DESCRIZIONEDESCRIPTION
La presente invenzione si riferisce ad un metodo, uno strumento, un apparato ed un software per il monitoraggio dell'evoluzione di fessure presenti su superfici quali ad esempio pareti o piani di edifici o superfici 5 di strutture e costruzioni edilizie in generale, siano esse interne o esterne, portanti o non portanti.The present invention refers to a method, an instrument, an apparatus and a software for monitoring the evolution of cracks present on surfaces such as walls or floors of buildings or surfaces 5 of structures and building constructions in general, whether they are internal. or external, load-bearing or non-load-bearing.
Nell’ambito della rilevazione della variazione nel tempo dell’estensione di fessure presenti sulla superfice di una parete o di un piano, sono noti dispositivi analogici, denominati fessurimetri, comprendenti due 10 piastre tra loro sovrapposte in corrispondenza di un reticolo graduato posto su una delle due atto a rilevare la suddetta variazione. Un dispositivo di tale tipo è ad esempio descritto nel brevetto inglese GB 2251311.In the context of detecting the variation over time of the extension of cracks present on the surface of a wall or a floor, analog devices are known, called crackmeters, comprising two 10 plates superimposed on each other in correspondence with a graduated grating placed on one of the two suitable for detecting the aforementioned variation. A device of this type is described for example in the British patent GB 2251311.
Come facilmente intuibile, tali dispositivi tradizionali richiedono una 15 lettura manuale del fessurimetro, così come la successiva catalogazione e analisi delle misure differite nel tempo.As can be easily understood, these traditional devices require a manual reading of the crack meter, as well as the subsequent cataloging and analysis of the measures deferred over time.
È quindi evidente che tali sistemi, seppur siano molto semplici ed economici, richiedano un lavoro consistente da parte dell'operatore, durante l'installazione, durante le fasi di lettura e nella successiva 20 catalogazione delle misurazioni.It is therefore evident that these systems, even if they are very simple and economical, require a substantial work by the operator, during installation, during the reading phases and in the subsequent cataloging of the measurements.
In alternativa ai sistemi analogici sono inoltre noti fessurimetri di tipo digitale, come ad esempio quello descritto nel brevetto francese FR 2931545.As an alternative to analog systems, digital crackmeters are also known, such as the one described in the French patent FR 2931545.
Tali dispositivi digitali sono formati essenzialmente da uno stelo 25 scorrevole all’interno di una opportuna guida la cui variazione di estensione all’interno della guida permette di determinare l’evoluzione nel tempo dell’ampiezza della fessura.These digital devices are essentially formed by a stem 25 sliding inside a suitable guide whose extension variation inside the guide allows to determine the evolution over time of the width of the slot.
Tali dispositivi, fornendo un segnale digitale, consentono una catalogazione automatica delle misurazioni, ad esempio inviando i dati 5 rilevati ad una unità di elaborazione remota, come descritto nel brevetto sopra citato.These devices, by providing a digital signal, allow automatic cataloging of the measurements, for example by sending the detected data 5 to a remote processing unit, as described in the aforementioned patent.
Anche tale soluzione non è tuttavia esente da svantaggi in quanto comporta l'installazione sulla parete fessurata di uno strumento elettronico di elevato costo e dunque non consente una applicazione di 10 tanti strumenti per un unico monitoraggio di un dissesto, soluzione che, al contrario, consentirebbe una migliore caratterizzazione dell'andamento temporale della fessura. Inoltre, il fessurimetro digitale, dovendo essere installato direttamente con la sua apparecchiatura elettronica sul muro lesionato talvolta esposto al sole, 15 è facilmente esposto alle dilatazioni termiche.However, even this solution is not free from disadvantages as it involves the installation on the cracked wall of an electronic instrument of high cost and therefore does not allow the application of 10 many instruments for a single monitoring of a failure, a solution which, on the contrary, would allow a better characterization of the temporal course of the crack. Furthermore, the digital crack meter, having to be installed directly with its electronic equipment on the damaged wall sometimes exposed to the sun, 15 is easily exposed to thermal expansion.
È inoltre noto rilevare l'evoluzione di una fessura in un materiale tramite fotocamere digitali.It is also known to detect the evolution of a crack in a material by means of digital cameras.
I metodi noti richiedono tuttavia in generale sistemi di acquisizione di immagine ad alta risoluzione e, di conseguenza, non sono facilmente 20 applicabili al monitoraggio di fessure in pareti ed in generale nelle superfici di una struttura edilizia.However, the known methods generally require high resolution image acquisition systems and, consequently, are not easily 20 applicable to the monitoring of cracks in walls and in general in the surfaces of a building structure.
Ad esempio, il brevetto statunitense US 4,574,642 descrive un sistema per il monitoraggio dell'evoluzione di una cricca in una prova di fatica basato su sistema di acquisizione di immagini digitale.For example, US patent 4,574,642 describes a system for monitoring the evolution of a crack in a fatigue test based on a digital image acquisition system.
È del tutto evidente che un sistema di questo tipo non si può prestare ad essere utilizzato all'aperto per la misurazione di fessure edilizia che hanno una evoluzione molto lenta nel tempo.It is quite clear that a system of this type cannot be used outdoors for the measurement of building cracks which evolve very slowly over time.
Inoltre, a livello generale, anche l'utilizzo di fotocamere digitali per 5 l’acquisizione di una serie di immagini, comporta una valutazione dell’evoluzione dell’estensione della fessura in maniera manuale. Tale caratteristica può pertanto causare errori di misurazione dovuti, ad esempio, a fenomeni di parallasse o distorsione dell'immagine.Furthermore, on a general level, even the use of digital cameras for the acquisition of a series of images, involves an evaluation of the evolution of the extension of the slot manually. This characteristic can therefore cause measurement errors due, for example, to parallax phenomena or image distortion.
Il problema tecnico alla base del presente trovato è quindi quello di 10 mettere a disposizione un dispositivo ed un metodo per monitorare l’evoluzione di fessure presenti sulla superficie di una parete, strutturalmente e funzionalmente concepiti per ovviare agli inconvenienti sopra lamentati con riferimento alla tecnica nota citata e che possa essere economico, semplice nell'utilizzo e di facile 15 disponibilità.The technical problem underlying the present invention is therefore that of providing a device and a method for monitoring the evolution of cracks present on the surface of a wall, structurally and functionally designed to obviate the drawbacks mentioned above with reference to the prior art. mentioned and that it can be economical, simple to use and easy to 15 availability.
Questo problema è risolto dalla presente invenzione mediante un metodo, uno strumento, un apparato ed un software per il monitoraggio di fessure presenti su superfici di strutture e costruzioni edilizie realizzati in accordo con le rivendicazioni allegate.This problem is solved by the present invention by means of a method, an instrument, an apparatus and a software for monitoring cracks present on the surfaces of structures and building constructions made in accordance with the attached claims.
20 I trovati ed il metodo oggetto della presente invenzione permettono di acquisire direttamente le misure e di catalogarle in un database per una successiva elaborazione e relativo responso del confronto con le letture precedenti.20 The findings and the method object of the present invention allow to acquire the measurements directly and to catalog them in a database for a subsequent processing and relative response of the comparison with the previous readings.
Inoltre, non richiedono l'installazione a parete di alcun supporto graduato e sovrapposto, evitando quindi complessità eccessive in fase di preparazione della strumentazione.Furthermore, they do not require the installation of any graduated and superimposed support on the wall, thus avoiding excessive complexity in the preparation phase of the instrumentation.
In aggiunta, la presente invenzione permette di acquisire anche una 5 grande quantità di misure in maniera semplice ed economica.In addition, the present invention allows to acquire also a large quantity of measurements in a simple and economical way.
I vantaggi, le caratteristiche e le modalità d’impiego della presente invenzione risulteranno evidenti dalla seguente descrizione dettagliata di una preferita forma di realizzazione, illustrata a scopo esemplificativo e non limitativo, con riferimento agli uniti disegni, in 10 cui:The advantages, characteristics and methods of use of the present invention will become evident from the following detailed description of a preferred embodiment, illustrated by way of non-limiting example, with reference to the accompanying drawings, in which:
• La figura 1 è una vista schematica di uno strumento per il monitoraggio dell'evoluzione di fessure secondo la presente invenzione applicato ad una parete;Figure 1 is a schematic view of an instrument for monitoring the evolution of cracks according to the present invention applied to a wall;
• La figura 2 è una vista schematica del sistema di riferimento da 15 stampare su supporto piano per la successiva applicazione a muro o pavimento particolari dello strumento secondo l’invenzione;• Figure 2 is a schematic view of the reference system to be printed on a flat support for subsequent application to the wall or floor of the particular instrument according to the invention;
• La figure da 3A a 3D sono delle illustrazioni di un dispositivo elettronico, parte dell'apparato secondo la presente invenzione, 20 con un schermo che illustra differenti schermate rappresentative del metodo secondo la presente invenzione e secondo varie viste;Figures 3A to 3D are illustrations of an electronic device, part of the apparatus according to the present invention, 20 with a screen illustrating different screens representative of the method according to the present invention and according to various views;
• La figura 4 è una illustrazione schematica di una forma geometrica memorizzata nel dispositivo elettronico per il 25 monitoraggio di una fessura secondo l’invenzione;• Figure 4 is a schematic illustration of a geometric shape stored in the electronic device for monitoring a crack 25 according to the invention;
• La figura 5 è una illustrazione schematica di un’immagine acquisita dal dispositivo elettronico per il monitoraggio di una fessura secondo l’invenzione;• Figure 5 is a schematic illustration of an image acquired by the electronic device for monitoring a crack according to the invention;
• La figura 6 è una illustrazione schematica dell’immagine di figura 5 5 modificata per il monitoraggio di una fessura secondo l’invenzione; e• Figure 6 is a schematic illustration of the image of Figure 5 5 modified for monitoring a crack according to the invention; And
• La figura 7 è una illustrazione schematica di un grafico rappresentante la variazione nel tempo dell’estensione di una fessura ottenuto mediante il metodo di monitoraggio di una 10 fessura secondo l’invenzione.• Figure 7 is a schematic illustration of a graph representing the variation over time of the extension of a crack obtained by the method of monitoring a 10 crack according to the invention.
Nelle figure, con 100 è complessivamente indicato uno strumento per il monitoraggio dell'evoluzione di una fessura secondo la presente invenzione.In the figures, 100 indicates as a whole an instrument for monitoring the evolution of a crack according to the present invention.
Lo strumento 100 comprende un elemento di confronto 101 ed un 15 elemento target 102 per la determinazione della variazione dell’estensione di una fessura F presente su una superficie fessurata S definita, nel presente esempio di realizzazione, da una parete. È tuttavia evidente che i medesimi concetti potranno essere applicati anche ad altre superfici di strutture e costruzioni edilizie, come ad 20 esempio un pavimento.The tool 100 comprises a comparison element 101 and a target element 15 102 for determining the variation of the extension of a slot F present on a cracked surface S defined, in the present embodiment, by a wall. However, it is clear that the same concepts can also be applied to other surfaces of structures and building constructions, such as for example a floor.
Preferibilmente, la superficie S della parete è una superficie sostanzialmente piana.Preferably, the surface S of the wall is a substantially flat surface.
La fessura F si sviluppa prevalentemente lungo una direzione longitudinale f, ed il suo sviluppo longitudinale permette di suddividere la superficie S in due porzioni S1,S2 contrapposte rispetto alla fessura F stessa.The slot F develops mainly along a longitudinal direction f, and its longitudinal development allows the surface S to be divided into two portions S1, S2 opposite each other with respect to the slot F itself.
Nella forma di realizzazione preferita dell’invenzione, l'elemento di confronto 101 e l'elemento target 102 sono realizzati tramite un 5 rispettivo supporto semirigido piano, realizzato ad esempio tramite un foglio di carta o di cartone, una lastra di plexiglass, una piastra di pvc, una lamina metallica o similari. Preferibilmente, gli elementi 101 e 102 sono inizialmente realizzati su un unico supporto, separabile in due parti. Vantaggiosamente, sul supporto è presente una linea di taglio C, 10 illustrata in figura 2, ad esempio realizzata tramite stampa sulla superficie del supporto, allo scopo di indicare all'utilizzatore il punto corretto di taglio.In the preferred embodiment of the invention, the comparison element 101 and the target element 102 are made by means of a respective flat semi-rigid support, made for example by means of a sheet of paper or cardboard, a plate of plexiglass, a plate of pvc, a metal sheet or similar. Preferably, the elements 101 and 102 are initially made on a single support, which can be separated into two parts. Advantageously, on the support there is a cutting line C, 10 illustrated in Figure 2, for example made by printing on the surface of the support, in order to indicate to the user the correct cutting point.
Come sarà meglio illustrato a seguire, l'elemento di confronto 101 e l'elemento target 102 vengono fissati rispettivamente in 15 corrispondenza della porzione S1 ed S2 della superficie fessurata S. È pertanto evidente che l'utilizzo di un supporto piano si rivela particolarmente vantaggioso a tale scopo. Inoltre, l'uso di un foglio di carta può essere ulteriormente vantaggioso in quanto l'adesione alla parete avviene in maniera particolarmente semplice, anche nel caso di 20 parete a rugosità relativamente elevata.As will be better illustrated below, the comparison element 101 and the target element 102 are respectively fixed at 15 corresponding to the portion S1 and S2 of the slit surface S. It is therefore evident that the use of a flat support is particularly advantageous for this purpose. Furthermore, the use of a sheet of paper can be further advantageous in that the adhesion to the wall occurs in a particularly simple way, even in the case of a relatively high roughness wall.
Come si può osservare dalle figure 1 e 2, sull’elemento di confronto 101 è rappresentato un sistema di riferimento geometrico RIF ed una forma geometrica bidimensionale FG.As can be seen from Figures 1 and 2, a geometric reference system RIF and a two-dimensional geometric shape FG are represented on the comparison element 101.
Preferibilmente, il sistema di riferimento geometrico RIF è di tipo 25 cartesiano ed è rappresentato tramite tre punti P1, P2 e P3 non allineati. Come si può osservare dalla figura, il punto P1 definisce l'origine del sistema di riferimento cartesiano, la retta passante per il punto P1 e P2 definisce l'asse x e la retta passante per i punti P1 e P3 definisce l'asse y. Di conseguenza, i punti P2 e P3 sono disposti in 5 maniera tale che gli assi x e y formino un angolo di 90°.Preferably, the geometric reference system RIF is of the Cartesian type 25 and is represented by three non-aligned points P1, P2 and P3. As can be seen from the figure, the point P1 defines the origin of the Cartesian reference system, the straight line passing through the points P1 and P2 defines the x axis and the straight line passing through the points P1 and P3 defines the y axis. Consequently, the points P2 and P3 are arranged in 5 such that the x and y axes form an angle of 90 °.
È comunque evidente che potranno essere utilizzati anche sistemi di riferimento differenti, seppur quello cartesiano consenta una maggiore semplicità di misura, come si vedrà meglio a seguire.However, it is clear that different reference systems can also be used, even if the Cartesian one allows greater simplicity of measurement, as will be seen better below.
In una forma di realizzazione preferita dell’invenzione, la forma 10 geometrica bidimensionale FG è un poligono convesso rappresentato da una pluralità di punti di trasformazione T1,..,Tn disposti sull’elemento di confronto 101, ciascun punto di trasformazione T1,..,Tn essendo un vertice del suddetto poligono.In a preferred embodiment of the invention, the two-dimensional geometric shape 10 FG is a convex polygon represented by a plurality of transformation points T1, .., Tn arranged on the comparison element 101, each transformation point T1, .. , Tn being a vertex of the aforesaid polygon.
Le posizioni di ciascun punto di riferimento P1, P2, P3 e di ciascun 15 punto di trasformazione T1,..,Tn nell’elemento di confronto 101 sono note o, in altre parole, devono considerarsi fisse le distanze d1, d2, illustrate in figura 2, tra i punti di riferimento P1, P2, P3 nonché tra i punti di trasformazione T1,..,Tn.The positions of each reference point P1, P2, P3 and of each 15 transformation point T1, .., Tn in the comparison element 101 are known or, in other words, the distances d1, d2, illustrated in figure 2, between the reference points P1, P2, P3 as well as between the transformation points T1, .., Tn.
In riferimento alle figure 1 e 2, la forma geometrica bidimensionale FG 20 è preferibilmente un poligono rettangolare e, ancora più preferibilmente un quadrato, i cui vertici sono rappresentati dai punti di trasformazione T1, T2, T3, T4 ed i cui lati, non rappresentati nell’elemento di confronto 101 in figura 2, sono di lunghezza nota L, in base a quanto sopra illustrato.With reference to Figures 1 and 2, the two-dimensional geometric shape FG 20 is preferably a rectangular polygon and, even more preferably, a square, the vertices of which are represented by the transformation points T1, T2, T3, T4 and whose sides, not shown in the comparison element 101 in Figure 2, they are of known length L, on the basis of what is illustrated above.
Nello specifico esempio di realizzazione, la forma geometrica bidimensionale FG è pure rappresentata dai suddetti punti di riferimento P1, P2, P3 unitamente al punto di trasformazione T4.In the specific embodiment example, the two-dimensional geometric shape FG is also represented by the aforementioned reference points P1, P2, P3 together with the transformation point T4.
In altre parole, nella forma di realizzazione dell’invenzione illustrata in 5 figura 1 ed in figura 2, i punti di riferimento P1, P2, P3 coincidono con i punti di trasformazione T1, T2, T3.In other words, in the embodiment of the invention illustrated in Figure 5 and Figure 2, the reference points P1, P2, P3 coincide with the transformation points T1, T2, T3.
È comunque evidente che i punti di riferimento potranno essere anche distinti dai punti di trasformazione.It is however evident that the reference points can also be distinguished from the transformation points.
In ogni caso, come si vedrà meglio a seguire, l'utilizzo di una forma 10 quadrata e la coincidenza dei punti sopra descritti consente di ottenere una semplificazione nelle operazioni di calcolo previste nel metodo secondo la presente invenzione.In any case, as will be seen better below, the use of a square shape 10 and the coincidence of the points described above allows to obtain a simplification in the calculation operations provided for in the method according to the present invention.
Sull’elemento target 102 è invece rappresentato un punto target TG che viene utilizzato per la determinazione della variazione 15 dell’estensione della fessura F, secondo modalità che saranno descritte a seguire.On the target element 102, on the other hand, a target point TG is represented which is used to determine the variation 15 of the extension of the slot F, according to methods that will be described below.
Secondo una forma di realizzazione preferita, i punti di riferimento, i punti di trasformazione ed il punto target sono rappresentati sugli elementi 101 e 102 tramite simboli grafici facilmente individuabili in 20 una immagine digitale dello strumento 100 acquisito tramite comuni mezzi fotografici. Nel presente esempio realizzativo, i punti sono rappresentati tramite una croce racchiusa da un cerchio.According to a preferred embodiment, the reference points, the transformation points and the target point are represented on the elements 101 and 102 by easily identifiable graphic symbols in 20 a digital image of the instrument 100 acquired by common photographic means. In the present embodiment, the points are represented by a cross enclosed by a circle.
L'apparato per il monitoraggio dell’evoluzione di una fessura secondo l’invenzione comprende, oltre allo strumento 100 sopra descritto, 25 anche un dispositivo elettronico 1 capace di acquisire e visualizzare una o più immagini dello strumento 100 posto in corrispondenza della fessura F.The apparatus for monitoring the evolution of a slot according to the invention includes, in addition to the instrument 100 described above, 25 also an electronic device 1 capable of acquiring and displaying one or more images of the instrument 100 placed in correspondence with the slot F.
In riferimento alle figure da 3A a 3D, il dispositivo elettronico 1 è preferibilmente un dispositivo mobile quale uno smartphone o un 5 tablet comprendente una fotocamera integrata 2 per l’acquisizione delle suddette immagini, un'unità di memorizzazione 3 per la loro memorizzazione, schematicamente illustrata tramite un rettangolo tratteggiato nelle figure, un display 4 per la loro visualizzazione ed una unità di elaborazione 11, anch'essa schematicamente illustrata tramite 10 un rettangolo. L’unità di elaborazione 11 è atta alla gestione di tali immagini per la determinazione della variazione nel tempo dell’estensione della fessura F.With reference to figures 3A to 3D, the electronic device 1 is preferably a mobile device such as a smartphone or a tablet 5 comprising an integrated camera 2 for acquiring the aforementioned images, a storage unit 3 for storing them, schematically illustrated by means of a dashed rectangle in the figures, a display 4 for their visualization and a processing unit 11, also schematically illustrated by means of 10 a rectangle. The processing unit 11 is suitable for managing such images for determining the variation over time of the extension of the slot F.
Nella memoria 3 del dispositivo elettronico 1 sono memorizzate le suddette distanze d1 d2 tra i punti di riferimento P1, P2, P3 nonché le 15 distanze tra i punti di trasformazione T1 T2, T3, T4 sull'elemento di riferimento 101. In altre parole, le caratteristiche dimensionali della forma geometrica bidimensionale FG sono memorizzate nella memoria 3 del dispositivo elettronico 1.The aforementioned distances d1 d2 between the reference points P1, P2, P3 as well as the 15 distances between the transformation points T1 T2, T3, T4 on the reference element 101 are stored in the memory 3 of the electronic device 1. the dimensional characteristics of the two-dimensional geometric shape FG are stored in the memory 3 of the electronic device 1.
In riferimento alla forma di realizzazione dell’invenzione in cui la forma 20 geometrica bidimensionale FG è un quadrato, la distanza d1 memorizzata nella unità di memorizzazione 3 rappresenta la distanza rispetto l’asse delle ascisse x, nonché rispetto l’asse delle ordinate y, tra due punti di trasformazione distinti nonché tra due punti di riferimento distinti. Ulteriormente, la distanza d1 rappresenta la 25 lunghezza L di ciascun lato della forma geometrica bidimensionale FG.With reference to the embodiment of the invention in which the two-dimensional geometric shape 20 FG is a square, the distance d1 stored in the storage unit 3 represents the distance with respect to the abscissa axis x, as well as with respect to the ordinate axis y, between two distinct transformation points as well as between two distinct reference points. Further, the distance d1 represents the 25 length L of each side of the two-dimensional geometric shape FG.
Nell'unità di memoria 3 vengono altresì memorizzate le caratteristiche dimensionali di una seconda forma geometrica bidimensionale FG2 appartenente ad un piano di riferimento B.The dimensional characteristics of a second two-dimensional geometric shape FG2 belonging to a reference plane B are also stored in the memory unit 3.
Tale seconda forma geometrica bidimensionale FG2 è simile alla forma 5 geometrica bidimensionale FG.This second two-dimensional geometric shape FG2 is similar to the two-dimensional geometric shape 5 FG.
Si precisa che in questo documento due forme geometriche bidimensionali sono simili rispetto ad un medesimo piano di riferimento se la seconda forma geometrica è una trasformazione geometrica della prima in cui viene conservato il rapporto tra le distanze per ogni coppia 10 di punti appartenenti alla prima forma geometrica, secondo il concetto di similitudine geometrica.It should be noted that in this document two two-dimensional geometric shapes are similar with respect to the same reference plane if the second geometric shape is a geometric transformation of the first in which the relationship between the distances for each pair 10 of points belonging to the first geometric shape is preserved , according to the concept of geometric similarity.
In riferimento alla forma di realizzazione dell’invenzione di figura 4, la seconda forma geometrica bidimensionale FG2 è pertanto un quadrato definito da quattro vertici T21,T22,T23,T24 ed i cui lati presentano una 15 lunghezza L2 pari ad un multiplo della suddetta lunghezza L.With reference to the embodiment of the invention of Figure 4, the second two-dimensional geometric shape FG2 is therefore a square defined by four vertices T21, T22, T23, T24 and whose sides have a length 15 L2 equal to a multiple of the aforementioned length L.
I quattro vertici della seconda forma geometrica bidimensionale FG2, denominati come punti di trasformazione T21,T22,T23,T24, corrispondono rispettivamente ai punti di trasformazione T1,T2,T3,T4 della forma geometrica bidimensionale FG dell’elemento di confronto 20 101.The four vertices of the second two-dimensional geometric shape FG2, referred to as transformation points T21, T22, T23, T24, correspond respectively to the transformation points T1, T2, T3, T4 of the two-dimensional geometric shape FG of the comparison element 20 101.
La lunghezza L2 ed i quattro punti di trasformazione T21,T22,T23,T24, della seconda forma geometrica bidimensionale FG2 vengono quindi memorizzati nell'unità di memorizzazione 3.The length L2 and the four transformation points T21, T22, T23, T24, of the second two-dimensional geometric shape FG2 are then stored in the storage unit 3.
È comunque evidente che, in alternativa alla memorizzazione della 25 forma geometrica FG2 potranno essere semplicemente memorizzate forma e posizione della figura geometrica FG e/o del sistema di riferimento RIF presente nell'elemento di confronto 101 dello strumento 100.It is however evident that, as an alternative to storing the geometric shape 25 FG2, the shape and position of the geometric figure FG and / or of the reference system RIF present in the comparison element 101 of the instrument 100 can simply be stored.
Come illustrato in figura 3B, il display 4 del sistema elettronico 1 è atto 5 a visualizzare un indicatore grafico 41, quale una cornice, delimitante un area 42 di dimensioni inferiori rispetto all'intero display 4. Tale indicatore grafico 41 può essere sovrapposto ad un’immagine rappresentante l’inquadratura ripresa dalla fotocamera integrata 2. L’indicatore grafico 41 permette ad un utilizzatore del dispositivo 10 elettronico 1 di inquadrare Lo strumento 100 applicato ad una parete in corrispondenza di una fessura F affinché sia visualizzato integralmente nella suddetta area 42 per l’acquisizione di immagini IM1, IM2 valide per il monitoraggio della variazione dell’estensione della fessura F, secondo modalità che saranno descritte a seguire.As illustrated in Figure 3B, the display 4 of the electronic system 1 is adapted 5 to display a graphic indicator 41, such as a frame, delimiting an area 42 which is smaller than the entire display 4. This graphic indicator 41 can be superimposed on a the image representing the shot taken by the integrated camera 2. The graphic indicator 41 allows a user of the electronic device 10 to frame the instrument 100 applied to a wall in correspondence with a slot F so that it is fully displayed in the aforementioned area 42 for the acquisition of images IM1, IM2 valid for monitoring the variation of the extension of the slot F, according to the modalities that will be described below.
15 Il dispositivo elettronico 1 è provvisto altresì di mezzi di input 5 per la selezione di elementi di una immagine, in particolare per la selezione di elementi delle immagini dello strumento 100 visualizzato dal display 4.15 The electronic device 1 is also provided with input means 5 for the selection of elements of an image, in particular for the selection of elements of the images of the instrument 100 visualized by the display 4.
In una forma preferita dell’invenzione, i mezzi di input 5 sono realizzati 20 da un’interfaccia touch-screen che consente la selezione degli elementi di un’immagine visualizzata dal display 4 mediante tocco del display 4 stesso.In a preferred form of the invention, the input means 5 are made 20 by a touch-screen interface that allows the selection of the elements of an image displayed by the display 4 by touching the display 4 itself.
È evidente che differenti mezzi di input 5 realizzati secondo la tecnica nota possono essere previsti per la selezione di elementi di 25 un’immagine visualizzata mediante il display 4.It is clear that different input means 5 made according to the known art can be provided for the selection of elements of 25 an image displayed by the display 4.
Ancora, il dispositivo elettronico 1 comprende un sistema di correzione 6 per l’eliminazione di una deformazione prospettica a cui un’immagine acquisita da tale dispositivo può essere afflitta. In particolare, un’immagine può essere afflitta da una deformazione prospettica 5 quando l’asse ottico principale dell’obiettivo della fotocamera 2 non è perpendicolare allo sviluppo longitudinale e/o trasversale dell’elemento inquadrato. In tale immagine l’elemento inquadrato risulta essere pertanto deformato rispetto alla sua conformazione reale.Furthermore, the electronic device 1 comprises a correction system 6 for the elimination of a perspective deformation to which an image acquired by this device can be affected. In particular, an image can be affected by a perspective deformation 5 when the main optical axis of the camera lens 2 is not perpendicular to the longitudinal and / or transverse development of the framed element. In this image, the framed element is therefore deformed with respect to its real shape.
Preferibilmente, il sistema di correzione 6 si basa sull'utilizzo di una 10 matrice di trasformazione MT capace di modificare, ovvero di alterare, l’immagine afflitta da deformazione prospettica realizzando una nuova immagine priva di tale difetto, come meglio spiegato in seguito.Preferably, the correction system 6 is based on the use of a transformation matrix 10 MT capable of modifying, or altering, the image afflicted by perspective deformation by creating a new image without this defect, as better explained below.
In merito al monitoraggio dell’evoluzione dell’estensione di una fessura F presente su una superficie S di una parete, l’elemento di confronto 15 101 e l’elemento target 102 dello strumento 100 vengono applicati rispettivamente sulla prima e seconda superficie S1,S2 della parete in modo tale che la fessura F si sviluppi in direzione longitudinale tra essi, come illustrato in figura 6.With regard to monitoring the evolution of the extension of a crack F present on a surface S of a wall, the comparison element 15 101 and the target element 102 of the instrument 100 are applied respectively on the first and second surfaces S1, S2 of the wall in such a way that the slot F develops in the longitudinal direction between them, as illustrated in figure 6.
Preferibilmente, l’elemento di confronto 101 e l’elemento target 102 20 sono posti in corrispondenza o, più in generale, in prossimità, della fessura F ed in modo tale che i relativi supporti piani giacciano all'interno di un comune piano di riferimento.Preferably, the comparison element 101 and the target element 102 20 are placed in correspondence with or, more generally, in proximity to the slot F and in such a way that the relative flat supports lie within a common reference plane .
Ulteriormente, l’elemento di confronto 101 e l’elemento target 102 sono applicati rispettivamente sulla prima e sulla seconda superficie 25 S1,S2 della parete cosicché il sistema di riferimento RIF, la forma geometrica bidimensionale FG nonché il punto target TG siano visibili ad un utilizzatore del dispositivo elettronico 1 per la determinazione della variazione dell’estensione della fessura F. In altre parole, la distanza tra i due elementi 101 e 102 dovrà essere commisurata al 5 tipo di fotocamera 2 di cui è dotato il dispositivo elettronico 1.Furthermore, the comparison element 101 and the target element 102 are applied respectively to the first and second surface 25 S1, S2 of the wall so that the reference system RIF, the two-dimensional geometric shape FG as well as the target point TG are visible to a user of the electronic device 1 for determining the variation of the extension of the slot F. In other words, the distance between the two elements 101 and 102 must be commensurate with the 5 type of camera 2 with which the electronic device 1 is equipped.
Successivamente, l’utilizzatore del dispositivo elettronico 1 provvederà ad inquadrare attraverso la fotocamera integrata 2 lo strumento 100 ed almeno una parte della fessura F, ovverosia provvederà ad inquadrare l’elemento di confronto 101, l’elemento target 102 ed 10 almeno una parte della fessura F compresa tra tali elementi cosicché una rispettiva immagine visualizzata nel display 4 sia compresa nell’area 42 delimitata dall’indicatore grafico 41.Subsequently, the user of the electronic device 1 will frame through the integrated camera 2 the instrument 100 and at least a part of the slot F, i.e. he will frame the comparison element 101, the target element 102 and 10 at least a part of the slot F between these elements so that a respective image shown in the display 4 is included in the area 42 delimited by the graphic indicator 41.
Tale accorgimento permette di evitare o comunque limitare una deformazione dell’immagine dovuta al grandangolo eventualmente 15 provvisto sulla fotocamera integrata 2.This precaution allows to avoid or otherwise limit a deformation of the image due to the wide angle possibly 15 provided on the integrated camera 2.
Successivamente l'utilizzatore acquisisce una prima immagine di riferimento IM1, che viene memorizzata nell'unità di memorizzazione 3 del dispositivo elettronico 1.Subsequently, the user acquires a first reference image IM1, which is stored in the storage unit 3 of the electronic device 1.
In riferimento all’illustrazione di figura 5, l’immagine acquisita IM1 si 20 sviluppa su un piano di riferimento C e comprende un sistema di riferimento RIF’ ed una forma geometrica bidimensionale FG’ corrispondenti al sistema di riferimento RIF e rispettivamente alla forma geometrica bidimensionale FG rappresentati sull’elemento di confronto 101. In aggiunta, l’immagine acquisita IM1 comprende un punto target TG’ corrispondente al punto target TG dell’elemento target 102 ed un'immagine di almeno una porzione della fessura F. In particolare, l’immagine IM1 comprende punti di riferimento P'1, P'2, P'3 ed punti di trasformazione T'1, T'2, T'3, T'4, ciascuno essendo 5 corrispondente al rispettivo punto di riferimento P1, P2, P3 o punto di trasformazione T1, T2, T3, T4 dell’elemento di confronto 101.With reference to the illustration in Figure 5, the acquired image IM1 20 develops on a reference plane C and comprises a reference system RIF 'and a two-dimensional geometric shape FG' corresponding to the reference system RIF and respectively to the two-dimensional geometric shape FG represented on the comparison element 101. In addition, the acquired image IM1 comprises a target point TG 'corresponding to the target point TG of the target element 102 and an image of at least a portion of the slot F. In particular, the image IM1 includes reference points P'1, P'2, P'3 and transformation points T'1, T'2, T'3, T'4, each being 5 corresponding to the respective reference point P1, P2, P3 or transformation point T1, T2, T3, T4 of the comparison element 101.
Ulteriormente, il punto target TG' dell’immagine IM1 corrisponde al punto target TG dell’elemento target 102.Further, the target point TG 'of the IM1 image corresponds to the target point TG of the target element 102.
L’immagine IM1 acquisita dal dispositivo elettronico 1 può essere 10 afflitta da deformazione prospettica dovuta alla mancata perpendicolarità tra la superficie S e/o le relative porzioni S1 e S2 su cui è collocato Lo strumento 100 e l’asse ottico principale dell’obiettivo della fotocamera 2.The IM1 image acquired by the electronic device 1 can be 10 affected by perspective deformation due to the lack of perpendicularity between the surface S and / or the relative portions S1 and S2 on which the instrument 100 is placed and the main optical axis of the lens of the camera 2.
In tale condizione, il piano di riferimento su cui l’immagine IM1 si 15 sviluppa non risulta parallelo al suddetto piano di riferimento A, determinando una deformazione nell’immagine IM1 degli elementi inquadrati dalla fotocamera integrata 2.In this condition, the reference plane on which the IM1 image 15 develops is not parallel to the aforementioned reference plane A, causing a deformation in the IM1 image of the elements framed by the integrated camera 2.
In particolare, la forma geometrica bidimensionale FG’ presente nell’immagine IM1 non è simile, nel senso di similitudine geometrica, 20 alla rispettiva forma geometrica bidimensionale FG dell’elemento di confronto 101. Allo stesso modo il sistema di riferimento RIF’ presente nell’immagine M’ non è equivalente al rispettivo sistema di riferimento RIF del primo elemento di confronto 101. In altre parole, il sistema di riferimento RIF e la forma geometrica FG non differiranno dalle loro 25 rappresentazione RIF' e FG' sull'immagine IM1 unicamente per un fattore di scala, ma vi sarà anche una mancanza di ortogonalità tra gli assi.In particular, the two-dimensional geometric shape FG 'present in the image IM1 is not similar, in the sense of geometric similarity, 20 to the respective two-dimensional geometric shape FG of the comparison element 101. Likewise the reference system RIF' present in the image M 'is not equivalent to the respective reference system REF of the first comparison element 101. In other words, the reference system REF and the geometric shape FG will not differ from their 25 representation REF' and FG 'on the image IM1 only for a scale factor, but there will also be a lack of orthogonality between the axes.
Al fine di eliminare tale deformazione prospettica, l’utilizzatore del dispositivo elettronico 1 potrà selezionare mediante i mezzi di input 5 i 5 punti di trasformazione T'1, T'2, T'3, T'4 presenti nell’immagine IM1 affinché il sistema di correzione 6 del dispositivo elettronico 1 possa associarli ai rispettivi punti di trasformazione T21,T22,T23,T24 della seconda forma geometrica FG2 o, in altre parole, affinché possa associare la posizione dei punti di trasformazione T'1, T'2, T'3, T'4 10 nell’immagine M’ alla posizione dei rispettivi punti di trasformazione T21,T22,T23,T24 della seconda forma geometrica FG2 nel piano di riferimento B. Come sopra accennato, tale associazione potrà semplicemente aver luogo con le distanze memorizzate nel dispositivo elettronico 1, qualora non sia memorizzata la forma geometrica FG2. 15 Preferibilmente, la selezione dei punti di trasformazione T’1, T’2, T’3, T’4 nell’immagine IM1 avviene secondo un ordine prestabilito, ovvero in primo luogo viene selezionato il punto di trasformazione T’1, poi il punto T’2 e T’3 ed infine il punto di trasformazione T’4 cosicché il sistema di correzione 6 possa associarli correttamente ai rispettivi 20 punti di trasformazione T21,T22,T23,T24 della seconda forma geometrica FG2. Questo consente di aumentare la semplicità di calcolo nell'operazione di associazione tra i punti di trasformazione T’1, T’2, T’3, T’4 nell’immagine IM1 e i dati memorizzati nel dispositivo elettronico 1.In order to eliminate this perspective deformation, the user of the electronic device 1 can select by means of the input means 5 the 5 transformation points T'1, T'2, T'3, T'4 present in the image IM1 so that the correction system 6 of the electronic device 1 can associate them with the respective transformation points T21, T22, T23, T24 of the second geometric shape FG2 or, in other words, so that it can associate the position of the transformation points T'1, T'2, T'3, T'4 10 in image M 'to the position of the respective transformation points T21, T22, T23, T24 of the second geometric shape FG2 in the reference plane B. As mentioned above, this association can simply take place with the distances stored in the electronic device 1, if the geometric shape FG2 is not stored. 15 Preferably, the selection of the transformation points T'1, T'2, T'3, T'4 in the image IM1 takes place according to a predetermined order, i.e. first the transformation point T'1 is selected, then the point T'2 and T'3 and finally the transformation point T'4 so that the correction system 6 can correctly associate them to the respective 20 transformation points T21, T22, T23, T24 of the second geometric shape FG2. This allows to increase the simplicity of calculation in the association operation between the transformation points T'1, T'2, T'3, T'4 in the image IM1 and the data stored in the electronic device 1.
Tale associazione consente la determinazione della matrice di trasformazione MT la quale provvederà a modificare l’immagine IM1 realizzando una nuova immagine IM1' priva di deformazione prospettica grazie alla proprietà di similitudine tra la forma 5 bidimensionale FG del primo elemento di confronto 101 e la seconda forma di bidimensionale FG2. In questo modo, la forma geometrica rappresentata nell'immagine IM1 corrisponderà, a meno di un fattore di scala, alla forma geometrica FG rappresentata sull'elemento di confronto 101.This association allows the determination of the transformation matrix MT which will modify the image IM1 creating a new image IM1 'without perspective deformation thanks to the similarity property between the two-dimensional shape 5 FG of the first comparison element 101 and the second shape of two-dimensional FG2. In this way, the geometric shape represented in the image IM1 will correspond, less than a scale factor, to the geometric shape FG represented on the comparison element 101.
10 In questo documento il sistema di correzione 6 e la matrice di trasformazione MT non verranno trattati in maggior dettaglio poiché di nota realizzazione per un esperto del settore.10 In this document the correction system 6 and the transformation matrix MT will not be dealt with in greater detail since they are of a known realization for an expert in the field.
Come illustrato in figura 6, la nuova immagine IM1', ottenuta alterando l’immagine IM1, comprende quindi un nuovo sistema di riferimento 15 RIF’’ ed una nuova forma bidimensionale FG’’ rispettivamente equivalente al sistema di riferimento RIF e simile alla forma bidimensionale FG dell’elemento di confronto 101. Inoltre, la nuova immagine IM1' comprende un nuovo punto target TG’’ equivalente al punto target TG dell’elemento target 102.As illustrated in figure 6, the new image IM1 ', obtained by altering the image IM1, therefore comprises a new reference system 15 RIF' 'and a new two-dimensional shape FG' 'respectively equivalent to the reference system RIF and similar to the two-dimensional shape FG of the comparison element 101. Furthermore, the new image IM1 'includes a new target point TG' equivalent to the target point TG of the target element 102.
20 In riferimento alla figura 6, la nuova immagine IM1' comprende punti di riferimento P’’1,P’’2,P’’3 corrispondenti ai rispettivi punti di riferimento P1,P2,P3 dell’elemento di confronto 101.20 With reference to figure 6, the new image IM1 'includes reference points P'1, P'2, P'3 corresponding to the respective reference points P1, P2, P3 of the comparison element 101.
Successivamente, l’utilizzatore del dispositivo elettronico 1 potrà procedere a selezionare mediante i mezzi di input 5 i punti di 25 riferimento P’’1,P’’2,P’’3 ed il punto target TG’’ dell’immagine IM1' affinché l’unità di elaborazione 11 possa acquisire la posizione di tali punti nella nuova immagine IM1'.Subsequently, the user of the electronic device 1 can proceed to select by means of the input means 5 the reference points 25 P''1, P'2, P''3 and the target point TG '' of the image IM1 ' so that the processing unit 11 can acquire the position of these points in the new image IM1 '.
Tale selezione permette all’unità di elaborazione 11 di determinare l’asse delle ordinate y’’ passante per i punti di riferimento P’’1,P’’2 5 nonché l’asse delle ascisse x’’ passante per i punti di riferimento P’’2,P’’3 del sistema di riferimento RIF’’.This selection allows the processing unit 11 to determine the y '' ordinate axis passing through the reference points P''1, P''2 5 as well as the x '' abscissa axis passing through the reference points P '' 2, P '' 3 of the reference system REF ''.
Tale determinazione può avviene usufruendo della nota equazione della retta passante per due punti:This determination can be made using the well-known equation of the straight line passing through two points:
1010
dove le coppie (x1,y1), (x2,y2) indicano le posizioni espresse in pixel di due punti dell’immagine IM1’.where the pairs (x1, y1), (x2, y2) indicate the positions expressed in pixels of two points of the IM1 'image.
L’unità di elaborazione 11 provvede quindi a determinare la posizione del punto target TG” rispetto al sistema di riferimento RIF’’ calcolando 15 la sua distanza DP” rispetto agli assi cartesiani x”, y”. Tale distanza DP”=(DP”x,DP”y) può essere calcolata tramite la distanza dall'asse x'' e l'asse y'' precedentemente determinata.The processing unit 11 then determines the position of the target point TG "with respect to the reference system REF '' by calculating 15 its distance DP" with respect to the Cartesian axes x ", y". This distance DP ”= (DP” x, DP ”y) can be calculated using the distance from the x '' and y '' axes previously determined.
Tale distanza DP” sarà espressa in pixel poiché la posizione determinata dal dispositivo elettronico 1 dei punti di riferimento 20 P’’1,P’’2,P’’3 e del punto target TG’’ dell’immagine IM1 è anch’essa espressa in pixel.This distance DP "will be expressed in pixels since the position determined by the electronic device 1 of the reference points 20 P''1, P''2, P''3 and the target point TG '' of the image IM1 is also expressed in pixels.
L’unità di elaborazione 11 provvede pertanto a convertire la distanza DP” in una distanza d espressa in metri, ovvero in un sottomultiplo del metro, rappresentante la distanza tra il punto target TG dell’elemento 25 target 102 rispetto agli assi cartesiani x, y del sistema di riferimento RIF provvisto sull’elemento di confronto 101, tramite applicazione di un fattore di scala tra il sistema di riferimento RIF sull'elemento di confronto 101 e la rappresentazione dello stesso sull'immagine.The processing unit 11 therefore converts the distance DP "into a distance d expressed in meters, or in a submultiple of the meter, representing the distance between the target point TG of the element 25 target 102 with respect to the Cartesian axes x, y of the reference system RIF provided on the comparison element 101, by applying a scaling factor between the reference system RIF on the comparison element 101 and its representation on the image.
In pratica, tale conversione viene effettuata mediante una proporzione 5 tra le distanze espresse in pixel tra punti di riferimento P’’1, P’’2, P’’3 della nuova immagine IM1' (o tra punti di riferimento P’1, P’2, P’3 della immagine IM1 qualora non sia necessaria la correzione dell'immagine) e le distanze espresse in metri (o sottomultipli) tra i punti di riferimento P1, P2, P3 del sistema di riferimento RIF, tali distanze 10 essendo note e memorizzate nella memoria 3 del dispositivo elettronico 1. In questo modo viene ottenuto un fattore di scala tra la posizione del punto di target TG sull'elemento di confronto 101 e la sua rappresentazione nell'immagine IM1.In practice, this conversion is carried out by means of a proportion 5 between the distances expressed in pixels between reference points P '' 1, P '' 2, P '' 3 of the new image IM1 '(or between reference points P'1, P'2, P'3 of the image IM1 if image correction is not necessary) and the distances expressed in meters (or submultiples) between the reference points P1, P2, P3 of the reference system RIF, these distances 10 being known and stored in the memory 3 of the electronic device 1. In this way a scaling factor is obtained between the position of the target point TG on the comparison element 101 and its representation in the image IM1.
Di seguito vengono riportate le due formule utilizzate per la 15 determinazione della distanza D0 rispetto all’asse delle ascisse x e rispettivamente rispetto all’asse delle ordinate y del sistema di riferimento RIF:The following are the two formulas used for determining the distance D0 with respect to the x-axis and respectively with respect to the y-axis of the reference system REF:
2020
dove d1 è la distanza (in metri o sottomultipli) tra i punti di riferimento P1 e P2 e d2 è la distanza (in metri o sottomultipli) tra i punti di 25 riferimento P2 e P3 dell’elemento di confronto 101; dp1 è la distanza espressa in pixel tra i punti di riferimento P’’1 e P’’2 e dp2 è la distanza espressa in pixel tra i punti di riferimento P’’2 e P’’3 della nuova immagine IM1', come illustrato rispettivamente in figura 1 e 6.where d1 is the distance (in meters or submultiples) between the reference points P1 and P2 and d2 is the distance (in meters or submultiples) between the reference points 25 P2 and P3 of the comparison element 101; dp1 is the distance expressed in pixels between the reference points P '' 1 and P '' 2 and dp2 is the distance expressed in pixels between the reference points P '' 2 and P '' 3 of the new image IM1 ', as shown in figure 1 and 6 respectively.
La distanza d così ottenuta rappresenta una stima della posizione del 5 punto target TG rispetto al sistema di riferimento RIF dello strumento 100, ovverosia è una stima della distanza del punto target TG rispetto agli assi cartesiani x, y del sistema di riferimento RIF.The distance d thus obtained represents an estimate of the position of the 5 target point TG with respect to the reference system REF of the instrument 100, that is, it is an estimate of the distance of the target point TG with respect to the Cartesian axes x, y of the reference system REF.
Al fine di monitorare la variazione dell’estensione della fessura F, tale distanza d verrà utilizzata come valore di riferimento per delle 10 successive distanze dt del punto target TG rispetto al sistema di riferimento RIF in immagini IM2 acquisite in istanti temporali successivi. Tali distanze dt vengono calcolate mediante il medesimo metodo utilizzato per la determinazione della distanza d.In order to monitor the variation of the extension of the slot F, this distance d will be used as a reference value for the 10 successive distances dt of the target point TG with respect to the reference system RIF in IM2 images acquired in successive instants of time. These distances dt are calculated using the same method used for determining the distance d.
Precisamente, l’utilizzatore del dispositivo elettronico 1 provvederà ad 15 acquisire una serie di seconde immagini IM2 dello strumento 100 applicato alla parete in corrispondenza della fessura F.Specifically, the user of the electronic device 1 will 15 acquire a series of second IM2 images of the instrument 100 applied to the wall in correspondence with the slot F.
Preferibilmente, tali immagini IM2 dello strumento 100 vengono acquisite ad una frequenza temporale preimpostata.Preferably, such images IM2 of the instrument 100 are acquired at a preset time frequency.
L’unità di elaborazione 11 del dispositivo elettronico 1 è in grado di 20 elaborare le distanze dt in maniera concettualmente analoga a quanto descritto in precedenza relativamente alla prima immagine di riferimento IM1 al fine di determinare l’evoluzione nel tempo della fessura F, ovverosia al fine di determinare la variazione dell’estensione della fessura F.The processing unit 11 of the electronic device 1 is able to 20 process the distances dt in a conceptually similar way to what was previously described in relation to the first reference image IM1 in order to determine the evolution over time of the slot F, that is to say the in order to determine the variation of the extension of the crack F.
In dettaglio, l’evoluzione nel tempo della fessura F viene determinata confrontando ciascuna distanza dt con la distanza d rappresentante il valore di riferimento da cui calcolare la variazione nel tempo dell’estensione della fessura F.In detail, the evolution over time of the crack F is determined by comparing each distance dt with the distance d representing the reference value from which to calculate the variation over time of the extension of the crack F.
5 L’insieme delle differenze delta1, delta2,.., deltal tra il valore delle distanze dt ed il valore della distanza d rappresenterà pertanto la variazione nel tempo dell’estensione della fessura F, ovvero l’evoluzione nel tempo della fessura F.5 The set of differences delta1, delta2, .., deltal between the value of the distances dt and the value of the distance d will therefore represent the variation over time of the extension of the crack F, or the evolution over time of the crack F.
In una forma preferita dell’invenzione, l’unità di elaborazione 11 del 10 dispositivo elettronico 1 è in grado di determinare un grafico riportante i valori delle differenze delta1, delta2,.., deltal in funzione del tempo nonché di visualizzarlo tramite il display 4, come illustrato in figura 7. In particolare, tale grafico può visualizzare le differenze delta1, delta2,.., deltal secondo le rispettive componenti lungo gli assi 15 cartesiani x e/o y. In alternativa, tale grafico riporta i valori assoluti delle differenze delta1, delta2,.., deltal.In a preferred form of the invention, the processing unit 11 of the 10 electronic device 1 is able to determine a graph showing the values of the differences delta1, delta2, ..., deltal as a function of time and to visualize it on the display 4 , as illustrated in Figure 7. In particular, this graph can display the differences delta1, delta2, .., deltal according to the respective components along the Cartesian axes 15 x and / or y. Alternatively, this graph shows the absolute values of the differences delta1, delta2, .., deltal.
In aggiunta, il metodo di monitoraggio dell’evoluzione di una fessura secondo l’invenzione prevede l’emissione di un messaggio di allerta quando una differenza è maggiore, in valore assoluto, di un valore 20 massimo prestabilito, ad esempio 2 mm.In addition, the method of monitoring the evolution of a crack according to the invention provides for the issuance of an alert message when a difference is greater, in absolute value, than a predetermined maximum value of 20, for example 2 mm.
Ulteriormente, l’unità di elaborazione 11 permette all’utilizzatore del dispositivo elettronico 1 di impostare la frequenza temporale di monitoraggio dell’evoluzione della fessura F cosicché venga visualizzato sul display 4 un promemoria dell’imminente necessità di 25 acquisire un'immagine M dello strumento 100 per la determinazione della rispettiva distanza Di del punto target TG rispetto al sistema di riferimento RIF.Furthermore, the processing unit 11 allows the user of the electronic device 1 to set the time frequency for monitoring the evolution of the slot F so that a reminder of the imminent need to 25 acquire an image M of the instrument is displayed on the display 4. 100 for determining the respective distance Di of the target point TG with respect to the reference system REF.
Il dispositivo elettronico 1 permette altresì di monitorare contemporaneamente l’evoluzione di più fessure presenti su una o più 5 pareti, associando ciascuna fessura a delle rispettive distanze calcolate mediante il metodo di monitoraggio sopradescritto.The electronic device 1 also allows you to simultaneously monitor the evolution of multiple cracks present on one or more 5 walls, associating each crack with the respective distances calculated using the monitoring method described above.
Infine, l’unità di elaborazione 11 può associare le suddette differenze delta1, delta2,.., deltal a rispettive temperature dell’ambiente circostante la fessura F mediante sensori di temperatura predisposti 10 nel dispositivo elettronico 1 nonché associare le differenze delta1, delta2,.., deltal a rispettive posizioni geografiche della fessura F mediante antenna GPS predisposta nel dispositivo elettronico 1 e/o mediante connessione ad una rete internet se disponibile.Finally, the processing unit 11 can associate the aforementioned differences delta1, delta2, .., deltal to respective temperatures of the environment surrounding the slot F by means of temperature sensors 10 in the electronic device 1 as well as associate the differences delta1, delta2 ,. ., deltal to the respective geographical positions of slot F by means of a GPS antenna set up in the electronic device 1 and / or by connection to an internet network if available.
Il trovato risolve così il problema proposto, conseguendo al contempo 15 una pluralità di vantaggi. In primo luogo, il metodo per il monitoraggio della variazione dell’estensione di una fessura secondo l’invenzione permette la determinazione di tale variazione in modo automatico mediante uno strumento 100 semplice ed economico. Il metodo si presta inoltre ad essere implementato tramite software su comuni 20 dispositivi elettronici 1, senza quindi richiedere apposita strumentazione hardware e, nuovamente, contenendo i costi per l'utilizzatore.The invention thus solves the problem proposed, at the same time 15 achieving a plurality of advantages. Firstly, the method for monitoring the variation of the extension of a crack according to the invention allows the determination of this variation automatically by means of a simple and inexpensive tool 100. The method also lends itself to being implemented by means of software on common 20 electronic devices 1, without therefore requiring specific hardware instrumentation and, again, containing costs for the user.
In aggiunta, l'utilizzo di dispositivi elettronici provvisti di display permette un riscontro immediato dell’evoluzione della fessura senza la 25 necessità di utilizzo di ulteriori sistemi di elaborazione.In addition, the use of electronic devices equipped with displays allows immediate feedback on the evolution of the slot without the need for 25 additional processing systems.
Inoltre, il metodo oggetto della presente invenzione si rivela particolarmente semplice nell'utilizzo in quanto le misure vengono acquisite direttamente dalla fotocamera e catalogate in un database interno all'applicazione informatica per la successiva elaborazione e 5 relativo responso del confronto con le letture precedenti.Furthermore, the method object of the present invention is particularly simple to use since the measurements are acquired directly from the camera and cataloged in a database inside the computer application for subsequent processing and relative response of the comparison with the previous readings.
In questo modo, in caso di movimenti della fessura superiori alla tolleranza impostata, l'apparato secondo la presente invenzione permette di segnalare in maniera automatica l'anomalia all'operatore. Inoltre l'apparato è in grado di ricordare la scadenza di ogni misura da 10 effettuare secondo il programma pre-impostato dall'operatore e di abbinare direttamente coordinate gps e temperatura ad ogni lettura effettuata.In this way, in the event of movements of the slot exceeding the set tolerance, the apparatus according to the present invention allows the anomaly to be automatically signaled to the operator. In addition, the device is able to remember the expiration of each measurement to be made according to the program pre-set by the operator and to directly match GPS coordinates and temperature to each reading made.
In aggiunta, rispetto ai fessurimetri analogici descritti in precedenza con riferimento alla tecnica nota, si ha il vantaggio di non dover 15 installare a parete alcun supporto graduato e sovrapposto.In addition, with respect to the analogue crackmeters described above with reference to the known art, there is the advantage of not having to install any graduated and superimposed support on the wall.
Peraltro, Lo strumento utilizzato nell'apparato secondo la presente invenzione può essere semplicemente su un supporto piano, tramite una comune stampante, ed applicarlo al muro lesionato in prossimità dei due estremi della fessura.Moreover, the instrument used in the apparatus according to the present invention can simply be on a flat support, by means of a common printer, and apply it to the damaged wall near the two ends of the slot.
20 L'invenzione oggetto della presente domanda permette anche di acquisire una elevata quantità di misure, memorizzandole e catalogandole, senza richiedere complessità aggiuntive rispetto alla rilevazione di un'unica misura, essendo sufficiente l'applicazione dei semplici ed economici dispositivi di supporti a muro che rappresentano 25 il sistema di riferimento delle misure.20 The invention which is the subject of the present application also makes it possible to acquire a large number of measurements, by storing and cataloging them, without requiring additional complexity with respect to the detection of a single measurement, since the application of simple and inexpensive wall support devices is sufficient. 25 represent the measurement reference system.
Ulteriore vantaggio della presente invenzione è rappresentato dal fatto di consentire la valutazione della variazione della fessura rispetto ad un sistema bidimensionale, senza richiedere l'utilizzo di complessa strumentazione. In questo modo è possibile ottenere una valutazione 5 della suddetta variazione rispetto a due direzioni tra loro ortogonali per una miglior caratterizzazione della fessura.A further advantage of the present invention is represented by the fact that it allows the evaluation of the variation of the crack with respect to a two-dimensional system, without requiring the use of complex instrumentation. In this way it is possible to obtain an evaluation 5 of the aforementioned variation with respect to two mutually orthogonal directions for a better characterization of the crack.
Ancora in aggiunta, la determinazione automatica della variazione nel tempo dell’estensione di una fessura per mezzo della presente invenzione permette una stima di tale variazione più accurata rispetto 10 ad una valutazione manuale ottenuta mediante lettura di valori riportati su fessurimetri noti.In addition, the automatic determination of the variation over time of the extension of a crack by means of the present invention allows a more accurate estimate of this variation than a manual evaluation obtained by reading the values reported on known crackmeters.
Difatti, a titolo indicativo, il metodo e l'apparato secondo la presente invenzione permettono di ottenere una precisione /- 0,5mm dei valori delle differenze delta1, delta2,.., deltal.In fact, as an indication, the method and the apparatus according to the present invention allow to obtain a precision of +/- 0.5mm of the values of the differences delta1, delta2, .., deltal.
15 In ultimo, il metodo secondo la presente invenzione si presta particolarmente ad essere implementato tramite software, che vantaggiosamente, può essere eseguibile direttamente tramite l'unità di elaborazione del dispositivo elettronico.Finally, the method according to the present invention lends itself particularly to being implemented by software, which advantageously can be executed directly through the processing unit of the electronic device.
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| IT000235AITPD20130235A1 (en) | 2013-08-12 | 2013-08-12 | METHOD, INSTRUMENT, APPARATUS AND SOFTWARE FOR THE MONITORING OF THE EVOLUTION OF A SLOT |
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| IT000235AITPD20130235A1 (en) | 2013-08-12 | 2013-08-12 | METHOD, INSTRUMENT, APPARATUS AND SOFTWARE FOR THE MONITORING OF THE EVOLUTION OF A SLOT |
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|---|---|
| ITPD20130235A1true ITPD20130235A1 (en) | 2015-02-13 |
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| IT000235AITPD20130235A1 (en) | 2013-08-12 | 2013-08-12 | METHOD, INSTRUMENT, APPARATUS AND SOFTWARE FOR THE MONITORING OF THE EVOLUTION OF A SLOT |
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|---|---|
| IT (1) | ITPD20130235A1 (en) |
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2057124A (en)* | 1979-08-23 | 1981-03-25 | Deutsche Forsch Luft Raumfahrt | Crack development measuring equipment |
| US5673203A (en)* | 1994-10-11 | 1997-09-30 | United Technologies Corporation | Crack monitoring apparatus |
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