"EPROUVETTE AVEC MOYENS DE MEMORISATION DES RESULTATS D'ANALYSE"
La présente invention concerne une éprouvette dana- lyse comportant une paroi délimitant un volume interne destiné à recevoir un échantillon à analyser, les dites analyses se traduisant par des résultats d'analyse spécifiques à chaque échantillon."TEST WITH MEANS OF MEMORIZATION OF ANALYSIS RESULTS"
The present invention relates to a test-tube comprising a wall delimiting an internal volume intended to receive a sample to be analyzed, the said analyzes resulting in analysis results specific to each sample.
Les éprouvettes d'analyse sont bien connues dans les milieux hospitaliers et les laboratoires médicaux. The test tubes are well known in hospital and medical laboratories.
Les éprouvettes existantes sont généralement associées à un support d'information où sont enregistrés les divers résultats des analyses de l'échantillon contenu dans l'éprouvette, ce support d'information, généralement du type étiquette auto-collante, ou encore fiche suiveuse quelquefois placée dans un sachet de protection, est attaché à l'éprouvette par un moyen qui ne rend pas le dit support suffisamment soli- daire de l'éprouvette, de plus, les informations enregistrées peuvent être l'objet de manipulations erronées, voire inten- tionnellement frauduleuses;; l'intégrité de l'ensemble éprou- vette-support-inforations n'étant, de ce fait, pas garanties il peut en résulter des conséquences dramatiques. The existing test pieces are generally associated with an information medium in which the various results of the analyzes of the sample contained in the test tube are recorded, this information carrier, generally of the self-adhesive label type, or sometimes a follower plug. in a protective bag, is attached to the test piece by a means which does not make said support sufficiently solid of the test piece, moreover, the recorded information can be the object of erroneous manipulations, or even intentionally fraudulent ;; the integrity of the test-support-information unit is therefore not guaranteed and may result in dramatic consequences.
De plus, la quantité d'informations qu'un support traditionnel peut enregistrer n'est généralement que de quel- ques dizaines de caractères, ce qui peut constituer une limi- tation sérieuse à l'enregistrement de résultats d'analyses complexes et variées (sang, urine,...). Moreover, the amount of information that a traditional medium can record is usually only a few tens of characters, which can be a serious limitation to the recording of complex and varied analysis results ( blood, urine, ...).
En outre, il peut arriver que l'éprouvette et/ou le support d'information soit ré-utilisée et il en résulte des risques de pollution (germe, virus,...) non négligeables; il arrive aussi que la fiche suiveuse glisse en dehors de son sachet de protection, et soit ainsi perdue. In addition, it may happen that the test piece and / or the information medium is re-used and the result is pollution risks (germ, virus, ...) not negligible; it also happens that the follower plug slips out of its protective bag, and thus be lost.
be plus les informations enregistrées sur les supports connus sont souvent inscrites en clair ce qui n'assure évidemment aucune confidentialité. be more the information recorded on known media are often written in clear which obviously does not ensure any confidentiality.
La présente invention a pour but de supprimer ces divers inconvénients. The present invention aims to eliminate these various disadvantages.
En effet, selon la présente invention, une éprou- vette d'analyse est particulièrement remarquable en ce que elle comporte des moyens de mémorisation constamment liés A la dite paroi de la dite éprouvette, et en ce que l'accès aux dits moyens de mémorisation nécessite une technique d t accès. Indeed, according to the present invention, an analysis test is particularly remarkable in that it comprises storage means constantly connected to said wall of said specimen, and in that access to said storage means requires an access technique.
De ce fait, le support d'information est en permanence solidaire de l'éprouvette et les risques de manipulations erronées sont considérablement réduits, puisque, les informations n'étant plus manuscrites, la technique d'accès utilisée n'implique plus de séparation, méme moientanee, du support d'information et de l'éprouvette. As a result, the information medium is permanently secured to the test piece and the risks of erroneous manipulation are considerably reduced since, since the information is no longer handwritten, the access technique used no longer involves separation. same medium, the information carrier and the specimen.
La technique d'accès procure aussi l'avantage de la propreté ce qui réduit considérablement les risques de pollution. The access technique also provides the advantage of cleanliness which greatly reduces the risk of pollution.
Cette technique d'accès peut astre soit optique, rayon laser par exemple, soit électronique, ce qui, dans les deux cas, procure l'avantage d'augmenter considérablement la capacité de mémorisation des divers résultats d'analyse. This access technique can be either optical, laser beam for example, or electronic, which in both cases, provides the advantage of significantly increase the storage capacity of the various analysis results.
Le mode préféré de réalisation s'appuie sur la technique électronique dont les contacts d'accus i la mémoire sont soit dans une broche située dans le culot de l'éprouvette soit des pistes électriques entourant annulairement l'éprou- vette. The preferred embodiment is based on the electronic technique whose memory battery contacts are either in a pin located in the base of the test piece or in electrical tracks annularly surrounding the test piece.
Les avantages procurés par une éprouvette d'analyse conforme à l'invention seront mieux perçus avec les exemples de réalisation qui seront maintenant décrits & l'aide des dessins annexés
La figure I représente une éprouvette avec un support de mémoire optique.The advantages provided by an analysis test piece according to the invention will be better understood with the exemplary embodiments which will now be described with the aid of the appended drawings.
Figure I shows a specimen with an optical memory medium.
La figure 2 représente-une éprouvette, en coupe, avec un support de mémoire électronique
La figure 3 représente une éprouvette, en coupe, avec une broche de contacts dans son culot.FIG. 2 represents a specimen, in section, with an electronic memory support
Figure 3 shows a test piece, in section, with a contact pin in its base.
La figure 4 représente une bande avec des pistes conductrices et ses moyens de connexion avec la puce. FIG. 4 represents a strip with conductive tracks and its connection means with the chip.
La figure 5 représente un mode de montage avec une entretoise de protection. Figure 5 shows a mounting mode with a protective spacer.
La figure 6 représente des moyens de réalisation des contacts de la face arrière de la puce. FIG. 6 represents means of making contacts of the rear face of the chip.
Sur la figure 1 est représentée une éprouvette (E) comportant une paroi (R) avec son espace intérieur (V); sur la paroi est constamment fixée un support de mémoire optique (Mo) accessible par la technique du rayon laser bien connue aujourd'hui; pour positionner correctement les moyens d'accès, il est prévu un ergot de positionnement (G). In Figure 1 is shown a test piece (E) having a wall (R) with its interior space (V); on the wall is constantly fixed an optical memory medium (Mo) accessible by the laser beam technique well known today; to correctly position the access means, there is provided a positioning pin (G).
Sur la figure 2 les moyens de mémorisation sont un circuit électronique (P), ci-après appelé 'puce', constamment lié avec le fond d'une cavité aménagée dans la paroi (R) de l'éprouvette; la puce est reliée électriquement par des connexions électriques connues aux contacts (C) sur lesquels il est prévu de connecter les moyens d'accès des appareils d'analyse par exemple; un trou (T) a été prévu comme détrompeur pour positionner correctement les contacts (C) vis & BR< vis des moyens d'accès; évidemment l'ergot (G) conviendrait tout aussi bien comme détrompeur; sur la figure 2, trois contacts (C) sont représentés, ceci n'est pas une limitation et le plus souvent il y a de 4 à 8 contacts. In FIG. 2, the memory means are an electronic circuit (P), hereinafter called a "chip", constantly connected with the bottom of a cavity formed in the wall (R) of the test piece; the chip is electrically connected by known electrical connections to the contacts (C) on which it is intended to connect the access means of the analysis apparatus for example; a hole (T) has been provided as a keying device for correctly positioning the contacts (C) facing the access means; obviously the pin (G) would be just as deceptive; in Figure 2, three contacts (C) are shown, this is not a limitation and most often there are 4 to 8 contacts.
Sur la figure 3 est représenté un des deux modes préférés de réalisation des contacts à savoir que la puce (P) est connectée par des moyens connus à une broche électrique (B), l'ensemble étant logé dans le culot de l'éprouvette; ainsi la broche, male ou femelle, est protégée par la paroi de l'éprouvette; la broche constitue elle-meme le détrompeur et l'éprouvette ainsi décrite est aisément réalisable, par exemple par moulage. FIG. 3 shows one of the two preferred embodiments of the contacts, namely that the chip (P) is connected by known means to an electric pin (B), the assembly being housed in the base of the test piece; thus the spindle, male or female, is protected by the wall of the specimen; the spindle itself constitutes the polarizer and the test piece thus described is easily achievable, for example by molding.
La -figure 4 a) représente une bande (M), par exemple en polyester, mylar, papier,..., sur laquelle sont réalisées, par des procédés connus (sérigraphie, stamping d'encre conductrice,...), des pistes conductrices (PCl, PC2,...); sur la figure 4 b) une coupe de la bande (M) montre la puce (P) connectée à chacune (PC) des pistes conductrices au moyen d'une pâte conductrice (CP) logée Mans chacun des trous aménagés dans la bande M; sur la figure 4 a) la puce (P) est représentée en pointillé. FIG. 4 a) represents a band (M), for example polyester, mylar, paper, ..., on which are produced, by known methods (screen printing, conductive ink stamping, etc.), conductive tracks (PCl, PC2, ...); in FIG. 4 b) a section of the strip (M) shows the chip (P) connected to each (PC) of the conductive tracks by means of a conductive paste (CP) housed in each of the holes formed in the band M; in Figure 4 a) the chip (P) is shown in dotted line.
La bande (M) équipée de la puce ainsi connectée électriquement aux pistes conductrices peut être enroulée autour de l'éprouvette; à cet effet la longueur (L) représentée sur la figure 4 a) est égale au périmétre de l'éprouvette de telle sorte que l'extrémité non percée de la bande vienne recouvrir l'autre extrémité; ainsi on obtient des anneaux de contact autour de l'éprouvette qui, de ce fait, nta plus besoin d'etre positionnée en rotation en vis à vis d'un appareil d'accès à la puce. The strip (M) equipped with the chip thus electrically connected to the conductive tracks may be wound around the test piece; for this purpose the length (L) shown in Figure 4 a) is equal to the perimeter of the specimen so that the unperforated end of the strip comes to cover the other end; Thus, contact rings are obtained around the test piece, which therefore no longer needs to be rotated with respect to an access device to the chip.
La bande (M) peut être avantageusement fabriquée en continu puis coupée & longueur. The band (M) can be advantageously manufactured continuously and then cut & length.
Sur la figure 5 est représenté un deuxième mode préféré de réalisation de l'invention; étant donné que la puce (P) a une certaine épaisseur (+ 300ru), il est préférable de la protéger par une entretoise (EN); la figure 5 a) représente l'entretoise (EN) à plat, ou déroulée, d'une longueur (LE) légèrement inférieure au périmètre de lteprgu- vette; dans l'entretoise est aménagé un évidement (EV) pour y loger la puce; sur la figure 5 b) est représentée, en coupe, l'éprouvette équipée de l'entretoise (EN) et de la bande (M) précédemment décrite à l'aide de la figure 4; on voit que la bande M vient se recouvrir elle-même à l'aplomb de la puce (P) pour masquer les trous des contacts (CP) et ainsi constituer les anneaux comme susdit. In Figure 5 is shown a second preferred embodiment of the invention; since the chip (P) has a certain thickness (+ 300ru), it is preferable to protect it with a spacer (EN); Figure 5a) shows the spacer (EN) flat, or unrolled, of a length (LE) slightly smaller than the perimeter of the target; in the spacer is arranged a recess (EV) to house the chip; in Figure 5 b) is shown in section, the test piece equipped with the spacer (EN) and the strip (M) previously described with the aid of Figure 4; we see that the band M comes to overlap itself to the plumb with the chip (P) to hide the contact holes (CP) and thus constitute the rings as aforesaid.
Avantageusement, l'entretoise est logée dans une gorge aménagée dans la paroi de l'éprouvette; ainsi l'éprouvette ne présente pas d'aspérité et sa paroi extérieure a un diamètre régulier sur toute sa longueur. Advantageously, the spacer is housed in a groove in the wall of the test piece; thus the test piece has no roughness and its outer wall has a regular diameter throughout its length.
Sur la figure6 a), il est montré comment réaliser en outre le contact dit 'face arrière' qui est nécessaire pour certains types de puce; la face arrière de la puce (P) est celle qui se trouve au fond de la gorge aménagée dans la paroi de l'éprouvette comme susdit; le contact face arrière est réalisé par une couche de métallisation (MA) qui s'étend de la paroi extérieure de ltéprouvette jusqutau fond de la gorge tout autour de l'éprouvette; ainsi, après montage, la bande (M), qui recouvre la gorge, ne recouvre pas toute la couche de métallisation (MA) et laisse accessible un anneau de contact supplémentaire; de sorte que un dispositif d'accès à la puce pourra se connecter avec les contacts CO, C1, C2,--- sur les anneaux de contact qui ceinturent complètement l'é- prouvette; le contact C0 procure l'accès à la face arrière. In Figure 6 a), it is shown how to further achieve the so-called 'backs' contact that is necessary for certain types of chips; the rear face of the chip (P) is that which is at the bottom of the groove arranged in the wall of the test tube as aforesaid; the back-face contact is made by a metallization layer (MA) extending from the outer wall of the specimen to the bottom of the groove all around the specimen; thus, after assembly, the band (M), which covers the groove, does not cover the entire metallization layer (MA) and leaves accessible an additional contact ring; so that an access device to the chip can connect with the contacts CO, C1, C2, --- on the contact rings which completely surround the test piece; the contact C0 provides access to the rear face.
Sur la figure 6 b) un autre mode de réalisation du contact face arrière est montré; une vignette conductrice (VA) est en contact avec la face arrière de la puce, et au zains une des pattes de la vignette rient se plier sur une zeste latérale de la face supérieure de la bande (M); la patte de la vignette sera elle-même recouverte par le bout de la bande (M) qui vient en recouvrement de toute cette zone où se trouve la puce. In Figure 6 b) another embodiment of the back-face contact is shown; a conductive vignette (VA) is in contact with the rear face of the chip, and at the zains one of the tabs of the sticker are folding on a lateral zest of the upper face of the band (M); the tab of the sticker will itself be covered by the end of the strip (M) which overlaps the entire area where the chip is located.
On notera enfin que si la bande (M) est suffisamment transparente, en polyester par exemple, la puce peut comme porter une mémoire recyclable par ultra violet dite EPRM. Finally, note that if the band (M) is sufficiently transparent, polyester for example, the chip can as wear a recyclable memory ultra violet said EPRM.
Si la mémoire utilisée est une mémoire morte program- mable du type PROM, celle-ci ne sera pas recyclable. If the memory used is a programmable read-only memory of the PROM type, this will not be recyclable.
L'accès à la mémoire peut avantageasement être pro tégé par la mise en oeuvre d'une procédure d'identification et/ou de confidentialité. Access to the memory can advantageously be protected by the implementation of an identification and / or confidentiality procedure.
La dite bande (M) est fixée à la paroi de l'éprouvette par un moyen connu comme de la colle su autre; avantageusement elle est auto-collante sur sa face en contact avec la paroi de l'éprouvette pour d'une part adhérer à l'éprouvette et d'autre part adhérer aux moyens de mémorisation. The said strip (M) is fixed to the wall of the test piece by means known as glue or other; advantageously it is self-adhesive on its face in contact with the wall of the test piece to firstly adhere to the specimen and secondly adhere to the storage means.
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|---|---|---|---|
| ST | Notification of lapse |