








本発明の実施形態は、画像読み取り装置の駆動方法に関する。 Embodiments described herein relate generally to a method for driving an image reading apparatus.
ユーザインタフェースの形としてタッチパネル機能を具備した表示装置を搭載した携帯電話や携帯情報端末、パーソナルコンピュータなどの電子機器が開発されている。このようなタッチパネル機能を具備した電子機器では、液晶表示装置や有機EL表示装置などの表示装置に、別途タッチパネル基板を貼り合わせることでタッチパネル機能を付加することが検討されている。 Electronic devices such as mobile phones, personal digital assistants, and personal computers equipped with a display device having a touch panel function have been developed as a form of user interface. In an electronic device having such a touch panel function, it has been studied to add a touch panel function by separately attaching a touch panel substrate to a display device such as a liquid crystal display device or an organic EL display device.
また、近年、CVD(Chemical Vapor Deposition)法等によりガラス基板等の透明な絶縁基板上にさまざまな材料で薄膜を形成し、切削や研削等の作業を繰り返し行うことにより、走査線や信号線からなる表示素子や、光センサ素子等を形成して、画像読み取り装置を製造する技術が研究されている。 In recent years, thin films are formed of various materials on a transparent insulating substrate such as a glass substrate by CVD (Chemical Vapor Deposition) method, etc., and by repeating operations such as cutting and grinding, scanning lines and signal lines can be used. A technique for manufacturing an image reading device by forming a display element, an optical sensor element, or the like is being studied.
また、画像読み取り装置の読み取り方式として、光センサ素子等に替えて導電性の電極を配置し、この電極と指等との間の容量変化によりパネル表面の指やペン等の情報を検知するいわゆる静電容量方式により接触位置を検出する技術が研究されている。 In addition, as a reading method of the image reading apparatus, a so-called conductive sensor electrode is arranged instead of the optical sensor element and so on, and information such as a finger or a pen on the panel surface is detected by a change in capacitance between the electrode and the finger. A technique for detecting a contact position by a capacitance method has been studied.
画像読み取り装置としては、検知電極、プリチャージ制御スイッチ、アンプ及び読み出しスイッチを備えている。上記画像読み取り装置の駆動方法としては、まず、プリチャージ制御スイッチを導通状態に切替える。そして、プリチャージ電圧を検知電極に出力させた後、プリチャージ制御スイッチを非導通状態に切替える。 The image reading apparatus includes a detection electrode, a precharge control switch, an amplifier, and a readout switch. As a driving method of the image reading apparatus, first, the precharge control switch is switched to a conductive state. Then, after outputting the precharge voltage to the detection electrode, the precharge control switch is switched to the non-conductive state.
続いて、アンプへの基準電圧の印加を開始し、調整された基準電圧をアンプから読み出しスイッチに出力させる。基準電圧がアンプに印加されている期間内に、読み出しスイッチを導通状態に切替え、読み出しスイッチは、調整された基準電圧を出力する。これにより、画像を読み取ることができる。次いで、読み出しスイッチを非導通状態に切替えた後、アンプへの基準電圧の印加を終了する。 Subsequently, application of the reference voltage to the amplifier is started, and the adjusted reference voltage is output from the amplifier to the readout switch. The readout switch is switched to a conductive state during a period in which the reference voltage is applied to the amplifier, and the readout switch outputs the adjusted reference voltage. Thereby, an image can be read. Next, after switching the readout switch to the non-conduction state, the application of the reference voltage to the amplifier is terminated.
しかしながら、上記画像読み取り装置の駆動方法では、画像の読み取りに要する時間が長くなってしまう。このため、画像読み取り性能を損なうこと無しに、画像の読み取りに要する時間を短縮することができる技術が求められている。
この発明は以上の点に鑑みなされたもので、その目的は、画像読み取り性能を損なうこと無しに、画像の読み取りに要する時間を短縮することができる画像読み取り装置の駆動方法を提供することにある。However, in the driving method of the image reading apparatus, the time required for reading an image becomes long. For this reason, there is a need for a technique that can reduce the time required to read an image without impairing the image reading performance.
The present invention has been made in view of the above points, and an object of the present invention is to provide a driving method of an image reading apparatus capable of reducing the time required for reading an image without impairing the image reading performance. .
一実施形態に係る画像読み取り装置の駆動方法は、
入力手段による入力動作に応じて検知容量が変化する検知電極と、前記検知電極に接続され、プリチャージ電圧を前記検知電極に出力する導通状態又は非導通状態に切替えられるプリチャージ制御スイッチと、前記検知電極に接続され、前記検知電極における前記プリチャージ電圧の減衰量に応じて与えられる基準電圧を調整して出力するアンプと、前記アンプに接続され、前記調整された基準電圧を出力する導通状態又は非導通状態に切替えられる読み出しスイッチと、を備えた画像読み取り装置の駆動方法において、
前記プリチャージ制御スイッチを前記導通状態に切替え、前記プリチャージ電圧を前記検知電極に出力させ、
前記プリチャージ制御スイッチを前記非導通状態に切替えた後、前記基準電圧を前記アンプに与え、調整された前記基準電圧が前記アンプから前記読み出しスイッチに出力され、
前記基準電圧を前記アンプに与える前に、前記読み出しスイッチを前記導通状態に切替えるものである。An image reading apparatus driving method according to an embodiment includes:
A sensing electrode whose sensing capacitance changes in response to an input operation by the input means, a precharge control switch connected to the sensing electrode and switched to a conducting state or a non-conducting state for outputting a precharge voltage to the sensing electrode; An amplifier connected to the sensing electrode and adjusting and outputting a reference voltage given according to the amount of attenuation of the precharge voltage at the sensing electrode, and a conductive state connected to the amplifier and outputting the adjusted reference voltage Alternatively, in a method for driving an image reading apparatus including a read switch that is switched to a non-conductive state,
Switching the precharge control switch to the conductive state, outputting the precharge voltage to the detection electrode;
After switching the precharge control switch to the non-conduction state, the reference voltage is applied to the amplifier, and the adjusted reference voltage is output from the amplifier to the readout switch,
Before applying the reference voltage to the amplifier, the readout switch is switched to the conductive state.
以下、図面を参照しながら一実施形態に係る画像読み取り装置の駆動方法について詳細に説明する。この実施形態において、画像読み取り装置が電子機器に設けられた場合を例に説明する。始めに、画像読み取り装置を含む電子機器の構成について説明する。 Hereinafter, a driving method of an image reading apparatus according to an embodiment will be described in detail with reference to the drawings. In this embodiment, a case where the image reading apparatus is provided in an electronic device will be described as an example. First, the configuration of an electronic device including an image reading device will be described.
図1に示すように、電子機器は、画像を表示する表示パネルとしての液晶表示パネルPと、液晶表示パネルPに設けられた画像読み取り装置Mと、バックライトユニットBとを備えている。 As shown in FIG. 1, the electronic device includes a liquid crystal display panel P as a display panel for displaying an image, an image reading device M provided on the liquid crystal display panel P, and a backlight unit B.
図1、図2及び図3に示すように、液晶表示パネルPは、アレイ基板ASと、対向基板OSと、液晶層LCとを備えている。アレイ基板ASの延出部及び基板50は、FPC(flexible printed circuit)52で接続されている。液晶表示パネルPは、アレイ基板AS及び対向基板OSに重なった矩形状の表示領域(アクティブエリア)R1を有している。なお、後述する入力領域R2は表示領域R1に重なっている。 As shown in FIGS. 1, 2, and 3, the liquid crystal display panel P includes an array substrate AS, a counter substrate OS, and a liquid crystal layer LC. The extended portion of the array substrate AS and the
表示領域R1の外側において、アレイ基板AS側(後述するガラス基板1上)には、XドライバXD及びYドライバYD1、YD2が形成されている。基板50上に形成(搭載)されたIC51(センサ用LSI)は、FPC52を介してXドライバXD及びYドライバYD1、YD2に電気的に接続されている。IC51は、少なくとも画像読み取り装置の出力をデジタル信号に変換する等処理を行う。なお、XドライバXD及びYドライバYD1、YD2には、図示しない他のFPCを介して画像表示用のデータが与えられる。 Outside the display region R1, an X driver XD and Y drivers YD1 and YD2 are formed on the array substrate AS side (on a glass substrate 1 described later). The IC 51 (sensor LSI) formed (mounted) on the
アレイ基板AS及び対向基板OSは、図示しない複数本の柱状スペーサにより所定の間隙を保持して対向配置されている。アレイ基板AS及び対向基板OSは、表示領域R1の周縁部である両基板の周縁部に配置された矩形枠状のシール材31により互いに接合されている。 The array substrate AS and the counter substrate OS are arranged to face each other while holding a predetermined gap by a plurality of columnar spacers (not shown). The array substrate AS and the counter substrate OS are joined to each other by a rectangular frame-
液晶層LCは、アレイ基板AS及び対向基板OS間に挟持され、シール材31で囲まれている。シール材31の一部に形成された液晶注入口32は、封止材33により封止されている。 The liquid crystal layer LC is sandwiched between the array substrate AS and the counter substrate OS, and is surrounded by the sealing
この実施形態において、液晶表示パネルPは、例えば、アレイ基板AS側に表示面を有している。また、表示面は入力面としても機能している。このため、液晶表示パネルPは、フロントアレイ構造と呼ばれる構造を採っており、アレイ基板ASは対向基板OSよりユーザ側に配置されている。 In this embodiment, the liquid crystal display panel P has, for example, a display surface on the array substrate AS side. The display surface also functions as an input surface. For this reason, the liquid crystal display panel P has a structure called a front array structure, and the array substrate AS is arranged on the user side with respect to the counter substrate OS.
バックライトユニットBは、対向基板OSに対してアレイ基板ASの反対側に配置されている。バックライトユニットBは、対向基板OSに対向配置された導光板と、導光板の一側縁に対向配置された光源及び反射板とを備えている。バックライトユニットBは、対向基板OSに向けて光を放出する。 The backlight unit B is disposed on the opposite side of the array substrate AS with respect to the counter substrate OS. The backlight unit B includes a light guide plate disposed to face the counter substrate OS, and a light source and a reflector plate disposed to face one side edge of the light guide plate. The backlight unit B emits light toward the counter substrate OS.
液晶表示パネルPは、入射されるバックライトを透過させるかどうかを制御する。液晶表示パネルPは、対向基板OSの外面側に光を透過させることにより、表示領域R1に画像を表示する。 The liquid crystal display panel P controls whether or not the incident backlight is transmitted. The liquid crystal display panel P displays an image in the display region R1 by transmitting light to the outer surface side of the counter substrate OS.
図2及び図3に示すように、アレイ基板ASは、互いに直交する行方向X及び列方向Yに沿ってマトリクス状に設けられた複数の画素PXを有している。複数の画素PXは、表示領域R1に重なっている。画素PXは、行方向X及び列方向Yに並べられている。 As shown in FIGS. 2 and 3, the array substrate AS has a plurality of pixels PX provided in a matrix along the row direction X and the column direction Y orthogonal to each other. The plurality of pixels PX overlap the display region R1. The pixels PX are arranged in the row direction X and the column direction Y.
画素PXは、複数色の何れかを表示し、この実施形態において、赤色、緑色及び青色の何れかを表示する。この実施形態において、赤色の画素PX、緑色の画素PX及び青色の画素PXは、行方向Xに繰返し並べられている。赤色の画素PXは後述する赤色の着色層に、緑色の画素PXは後述する緑色の着色層に、青色の画素PXは後述する青色の着色層に、それぞれ重ねられている。 The pixel PX displays one of a plurality of colors, and in this embodiment, displays any one of red, green, and blue. In this embodiment, the red pixel PX, the green pixel PX, and the blue pixel PX are repeatedly arranged in the row direction X. The red pixel PX is overlaid on a red colored layer described later, the green pixel PX is overlaid on a green colored layer described below, and the blue pixel PX is overlaid on a blue colored layer described below.
アレイ基板ASは、複数(n本)の信号線sと、複数(m本)の走査線gと、複数(m本)の補助容量線cとを有している。信号線sは、列方向Yに延在し、行方向Xに間隔を置いて並んでいる。信号線sは、XドライバXDに接続されている。水平走査期間中や垂直走査期間中、複数の信号線sには、XドライバXDを介して映像信号が与えられる。 The array substrate AS has a plurality (n) of signal lines s, a plurality (m) of scanning lines g, and a plurality (m) of auxiliary capacitance lines c. The signal lines s extend in the column direction Y and are arranged at intervals in the row direction X. The signal line s is connected to the X driver XD. During the horizontal scanning period and the vertical scanning period, video signals are supplied to the plurality of signal lines s via the X driver XD.
走査線gは、行方向Xに延在し、列方向Yに間隔を置いて並んでいる。補助容量線cは、走査線gに間隔を置いて並べられている。補助容量線cは、走査線gと同様、行方向Xに延在し、列方向Yに間隔を置いて並んでいる。走査線g及び補助容量線cは、YドライバYD1及びYドライバYD2の少なくとも一方に接続されている。 The scanning lines g extend in the row direction X and are arranged at intervals in the column direction Y. The auxiliary capacitance line c is arranged with an interval from the scanning line g. As with the scanning line g, the storage capacitor line c extends in the row direction X and is arranged at intervals in the column direction Y. The scanning line g and the auxiliary capacitance line c are connected to at least one of the Y driver YD1 and the Y driver YD2.
複数の画素PXは、複数の信号線s並びに複数の走査線g及び複数の補助容量線cの交差部近傍に設けられている。画素PXは、信号線s、走査線g及び補助容量線cに接続されている。画素PXは、スイッチング素子GSWと、画素電極EPと、補助容量Csとを有している。 The plurality of pixels PX are provided in the vicinity of intersections of the plurality of signal lines s, the plurality of scanning lines g, and the plurality of auxiliary capacitance lines c. The pixel PX is connected to the signal line s, the scanning line g, and the auxiliary capacitance line c. The pixel PX includes a switching element GSW, a pixel electrode EP, and an auxiliary capacitor Cs.
スイッチング素子GSWは、走査線g及び信号線sに電気的に接続され、TFT(薄膜トランジスタ)で形成され、ここでは、NMOS型のTFTで形成されている。画素電極EPは、スイッチング素子GSWに電気的に接続されている。補助容量Csは、画素電極EPに電気的に接続されている。補助容量Csは、補助容量線c及び図示しない補助容量電極を有し、容量を形成する。 The switching element GSW is electrically connected to the scanning line g and the signal line s, and is formed of a TFT (thin film transistor). Here, the switching element GSW is formed of an NMOS type TFT. The pixel electrode EP is electrically connected to the switching element GSW. The auxiliary capacitor Cs is electrically connected to the pixel electrode EP. The auxiliary capacitance Cs includes an auxiliary capacitance line c and an auxiliary capacitance electrode (not shown), and forms a capacitance.
図2乃至図5に示すように、画像読み取り装置Mは、複数のセンサ回路SNと、複数の容量カップリング線cup1、cup2と、複数のプリチャージ線preと、複数のプリチャージ制御線pregと、複数の読み出し線outと、複数の読み出し制御線outgと、を有している。 As shown in FIGS. 2 to 5, the image reading device M includes a plurality of sensor circuits SN, a plurality of capacitive coupling lines cup1, cup2, a plurality of precharge lines pre, and a plurality of precharge control lines preg. And a plurality of readout lines out and a plurality of readout control lines outg.
センサ回路SNは、それぞれ隣合う複数の画素PXが設けられた領域(画素群)内に1つの割合で配置されている。この実施形態において、センサ回路SNは、24画素PX(2行×12列)毎に1つ配置されている。 One sensor circuit SN is arranged in a region (pixel group) where a plurality of adjacent pixels PX are provided. In this embodiment, one sensor circuit SN is arranged for every 24 pixels PX (2 rows × 12 columns).
プリチャージ制御線pregは、走査線g及び補助容量線cに間隔を置いて並べられている。プリチャージ制御線pregは、行方向Xに延在し、列方向Yに間隔を置いて並んでいる。プリチャージ制御線pregは、YドライバYD1及びYドライバYD2の少なくとも一方に接続されている。プリチャージ制御線pregには、YドライバYD1、YD2からプリチャージ制御信号PGが与えられる。 The precharge control line preg is arranged with an interval between the scanning line g and the auxiliary capacitance line c. The precharge control lines preg extend in the row direction X and are arranged at intervals in the column direction Y. The precharge control line preg is connected to at least one of the Y driver YD1 and the Y driver YD2. A precharge control signal PG is applied to the precharge control line preg from the Y drivers YD1 and YD2.
読み出し制御線outgは、走査線g、補助容量線c及びプリチャージ制御線pregに間隔を置いて並べられている。読み出し制御線outgは、行方向Xに延在し、列方向Yに間隔を置いて並んでいる。読み出し制御線outgは、YドライバYD1及びYドライバYD2の少なくとも一方に接続されている。読み出し制御線outgには、YドライバYD1、YD2から読み出し制御信号RGが与えられる。 The read control line outg is arranged at intervals with respect to the scanning line g, the auxiliary capacitance line c, and the precharge control line preg. The read control lines outg extend in the row direction X and are arranged at intervals in the column direction Y. The read control line outg is connected to at least one of the Y driver YD1 and the Y driver YD2. A read control signal RG is applied to the read control line outg from the Y drivers YD1 and YD2.
プリチャージ線pre、読み出し線out及び容量カップリング線cup1、cup2は、信号線sと共用している。プリチャージ線pre、容量カップリング線cup1及び読み出し線outは、1つのセンサ回路SN毎に1本ずつ配置されている。容量カップリング線cup2は、1つのセンサ回路SN毎に9本ずつ配置されている。 The precharge line pre, the readout line out, and the capacitive coupling lines cup1 and cup2 are shared with the signal line s. One precharge line pre, capacitive coupling line cup1 and readout line out are arranged for each sensor circuit SN. Nine capacitive coupling lines cup2 are arranged for each sensor circuit SN.
容量カップリング線cup2は、後述する検知電極DEとの間にカップリング容量を形成する。なお、この実施形態において、容量カップリング線cup1は、検知電極DEに電気的に接続されたゲート電極7との間にカップリング容量を形成する。 The capacitive coupling line cup2 forms a coupling capacitance with a detection electrode DE described later. In this embodiment, the capacitive coupling line cup1 forms a coupling capacitance with the
センサ回路SNは、検知電極DEと、プリチャージ制御スイッチPSWと、アンプとしての増幅スイッチAMPと、読み出しスイッチOSWとを有している。
検知電極DEは、行方向Xに延在し、入力手段30による入力動作に応じて検知容量Cfが変化するものである。The sensor circuit SN includes a detection electrode DE, a precharge control switch PSW, an amplification switch AMP as an amplifier, and a readout switch OSW.
The detection electrode DE extends in the row direction X, and the detection capacitance Cf changes according to the input operation by the input means 30.
プリチャージ制御スイッチPSWは、TFTで形成され、ここでは、PMOS型のTFTで形成されている。プリチャージ制御スイッチPSWは、プリチャージ線pre及び検知電極DE間に接続され、プリチャージ線preを介して入力されるプリチャージ電圧PRを検知電極DEに与えるかどうか切替える。 The precharge control switch PSW is formed of a TFT, and here is formed of a PMOS type TFT. The precharge control switch PSW is connected between the precharge line pre and the detection electrode DE, and switches whether the precharge voltage PR input through the precharge line pre is applied to the detection electrode DE.
詳しくは、プリチャージ制御スイッチPSWにおいて、ゲート電極6はプリチャージ制御線pregに接続され、半導体層3のソース領域はプリチャージ線preに接続され、半導体層3のドレイン領域は接続電極13等を介して検知電極DEに接続されている。プリチャージ制御スイッチPSWは、プリチャージ制御信号PGに応じてプリチャージ電圧PRを検知電極DEに出力する導通状態又は非導通状態に切替えられる。 Specifically, in the precharge control switch PSW, the
増幅スイッチAMPは、TFTで形成され、ここでは、PMOS型のTFTで形成されている。増幅スイッチAMPのゲート電極7において、一端は接続電極16を介して検知電極DEに接続され、他端は接続電極13を介して半導体層3のドレイン領域に接続されている。増幅スイッチAMPのソース電極14は容量カップリング線cup1に接続されている。増幅スイッチAMPは、検知電極DEに与えられたプリチャージ電圧PRの減衰量が少ない場合に導通状態(オン)となり、検知電極DEに与えられたプリチャージ電圧PRの減衰量が多い場合に非導通状態(オフ)となる。 The amplification switch AMP is formed of a TFT, and here is formed of a PMOS type TFT. In the
増幅スイッチAMPは、容量カップリング線cup1を介して与えられる基準電圧Vst(容量カップリングパルス信号CPL)を、検知電極DEにおけるプリチャージ電圧PRの減衰量に応じた電圧値に調整してドレイン電極15に出力する。このため、増幅スイッチAMPは、検知電極DEに与えられたプリチャージ電圧PRの減衰量(検知電極DEに生じた電位差)を増幅して出力すると言い換えることができる。
また、容量カップリング線cup1に与えられる容量カップリングパルス信号CPLの電圧変動の際に、カップリング容量Cpを介し検知電極DEの電位は変動する。The amplification switch AMP adjusts the reference voltage Vst (capacitance coupling pulse signal CPL) given via the capacitive coupling line cup1 to a voltage value corresponding to the attenuation amount of the precharge voltage PR at the detection electrode DE, and thereby the
Further, when the voltage of the capacitive coupling pulse signal CPL given to the capacitive coupling line cup1 changes, the potential of the detection electrode DE changes via the coupling capacitor Cp.
読み出しスイッチOSWは、TFTで形成され、ここでは、PMOS型のTFTで形成されている。読み出しスイッチOSWは、増幅スイッチAMPに接続されている。読み出しスイッチOSWは、増幅スイッチAMPのドレイン電極15及び読み出し線out間に接続されている。読み出しスイッチOSWは、電圧値が調整された基準電圧Vstを出力する導通状態又は非導通状態に切替えるものである。 The read switch OSW is formed of a TFT, and here is formed of a PMOS type TFT. The read switch OSW is connected to the amplification switch AMP. The read switch OSW is connected between the
詳しくは、読み出しスイッチOSWにおいて、ゲート電極8は読み出し制御線outgに接続され、半導体層5のソース領域は増幅スイッチAMPのドレイン電極15に接続され、半導体層5のドレイン領域は読み出し線outに接続されている。 Specifically, in the read switch OSW, the
読み出しスイッチOSWが導通状態に切替えられることにより、読み出し線outの電位は、入力手段30及び検知電極DE間の検知容量Cfの有無や強弱に基づいて変動することになる。すなわち、読み出し線outの電位の変動を取得することにより、入力手段30にて接触される個所の位置情報を抽出することができる。 When the readout switch OSW is switched to the conductive state, the potential of the readout line out varies based on the presence / absence and strength of the detection capacitor Cf between the
なお、画像読み取り装置Mを用いた入力手段30にて接触される個所の位置情報の抽出は、映像信号の書込みをしていない水平ブランキング期間中や垂直ブランキング期間中等に行われる。 It should be noted that the extraction of the position information of the part touched by the input means 30 using the image reading device M is performed during a horizontal blanking period or a vertical blanking period in which no video signal is written.
図4に示すように、容量カップリング線cup2は、行方向Xに突き出た複数のシールド電極SLDを有している。検知電極DEは、複数のシールド電極SLDで囲まれている。複数の画素PXは、行方向Xに沿って一様に並べられ、列方向Yに沿って1行毎に反転して並べられている。 As shown in FIG. 4, the capacitive coupling line cup2 has a plurality of shield electrodes SLD protruding in the row direction X. The detection electrode DE is surrounded by a plurality of shield electrodes SLD. The plurality of pixels PX are uniformly arranged along the row direction X, and are inverted and arranged for each row along the column direction Y.
次に、上記画像読み取り装置Mが設けられた液晶表示パネルPの積層構造について説明する。
図2乃至図5に示すように、アレイ基板ASは、透明な絶縁基板として、ガラス基板1を有している。アレイ基板ASは、ガラス基板1上に成膜されたアンダーコート絶縁膜と、アンダーコート絶縁膜上に形成された半導体層3、4、5、スイッチング素子GSWの半導体層及び補助容量電極と、各半導体層及び補助容量電極を覆ったゲート絶縁膜を含んでいる。Next, a laminated structure of the liquid crystal display panel P provided with the image reading device M will be described.
As shown in FIGS. 2 to 5, the array substrate AS has a glass substrate 1 as a transparent insulating substrate. The array substrate AS includes an undercoat insulating film formed on the glass substrate 1,
ゲート絶縁膜上には、プリチャージ制御線preg、読み出し制御線outg、ゲート電極6、7、8、検知電極DE、走査線g、補助容量線c等が形成されている。プリチャージ制御線preg等が形成されたゲート絶縁膜上には、層間絶縁膜が形成され、さらに層間絶縁膜上には、信号線s(プリチャージ線pre、読み出し線out、容量カップリング線cup1、cup2)、接続電極16、ソース電極14、ドレイン電極15、シールド電極SLD等が形成されている。 On the gate insulating film, a precharge control line preg, a read control line outg,
信号線s等が形成された層間絶縁膜上には、パッシベーション膜や平坦化膜が順に形成され、平坦化膜上には、共通電極ET、絶縁膜、画素電極EP及び配向膜が順に形成されている。画素電極EPには複数のスリットが形成されている。このため、液晶表示パネルPは、横電界を利用するFFS(Fringe Field Switching)モードを採っている。 A passivation film and a planarizing film are sequentially formed on the interlayer insulating film on which the signal line s and the like are formed, and a common electrode ET, an insulating film, a pixel electrode EP, and an alignment film are sequentially formed on the planarizing film. ing. A plurality of slits are formed in the pixel electrode EP. For this reason, the liquid crystal display panel P adopts an FFS (Fringe Field Switching) mode using a lateral electric field.
対向基板OSは、透明な絶縁基板として、他のガラス基板を有している。他のガラス基板上には、カラーフィルタ及び配向膜が順に形成されている。カラーフィルタは、ブラックマトリクス層と、赤色、緑色、青色の複数の着色層を有している。
ガラス基板1(アレイ基板AS)及び他のガラス基板(対向基板OS)の外面には偏光板を含む光学素子が配置されている。The counter substrate OS has another glass substrate as a transparent insulating substrate. On the other glass substrate, a color filter and an alignment film are sequentially formed. The color filter has a black matrix layer and a plurality of colored layers of red, green, and blue.
Optical elements including polarizing plates are arranged on the outer surfaces of the glass substrate 1 (array substrate AS) and another glass substrate (counter substrate OS).
次に、本実施形態に係る実施例1、実施例2、実施例3及び比較例の画像読み取り装置Mの駆動方法について説明する。なお、画像読み取り装置Mの駆動は、IC51にてXドライバXD及びYドライバYD1、YD2の駆動を制御することにより行われる。 Next, a driving method of the image reading device M according to the first, second, third, and comparative examples according to the present embodiment will be described. The image reading device M is driven by controlling the driving of the X driver XD and the Y drivers YD1 and YD2 by the
(実施例1)
図3、図5及び図6に示すように、タイミングT1は、画像読み取り装置の動作開始と同時に設定されている。まず、タイミングT1において、電圧レベルがオンレベルとしてロー(L)レベルに切替えられたプリチャージ制御信号PGを、プリチャージ制御線pregを介してプリチャージ制御スイッチPSWのゲート電極に与え、プリチャージ制御スイッチPSWを導通状態に切替える。そして、プリチャージ線preに与えられるプリチャージ電圧PRを、プリチャージ制御スイッチPSWを介して検知電極DEに出力させる。Example 1
As shown in FIGS. 3, 5, and 6, the timing T1 is set simultaneously with the start of the operation of the image reading apparatus. First, at the timing T1, the precharge control signal PG whose voltage level is switched to the low (L) level as the on level is applied to the gate electrode of the precharge control switch PSW via the precharge control line preg, and the precharge control is performed. Switch PSW is turned on. Then, the precharge voltage PR applied to the precharge line pre is output to the detection electrode DE via the precharge control switch PSW.
また、タイミングT1において、電圧レベルがリセットレベルとしてLレベルに切替えられた初期化信号PRGを読み出し線outに与える。これにより、読み出し線outの電圧を初期化することができる。 Further, at the timing T1, the initialization signal PRG whose voltage level is switched to the L level as the reset level is given to the readout line out. Thereby, the voltage of the readout line out can be initialized.
上記のように、一定の期間に、プリチャージ電圧PRを検知電極DEに出力し、読み出し線outの電圧を初期化した後、タイミングT2において、プリチャージ制御信号PGの電圧レベルがオフレベルとしてハイ(H)レベルに切替えられ、プリチャージ制御スイッチPSWが非導通状態に切替えられ、初期化信号PRGの電圧レベルがHレベルに切替えられる。なお、タイミングT2以降、プリチャージ制御信号PGの電圧レベル及び初期化信号PRGの電圧レベルは、Hレベルに保持される。 As described above, after the precharge voltage PR is output to the detection electrode DE and the voltage of the readout line out is initialized during a certain period, the voltage level of the precharge control signal PG is set to the off level and high at timing T2. (H) level is switched, precharge control switch PSW is switched to the non-conductive state, and voltage level of initialization signal PRG is switched to H level. Note that after the timing T2, the voltage level of the precharge control signal PG and the voltage level of the initialization signal PRG are held at the H level.
次いで、タイミングT2から一定の期間を経たタイミングT3において、電圧レベルがオンレベルとしてLレベルに切替えられた読み出し制御信号RGを、読み出し制御線outgを介して読み出しスイッチOSWのゲート電極に与え、読み出しスイッチOSWを導通状態に切替える。ここで、基準電圧Vstを増幅スイッチAMPに与える前に、読み出しスイッチOSWを導通状態に切替えている。 Next, at timing T3 after a certain period from timing T2, the read control signal RG having the voltage level turned on and switched to L level is applied to the gate electrode of the read switch OSW via the read control line outg, and the read switch The OSW is switched to the conductive state. Here, before the reference voltage Vst is applied to the amplification switch AMP, the read switch OSW is switched to the conductive state.
その後、タイミングT3から一定の期間を経たタイミングT4において、電圧レベルがHレベルに切替えられた容量カップリングパルス信号、すなわち基準電圧Vstを容量カップリング線cup1を介して増幅スイッチAMPに与える。 Thereafter, at timing T4 after a certain period from timing T3, the capacitive coupling pulse signal whose voltage level has been switched to H level, that is, the reference voltage Vst is applied to the amplification switch AMP via the capacitive coupling line cup1.
入力(入力手段30による接触)が無い場合と、有る場合との間で、検知電極DEの電位に差を生じさせることができる。
図6の増幅スイッチAMPのゲート電極−ソース電極間の電位差を示す波形は、検知電極DEの電位の違いが、増幅スイッチAMPの動作点の差に反映されることを示している。入力が無い場合と、有る場合との間で、増幅スイッチAMPのゲート電極−ソース電極間の電位差に違いを生じさせることができる。
図6の出力信号POLを示す波形は、この出力信号の電位変動を示したものである。入力が無い場合と、有る場合との間で、出力信号POLの電位に差を生じさせることができる。
そして、調整された基準電圧Vstは、増幅スイッチAMPから読み出しスイッチOSWに出力され、さらに読み出し線outに出力される。A difference can be caused in the potential of the detection electrode DE between when there is no input (contact by the input means 30) and when there is input.
The waveform indicating the potential difference between the gate electrode and the source electrode of the amplification switch AMP in FIG. 6 indicates that the difference in potential of the detection electrode DE is reflected in the difference in operating point of the amplification switch AMP. It is possible to make a difference in the potential difference between the gate electrode and the source electrode of the amplification switch AMP between the case where there is no input and the case where there is no input.
The waveform showing the output signal POL in FIG. 6 shows the potential fluctuation of this output signal. A difference can be caused in the potential of the output signal POL between when there is no input and when there is no input.
Then, the adjusted reference voltage Vst is output from the amplification switch AMP to the read switch OSW and further output to the read line out.
その後、タイミングT5において、読み出し制御信号RGの電圧レベルをオフレベルとしてHレベルに切替え、読み出しスイッチOSWを非導通状態に切替える。これにより、読み出し線outの電位を保持することができる。このため、保持された読み出し線outの電位(調整された基準電圧Vst)を取得することにより、入力手段30にて接触される個所の位置情報を抽出することができる。 Thereafter, at timing T5, the voltage level of the read control signal RG is switched to the H level by turning it off, and the read switch OSW is switched to the non-conductive state. Accordingly, the potential of the readout line out can be held. For this reason, by acquiring the held potential of the readout line out (adjusted reference voltage Vst), it is possible to extract the position information of the place touched by the input means 30.
続いて、タイミングT5から一定の期間を経たタイミングT6において、容量カップリングパルス信号の電圧レベルがLレベルに切替えられる。タイミングT6は、画像読み取り装置の動作終了と同時に設定されている。 Subsequently, at a timing T6 after a certain period from the timing T5, the voltage level of the capacitive coupling pulse signal is switched to the L level. Timing T6 is set simultaneously with the end of the operation of the image reading apparatus.
(実施例2)
図3、図5及び図7に示すように、タイミングT1は、画像読み取り装置の動作開始と同時に設定されている。まず、タイミングT1において、Lレベルに切替えられたプリチャージ制御信号PGを、プリチャージ制御線pregを介してプリチャージ制御スイッチPSWのゲート電極に与え、プリチャージ制御スイッチPSWを導通状態に切替える。そして、プリチャージ線preに与えられるプリチャージ電圧PRを、プリチャージ制御スイッチPSWを介して検知電極DEに出力させる。
また、タイミングT1において、Lレベルに切替えられた初期化信号PRGを読み出し線outに与え、読み出し線outの電圧を初期化する。(Example 2)
As shown in FIGS. 3, 5, and 7, the timing T1 is set simultaneously with the start of the operation of the image reading apparatus. First, at timing T1, the precharge control signal PG switched to the L level is applied to the gate electrode of the precharge control switch PSW via the precharge control line preg, and the precharge control switch PSW is switched to the conductive state. Then, the precharge voltage PR applied to the precharge line pre is output to the detection electrode DE via the precharge control switch PSW.
Further, at the timing T1, the initialization signal PRG switched to the L level is applied to the readout line out, and the voltage of the readout line out is initialized.
上記のように、プリチャージ電圧PRを検知電極DEに出力し、読み出し線outの電圧を初期化する期間中のタイミングT2において、Lレベルに切替えられた読み出し制御信号RGを、読み出し制御線outgを介して読み出しスイッチOSWのゲート電極に与え、読み出しスイッチOSWを導通状態に切替える。ここで、基準電圧Vstを増幅スイッチAMPに与える前に、読み出しスイッチOSWを導通状態に切替えている。 As described above, the read control signal RG switched to the L level at the timing T2 during the period of outputting the precharge voltage PR to the detection electrode DE and initializing the voltage of the read line out is applied to the read control line outg. To the gate electrode of the read switch OSW, and the read switch OSW is switched to a conductive state. Here, before the reference voltage Vst is applied to the amplification switch AMP, the read switch OSW is switched to the conductive state.
次いで、読み出しスイッチOSWを導通状態に切替えた後のタイミングT3において、プリチャージ制御信号PGの電圧レベルがHレベルに切替えられ、プリチャージ制御スイッチPSWが非導通状態に切替えられ、初期化信号PRGの電圧レベルがHレベルに切替えられる。なお、タイミングT3以降、プリチャージ制御信号PGの電圧レベル及び初期化信号PRGの電圧レベルは、Hレベルに保持される。 Next, at timing T3 after the read switch OSW is switched to the conductive state, the voltage level of the precharge control signal PG is switched to the H level, the precharge control switch PSW is switched to the nonconductive state, and the initialization signal PRG The voltage level is switched to the H level. Note that, after timing T3, the voltage level of the precharge control signal PG and the voltage level of the initialization signal PRG are held at the H level.
その後、タイミングT3から一定の期間を経たタイミングT4において、電圧レベルがHレベルに切替えられた容量カップリングパルス信号、すなわち基準電圧Vstを容量カップリング線cup1を介して増幅スイッチAMPに与える。 Thereafter, at timing T4 after a certain period from timing T3, the capacitive coupling pulse signal whose voltage level has been switched to H level, that is, the reference voltage Vst is applied to the amplification switch AMP via the capacitive coupling line cup1.
そして、調整された基準電圧Vstは、増幅スイッチAMPから読み出しスイッチOSWに出力され、さらに読み出し線outに出力される。 Then, the adjusted reference voltage Vst is output from the amplification switch AMP to the read switch OSW and further output to the read line out.
その後、タイミングT5において、読み出し制御信号RGの電圧レベルをHレベルに切替え、読み出しスイッチOSWを非導通状態に切替える。これにより、読み出し線outの電位を保持することができる。このため、保持された読み出し線outの電位(調整された基準電圧Vst)を取得することにより、入力手段30にて接触される個所の位置情報を抽出することができる。 Thereafter, at timing T5, the voltage level of the read control signal RG is switched to the H level, and the read switch OSW is switched to the non-conductive state. Accordingly, the potential of the readout line out can be held. For this reason, by acquiring the held potential of the readout line out (adjusted reference voltage Vst), it is possible to extract the position information of the place touched by the input means 30.
続いて、タイミングT5から一定の期間を経たタイミングT6において、容量カップリングパルス信号の電圧レベルがLレベルに切替えられる。タイミングT6は、画像読み取り装置の動作終了と同時に設定されている。 Subsequently, at a timing T6 after a certain period from the timing T5, the voltage level of the capacitive coupling pulse signal is switched to the L level. Timing T6 is set simultaneously with the end of the operation of the image reading apparatus.
(実施例3)
図3、図5及び図8に示すように、タイミングT1は、画像読み取り装置の動作開始と同時に設定されている。まず、タイミングT1において、Lレベルに切替えられたプリチャージ制御信号PGを、プリチャージ制御線pregを介してプリチャージ制御スイッチPSWのゲート電極に与え、プリチャージ制御スイッチPSWを導通状態に切替える。そして、プリチャージ線preに与えられるプリチャージ電圧PRを、プリチャージ制御スイッチPSWを介して検知電極DEに出力させる。(Example 3)
As shown in FIGS. 3, 5, and 8, the timing T1 is set simultaneously with the start of the operation of the image reading apparatus. First, at timing T1, the precharge control signal PG switched to the L level is applied to the gate electrode of the precharge control switch PSW via the precharge control line preg, and the precharge control switch PSW is switched to the conductive state. Then, the precharge voltage PR applied to the precharge line pre is output to the detection electrode DE via the precharge control switch PSW.
また、タイミングT1において、Lレベルに切替えられた初期化信号PRGを読み出し線outに与え、読み出し線outの電圧を初期化する。
さらに、タイミングT1において、Lレベルに切替えられた読み出し制御信号RGを、読み出し制御線outgを介して読み出しスイッチOSWのゲート電極に与え、読み出しスイッチOSWを導通状態に切替える。ここで、基準電圧Vstを増幅スイッチAMPに与える前に、読み出しスイッチOSWを導通状態に切替えている。Further, at the timing T1, the initialization signal PRG switched to the L level is applied to the readout line out, and the voltage of the readout line out is initialized.
Further, at timing T1, the read control signal RG switched to the L level is applied to the gate electrode of the read switch OSW via the read control line outg, and the read switch OSW is switched to the conductive state. Here, before the reference voltage Vst is applied to the amplification switch AMP, the read switch OSW is switched to the conductive state.
上記のように、プリチャージ電圧PRを検知電極DEに出力し、読み出し線outの電圧を初期化し、読み出しスイッチOSWを導通状態に切替えた後のタイミングT2において、プリチャージ制御信号PGの電圧レベルがHレベルに切替えられ、プリチャージ制御スイッチPSWが非導通状態に切替えられ、初期化信号PRGの電圧レベルがHレベルに切替えられる。なお、タイミングT2以降、プリチャージ制御信号PGの電圧レベル及び初期化信号PRGの電圧レベルは、Hレベルに保持される。 As described above, the voltage level of the precharge control signal PG is output at the timing T2 after the precharge voltage PR is output to the detection electrode DE, the voltage of the readout line out is initialized, and the readout switch OSW is switched to the conductive state. The precharge control switch PSW is switched to the non-conductive state, and the voltage level of the initialization signal PRG is switched to the H level. Note that after the timing T2, the voltage level of the precharge control signal PG and the voltage level of the initialization signal PRG are held at the H level.
その後、タイミングT2から一定の期間を経たタイミングT3において、電圧レベルがHレベルに切替えられた容量カップリングパルス信号、すなわち基準電圧Vstを容量カップリング線cup1を介して増幅スイッチAMPに与える。 Thereafter, at timing T3 after a certain period from timing T2, a capacitive coupling pulse signal whose voltage level has been switched to H level, that is, a reference voltage Vst is applied to the amplification switch AMP via the capacitive coupling line cup1.
そして、調整された基準電圧Vstは、増幅スイッチAMPから読み出しスイッチOSWに出力され、さらに読み出し線outに出力される。 Then, the adjusted reference voltage Vst is output from the amplification switch AMP to the read switch OSW and further output to the read line out.
その後、タイミングT4において、読み出し制御信号RGの電圧レベルをHレベルに切替え、読み出しスイッチOSWを非導通状態に切替える。これにより、読み出し線outの電位を保持することができる。このため、保持された読み出し線outの電位(調整された基準電圧Vst)を取得することにより、入力手段30にて接触される個所の位置情報を抽出することができる。 Thereafter, at timing T4, the voltage level of the read control signal RG is switched to the H level, and the read switch OSW is switched to the non-conductive state. Accordingly, the potential of the readout line out can be held. For this reason, by acquiring the held potential of the readout line out (adjusted reference voltage Vst), it is possible to extract the position information of the place touched by the input means 30.
続いて、タイミングT4から一定の期間を経たタイミングT5において、容量カップリングパルス信号の電圧レベルがLレベルに切替えられる。タイミングT5は、画像読み取り装置の動作終了と同時に設定されている。 Subsequently, at timing T5 after a certain period from timing T4, the voltage level of the capacitive coupling pulse signal is switched to L level. Timing T5 is set simultaneously with the end of the operation of the image reading apparatus.
(比較例)
図3、図5及び図9に示すように、タイミングT1は、画像読み取り装置の動作開始と同時に設定されている。まず、タイミングT1において、Lレベルに切替えられたプリチャージ制御信号PGを、プリチャージ制御線pregを介してプリチャージ制御スイッチPSWのゲート電極に与え、プリチャージ制御スイッチPSWを導通状態に切替える。そして、プリチャージ線preに与えられるプリチャージ電圧PRを、プリチャージ制御スイッチPSWを介して検知電極DEに出力させる。
また、タイミングT1において、Lレベルに切替えられた初期化信号PRGを読み出し線outに与え、読み出し線outの電圧を初期化する。(Comparative example)
As shown in FIGS. 3, 5, and 9, the timing T1 is set simultaneously with the start of the operation of the image reading apparatus. First, at timing T1, the precharge control signal PG switched to the L level is applied to the gate electrode of the precharge control switch PSW via the precharge control line preg, and the precharge control switch PSW is switched to the conductive state. Then, the precharge voltage PR applied to the precharge line pre is output to the detection electrode DE via the precharge control switch PSW.
Further, at the timing T1, the initialization signal PRG switched to the L level is applied to the readout line out, and the voltage of the readout line out is initialized.
上記のように、プリチャージ電圧PRを検知電極DEに出力し、読み出し線outの電圧を初期化した後のタイミングT2において、プリチャージ制御信号PGの電圧レベルがHレベルに切替えられ、プリチャージ制御スイッチPSWが非導通状態に切替えられ、初期化信号PRGの電圧レベルがHレベルに切替えられる。なお、タイミングT2以降、プリチャージ制御信号PGの電圧レベル及び初期化信号PRGの電圧レベルは、Hレベルに保持される。 As described above, at the timing T2 after the precharge voltage PR is output to the detection electrode DE and the voltage of the readout line out is initialized, the voltage level of the precharge control signal PG is switched to the H level, and the precharge control is performed. Switch PSW is switched to the non-conductive state, and the voltage level of initialization signal PRG is switched to the H level. Note that after the timing T2, the voltage level of the precharge control signal PG and the voltage level of the initialization signal PRG are held at the H level.
その後、タイミングT2から一定の期間を経たタイミングT3において、電圧レベルがHレベルに切替えられた容量カップリングパルス信号、すなわち基準電圧Vstを容量カップリング線cup1を介して増幅スイッチAMPに与える。 Thereafter, at timing T3 after a certain period from timing T2, a capacitive coupling pulse signal whose voltage level has been switched to H level, that is, a reference voltage Vst is applied to the amplification switch AMP via the capacitive coupling line cup1.
次いで、基準電圧Vstが増幅スイッチAMPに与えられる期間中のタイミングT4において、Lレベルに切替えられた読み出し制御信号RGを、読み出し制御線outgを介して読み出しスイッチOSWのゲート電極に与え、読み出しスイッチOSWを導通状態に切替える。ここで、基準電圧Vstを増幅スイッチAMPに与えた後に、読み出しスイッチOSWを導通状態に切替えている。
そして、調整された基準電圧Vstは、増幅スイッチAMPから読み出しスイッチOSWに出力され、さらに読み出し線outに出力される。Next, at the timing T4 during the period in which the reference voltage Vst is applied to the amplification switch AMP, the read control signal RG switched to the L level is applied to the gate electrode of the read switch OSW via the read control line outg, and the read switch OSW. Is switched to the conductive state. Here, after the reference voltage Vst is applied to the amplification switch AMP, the read switch OSW is switched to the conductive state.
Then, the adjusted reference voltage Vst is output from the amplification switch AMP to the read switch OSW and further output to the read line out.
次いで、読み出しスイッチOSWを導通状態に切替えた後のタイミングT5において、読み出し制御信号RGの電圧レベルをHレベルに切替え、読み出しスイッチOSWを非導通状態に切替える。これにより、読み出し線outの電位を保持する。 Next, at timing T5 after the read switch OSW is switched to the conductive state, the voltage level of the read control signal RG is switched to the H level, and the read switch OSW is switched to the non-conductive state. Accordingly, the potential of the read line out is held.
続いて、タイミングT5から一定の期間を経たタイミングT6において、容量カップリングパルス信号の電圧レベルがLレベルに切替えられる。タイミングT6は、画像読み取り装置の動作終了と同時に設定されている。 Subsequently, at a timing T6 after a certain period from the timing T5, the voltage level of the capacitive coupling pulse signal is switched to the L level. Timing T6 is set simultaneously with the end of the operation of the image reading apparatus.
上記のように構成された一実施形態に係る画像読み取り装置の駆動方法によれば、比較例の画像読み取り装置の駆動方法では基準電圧Vstを増幅スイッチAMPに与えた後に、読み出しスイッチOSWを導通状態に切替えているのに対し、実施例1乃至3の画像読み取り装置の駆動方法では基準電圧Vstを増幅スイッチAMPに与える前に、読み出しスイッチOSWを導通状態に切替えている。 According to the driving method of the image reading apparatus according to the embodiment configured as described above, in the driving method of the image reading apparatus of the comparative example, after the reference voltage Vst is applied to the amplification switch AMP, the reading switch OSW is turned on. In contrast, in the driving methods of the image reading apparatuses according to the first to third embodiments, the read switch OSW is switched to the conductive state before the reference voltage Vst is applied to the amplification switch AMP.
実施例1乃至3では、比較例で言うタイミングT3からタイミングT4の間(基準電圧Vstを増幅スイッチAMPに与えてから読み出しスイッチOSWを導通状態に切替えるまでの間)の期間、すなわち、画像読み取り動作に実質的に寄与していない期間を削減することができる。このため、画像読み取り性能(高い読み取り解像度)を損なうこと無しに、画像の読み取りに要する時間を短縮することができる。 In the first to third embodiments, the period between the timing T3 and the timing T4 in the comparative example (between the time when the reference voltage Vst is supplied to the amplification switch AMP and the time when the reading switch OSW is switched to the conductive state), that is, the image reading operation. It is possible to reduce a period that does not substantially contribute to the process. For this reason, it is possible to shorten the time required to read an image without impairing the image reading performance (high reading resolution).
表示動作に与えられる期間(映像信号の書込み期間)をその分大きくとれるため、信号選択数を多くでき、その結果、外部IC(IC51)の出力数を少なくでき、画像読み取り装置の低コスト化が可能となる。 Since the period (video signal writing period) given to the display operation can be increased accordingly, the number of signal selections can be increased. As a result, the number of outputs of the external IC (IC 51) can be reduced, and the cost of the image reading apparatus can be reduced. It becomes possible.
さらに、実施例2では、プリチャージ制御スイッチPSWが導通状態に切替えられている期間内に、読み出しスイッチOSWを導通状態に切替えている。このようにタイミングを設定することによって、比較例で言うタイミングT3からタイミングT4の間の期間、すなわち、画像読み取り動作に実質的に寄与していない期間を、実施例1よりもさらに短縮することができる。この結果、画像読み取り装置のさらなる低コスト化が可能となる。 Further, in the second embodiment, the read switch OSW is switched to the conductive state within the period in which the precharge control switch PSW is switched to the conductive state. By setting the timing in this way, the period between the timing T3 and the timing T4 in the comparative example, that is, the period that does not substantially contribute to the image reading operation can be further shortened compared to the first embodiment. it can. As a result, the cost of the image reading apparatus can be further reduced.
またさらに、実施例3では、プリチャージ制御スイッチPSWを導通状態に切替えるタイミングと同時に、読み出しスイッチOSWを導通状態に切替えている。このようにタイミングを設定することによって、プリチャージ制御スイッチPSWが導通状態に切替えられている期間、すなわち実施例2で言うタイミングT1からタイミングT3の間の期間を、実施例2よりもさらに短縮することができる。この結果、画像読み取り装置のさらなる低コスト化が可能となる。
上記のことから、画像読み取り性能を損なうこと無しに、画像の読み取りに要する時間を短縮することができる画像読み取り装置の駆動方法を得ることができる。Furthermore, in the third embodiment, the read switch OSW is switched to the conductive state simultaneously with the timing at which the precharge control switch PSW is switched to the conductive state. By setting the timing in this way, the period during which the precharge control switch PSW is switched to the conductive state, that is, the period between the timing T1 and the timing T3 in the second embodiment is further shortened compared to the second embodiment. be able to. As a result, the cost of the image reading apparatus can be further reduced.
From the above, it is possible to obtain a driving method of an image reading apparatus that can reduce the time required to read an image without impairing the image reading performance.
なお、この発明は上記実施の形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化可能である。また、上記実施の形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。 Note that the present invention is not limited to the above-described embodiment as it is, and can be embodied by modifying the components without departing from the scope of the invention in the implementation stage. Various inventions can be formed by appropriately combining a plurality of constituent elements disclosed in the embodiments. For example, some components may be deleted from all the components shown in the embodiment.
例えば、このため、液晶表示パネルPは、リアアレイ構造と呼ばれる構造を採ってもよく、この場合、対向基板OSはアレイ基板ASよりユーザ側に配置される。 For example, for this reason, the liquid crystal display panel P may adopt a structure called a rear array structure. In this case, the counter substrate OS is arranged on the user side with respect to the array substrate AS.
液晶表示パネルPは、横電界を利用するFFS(Fringe Field Switching)モードを採っているが、これに限らず、各種のモードを採ることができる。この場合、液晶表示パネルPの配線構造や積層構造は異なるが、上述した効果が得られることは言うまでもない。 The liquid crystal display panel P adopts an FFS (Fringe Field Switching) mode using a horizontal electric field, but is not limited to this, and various modes can be adopted. In this case, it goes without saying that the above-described effects can be obtained although the wiring structure and the laminated structure of the liquid crystal display panel P are different.
表示パネルは、液晶表示パネルPに限定されるものではなく、画像を表示領域R1に表示するように構成されたものであれば良い。
画像読み取り装置は、上記電子機器に限らず、各種の電子機器に設けて使用することが可能である。The display panel is not limited to the liquid crystal display panel P, and may be any display panel configured to display an image in the display region R1.
The image reading apparatus is not limited to the electronic device described above, and can be provided and used in various electronic devices.
M…画像読み取り装置、SN…センサ回路、cup1,cup2…容量カップリング線、pre…プリチャージ線、preg…プリチャージ制御線、out…読み出し線、outg…読み出し制御線、DE…検知電極、PSW…プリチャージ制御スイッチ、AMP…増幅スイッチ、OSW…読み出しスイッチ、Cf…検知容量、PR…プリチャージ電圧、Vst…基準電圧、Cp…カップリング容量、51…IC、30…入力手段。 M ... Image reading device, SN ... Sensor circuit, cup1, cup2 ... Capacitive coupling line, pre ... Precharge line, preg ... Precharge control line, out ... Read line, outg ... Read control line, DE ... Detection electrode, PSW ... Precharge control switch, AMP ... Amplification switch, OSW ... Readout switch, Cf ... Detection capacitor, PR ... Precharge voltage, Vst ... Reference voltage, Cp ... Coupling capacitor, 51 ... IC, 30 ... Input means.
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