










本発明は、表示パネルのガンマ補正のための電圧を生成するガンマ補正電圧発生回路に関する。 The present invention relates to a gamma correction voltage generation circuit that generates a voltage for gamma correction of a display panel.
一般的な表示装置は、表示パネルと、表示パネルを駆動するためのゲートドライバ及びソースドライバとを備える。表示パネルは、複数のデータ線と、複数のデータ線と直交するように配置される複数の走査線と、データ線および走査線の交点にマトリクス状に配置された複数の画素回路とを備える。ゲートドライバは、表示パネルの複数の走査線を順次選択する。ソースドライバは、階調電圧(発光階調に応じたアナログ電圧)を表示パネルの各データ線に印加して表示パネルの各データ線を駆動する。 A general display device includes a display panel, and a gate driver and a source driver for driving the display panel. The display panel includes a plurality of data lines, a plurality of scanning lines arranged so as to be orthogonal to the plurality of data lines, and a plurality of pixel circuits arranged in a matrix at intersections of the data lines and the scanning lines. The gate driver sequentially selects a plurality of scanning lines of the display panel. The source driver applies a gradation voltage (analog voltage corresponding to the light emission gradation) to each data line of the display panel to drive each data line of the display panel.
表示パネルの色あいと表示パネルの各データ線に印加される電圧との関係は、線形特性ではなく図9に示すようなガンマ曲線特性を有する。このような表示パネルのガンマ曲線特性は、個々の表示パネルでそれぞれ異なる。さらに表示パネルのガンマ曲線特性は、同一の表示パネルであっても表示パネルの温度が変われば、その温度変化に応じて変化する。 The relationship between the color of the display panel and the voltage applied to each data line of the display panel has a gamma curve characteristic as shown in FIG. 9 instead of a linear characteristic. Such a display panel has different gamma curve characteristics for each display panel. Further, the gamma curve characteristics of the display panel change according to the temperature change if the temperature of the display panel changes even in the same display panel.
そのため表示装置では表示パネルのガンマ曲線特性に応じたガンマ補正が通常行われる。ガンマ補正は、ガンマ補正電圧発生回路を表示装置に設け、ガンマ補正電圧発生回路から出力されるガンマ補正電圧に基づいてソースドライバが各階調電圧を生成することで、実現することができる。 Therefore, the display device normally performs gamma correction according to the gamma curve characteristics of the display panel. The gamma correction can be realized by providing a gamma correction voltage generation circuit in the display device and generating each gradation voltage by the source driver based on the gamma correction voltage output from the gamma correction voltage generation circuit.
図10は一般的なガンマ補正電圧発生回路の構成を示す図である。図10に示すガンマ補正電圧発生回路は、メモリ101と、第1のレジスタ102と、第2のレジスタ103と、A/D変換器104と、温度情報監視回路105と、選択回路106と、第1〜第N(Nは3以上の自然数)のD/A変換器107_1〜107_Nと、第1〜第Nの出力アンプ108_1〜108_Nとを備える。第1のレジスタ102、第2のレジスタ103、A/D変換器104、温度情報監視回路105、選択回路106、第1〜第NのD/A変換器107_1〜107_N、及び第1〜第Nの出力アンプ108_1〜108_Nは、半導体パッケージ109内に収容される。メモリ101と半導体パッケージ109とは、バスによってデータ通信可能に接続される。メモリ101及び半導体パッケージ109はバスによって他のデバイスともデータ通信可能である。 FIG. 10 is a diagram showing a configuration of a general gamma correction voltage generation circuit. The gamma correction voltage generation circuit shown in FIG. 10 includes a
メモリ101は、第1の温度以下における第1〜第Nのガンマ補正電圧を示すN個のデジタルデータと、第1の温度より高い第2の温度以上における第1〜第Nのガンマ補正電圧を示すN個のデジタルデータとを不揮発的に記憶する。第1のレジスタ102は、メモリ101から読み出される第1の温度以下における第1〜第Nのガンマ補正電圧を示すN個のデジタルデータを保持する。第2のレジスタ103は、メモリ101から読み出される第2の温度以上における第1〜第Nのガンマ補正電圧を示すN個のデジタルデータを保持する。 The
A/D変換器104は、外部から供給される温度情報(アナログデータ)をデジタルデータに変換して温度情報監視回路105に出力する。温度情報監視回路105は、温度情報のデジタルデータを周期的に選択回路106に出力する。 The A /
選択回路106は、温度情報監視回路105から通知される温度情報が第1の温度以下を示していれば、第1のレジスタ102から読み出した第1の温度以下における第K(KはN以下の自然数)のガンマ補正電圧を示すデジタルデータを第KのD/A変換器107_Kに出力する。 If the temperature information notified from the temperature
また選択回路106は、温度情報監視回路105から通知される温度情報が第2の温度以上を示していれば、第2のレジスタ103から読み出した第2の温度以上における第K(KはN以下の自然数)のガンマ補正電圧を示すデジタルデータを第KのD/A変換器107_Kに出力する。 If the temperature information notified from the temperature
また選択回路106は、温度情報監視回路105から通知される温度情報が第1の温度より高く第2の温度より低い温度を示していれば、温度情報監視回路105から通知される温度情報が示す温度における第Kのガンマ補正電圧を示すデジタルデータを、第1の温度以下における第Kのガンマ補正電圧を示すデジタルデータと、第2の温度以上における第Kのガンマ補正電圧を示すデジタルデータとから求め、その求めたデジタルデータを第KのD/A変換器107_Kに出力する。 The
第KのD/A変換器107_Kは、選択回路106から送られてくるデジタルデータを第Kのガンマ補正電圧(アナログ電圧)に変換し、その変換した第Kのガンマ補正電圧を第Kの出力アンプ108_Kに出力する。 The Kth D / A converter 107_K converts the digital data sent from the
第Kの出力アンプ108_Kは電流増幅アンプである。したがって、第Kの出力アンプ108_Kは第Kのガンマ補正電圧を出力する。 The Kth output amplifier 108_K is a current amplification amplifier. Accordingly, the Kth output amplifier 108_K outputs the Kth gamma correction voltage.
上述した通り図10に示すガンマ補正電圧発生回路では、温度情報監視回路105から通知される温度情報が第1の温度より高く第2の温度より低い温度を示していれば、温度情報監視回路105から通知される温度情報が示す温度における第Kのガンマ補正電圧を示すデジタルデータを、第1の温度以下における第Kのガンマ補正電圧を示すデジタルデータと、第2の温度以上における第Kのガンマ補正電圧を示すデジタルデータとから求めている。このため、第1の温度より高く第2の温度より低い温度における第Kのガンマ補正電圧を示すデジタルデータの値は、温度変化に応じて一方向に変化(例えば図11に示すように温度上昇に応じて増加)するようにしか設定することができなかった。 As described above, in the gamma correction voltage generation circuit shown in FIG. 10, if the temperature information notified from the temperature
第1の温度より高く第2の温度より低い温度におけるガンマ補正電圧の設定の柔軟性を高める方策として、第1の温度より高く第2の温度より低い温度の範囲を複数のサブ範囲に分け、サブ範囲における第1〜第Nのガンマ補正電圧を示すN個のデジタルデータをレジスタに保持させる構成が考えられる。しかしながら、この構成ではサブ範囲の個数分だけレジスタサイズが増加することになり、コストが大幅に増大するという新たな問題が発生する。 As a measure for increasing the flexibility of setting the gamma correction voltage at a temperature higher than the first temperature and lower than the second temperature, a range of temperatures higher than the first temperature and lower than the second temperature is divided into a plurality of sub-ranges, A configuration is conceivable in which N digital data indicating the first to Nth gamma correction voltages in the sub-range are held in a register. However, in this configuration, the register size increases by the number of sub-ranges, which causes a new problem that the cost significantly increases.
なお、特許文献1で開示されているガンマ補正回路は、ブライドの制御電圧により適応的にガンマ補正データの補正係数を可変するものであって、温度に応じてガンマ補正電圧の値を変えるものではない。 Note that the gamma correction circuit disclosed in
本発明は、上記の状況に鑑み、コストの増大を抑制しながらガンマ補正電圧の設定の柔軟性を高くすることができるガンマ補正電圧発生回路を提供することを目的とする。 In view of the above situation, an object of the present invention is to provide a gamma correction voltage generation circuit that can increase the flexibility of setting a gamma correction voltage while suppressing an increase in cost.
本明細書中に開示されているガンマ補正電圧発生回路は、温度と第1〜第N(Nは3以上の自然数)のガンマ補正電圧を示すN個のデジタルデータとの関係を示すルックアップテーブルを不揮発的に記憶するメモリと、レジスタと、取得した温度情報に対応する第1〜第Nのガンマ補正電圧を示すN個のデジタルデータを前記メモリから読み出して前記レジスタに保持させる制御部と、前記レジスタが保持しているN個の前記デジタルデータをそれぞれアナログ電圧に変換するN個のD/A変換器とを備える構成(第1の構成)である。 A gamma correction voltage generation circuit disclosed in the present specification is a look-up table showing a relationship between temperature and N digital data indicating first to Nth (N is a natural number of 3 or more) gamma correction voltages. A non-volatile memory, a register, and a controller that reads N digital data indicating first to Nth gamma correction voltages corresponding to the acquired temperature information from the memory and holds the digital data in the register, A configuration (first configuration) including N D / A converters that respectively convert the N digital data held in the register into analog voltages.
また上記第1の構成のガンマ補正電圧発生回路において、前記メモリ及び前記制御部と外部とのデータ通信を行うための通信経路上に設けられるスイッチを備え、前記スイッチがオフ状態である場合に、前記メモリと前記制御部とのデータ通信は可能であるが、前記メモリ及び前記制御部と外部とのデータ通信が不可能になり、前記スイッチがオン状態である場合に、前記メモリと前記制御部とのデータ通信並びに前記メモリ及び前記制御部と外部とのデータ通信が可能である構成(第2の構成)にしてもよい。 Further, the gamma correction voltage generation circuit of the first configuration includes a switch provided on a communication path for performing data communication between the memory and the control unit and the outside, and the switch is in an off state. Data communication between the memory and the control unit is possible, but data communication between the memory and the control unit and the outside becomes impossible, and the memory and the control unit are turned on when the switch is on. It is also possible to adopt a configuration (second configuration) in which data communication with the memory and data communication between the memory and the control unit and the outside are possible.
また上記第2の構成のガンマ補正電圧発生回路において、前記スイッチは、前記レジスタ、前記制御部、及び前記D/A変換器と同一の半導体チップに集積化される構成(第3の構成)にしてもよい。 In the second configuration of the gamma correction voltage generation circuit, the switch is configured to be integrated on the same semiconductor chip as the register, the control unit, and the D / A converter (third configuration). May be.
また上記第1〜第3いずれかの構成のガンマ補正電圧発生回路において、前記メモリは、第1の半導体チップに集積化され、前記レジスタ、前記制御部、及び前記D/A変換器は、第2の半導体チップに集積化され、前記第1の半導体チップ及び前記第2の半導体チップは、同一の半導体パッケージに収容される構成(第4の構成)にしてもよい。 In the gamma correction voltage generating circuit having any one of the first to third configurations, the memory is integrated on a first semiconductor chip, and the register, the control unit, and the D / A converter are Two semiconductor chips may be integrated, and the first semiconductor chip and the second semiconductor chip may be configured to be accommodated in the same semiconductor package (fourth configuration).
また上記第4の構成のガンマ補正電圧発生回路において、前記第1の半導体チップは前記第2の半導体チップ上に載置される構成(第5の構成)にしてもよい。 In the fourth configuration of the gamma correction voltage generation circuit, the first semiconductor chip may be mounted on the second semiconductor chip (fifth configuration).
また上記第4又は第5の構成のガンマ補正電圧発生回路において、前記第1の半導体チップに接続される導電部材は全て前記第2の半導体チップに接続される構成(第6の構成)にしてもよい。 In the gamma correction voltage generation circuit of the fourth or fifth configuration, all the conductive members connected to the first semiconductor chip are connected to the second semiconductor chip (sixth configuration). Also good.
また上記第1〜第6いずれかの構成のガンマ補正電圧発生回路において、前記制御部は、取得した前記温度情報に対応する第1〜第Nのガンマ補正電圧を示すN個のデジタルデータを所定の周期で前記メモリから読み出す構成(第7の構成)にしてもよい。 Further, in the gamma correction voltage generation circuit having any one of the first to sixth configurations, the control unit predetermines N digital data indicating first to Nth gamma correction voltages corresponding to the acquired temperature information. It is also possible to adopt a configuration (seventh configuration) for reading from the memory at a period of
また上記第7の構成のガンマ補正電圧発生回路において、取得した前記温度情報の変化が所定の条件に達した場合には前記所定の周期のタイミングでなくても、前記制御部は、取得した前記温度情報に対応する第1〜第Nのガンマ補正電圧を示すN個のデジタルデータを前記メモリから読み出す構成(第8の構成)にしてもよい。 In the gamma correction voltage generation circuit of the seventh configuration, when the acquired change in the temperature information reaches a predetermined condition, the control unit acquires the acquired A configuration (eighth configuration) may be employed in which N digital data indicating the first to Nth gamma correction voltages corresponding to the temperature information are read from the memory.
本明細書中に開示されている表示装置は、表示パネルと、前記表示パネルを駆動する駆動回路と、前記駆動回路にガンマ補正電圧を供給する上記第1〜第8いずれかの構成のガンマ補正電圧生成回路とを備える構成(第9の構成)である。 A display device disclosed in the present specification includes a display panel, a drive circuit that drives the display panel, and a gamma correction according to any one of the first to eighth configurations that supplies a gamma correction voltage to the drive circuit. And a voltage generation circuit (ninth configuration).
本明細書中に開示されている車両は、上記第9の構成の表示装置を備える構成(第10の構成)である。 The vehicle disclosed in this specification is a configuration (tenth configuration) including the display device having the ninth configuration.
本明細書中に開示されているガンマ補正電圧発生回路によれば、コストの増大を抑制しながらガンマ補正電圧の設定の柔軟性を高くすることができる。 According to the gamma correction voltage generation circuit disclosed in the present specification, the flexibility of setting the gamma correction voltage can be increased while suppressing an increase in cost.
<ガンマ補正電圧発生回路>
図1はガンマ補正電圧発生回路の構成例を示す図である。図1に示すガンマ補正電圧発生回路は、メモリ1と、A/D変換器2と、温度情報監視回路3と、選択回路4と、一時レジスタ5Aと、レジスタ5Bと、第1〜第N(Nは3以上の自然数)のD/A変換器6_1〜6_Nと、第1〜第Nの出力アンプ7_1〜7_Nと、スイッチ8とを備える。メモリ1、A/D変換器2、温度情報監視回路3、選択回路4、一時レジスタ5A、レジスタ5B、第1〜第NのD/A変換器6_1〜6_N、第1〜第Nの出力アンプ7_1〜7_N、及びスイッチ8は、半導体パッケージ9内に収容される。メモリ1と選択回路4とは、I2C等のバスによってデータ通信可能に接続される。メモリ1及び選択回路4はスイッチ8がオン状態である場合にI2C等のバスによって他のデバイスともデータ通信可能である。<Gamma correction voltage generation circuit>
FIG. 1 is a diagram showing a configuration example of a gamma correction voltage generation circuit. The gamma correction voltage generation circuit shown in FIG. 1 includes a
メモリ1は、例えばEEPROM(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory)のようなデータの書き換えが可能な不揮発性メモリであって、温度と第1〜第Nのガンマ補正電圧を示すN個のデジタルデータとの関係を示すルックアップテーブルを不揮発的に記憶する。 The
図2は、メモリ1によって記憶されるルックアップテーブルを模式的に示す図である。図2中のD(1)は第1のガンマ補正電圧を示すデジタルデータであって、図2において区分けされた温度範囲毎に異なる値を取り得る。同様に、図2中のD(2)は第2のガンマ補正電圧を示すデジタルデータであって、図2において区分けされた温度範囲毎に異なる値を取り得る。同様に、図2中のD(N)は第Nのガンマ補正電圧を示すデジタルデータであって、図2において区分けされた温度範囲毎に異なる値を取り得る。 FIG. 2 is a diagram schematically showing a look-up table stored by the
A/D変換器2は、外部から供給される温度情報(アナログデータ)を周期的にデジタルデータに変換して温度情報監視回路3に出力する。A/D変換器2におけるA/D変換の周期は、例えば数十ms〜数百msが想定されるが、この範囲に限定されるものではない。外部から供給される温度情報(アナログデータ)は、ガンマ補正の対象である表示パネルの近傍に設けられた温度センサの出力信号であることが望ましいが、例えば図1に示すガンマ補正電圧発生回路が車載用表示装置に組み込まれる場合には車内温度検出用温度センサの出力信号であっても良い。 The A /
温度情報監視回路3は、温度情報のデジタルデータを所定の周期で選択回路4に出力する。さらに温度情報監視回路3は、外部から供給される温度情報の変化が所定の条件に達した場合には所定の周期のタイミングでなくても、温度情報のデジタルデータを選択回路4に出力する。外部から供給される温度情報の変化が所定の条件に達した場合の例としては、温度情報監視回路3が最後に選択回路4に出力した温度情報のデジタルデータが示す温度と、温度情報監視回路3が取得した温度情報のデジタルデータが示す温度との差が所定値以上になった場合を挙げることができる。この例では、温度情報監視回路3は、最後に選択回路4に出力した温度情報のデジタルデータを保持する保持部と、最後に選択回路4に出力した温度情報のデジタルデータが示す温度と、温度情報監視回路3が取得した温度情報のデジタルデータが示す温度との差が所定値以上であるか否かを判定する判定部とを備える構成にすれば良い。 The temperature
選択回路4は、温度情報監視回路3から通知される温度情報に対応する第1〜第Nのガンマ補正電圧を示すN個のデジタルデータをメモリ1から読み出して一時レジスタ5Aに保持させる。一時レジスタ5Aによって保持されているデータは、外部トリガ信号に同期してレジスタ5Bに反映される。外部トリガ信号としては、例えば表示パネルにおけるパネルフレーム周期と同一周期であるSTV(Start Vertical)信号を用いることができるが、STV信号に限定されるものではない。レジスタ5Bは、保持している第Kのガンマ補正電圧を示すデジタルデータを第KのD/A変換器6_Kに送る。 The selection circuit 4 reads N digital data indicating the first to Nth gamma correction voltages corresponding to the temperature information notified from the temperature
第KのD/A変換器6_Kは、レジスタ5Bから送られてくるデジタルデータを第Kのガンマ補正電圧(アナログ電圧)に変換し、その変換した第Kのガンマ補正電圧を第Kの出力アンプ7_Kに出力する。 The Kth D / A converter 6_K converts the digital data sent from the
第Kの出力アンプ7_Kは電流増幅アンプである。したがって、第Kの出力アンプ7_Kは第Kのガンマ補正電圧を出力する。 The Kth output amplifier 7_K is a current amplification amplifier. Therefore, the Kth output amplifier 7_K outputs the Kth gamma correction voltage.
次に、以上のような構成である図1に示すガンマ補正電圧発生回路の動作例について図3のフローチャートを参照して説明する。 Next, an example of the operation of the gamma correction voltage generation circuit shown in FIG. 1 having the above configuration will be described with reference to the flowchart of FIG.
温度情報監視回路3は、温度情報のデジタルデータを選択回路4に出力する(ステップS10)。その後、選択回路4は、温度情報監視回路5から通知される温度情報に対応する第1〜第Nのガンマ補正電圧を示すN個のデジタルデータをメモリ1から読み出して一時レジスタ5Aに保持させる(ステップS20)。ステップS20に続くステップS30において、外部トリガ信号との同期タイミング(例えばSTV信号の立ち上がりエッジタイミング)が到来するまでステップS40への移行を待機する。外部トリガ信号との同期タイミングが到来すれば(ステップS30のYES)、一時レジスタ5Aによって保持されているデータはレジスタ5Bに反映される(ステップS40)。すなわち、一時レジスタ5Aによって保持されているデータは外部トリガ信号に同期してレジスタ5Bに反映される。図1に示すガンマ補正電圧発生回路の出力切替が表示パネルに映し出される映像に悪影響を及ぼすことを、ステップS30及びS40の処理を実行することによって抑えることができる。なお、映像品質が多少悪化するけれども、一時レジスタ5Aを設けない構成とし、ステップS30及びS40の処理を実行しないことも可能である。 The temperature
ステップS40に続くステップS50において、温度情報監視回路3は、内蔵タイマによる計時を開始する。その後、温度情報監視回路3は、計時を開始してから所定の周期時間が経過したか否かを判定する(ステップS60)。 In step S50 following step S40, the temperature
計時を開始してから所定の周期時間が経過したと判定された場合(ステップS60のYES)、ステップS80に移行する。 When it is determined that a predetermined period of time has elapsed since the start of timing (YES in step S60), the process proceeds to step S80.
一方、計時を開始してから所定の周期時間が経過していないと判定された場合(ステップS60のNO)、温度情報監視回路3は、外部から供給される温度情報の変化が所定の条件に達したか否かを判定する(ステップS70)。外部から供給される温度情報の変化が所定の条件に達したと判定された場合(ステップS70のYES)、ステップS80に移行する。外部から供給される温度情報の変化が所定の条件に達していないと判定された場合(ステップS70のNO)、ステップS60に戻る。 On the other hand, when it is determined that the predetermined period of time has not elapsed since the start of time measurement (NO in step S60), the temperature
ステップS80において、温度情報監視回路3の内蔵タイマによる計時を終了して温度情報監視回路3の内蔵タイマをリセットする。ステップS80の処理が終わると、ステップS10に戻る。 In step S80, the time measurement by the built-in timer of the temperature
レジスタ5Bは、図3のフローチャートによる動作が行われている間常時、保持している第Kのガンマ補正電圧を示すデジタルデータを第KのD/A変換器6_Kに送る。第KのD/A変換器6_Kは、図3のフローチャートによる動作が行われている間常時、レジスタ5Bから送られてくるデジタルデータを第Kのガンマ補正電圧(アナログ電圧)に変換し、その変換した第Kのガンマ補正電圧を第Kの出力アンプ7_Kに出力する。第Kの出力アンプ7_Kは、図3のフローチャートによる動作が行われている間常時、第Kのガンマ補正電圧を出力する。 The
以上において説明した図1に示すガンマ補正電圧発生回路は、温度と第1〜第Nのガンマ補正電圧を示すN個のデジタルデータとの関係を示すルックアップテーブルを不揮発的に記憶するメモリ1を備える。これにより、図1に示すガンマ補正電圧発生回路は、図10に示すガンマ補正電圧発生回路のように第1の温度より高く第2の温度より低い温度における第Kのガンマ補正電圧を示すデジタルデータの値は、温度変化に応じて一方向に変化するようにしか設定することができないという制約を有していない。すなわち、図1に示すガンマ補正電圧発生回路は、ガンマ補正電圧の設定の柔軟性を高くすることができる。 The gamma correction voltage generation circuit shown in FIG. 1 described above includes a
例えば、一つのガンマ補正電圧は図4中の太実線で示すように温度変化に応じて一方向に変化する(極値が存在しないように変化する)設定とし、もう一つのガンマ補正電圧は図4中の細実線で示すように温度変化に応じて極小値と極大値がそれぞれ一つずつ存在するように変化する設定とすることができる。なお、図4に示していない(N−2)個のガンマ補正電圧についても図4に示した2個のガンマ補正電圧の温度変化に応じた設定とは独立して自由に設定することができる。 For example, one gamma correction voltage is set to change in one direction (changes so that there is no extreme value) as the temperature changes as shown by a thick solid line in FIG. As shown by a thin solid line in FIG. 4, it can be set to change so that one minimum value and one maximum value exist according to the temperature change. Note that (N-2) gamma correction voltages not shown in FIG. 4 can be freely set independently of the setting of the two gamma correction voltages shown in FIG. 4 according to the temperature change. .
また、図1に示すガンマ補正電圧発生回路は、図10に示すガンマ補正電圧発生回路と比較してレジスタサイズが減少する構成であるため、コストの増大を抑制しながらガンマ補正電圧の設定の柔軟性を高くすることができる。なお、図1に示すガンマ補正電圧発生回路は、図10に示すガンマ補正電圧発生回路と比較してメモリサイズが増加する構成であるが、一般的にメモリは集積化が容易であるため、図10に示すガンマ補正電圧発生回路に対する図1に示すガンマ補正電圧発生回路のメモリサイズの増加程度であれば、メモリサイズの増加にほとんど影響を与えない。 Further, the gamma correction voltage generation circuit shown in FIG. 1 has a configuration in which the register size is reduced as compared with the gamma correction voltage generation circuit shown in FIG. Sexuality can be increased. Note that the gamma correction voltage generation circuit shown in FIG. 1 has a configuration in which the memory size is increased as compared with the gamma correction voltage generation circuit shown in FIG. 10, but the memory is generally easy to integrate. If the memory size of the gamma correction voltage generation circuit shown in FIG. 1 is increased to the gamma correction voltage generation circuit shown in FIG. 10, the increase in the memory size is hardly affected.
さらに、図1に示すガンマ補正電圧発生回路は、通常の使用状態ではスイッチ8をオフ状態にしている。これにより、図1に示すガンマ補正電圧発生回路は、図10に示すガンマ補正電圧発生回路では起こり得たメモリ−レジスタ間のデータ通信とメモリ−他のデバイス間のデータ通信との競合を回避している。すわなち、図1に示すガンマ補正電圧発生回路は、通常の使用状態において、メモリ1−選択回路4間のデータ通信を確実に行うことができる。なお、図1に示すガンマ補正電圧発生回路の工場出荷時などにおいて、温度と第1〜第Nのガンマ補正電圧を示すN個のデジタルデータとの関係を示すルックアップテーブルをメモリ1に書き込む際には、スイッチ8をオン状態にするためのスイッチ制御信号を外部から図1に示すガンマ補正電圧発生回路に与えて、スイッチ8を一時的にオン状態にすれば良い。 Further, the gamma correction voltage generation circuit shown in FIG. 1 has the
ここで、図1に示すガンマ補正電圧発生回路を収容する半導体パッケージ9の構造例について説明する。図5は、図1に示すガンマ補正電圧発生回路を収容する半導体パッケージ9の一構造例を示す断面図である。 Here, a structural example of the
半導体パッケージ9は、第1の半導体チップC1と、第2の半導体チップC2と、複数のAuワイヤW1及びW2と、複数のCu系ピン端子P1とを絶縁性樹脂R1で封止している。なお、複数のCu系ピン端子P1の下面及び一側面は外部に露出している。 In the
メモリ1は、第1の半導体チップC1に集積化される。A/D変換器2、温度情報監視回路3、選択回路4、一時レジスタ5A、レジスタ5B、第1〜第NのD/A変換器6_1〜6_N、第1〜第Nの出力アンプ7_1〜7_N、及びスイッチ8は、第2の半導体チップC2に集積化される。そして、第1の半導体チップC1は絶縁性の両面テープTP1を介して第2の半導体チップC2上に載置される。第1の半導体チップC1に接続されるAuワイヤW1は全て第2の半導体チップC2に接続される。AuワイヤW2は第2の半導体チップC2とCu系ピン端子P1とを接続する。 The
このような構造により、スイッチ8をオフ状態にしていれば、メモリ1が半導体パッケージ9の外部からアクセスできないようになっている。 With such a structure, the
<液晶表示装置>
図1に示すガンマ補正電圧発生回路は、例えば液晶表示装置に組み込まれる。図6は、液晶表示装置の概略構成例を示す図である。図6に示す液晶表示装置は、図1に示すガンマ補正電圧発生回路と同一構成であるガンマ補正電圧発生回路10と、液晶表示パネル11と、液晶表示パネル11を駆動するためのゲートドライバ12及びソースドライバ13とを備える。<Liquid crystal display device>
The gamma correction voltage generation circuit shown in FIG. 1 is incorporated in, for example, a liquid crystal display device. FIG. 6 is a diagram illustrating a schematic configuration example of the liquid crystal display device. The liquid crystal display device shown in FIG. 6 includes a gamma correction
液晶表示パネル11は、複数のデータ線と、複数のデータ線と直交するように配置される複数の走査線と、データ線および走査線の交点にマトリクス状に配置された複数の画素回路とを備える。ゲートドライバ12は、液晶表示パネル11の複数の走査線を順次選択する。ソースドライバ13は、階調電圧(発光階調に応じたアナログ電圧)を液晶表示パネル11の各データ線に印加して液晶表示パネル11の各データ線を駆動する。 The liquid
また、ソースドライバ13は、ガンマ補正電圧発生回路10から出力される第1〜第Nのガンマ補正電圧を用いて複数の階調電圧を生成する。複数の階調電圧は、第1〜第Nのガンマ補正電圧と、番号が隣接する2つのガンマ補正電圧間の複数の分圧とによって構成される。番号が隣接する2つのガンマ補正電圧間の複数の分圧は、例えば複数の中間タップを有する抵抗を設け、番号が隣接する2つのガンマ補正電圧の一方を当該抵抗の一端に印加し、番号が隣接する2つのガンマ補正電圧の他方を当該抵抗の一端に印加し、当該抵抗の中間タップから取り出すと良い。 The
タイミングコントローラ14は、ゲートドライバ12及びソースドライバ13の各動作のタイミングを制御する。液晶表示パネル11の各画素回路は、液晶層を有しており、対応する走査線によって選択されているときに、対応するデータ線に印加される階調電圧に応じて液晶層の透光度を可変する。 The
図6に示す液晶表示装置は、例えば図7に示す車両Xに搭載される車載機器X1として用いられる。液晶表示装置である車載機器X1は、車両Xの室内フロント部に設けられる(図8参照)。液晶表示装置である車載機器X1に備えられる液晶パネルX11には、例えばナビゲーション情報や車両後方の撮像画像などが表示される。 The liquid crystal display device shown in FIG. 6 is used as, for example, an in-vehicle device X1 mounted on the vehicle X shown in FIG. The in-vehicle device X1, which is a liquid crystal display device, is provided on the indoor front portion of the vehicle X (see FIG. 8). For example, navigation information, a captured image of the rear of the vehicle, and the like are displayed on the liquid crystal panel X11 provided in the in-vehicle device X1 that is a liquid crystal display device.
車載用の液晶表示装置は、屋内に設置される家庭用の液晶テレビなどに比べて使用環境の温度変化が大きいため、図1に示すガンマ補正電圧発生回路を組み込む表示装置として好適である。なお、屋外に設けられるデジタルサイネージ及び屋外での使用が想定されるノート型パーソナルコンピュータのモニタなども、車載用の液晶表示装置と同様に、屋内に設置される家庭用の液晶テレビなどに比べて使用環境の温度変化が大きいため、図1に示すガンマ補正電圧発生回路を組み込む表示装置として好適である。 The in-vehicle liquid crystal display device is suitable as a display device incorporating the gamma correction voltage generation circuit shown in FIG. 1 because the temperature change in the usage environment is larger than that of a home-use liquid crystal television set installed indoors. In addition, digital signage provided outdoors and monitors for notebook personal computers that are assumed to be used outdoors are also similar to liquid crystal display devices for vehicles, such as LCD TVs for home use installed indoors. Since the temperature change in the usage environment is large, it is suitable as a display device incorporating the gamma correction voltage generation circuit shown in FIG.
<その他の変形例>
なお、本発明の構成は、上記実施形態のほか、発明の主旨を逸脱しない範囲で種々の変更を加えることが可能である。<Other variations>
The configuration of the present invention can be variously modified in addition to the above-described embodiment without departing from the gist of the invention.
上述した実施形態では、ガンマ補正電圧発生回路を液晶表示装置に適用したが、有機EL(Organic Electro-Luminescence)表示装置などの他の表示装置に適用してもよい。 In the embodiment described above, the gamma correction voltage generation circuit is applied to the liquid crystal display device, but may be applied to other display devices such as an organic EL (Organic Electro-Luminescence) display device.
また上述した実施形態では、図1に示すガンマ補正電圧発生回路にスイッチ8を設けたが、例えば通常の使用状態ではガンマ補正電圧発生回路のバスに他のデイバスが接続されていない構成である場合等を想定してスイッチ8を設けない構成にしても良い。 In the above-described embodiment, the
また上述した実施形態では、図3に示すフローチャートにおいてステップS50を設けたが、例えば所定の周期時間内では温度条件の変化が所定の条件に達するような急激な温度変化が生じない場合等を想定してステップS50を設けないようにしてもよい。 In the above-described embodiment, step S50 is provided in the flowchart shown in FIG. 3, but it is assumed that, for example, a rapid temperature change in which a change in temperature condition reaches a predetermined condition does not occur within a predetermined cycle time. Thus, step S50 may not be provided.
このように、上記実施形態は、全ての点で例示であって、制限的なものではないと考えられるべきであり、本発明の技術的範囲は、上記実施形態の説明ではなく、特許請求の範囲によって示されるものであり、特許請求の範囲と均等の意味及び範囲内に属する全ての変更が含まれると理解されるべきである。 As described above, the above embodiments are examples in all respects and should not be considered to be restrictive, and the technical scope of the present invention is not the description of the above embodiments, but the claims. It is to be understood that all changes that come within the scope of the claims, are equivalent in meaning to the claims, and fall within the scope of the claims.
本発明は、あらゆる分野(家電分野、自動車分野、産業機械分野など)で用いられる表示装置に利用することが可能である。 The present invention can be used for display devices used in various fields (such as the home appliance field, the automobile field, and the industrial machine field).
1 メモリ
2 A/D変換器
3 温度情報監視回路
4 選択回路
5A 一時レジスタ
5B レジスタ
6_1〜6_N 第1〜第NのD/A変換器
7_1〜7_N 第1〜第Nの出力アンプ
8 スイッチ
9 半導体パッケージ
10 ガンマ補正電圧発生回路
11 液晶表示パネル
12 ゲートドライバ
13 ソースドライバ
14 タイミングコントローラ
C1 第1の半導体チップ
C2 第2の半導体チップ
P1 Cu系ピン端子
R1 絶縁性樹脂
TP1 絶縁性両面テープ
W1、W2 Auワイヤ
X 車両
X1 車載機器
X11 液晶パネルDESCRIPTION OF
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