equal to or greater than the first threshold value K1 from the pixels whose abnormality confidence level is less than the first threshold value K1.

また、本変形例に係る検査装置では、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素からなる領域の輝度、明度、彩度、色相等に、補正を行うことで、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素からなる領域と、異常確信度が第１閾値Ｋ１未満である画素からなる領域と、を視覚的に区分して表示部１４０に表示させるものであってもよい。例えば、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素からなる領域の色相を、一律に白色に変化させて表示させるものであってもよい。In addition, the inspection device according to this modified example may perform corrections to the luminance, brightness, saturation, hue, etc. of a region made up of pixels whose abnormality confidence level is equal to or greater than the first threshold value K1, thereby visually distinguishing between a region made up of pixels whose abnormality confidence level is equal to or greater than the first threshold value K1 and a region made up of pixels whose abnormality confidence level is less than the first threshold value K1 and displaying the region on thedisplay unit 140. For example, the hue of a region made up of pixels whose abnormality confidence level is equal to or greater than the first threshold value K1 may be uniformly changed to white for display.

あるいは、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上の画素からなる領域については、例えば輝度を小さくする等の補正を行うものであってもよい。Alternatively, for regions consisting of pixels whose abnormality confidence is equal to or greater than the first threshold K1, corrections such as reducing the brightness may be performed.

本変形例に係る検査装置は、上記実施形態と同様に、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素からなる領域と、異常確信度が第１閾値Ｋ１未満である画素からなる領域と、の表示態様を視覚的に区分させることができる。As in the above embodiment, the inspection device according to this modified example can visually distinguish the display mode between an area made up of pixels whose abnormality confidence level is equal to or greater than the first threshold value K1 and an area made up of pixels whose abnormality confidence level is less than the first threshold value K1.

本変形例に係る検査装置は、上記実施形態と同様に、異常確信度の確認が容易である。The inspection device according to this modified example makes it easy to confirm the degree of certainty of anomalies, just like the above embodiment.

（６－４）変形例２Ｄ
上記実施形態では、異常確信度が第１閾値Ｋ１よりも小さい閾値である第２閾値Ｋ２未満である画素については、検査画像における画素値に基づいて表示部１４０に表示させる検査装置について説明した。例えば、上記実施形態では、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素からなる領域については、検査画像における画素が有する画素値に基づいて表示部１４０に表示させる検査装置について説明した（図２０の（ａ）参照）。しかしながら、本開示に係る検査装置の例はこれに限定されるものではない。 (6-4) Modification 2D
In the above embodiment, an inspection device has been described that displays pixels whose abnormality certainty is less than the second threshold K2, which is a threshold lower than the first threshold K1, on thedisplay unit 140 based on pixel values in the inspection image. For example, in the above embodiment, an inspection device has been described that displays areas consisting of pixels whose abnormality certainty is equal to or greater than the first threshold K1 on thedisplay unit 140 based on pixel values of the pixels in the inspection image (see FIG. 20(a)). However, examples of inspection devices according to the present disclosure are not limited to this.

本変形例に係る検査装置は、例えば、図２０の（ｂ）に示すように、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素は表示せず、且つ、異常確信度が第２閾値Ｋ２未満である画素については検査画像における画素が有する画素値に基づいて表示部１４０に表示させるものであってもよい。For example, as shown in FIG. 20(b), the inspection device according to this modified example may not display pixels whose abnormality confidence level is equal to or greater than a first threshold value K1, and may display pixels whose abnormality confidence level is less than a second threshold value K2 on thedisplay unit 140 based on the pixel values of the pixels in the inspection image.

（６－５）変形例２Ｅ
上記実施形態では説明を省略したが、画像処理部１５２ｄは、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満である画素であって、且つ、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である画素からの距離が所定範囲内に位置する画素を、検査画像における画素値に基づいて、表示部１４０に表示させるものであってもよい。 (6-5) Modification 2E
Although not described in the above embodiment, theimage processing unit 152d may display on thedisplay unit 140, based on pixel values in the inspection image, pixels whose magnitude of abnormality certainty is less than the first threshold value K1 and that are located within a predetermined distance from pixels whose magnitude of abnormality certainty is equal to or greater than the first threshold value K1.

上記の第２表示形態では、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１未満である画素については異常確信度に応じて表示態様を変化させ、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である画素については検査画像における画素値に基づいて表示部１４０に表示させると説明した。In the second display form described above, for pixels whose magnitude of abnormality confidence is less than the first threshold K1, the display mode is changed according to the abnormality confidence, and for pixels whose magnitude of abnormality confidence is equal to or greater than the first threshold K1, the display is made on thedisplay unit 140 based on the pixel value in the inspection image.

しかしながら、上記態様によって検査画像を表示した場合、異常確信度が大きい領域と、異常確信度が小さい領域との境界部分の把握が困難になる恐れがある。より具体的には、異物と思われる領域の輪郭の視認性が低下する恐れがある。However, when an examination image is displayed in the above manner, it may be difficult to grasp the boundary between an area with a high degree of abnormality certainty and an area with a low degree of abnormality certainty. More specifically, the visibility of the outline of an area that is suspected to contain a foreign body may be reduced.

本変形例に係る検査装置では、異常確信度の大きさが第１閾値Ｋ１以上である画素からの距離が所定範囲内に位置する画素を、検査画像における画素値に基づいて、表示部１４０に表示させる（図２２参照）。また、本変形例に係る検査装置は、図２２に示すように、物品Ｐの輪郭を抽出して表示するものであってもよい。In the inspection device according to this modification, pixels located within a predetermined distance from a pixel whose abnormality certainty level is equal to or greater than the first threshold value K1 are displayed on thedisplay unit 140 based on the pixel values in the inspection image (see FIG. 22). In addition, the inspection device according to this modification may extract and display the contour of the item P, as shown in FIG. 22.

本変形例に係る検査装置では、異常確信度が第１閾値Ｋ１以上である画素からなる領域と、異常確信度が第１閾値Ｋ１未満である画素からなる領域と、の表示態様の視覚的な区分がより明確になされる。このため、本変形例に係る検査装置のオペレータは、異物の全体像を直感的に把握することができる。In the inspection device according to this modification, the visual distinction between the display mode of the region consisting of pixels whose abnormality confidence level is equal to or greater than the first threshold value K1 and the region consisting of pixels whose abnormality confidence level is less than the first threshold value K1 is made clearer. Therefore, the operator of the inspection device according to this modification can intuitively grasp the overall picture of the foreign object.

＜他の実施形態＞
以上、本開示に係る実施形態を説明したが、特許請求の範囲の趣旨及び範囲から逸脱することなく、形態や詳細の多様な変更が可能なことが理解されるであろう。 <Other embodiments>
Although the embodiments according to the present disclosure have been described above, it will be understood that various changes in form and details are possible without departing from the spirit and scope of the claims.

本開示は、上記各実施形態そのままに限定されるものではない。本開示は、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、本開示は、上記各実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより種々の開示を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素は削除してもよい。さらに、異なる実施形態に構成要素を適宜組み合わせてもよい。したがって、本実施形態はあらゆる点で一例に過ぎず、限定するものではないと考えるべきであり、これにより、当業者に自明のあらゆる修正が実施形態に含まれることが意図される。The present disclosure is not limited to the above-described embodiments as they are. In the implementation stage, the present disclosure can be embodied by modifying the components without departing from the gist of the disclosure. In addition, the present disclosure can be formed into various disclosures by appropriately combining the multiple components disclosed in the above-described embodiments. For example, some components may be deleted from all the components shown in the embodiments. Furthermore, the components may be appropriately combined in different embodiments. Therefore, the present embodiment should be considered to be merely an example in all respects and not limiting, and it is intended that any modifications obvious to a person skilled in the art are included in the embodiments.

１０、１１０ 検査装置
２０ 照射部
３０ 検出部
４０、１４０ 表示部
５２、１５２ 制御部
５２ａ 画像生成部
１００ 検査システム
Ｐ 物品10, 110Inspection device 20Irradiation unit 30Detection unit 40, 140Display unit 52, 152Control unit 52aImage generation unit 100 Inspection system P Item

特開２０１４－０４８１７８号公報JP 2014-048178 A

Claims (11)

Translated fromJapanese

物品を検査する検査装置であって、
前記物品に電磁波を照射する照射部と、
前記物品を透過した又は前記物品に反射した前記電磁波を検出する検出部と、
前記検出部の検出結果に基づいて、前記物品の検査画像を生成する画像生成部と、
前記検査画像を表示する表示部と、
前記表示部における前記検査画像の表示態様を変更させる制御部と、
を備え、
前記制御部は、前記検査画像を構成する画素ごとに、異常状態の確からしさを示す異常確信度を算出し、前記異常確信度の大きさに基づき前記画素の表示態様を変化させ、
前記制御部は、前記異常確信度が第１閾値以上の前記画素の色相を前記異常確信度に対応させて変化させる、
検査装置。 An inspection device for inspecting an item, comprising:
An irradiation unit that irradiates the article with electromagnetic waves;
A detection unit that detects the electromagnetic waves that have passed through the article or that have been reflected by the article;
an image generating unit that generates an inspection image of the article based on a detection result of the detection unit;
A display unit that displays the inspection image;
A control unit that changes a display mode of the inspection image on the display unit;
Equipped with
the control unit calculates an abnormality certainty level indicating a likelihood of an abnormal state for each pixel constituting the inspection image, and changes a display mode of the pixel based on a magnitude of the abnormality certainty level;
The control unit changes a hue of the pixelhaving the abnormality certainty equal to or greater than a first thresholdin response to the abnormality certainty .
Inspection equipment. 前記画素は、画素値として色相を含み、
前記制御部は、前記異常確信度の大きさに基づき前記画素の表示態様を変化させる際に、異なる前記異常確信度に対し異なる色相が対応するように変化させる、
請求項１に記載の検査装置。 the pixel includes a hue as a pixel value;
the control unit, when changing the display mode of the pixel based on the magnitude of the abnormality certainty degree, changes the display mode such that different hues correspond to different abnormality certainty degrees.
2. The inspection device according to claim 1. 前記画素は、画素値として明度、輝度、彩度のうち少なくとも一つを含み、
前記制御部は、前記異常確信度の大きさに基づき前記画素の表示態様を変化させる際に、異なる前記異常確信度に対し明度、輝度、彩度のうち少なくとも一つの大きさが異なるものが対応するように変化させる、
請求項１又は２に記載の検査装置。 The pixel includes at least one of lightness, luminance, and saturation as a pixel value;
when changing the display mode of the pixel based on the magnitude of the abnormality certainty degree, the control unit changes the display mode of the pixel so that at least one of lightness, luminance, and saturation has a different magnitude corresponding to the different abnormality certainty degrees.
3. The inspection device according to claim 1 or 2. 前記制御部は、前記異常確信度が第１閾値以上である画素と、前記第１閾値未満である画素との表示態様を異ならせ、且つ第１閾値以上である画素については前記異常確信度に応じて表示態様を変化させ、前記検査画像を視覚的に区分して、前記表示部に表示させる、
請求項１から３のいずれか１項に記載の検査装置。 the control unit causes a display mode of a pixel whose anomaly certainty is equal to or greater than a first threshold value to be different from a display mode of a pixel whose anomaly certainty is less than the first threshold value, and changes a display mode of a pixel whose anomaly certainty is equal to or greater than the first threshold value in accordance with the anomaly certainty, thereby visually dividing the inspection image and displaying the inspection image on the display unit.
The inspection device according to any one of claims 1 to 3. 前記制御部は、前記異常確信度が前記第１閾値未満である前記画素については前記検査画像における画素値に基づいて前記表示部に表示させる、
請求項４に記載の検査装置。 The control unit causes the display unit to display, for the pixel whose abnormality certainty is less than the first threshold, based on a pixel value in the inspection image.
5. The inspection apparatus according to claim 4. 前記制御部は、前記異常確信度が第１閾値以上である画素と、前記第１閾値未満である画素との表示態様を異ならせ、且つ第１閾値未満である画素については前記異常確信度に応じて表示態様を変化させ、前記検査画像を視覚的に区分して、前記表示部に表示させる、請求項１から３のいずれか１項に記載の検査装置。The inspection device according to any one of claims 1 to 3, wherein the control unit differentiates the display mode of pixels whose anomaly confidence level is equal to or greater than a first threshold from pixels whose anomaly confidence level is less than the first threshold, and changes the display mode of pixels whose anomaly confidence level is less than the first threshold according to the anomaly confidence level, visually dividing the inspection image and displaying it on the display unit. 前記制御部は、前記異常確信度が第１閾値以上である画素と、前記第１閾値未満である画素との表示態様を異ならせ、且つ前記異常確信度が前記第１閾値以上である前記画素については前記検査画像における画素値に基づいて、前記表示部に表示させる、
請求項６に記載の検査装置。 the control unit causes a pixel whose abnormality certainty level is equal to or greater than a first threshold value to have a different display mode from a pixel whose abnormality certainty level is less than the first threshold value, and causes the display unit to display the pixel whose abnormality certainty level is equal to or greater than the first threshold value based on a pixel value in the inspection image.
7. The inspection device according to claim 6. 前記制御部は、前記異常確信度が前記第１閾値よりも小さい閾値である第２閾値未満である前記画素については、前記検査画像における画素値に基づいて前記表示部に表示させる、
請求項６又は７に記載の検査装置。 The control unit causes the display unit to display, on the basis of a pixel value in the inspection image, a pixel having an abnormality certainty level that is less than a second threshold value that is smaller than the first threshold value.
8. The inspection device according to claim 6 or 7. 前記制御部は、
前記異常確信度が前記第１閾値未満である画素であって、且つ、前記異常確信度が前記第１閾値以上である前記画素からの距離が所定範囲内に位置する前記画素を、前記検査画像における画素値に基づいて、前記表示部に表示させる、
請求項６から８のいずれか１項に記載の検査装置。 The control unit is
displaying, on the display unit, pixels whose anomaly certainty is less than the first threshold and that are located within a predetermined distance from the pixels whose anomaly certainty is equal to or greater than the first threshold, based on pixel values in the inspection image;
The inspection device according to any one of claims 6 to 8. 前記制御部は、前記異常確信度が前記第１閾値未満である画素であって、且つ、前記異常確信度が前記第１閾値以上である前記画素からの距離が所定範囲内に位置する前記画素に対して、マーキングを行って表示させる、
請求項６から９のいずれか１項に記載の検査装置。 the control unit performs marking and displays the pixels whose abnormality certainty is less than the first threshold value and that are located within a predetermined distance from the pixels whose abnormality certainty is equal to or greater than the first threshold value.
The inspection device according to any one of claims 6 to 9. 請求項４から１０のいずれか１項に記載の検査装置と、
物品を、第１方向と、前記第１方向とは異なる第２方向とに振り分ける、振分部と、
を備え、
前記検査装置の前記制御部は、前記検査画像に含まれる前記画素のうち、
前記異常確信度の大きさが前記第１閾値以上である前記画素が所定数以上である場合に、前記検査画像に対応する前記物品に異常があると判断して、前記振分部に、前記物品を前記第１方向に振り分けさせるとともに、
それ以外の場合に、前記検査画像に対応する前記物品に異常がないと判断して、前記振分部に、前記物品を前記第２方向に振り分けさせる、
検査システム。 An inspection device according to any one of claims 4 to 10,
A sorting unit that sorts the articles into a first direction and a second direction different from the first direction;
Equipped with
The control unit of the inspection device detects, among the pixels included in the inspection image,
When the number of the pixels whose magnitude of the abnormality certainty is equal to or greater than the first threshold is equal to or greater than a predetermined number, it is determined that the item corresponding to the inspection image has an abnormality, and causes the sorting unit to sort the item in the first direction;
otherwise, it is determined that there is no abnormality in the object corresponding to the inspection image, and the sorting unit sorts the object in the second direction.
Inspection system.

Images