JP3668618B2 - Automatic analyzer - Google Patents

Description

Translated fromJapanese

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、自動分析装置内を搬送される試料を搭載したラックの搬送ライン（バッファ部）に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来のラック搬送式自動分析装置は、直線状の搬送ラインをラックが順次搬送されるような構成である。
【０００３】
図６に示す自動分析装置では、供給トレーに架設されたラックは、Ａライン，Ｂライン，Ｃラインを順次搬送され分析が行われる。このような搬送ライン構成では、至急に測定する必要のある試料を投入する場合、至急検体割込み口にラックを投入する事により、Ａラインに架設したラックに割込んで優先的に分析を行う事ができる。しかし、既にＢライン上に搬送された複数のラックが並んでいるため、それらのラックの処理が終わるまで測定する事ができないという問題があった。
【０００４】
また、自動分析装置の精度管理を行うための試料を測定する場合は、管理値が予め設定された試料を通常の試料間にインターバルをあけて複数回測定を行う。この場合、従来のラック搬送では測定を終了したラックがＣラインに搬出されてしまうため、測定する必要が発生する度に精度管理試料を搭載したラックをＡラインに架設しなければならず、面倒であるという問題があった。
【０００５】
図７に示す自動分析装置では、Ａラインに架設されたラックはＢラインを通過する際、分析する必要がある分析モジュールでのみＤラインに引込まれ、分析が行われる。分析を必要としない分析モジュールはそのままＢラインを搬送され、分析が必要な分析モジュールまで搬送される。
【０００６】
分析を必要とする分析モジュールではやはりＤライン上で先に搬送されたラックに対しては、優先的に測定する事ができない。精度管理試料の測定については、図６と全く同様である。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は上記従来例の問題を解決すべく、ラック搬送ラインに先行して投入されたラックに対して優先的に分析する事を可能とするラックの搬送ライン、またはラックの投入部、また、繰り返し測定する必要のある試料をその都度投入しなくても分析する事を可能とするラックの搬送ラインの提供を課題とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
本発明は、試料を搭載したラックが搬送される搬送ラインに、ループ上のバッファ部を設け、バッファ部内に格納された複数ラックを任意の順番で分析を可能とするものである。または、搬送ラインを介さずに直接ラックをバッファ部に投入し、優先的に測定することを可能とするものである。
【０００９】
また、上記バッファ部内に任意の試料を搭載したラックを任意の時間だけ収納し、その間任意のタイミングで分析を可能とするものである。
【００１０】
このようにする事により、先行して投入されたラックに優先してあとから投入したラック上の試料を分析する事が可能となる。
【００１１】
また、特定のラックを任意の時間収納する事により、精度管理試料のような特定の時間単位に分析を行うような試料でも、その都度投入する手間を解消できる。
【００１２】
【発明の実施の形態】
図１，図２は本発明の実施例を示したものである。
【００１３】
試料を搭載したラック１はラック供給部であるＡライン２上に架設される。分析が開始されるとラック１はＡライン２上を搬送されＢ１ライン６に搬入される。さらにラック１はラックバッファ部１２に格納される。
【００１４】
図１の場合、ラックバッファ部１２は円形状の例であり、ラック１はＲ１Ｉ部１９に格納される。ラックバッファ部１２は次のラック格納に備え、１ポジション回転しＲ２Ｉ部２０がＢ１ライン６の延長上に停止する。ラック１は順次Ａライン２から搬送されＢ１ライン６を経由しバッファ部１２のＲ２Ｉ部２０に格納される。以上の動作を繰り返し、ラックバッファ部１２に複数のラック１が格納される。ラックの格納，搬送時にはラックストッパ１４の上下によりラック停止位置が管理される。
【００１５】
ラックバッファ部１２のＲ１Ｉ部１９，Ｒ２Ｉ部２０，Ｒ３Ｉ部２１，Ｒ４Ｉ部２２にラック１が格納されると、ラックバッファ部１２はＲ１Ｉ部１９がＢ１ライン６の延長線上になるまで回転し、Ｒ１Ｉ部１９に格納したラック１はラックバッファ中心部１３を経由してＲ１Ｏ部２３に搬送すると同時に、Ｂ１ライン６上を搬送されてきたラック１をＲ１Ｉ部１９に格納する。
【００１６】
ラックバッファ部１２のラックバッファ中心部１３を通過した部分はラック１に搭載された試料のサンプリング位置であり、この場合はＲ１Ｏ部２３が該当する。サンプリングが終了したラック１はＢ２ライン７を経由しラック収納部であるＣライン４に搬送される。Ｒ１Ｉ部１９のラック搬出と同時に、ラックバッファ部１２は回転し、Ｒ２Ｉ部２０のラック１のＲ２Ｏ部２４への搬送と、Ｂ１ライン６を搬送されてきたラック１のＲ２Ｉ部２０への格納を行う。
【００１７】
以上のようにラックバッファ部１２は回転しながらラック１の格納と排出を繰り返す。このようなラックバッファ部１２において、特定のポジションＲ３Ｉ部２１を分析の優先権を持つラック専用とすることにより、先にライン上に搬送されたラックに優先してあとから搬送されたラックが分析を行う事ができる。
【００１８】
つまり、分析に優先権を持つラック１が搬送された場合は、既にラックバッファ部１２に搬送されているラック１に優先して、Ｒ３Ｉ部２１がＢ１ライン６延長線上に回転し優先権を持つラック１のラックバッファ部１２への格納を行う。格納されたラック１はＲ３Ｉ部２１に格納されることなく、Ｒ３Ｏ部２５に直接搬送され試料のサンプリングを開始する。
【００１９】
さらに、ラックバッファ部１２の近傍にラック投入スイッチ１７を設け、ラックの直接投入を可能とすることにより、分析の優先権を持たせることができる。つまり、ラック投入スイッチ１７を押すことにより特定のポジション、例えばＲ３Ｉ部２１がラック投入口に回転・停止し、ラック架設後再びラック投入スイッチ１７を押すことにより、ラックバッファ部１２が回転、Ｒ３Ｉ部２１に仮設したラック１をラックバッファ中心部１３を経由して、Ｒ３Ｏ部２５に搬送することにより、他のラックに優先して分析を行うことが可能となる。
【００２０】
また、精度管理試料のように繰り返し分析を行うような試料の場合は、ラックバッファ部１２内に任意の時間格納される専用位置を設け、試料のサンプリングが終了してもラック１を保持する。つまり、精度管理試料を搭載したラック１はＲ４Ｉ部２２を通過しＲ４Ｏ部２６に格納され、試料のサンプリングが行われる。サンプリングが終了してもＢ２ライン７へラック１の搬出を行わずに、ラックバッファ部１２の回転動作を行い次のラック１の格納と排出動作に移行する。
【００２１】
図２は、ラックバッファ部１２が図１の円形状ではなく、ラック１を縦列格納するような形状を持つ実施例である。この例では、ラック収納部が４ポジションあり、Ｐ１部２７，Ｐ２部２８，Ｐ３部２９，Ｐ４部３０からなるラック格納トレイ３１とそのスライド部１５で構成される。Ｂ１ライン６を通過してきたラック１はＰ１部２７に格納され、その後ラック収納トレイ３１はスライドアーム１６にて１ポジションスライドしＰ２部２８がＢ１ライン６延長線上に移動し、次のラック１が収納される。
【００２２】
このようにしてＰ４部３０までラック１の収納を行った後、再びＰ１部２７がＢ１ライン６延長線上までスライドし、ラック１に架設された試料のサンプリングを行う。サンプリングが終了したラック１はＢ２ライン７に搬出されると同時に、新たにラック１がＰ１部２７に格納される。このようなラックバッファ部１２において、特定のポジションＰ３部２９を分析の優先権を持つラック専用とすることにより、先にライン上に搬送されたラック１に優先してあとから搬送されたラック１が分析を行う事ができる。
【００２３】
つまり、分析に優先権を持つラック１が搬送された場合は、既にラックバッファ部１２に搬送されているラック１に優先して、Ｐ３部２９がＢ１ライン６延長線上にスライドし、試料のサンプリングを開始する。さらに、実施例１と同様にラック投入スイッチ１７を設けることにより、投入したラック１に分析の優先権を持たせることができる。
【００２４】
つまり、ラック投入スイッチ１７を押すことにより特定のポジション、例えばＰ４部３０がラックバッファ部１２の末端にスライド・停止、ラック架設後再びラック投入スイッチ１７を押すことにより、Ｐ４部３０に架設したラックを優先的にＢ１ライン６延長線上にスライドし試料のサンプリングを行う。
【００２５】
また、精度管理試料のように繰り返し分析を行うような試料の場合は、ラックバッファ部１２内に任意の時間格納される専用位置を設け、試料のサンプリングが終了してもラック１を保持する。つまり、精度管理試料を搭載したラック１はＰ３部２９に格納され、試料のサンプリングが行われる。サンプリングが終了してもＢ２ライン７へラック１の搬出を行わずに、ラックバッファ部１２のスライド動作を行い次のラック１の格納と排出動作に移行する。
【００２６】
このような実施例１，２において、ラックバッファ部１２全体を低温に保冷する事により、一定時間保持される精度管理試料の濃縮防止、温度による成分の変性を防止し、信頼性の高い測定を行う事が可能となる。ラックバッファ部を保冷する事は、特に効果的である。
【００２７】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明のラックバッファ部をラック搬送ライン上に設ける事により、分析の優先権を持つ試料を搭載したラックを迅速に分析する事が可能となり、また、繰り返し同一試料を分析する場合でも繰り返し試料を投入する必要がなくなり、操作を簡便に行う事が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施例１の自動分析装置におけるラック搬送ラインの構成図である。
【図２】本発明の実施例２の自動分析装置におけるラック搬送ラインの構成図である。
【図３】本発明の実施例１のラックバッファ部の構成図である。
【図４】本発明の実施例２のラックバッファ部の構成図である。
【図５】本発明の実施例１のラックバッファ部詳細の構成図である。
【図６】従来の自動分析装置ラック搬送ラインの構成図である。
【図７】従来の他の例を示す図である。
【符号の説明】
１…ラック、２…Ａライン、３…Ｂライン、４…Ｃライン、５…Ｄライン、６…Ｂ１ライン、７…Ｂ２ライン、８…分析部、９…分析モジュール、１０…至急検体割込み口、１１…サンプリング位置、１２…ラックバッファ部、１３…ラックバッファ部中心、１４…ラックストッパ、１５…スライド部、１６…スライドアーム、１７…ラック投入スイッチ、１８…ラック投入部、１９…Ｒ１Ｉ部、２０…Ｒ２Ｉ部、２１…Ｒ３Ｉ部、２２…Ｒ４Ｉ部、２３…Ｒ１Ｏ部、２４…Ｒ２Ｏ部、２５…Ｒ３Ｏ部、２６…Ｒ４Ｏ部、２７…Ｐ１部、２８…Ｐ２部、２９…Ｐ３部、３０…Ｐ４部、３１…ラック収納トレイ。[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a rack transport line (buffer unit) on which a sample transported in an automatic analyzer is mounted.
[0002]
[Prior art]
A conventional rack transport type automatic analyzer is configured such that racks are sequentially transported along a straight transport line.
[0003]
In the automatic analyzer shown in FIG. 6, the rack installed on the supply tray is sequentially transported along the A line, the B line, and the C line for analysis. In such a transport line configuration, when a sample that needs to be measured urgently is inserted, a rack is inserted into the sample interruption port immediately to interrupt the rack installed in the A line for preferential analysis. Can do. However, since a plurality of racks already transferred on the B line are arranged, there is a problem that measurement cannot be performed until the processing of these racks is completed.
[0004]
Further, when measuring a sample for performing accuracy management of an automatic analyzer, a sample with a management value set in advance is measured multiple times with an interval between normal samples. In this case, in the conventional rack transport, the rack for which the measurement has been completed is carried out to the C line. Therefore, every time the measurement needs to be performed, the rack on which the quality control sample is mounted must be installed on the A line. There was a problem of being.
[0005]
In the automatic analyzer shown in FIG. 7, when the rack installed on the A line passes through the B line, it is drawn into the D line only by the analysis module that needs to be analyzed, and the analysis is performed. An analysis module that does not require analysis is transported through the B line as it is, and is transported to an analysis module that requires analysis.
[0006]
In the analysis module that requires analysis, it is impossible to preferentially measure the rack that has been transported first on the D line. The measurement of the quality control sample is exactly the same as in FIG.
[0007]
[Problems to be solved by the invention]
In order to solve the above-described problems of the conventional example, the present invention is capable of preferentially analyzing a rack that is input prior to the rack transfer line, or a rack transfer line, or a rack input unit, It is an object of the present invention to provide a rack transport line that enables analysis without having to input a sample that needs to be repeatedly measured.
[0008]
[Means for Solving the Problems]
According to the present invention, a buffer section on a loop is provided in a transport line for transporting racks loaded with samples, and a plurality of racks stored in the buffer section can be analyzed in an arbitrary order. Alternatively, the rack can be directly placed in the buffer unit without going through the transport line, and measurement can be performed with priority.
[0009]
Further, a rack in which an arbitrary sample is mounted in the buffer unit is stored for an arbitrary time, and analysis can be performed at an arbitrary timing during that time.
[0010]
By doing so, it is possible to analyze a sample on a rack that has been input later in preference to a rack that has been input in advance.
[0011]
In addition, by storing a specific rack for an arbitrary time, it is possible to eliminate the trouble of loading each time even a sample that is analyzed in a specific time unit such as a quality control sample.
[0012]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
1 and 2 show an embodiment of the present invention.
[0013]
Arack 1 on which a sample is mounted is installed on anA line 2 which is a rack supply unit. When the analysis is started, therack 1 is conveyed on theA line 2 and carried into the B1 line 6. Further, therack 1 is stored in therack buffer unit 12.
[0014]
In the case of FIG. 1, therack buffer unit 12 is a circular example, and therack 1 is stored in theR1I unit 19. Therack buffer unit 12 rotates one position in preparation for the next rack storage, and theR2I unit 20 stops on the extension of the B1 line 6. Therack 1 is sequentially transported from theA line 2 and stored in theR2I unit 20 of thebuffer unit 12 via the B1 line 6. The plurality ofracks 1 are stored in therack buffer unit 12 by repeating the above operation. When the rack is stored and transported, the rack stop position is managed by moving the rack stopper 14 up and down.
[0015]
When therack 1 is stored in theR1I section 19,R2I section 20,R3I section 21,R4I section 22 of therack buffer section 12, therack buffer section 12 rotates until theR1I section 19 is on the extension line of the B1 line 6, Therack 1 stored in theR1I section 19 is transported to theR1O section 23 via the rack buffercentral section 13 and at the same time, therack 1 transported on the B1 line 6 is stored in theR1I section 19.
[0016]
The portion of therack buffer portion 12 that has passed through the rack buffercentral portion 13 is the sampling position of the sample mounted on therack 1, and in this case, theR1O portion 23 corresponds. Therack 1 for which sampling has been completed is conveyed via theB2 line 7 to theC line 4 which is a rack storage unit. Simultaneously with the rack unloading of theR1I unit 19, therack buffer unit 12 rotates to transfer theR2I unit 20 to theR2O unit 24 of therack 1 and store therack 1 that has been conveyed on the B1 line 6 into theR2I unit 20. Do.
[0017]
As described above, therack buffer unit 12 repeatedly stores and discharges therack 1 while rotating. In such arack buffer unit 12, by dedicating a specificposition R3I unit 21 to a rack having a priority of analysis, a rack transported later is analyzed in preference to a rack transported on the line first. Can be done.
[0018]
In other words, when therack 1 having priority for analysis is transported, theR3I section 21 rotates on the B1 line 6 extension line and has priority over therack 1 already transported to therack buffer section 12. Storage in therack buffer unit 12 of therack 1 is performed. Thestored rack 1 is directly stored in theR3O unit 25 without being stored in theR3I unit 21, and sampling of the sample is started.
[0019]
Further, by providing arack loading switch 17 in the vicinity of therack buffer unit 12 to enable direct rack loading, it is possible to give priority to analysis. That is, when therack loading switch 17 is pressed, a specific position, for example, theR3I section 21 is rotated and stopped at the rack loading slot. By transporting therack 1 temporarily installed in 21 to theR3O section 25 via the rackbuffer center section 13, it becomes possible to perform analysis with priority over other racks.
[0020]
In the case of a sample that is repeatedly analyzed, such as a quality control sample, a dedicated position stored in therack buffer unit 12 for an arbitrary time is provided, and therack 1 is held even after sampling of the sample is completed. That is, therack 1 on which the quality control sample is mounted passes through theR4I unit 22 and is stored in theR4O unit 26, and the sample is sampled. Even if sampling is completed, therack buffer unit 12 is rotated without carrying out therack 1 to theB2 line 7 and thenext rack 1 is stored and ejected.
[0021]
FIG. 2 shows an embodiment in which therack buffer unit 12 is not circular in FIG. In this example, the rack storage unit has four positions, and includes a rack storage tray 31 including aP1 unit 27, aP2 unit 28, aP3 unit 29, and aP4 unit 30 and aslide unit 15 thereof. Therack 1 that has passed the B1 line 6 is stored in theP1 portion 27, and then the rack storage tray 31 is slid by one position by theslide arm 16 and theP2 portion 28 moves on the extension line of the B1 line 6, and thenext rack 1 is moved. Stored.
[0022]
After therack 1 is stored up to theP4 portion 30 in this way, theP1 portion 27 slides again on the B1 line 6 extension line, and the sample mounted on therack 1 is sampled. Therack 1 for which sampling has been completed is carried out to theB2 line 7 and at the same time, therack 1 is newly stored in theP1 unit 27. In such arack buffer unit 12, a specificposition P3 unit 29 is dedicated to a rack having priority for analysis, so that therack 1 transported later in preference to therack 1 transported on the line first. Can be analyzed.
[0023]
In other words, when therack 1 having priority for analysis is transported, theP3 section 29 slides on the B1 line 6 extension line in preference to therack 1 that has already been transported to therack buffer section 12, and the sample sampling is performed. To start. Further, by providing therack loading switch 17 as in the first embodiment, the loadedrack 1 can be given priority for analysis.
[0024]
In other words, a specific position, for example, theP4 section 30 slides and stops at the end of therack buffer section 12 by pressing therack insertion switch 17, and the rack installed on theP4 section 30 by pressing therack insertion switch 17 again after the rack installation. Is preferentially slid onto the B1 line 6 extension line to sample the sample.
[0025]
In the case of a sample that is repeatedly analyzed, such as a quality control sample, a dedicated position stored in therack buffer unit 12 for an arbitrary time is provided, and therack 1 is held even after sampling of the sample is completed. That is, therack 1 on which the quality control sample is mounted is stored in theP3 section 29, and the sample is sampled. Even if the sampling is completed, therack buffer unit 12 is slid without moving therack 1 to theB2 line 7 and thenext rack 1 is stored and ejected.
[0026]
In Examples 1 and 2, the entirerack buffer unit 12 is kept at a low temperature to prevent concentration of the quality control sample held for a certain period of time and prevent denaturation of the component due to temperature, and perform highly reliable measurement. Can be done. It is particularly effective to keep the rack buffer section cool.
[0027]
【The invention's effect】
As described above, by providing the rack buffer section of the present invention on the rack transport line, it is possible to quickly analyze a rack loaded with a sample having analysis priority and repeatedly analyze the same sample. In this case, it is not necessary to repeatedly input the sample, and the operation can be performed easily.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a configuration diagram of a rack transport line in an automatic analyzer according to a first embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a configuration diagram of a rack transport line in an automatic analyzer according to a second embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a configuration diagram of a rack buffer unit according to the first embodiment of the present invention.
FIG. 4 is a configuration diagram of a rack buffer unit according to a second embodiment of the present invention.
FIG. 5 is a detailed configuration diagram of a rack buffer unit according to the first embodiment of the present invention.
FIG. 6 is a configuration diagram of a conventional automatic analyzer rack transport line.
FIG. 7 is a diagram showing another conventional example.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OFSYMBOLS 1 ... Rack, 2 ... A line, 3 ... B line, 4 ... C line, 5 ... D line, 6 ... B1 line, 7 ... B2 line, 8 ... Analysis part, 9 ... Analysis module, 10 ... Immediate specimen interruption port , 11: Sampling position, 12: Rack buffer section, 13: Rack buffer section center, 14: Rack stopper, 15 ... Slide section, 16 ... Slide arm, 17 ... Rack loading switch, 18 ... Rack loading section, 19 ...R1I section 20 ... R2I part, 21 ... R3I part, 22 ... R4I part, 23 ... R1O part, 24 ... R2O part, 25 ... R3O part, 26 ... R4O part, 27 ... P1 part, 28 ... P2 part, 29 ...P3 part 30 ... P4 part, 31 ... Rack storage tray.

Claims (4)

Translated fromJapanese

半径方向に検体ラックを格納する複数のポジションを備えた円形状のラックバッファ部であって、
該ラックバッファ部の中心がラック搬送ライン上に位置し、
該ラックバッファ部が回転することにより前記ラック搬送ラインで搬送されてきた検体ラックを該ラックバッファ部の任意のポジションに格納するとともに、
該ラックバッファ部に格納されていた検体ラックをラック搬送ラインに排出する機構を有するラックバッファ部を備えたことを特徴とする自動分析装置。A circular rack buffer unit having a plurality of positions for storing a sample rack in a radial direction,
The center of the rack buffer is located on the rack transport line,
While storing the sample rack that has been transported in the rack transport line by rotating the rack buffer unit at any position of the rack buffer unit,
An automatic analyzer comprising a rack buffer unit having a mechanism for discharging a sample rack stored in the rack buffer unit to a rack transport line. 請求項１記載の自動分析装置であって、
前記ラックバッファ部に検体ラックを直接投入するためのラック投入部を備えたことを特徴とする自動分析装置。The automatic analyzer according to claim 1,
An automatic analyzer comprising a rack loading unit for directly loading a sample rack into the rack buffer unit. 請求項１記載の自動分析装置であって、
前記ラックバッファ部に近傍に、前記ラックバッファ部の特定のポジションを前記ラック投入部に停止させるためのラック投入スイッチを設けたことを特徴とする自動分析装置。The automatic analyzer according to claim 1,
An automatic analyzer provided with a rack loading switch for stopping a specific position of the rack buffer section at the rack loading section in the vicinity of the rack buffer section. 請求項１〜３のいずれかに記載の自動分析装置であって、
前記ラックバッファ部に搭載された検体ラックを低温に保冷する機構を設けたことを特徴とする自動分析装置。The automatic analyzer according to any one of claims 1 to 3,
An automatic analyzer comprising a mechanism for keeping a sample rack mounted in the rack buffer unit at a low temperature.

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