



La présente invention concerne un dispositif générateur d'ions à résonance cyclotronique électronique.The present invention relates to an electron cyclotron resonance ion generating device.
De façon connue, les sources à résonance cyclotronique électronique, dites sources ECR, sont utilisées communément pour produire des ions mono-chargés ou multichargés (c'est-à-dire des atomes auxquels on a arraché un ou plusieurs électrons).In a known manner, electron cyclotron resonance sources, referred to as ECR sources, are commonly used to produce single-charged or multicharged ions (that is to say atoms to which one or more electrons have been torn off).
Le principe de ces sources ECR est de coupler, à l'intérieur d'une chambre sous vide alimentée en atomes (ces atomes peuvent provenir d'un gaz ou d'un métal), une onde haute-fréquence avec un champ magnétique B, de façon à obtenir les conditions dans lesquelles, une résonance cyclotronique est susceptible d'apparaître et d'ioniser les atomes présents, engendrant ainsi un plasma. La pression résiduelle régnant dans la chambre à vide est de l'ordre de 10-6 à 10-1 Pa.The principle of these ECR sources is to couple, inside a vacuum chamber fed with atoms (these atoms can come from a gas or a metal), a high-frequency wave with a magnetic field B, in order to obtain the conditions under which a cyclotron resonance is likely to appear and to ionize the atoms present, thus generating a plasma. The residual pressure prevailing in the vacuum chamber is of the order of 10-6 to 10-1 Pa.
Généralement, la chambre contenant le plasma présente une symétrie de révolution par rapport à un axe longitudinal. Le champ magnétique est produit par des moyens externes à la chambre sous vide. Ces moyens peuvent être constitués d'un ensemble de bobines parcourues d'un courant électrique ou d'un ensemble d'aimants permanents. Les bobines utilisées, si elles sont constituées de matériaux supraconducteurs, doivent être refroidies jusqu'à une température déterminée, par un système cryogénique approprié.Generally, the chamber containing the plasma has a symmetry of revolution with respect to a longitudinal axis. The magnetic field is produced by means external to the vacuum chamber. These means may consist of a set of coils with an electric current or a set of permanent magnets. The coils used, if they consist of superconducting materials, must be cooled to a specified temperature by a suitable cryogenic system.
La résonance cyclotronique est obtenue grâce à l'action conjuguée de l'onde haute fréquence injectée dans l'enceinte, et d'un champ magnétique présentant une structure dite "à minimum B". Le champ magnétique présente en particulier un module Br qui satisfait à la condition (1) de résonance cyclotronique électronique :
Un système d'extraction des ions, situé du côté de la chambre opposé à celui de l'injection de la haute fréquence, ou disposé latéralement par rapport à l'axe de la source en regard du plasma est également prévu.An ion extraction system, located on the side of the chamber opposite to that of the injection of the high frequency, or disposed laterally with respect to the axis of the source facing the plasma is also provided.
Dans ce type de source, la quantité d'ions pouvant être produite résulte de la compétition entre deux processus : d'une part la formation des ions par impact électronique sur des atomes neutres constituant le milieu gazeux à ioniser, et d'autre part, les pertes de ces mêmes ions par recombinaison avec les particules neutres ou chargées présentes dans le volume plasma ou bien par diffusion des atomes neutres jusqu'aux parois de l'enceinte.In this type of source, the quantity of ions that can be produced results from the competition between two processes: on the one hand the formation of ions by electronic impact on neutral atoms constituting the gaseous medium to be ionized, and on the other hand, the losses of these same ions by recombination with the neutral or charged particles present in the plasma volume or by diffusion of the neutral atoms to the walls of the chamber.
Il est prévu de confiner dans l'enceinte les ions formés ainsi que les électrons servant à leur ionisation. Ceci est réalisé en superposant au champ magnétique de symétrie axiale un champ magnétique de symétrie radiale. Ce champ magnétique radial est obtenu à l'aide d'une structure multipolaire constituée généralement par des aimants permanents. Un gradient de champ positif est créé dans toutes les directions (sur l'axe et vers la paroi de la chambre) et est décélérateur. Les électrons du plasma sont piégés dans un puits de potentiel magnétique axialement et radialement. Cette configuration de miroir magnétique n'est évidemment pas parfaite (lignes de fuite) et ceci est mis à profit pour que l'on puisse en extraire les particules chargées qui formeront le faisceau à la sortie de l'électrode plasma.It is planned to confine in the chamber the ions formed as well as the electrons used for their ionization. This is achieved by superimposing on the magnetic field of axial symmetry a magnetic field of radial symmetry. This radial magnetic field is obtained using a multipolar structure generally consisting of permanent magnets. A positive field gradient is created in all directions (on the axis and towards the wall of the chamber) and is decelerating. The plasma electrons are trapped in a magnetic potential well axially and radially. This magnetic mirror configuration is obviously not perfect (creepage) and this is used to extract the charged particles that will form the beam at the output of the plasma electrode.
La superposition du champ magnétique radial et du champ magnétique axial conduit à la formation de surfaces d'équimodule de champ magnétique, fermées n'ayant aucun contact avec les parois de l'enceinte. Le champ magnétique total est réglé de façon à ce qu'il existe au moins une surface magnétique complètement fermée sur laquelle la condition (1) de résonance cyclotronique électronique est satisfaite.The superposition of the radial magnetic field and the axial magnetic field leads to the formation of closed magnetic field equimodule surfaces having no contact with the walls of the enclosure. The total magnetic field is adjusted so that there is at least one completely closed magnetic surface on which the electronic cyclotron resonance condition (1) is satisfied.
La demande de brevet
Le brevet
La densité électronique des plasmas des sources RCE est comprise entre 109 et 1012 électrons par cm3. Les particules neutres sont injectées dans le volume de la chambre à vide contenant le plasma. Si elles ne sont pas ionisées au cours de leur premier trajet au sein du plasma, elles collent sur les parois de la chambre. Leur temps de collage dépend de l'espèce chimique à laquelle elles appartiennent. Ce temps peut être très important pour des particules dont les propriétés physico-chimiques autorisent une réaction avec les parois. Leur probabilité d'ionisation dépend donc directement de la capacité d'ionisation du plasma.The electron density of the ECR source plasmas is between 109 and 1012 electrons per cm3 . The neutral particles are injected into the volume of the vacuum chamber containing the plasma. If they are not ionized during their first journey within the plasma, they stick on the walls of the room. Their bonding time depends on the chemical species to which they belong. This time can be very important for particles whose physico-chemical properties allow a reaction with the walls. Their probability of ionization therefore depends directly on the ionization capacity of the plasma.
Des efficacités d'ionisation proches de 100% peuvent être observées pour les gaz non réactifs avec les parois. En effet, les rebonds successifs des particules sur les parois multiplient le nombre de trajets des particules dans le plasma et permettent leur ionisation s'ils ne sont pas ionisés au passage des zones d'excitation électronique les plus fortes du plasma (autour des zones de résonance).Ionization efficiencies close to 100% can be observed for non-reactive gases with the walls. Indeed, the successive rebounds of the particles on the walls multiply the number of paths of the particles in the plasma and allow their ionization if they are not ionized at the passage of the zones of the strongest electron excitation of the plasma (around the zones of resonance).
En revanche, il n'en est pas de même pour les éléments condensables (Pb, Ge par exemple) du tableau périodique de Mendeleïev. Ces derniers, s'ils ne sont pas ionisés au premier passage dans le plasma, sont collés aux parois dès qu'ils les atteignent et ne peuvent s'en décoller que si la température de la paroi est suffisante pour l'élément considéré. Dès lors, les sources d'ions ECR conventionnelles avec des parois froides conduisent à de faibles efficacités totales d'ionisation dans la mesure où les atomes qui ne sont pas ionisés à leur premier passage dans le plasma se condensent sur les parois de la chambre et sont perdus pour la production du faisceau. Ainsi, compte tenu des sections efficaces d'ionisation par impact électronique, les efficacités d'ionisation pour les éléments condensables sont de quelques pour mille, pour une onde de fréquence 2.45 GHz jusqu'à 20% pour une onde de fréquence 15 Ghz.On the other hand, it is not the same for the condensable elements (Pb, Ge for example) of Mendeleev's periodic table. The latter, if they are not ionized at the first passage in the plasma, are stuck to the walls as soon as they reach them and can only come off if the temperature of the wall is sufficient for the element in question. As a result, conventional ECR ion sources with cold walls lead to low total ionization efficiencies as atoms that are not ionized at their first pass through the plasma condense on the walls of the chamber and are lost for beam production. Thus, in view of the electron impact ionization cross sections, the ionization efficiencies for the condensable elements are from a few to a thousand, for a wave frequency of 2.45 GHz up to 20% for a wave frequency of 15 Ghz.
On notera qu'il en va de même pour la production d'ions radioactifs dont l'efficacité sera très dépendante de la durée de vie de ces éléments.Note that it is the same for the production of radioactive ions whose effectiveness will be very dependent on the life of these elements.
Pour les gaz non réactifs avec la paroi, l'efficacité d'ionisation est évidemment plus élevée que pour les éléments condensables ; toutefois, parallèlement, le temps total de transformation des particules neutres augmente, ce temps étant lié à la fois aux différents rebonds et au temps de décollage des particules.For non-reactive gases with the wall, the ionization efficiency is obviously higher than for the condensable elements; however, in parallel, the total transformation time of the neutral particles increases, this time being related to both the different rebounds and the take-off time of the particles.
Dans ce contexte, la présente invention a pour but de fournir un dispositif générateur d'ions à résonance cyclotronique électronique permettant d'augmenter la capacité d'ionisation directe avant tout rebond sur les parois de la chambre à vide.In this context, the object of the present invention is to provide an electronic cyclotron resonance ion generating device which makes it possible to increase the direct ionization capacity before any bounce on the walls of the vacuum chamber.
A cette fin, l'invention propose un dispositif générateur d'ions à résonance cyclotronique électronique comportant :
On entend par champ magnétique possédant une symétrie de révolution par rapport à l'axe longitudinal, un champ magnétique dont les composantes radiale et axiale sont symétriques quels que soient les points situés sur un cercle autour dudit axe.Magnetic field having a symmetry of revolution with respect to the longitudinal axis is understood to mean a magnetic field whose radial and axial components are symmetrical irrespective of the points situated on a circle about said axis.
Grâce à l'invention, on réduit le temps de transformation des particules neutres en ions tout en assurant une grande efficacité d'ionisation. Le dispositif selon l'invention présente un champ magnétique à symétrie de révolution définissant le volume d'un plasma contenu dans une chambre comprenant deux zones ou étages distincts. Les ions sont essentiellement créés dans la première zone tandis que la deuxième zone assure le confinement des ions selon le principe de la source à résonance cyclotronique électronique. Entre les deux zones, les directions des vecteurs du champ magnétique sont parallèles à l'axe commun aux deux étages, à savoir l'axe longitudinal de la chambre : on a donc entre ces deux zones un champ magnétique purement axial (pas de composante radiale du champ magnétique). Les deux zones ne présentent aucune rupture sur le plan magnétique et définissent un volume contenant un seul et même plasma, c'est-à-dire un seul et même ensemble composé d'ions, d'électrons, d'atomes et de molécules, globalement électriquement neutre (i.e. avec autant de charges positives que de charges négatives). Le fait d'utiliser des vecteurs de champ magnétique coaxiaux entre les deux étages entraîne implicitement que le champ magnétique est à symétrie de révolution et impose la migration des ions de la première zone vers la deuxième zone.Thanks to the invention, the transformation time of the neutral particles into ions is reduced while ensuring a high efficiency of ionization. The device according to the invention has a magnetic field with symmetry of revolution defining the volume of a plasma contained in a chamber comprising two distinct zones or stages. The ions are essentially created in the first zone while the second zone ensures the confinement of the ions according to the principle of the electron cyclotron resonance source. Between the two zones, the directions of the vectors of the magnetic field are parallel to the axis common to the two stages, namely the longitudinal axis of the chamber: there is thus between these two zones a purely axial magnetic field (no radial component magnetic field). The two zones have no magnetic break and define a volume containing a single plasma, that is to say a single set composed of ions, electrons, atoms and molecules, globally electrically neutral (ie with as many positive charges as negative charges). The fact of using coaxial magnetic field vectors between the two stages implies implicitly that the magnetic field is symmetrical of revolution and requires the migration of ions from the first zone to the second zone.
Dans le premier étage, l'efficacité d'ionisation d'une particule dépend des moyens utilisés pour réaliser cette ionisation. Les particules ionisées migrent vers le deuxième étage RCE dans lequel elles sont confinées voir multichargées ; on notera à ce titre que le deuxième étage peut conserver ou augmenter l'état de charge des ions provenant du premier étage.In the first stage, the ionization efficiency of a particle depends on the means used to achieve this ionization. The ionized particles migrate to the second ECR stage in which they are confined or even multicharged; it should be noted in this respect that the second stage can maintain or increase the state of charge of the ions coming from the first stage.
Les ions confinés par le deuxième étage peuvent alors être utilisés sous la forme d'un faisceau de particules mono ou multichargées. Le faisceau ainsi produit présentera les caractéristiques données par une source de type RCE à symétrie de révolution telle que décrite dans le brevet
Concernant l'ionisation de particules de faible durée de vie (atome radioactifs, molécules instables,...), le dispositif selon l'invention permet d'augmenter la probabilité de les ioniser avant qu'ils aient changé d'état en réduisant le temps nécessaire au processus de transformation.As regards the ionisation of particles of short duration (radioactive atoms, unstable molecules, etc.), the device according to the invention makes it possible to increase the probability of ionizing them before they have changed state by reducing the time required for the transformation process.
Par ailleurs, le parallélisme entre ledit champ magnétique et l'axe longitudinal est déterminé par le rayon de Larmor de l'ion d'intérêt (rayon de giration de l'ion autour des lignes de champ). Ainsi, le rayon de giration augmente avec la masse des ions d'intérêt. Dans la mesure où, selon l'invention, les particules ionisées dans la zone d'ionisation doivent migrer vers la zone de confinement, l'exigence de parallélisme du champ magnétique avec l'axe dépendra du rayon de Larmor de cet ion. On conçoit aisément que pour un ion d'intérêt de faible masse, on pourra tolérer un défaut de parallélisme plus important entre le champ magnétique et l'axe longitudinal que pour un ion d'intérêt de masse plus importante avec un rayon de Larmor élevé et qui pourrait, pour un champ magnétique présentant un angle trop important avec l'axe longitudinal, s'écarter de la direction prévue et ne pas migrer vers le deuxième étage. De façon générale, on peut dire que l'angle θ maximum entre les vecteurs de champ magnétique situés dans la zone d'ionisation et entre cette zone d'ionisation et l'entrée de la zone de confinement, doit rester inférieur à 30°. On notera qu'il est possible de diminuer le rayon de Larmor de l'ion d'intérêt en ayant un module de champ magnétique élevé dans la zone d'ionisation.Moreover, the parallelism between said magnetic field and the longitudinal axis is determined by the Larmor radius of the ion of interest (radius of gyration of the ion around the field lines). Thus, the radius of gyration increases with the mass of the ions of interest. Since, according to the invention, the ionized particles in the ionization zone must migrate towards the confinement zone, the requirement of parallelism of the magnetic field with the axis will depend on the Larmor radius of this ion. It is easy to understand that for an ion of interest of low mass, it will be possible to tolerate a greater parallelism error between the magnetic field and the longitudinal axis than for an ion of greater mass interest with a high Larmor radius and which could, for a magnetic field having too much angle with the longitudinal axis, deviate from the planned direction and not migrate towards the second stage. In general, it can be said that the maximum angle θ between the magnetic field vectors located in the ionization zone and between this ionization zone and the entry of the confinement zone must remain less than 30 °. Note that it is possible to decrease the Larmor radius of the ion of interest by having a high magnetic field module in the ionization zone.
Le dispositif selon l'invention peut également présenter une ou plusieurs des caractéristiques ci-dessous, considérées individuellement ou selon toutes les combinaisons techniquement possibles :
D'autres caractéristiques et avantages de l'invention ressortiront clairement de la description qui en est donnée ci-dessous, à titre indicatif et nullement limitatif, en référence aux figures annexées, parmi lesquelles :
Dans toutes les figures, les éléments communs portent les mêmes numéros de référence.In all the figures, the common elements bear the same reference numbers.
La
Le dispositif 1 comporte :
Les aimants permanents 3, 4 et 5 peuvent être des aimants monoblocs ou des aimants composés de plusieurs secteurs montés avec une aimantation dans le même sens.The
La
Ainsi, l'intensité du module du champ magnétique est représentée par des pointillés : le module régnant dans la chambre 2 est d'autant plus intense que les pointillés sont denses.Thus, the intensity of the modulus of the magnetic field is represented by dashed lines: the modulus prevailing in the
De même, plusieurs surfaces d'équimodules sont représentées sur la
Enfin, les vecteurs de champ magnétique sont représentés par des flèches.Finally, the magnetic field vectors are represented by arrows.
Le dispositif 1 comporte :
La zone d'ionisation 10 est ici une zone RCE (on notera que les systèmes d'injection des ions et de l'onde haute fréquence ne sont pas représentés sur la
Le dispositif 1 comporte également un tube 14 dans lequel on insère un micro-four non représenté : ce micro-four permet par chauffage d'un composé à ioniser jusqu'à une pression de vapeur suffisante de produire des éléments condensables du tableau périodique de Mendeleïev (Pb par exemple). Le micro-four est également sensiblement placé selon l'axe longitudinal AA' et doit être très proche de la zone de résonance 10 sans toutefois pénétrer dans cette zone. Typiquement, le micro-four peut être placé 2 mm en retrait (cf. localisation illustrée par la référence 15) du bout du guide d'onde 13 : ce four est par exemple chargé de208Pb. Rappelons que l'ionisation d'un élément condensable est un critère fondamental pour qualifier le dispositif selon l'invention puisque les éléments condensables non ionisés au premier passage dans les dispositifs connus sont collés aux parois dès qu'ils les atteignent et ne peuvent s'en décoller que si la température de la paroi est suffisante pour l'élément considéré.The
Les ions produits par le premier étage 7 au niveau de la zone d'ionisation 10 sont pris en charge par le champ magnétique sensiblement parallèle à l'axe longitudinal AA' (i.e. composante radiale du champ magnétique est sensiblement nulle) à la fois dans la zone d'ionisation 10 puis entre la zone d'ionisation 10 et l'entrée du deuxième étage de confinement de sorte que les ions générés dans ladite zone d'ionisation migrent spontanément en s'enroulant autour des lignes de champ vers ledit deuxième étage de confinement 8 (on notera que l'ensemble des ions, mono et multichargés, est pris en charge et migre vers le deuxième étage 8). On notera également que le fait d'imposer un champ magnétique sensiblement colinéaire à l'axe AA' implique de fait d'avoir un champ magnétique à symétrie de révolution. Comme déjà mentionné plus haut, le parallélisme entre le champ magnétique et l'axe longitudinal AA' est déterminé par le rayon de Larmor de l'ion d'intérêt. Ainsi, le rayon de Larmor augmente avec la masse des ions d'intérêt (le rayon de giration de l'Ar est ainsi plus faible que le rayon de giration du Pb, plus lourd que l'Ar). Dans la mesure où, selon l'invention, les particules ionisées dans la zone d'ionisation 10 doivent migrer vers le deuxième étage de confinement 8, l'exigence de parallélisme du champ magnétique avec l'axe dépendra du rayon de Larmor de cet ion. On conçoit aisément que pour un ion d'intérêt de faible masse, on pourra tolérer un défaut de parallélisme plus important entre le champ magnétique et l'axe longitudinal que pour un ion d'intérêt de masse plus importante avec un rayon de Larmor élevé et qui pourrait, pour un champ magnétique présentant un angle trop important avec l'axe longitudinal AA', s'écarter de la direction prévue et ne pas migrer vers le deuxième étage 8. De façon générale, on peut dire que l'angle θ maximum entre les vecteurs de champ magnétique situés dans la zone d'ionisation et entre cette zone d'ionisation et l'entrée de la zone de confinement, doit rester inférieur à 30°. On notera qu'il est possible de diminuer le rayon de Larmor de l'ion d'intérêt en ayant un module de champ magnétique élevé dans la zone d'ionisation 10 : le cône de fer doux 6 permet de concentrer le champ magnétique dans cette zone.The ions produced by the
Les deux aimants permanents 4 et 5 servent à générer le champ magnétique à symétrie de révolution.The two
Le deuxième étage 8 forme donc une zone de confinement magnétique RCE : les aimants 4 et 5 sont choisis de manière que la somme vectorielle des champs magnétiques créés en chaque point du deuxième étage 8 conduise à obtenir un profil à lignes fermées de minimal |B|. La référence 16 sur la
On notera que les premier et deuxième étages 7 et 8 comportent un seul et même plasma continu.It will be noted that the first and
On notera également qu'il est possible d'utiliser un seul guide d'ondes pour injecter les deux ondes haute fréquence (par exemple une première fréquence pour le premier étage 7 d'ionisation égale à 18 GHz et une deuxième fréquence pour le second étage de confinement égale à 8 GHz transmises par le même guide d'ondes).It will also be noted that it is possible to use a single waveguide for injecting the two high frequency waves (for example a first frequency for the
On peut également utiliser un gaz support (injecté via un capillaire non représenté dans la chambre 2) qui permet d'augmenter la population électronique. Ce gaz support est de préférence un gaz dont les atomes sont de masse plus faible que ceux permettant l'obtention des ions d'intérêt. Ainsi, dans le cas de l'ionisation du208Pb, on peut utiliser un gaz support, par exemple l'He.It is also possible to use a carrier gas (injected via a capillary not shown in chamber 2) which makes it possible to increase the electronic population. This carrier gas is preferably a gas whose atoms are of lower mass than those for obtaining the ions of interest. So, in the case of the ionization of208 Pb, it is possible to use a carrier gas, for example He.
Bien entendu, le système de guidage d'onde 13 et le système d'injection des éléments neutres 14 sont reliés de façon parfaitement étanche à la chambre 2 au moyen de joints appropriés non représentés.Of course, the
Par ailleurs, l'injection des éléments neutres dans la zone d'ionisation a été plus particulièrement décrite dans le cas de l'utilisation d'un micro-four pour des éléments condensables; bien évidemment, l'invention est également applicable à d'autres sources connues de production d'éléments neutres (bouteille de gaz par exemple).Moreover, the injection of the neutral elements into the ionization zone has been more particularly described in the case of the use of a micro-furnace for condensable elements; obviously, the invention is also applicable to other known sources of production of neutral elements (gas bottle for example).
Avec un dispositif tel que représenté aux
La
On notera par ailleurs qu'un test (non représenté) de fonctionnement du premier étage seul (sans faire fonctionner l'étage de confinement RCE) montre une très faible production d'ions.Note also that a test (not shown) of operation of the first stage alone (without operating the confinement stage RCE) shows a very low production of ions.
Le champ magnétique dans l'exemple illustré aux
Le dispositif 100 comporte :
Comme pour la
Ainsi, l'intensité du module du champ magnétique est représentée par des pointillés : le module régnant dans la chambre 102 est d'autant plus intense que les pointillés sont denses.Thus, the intensity of the modulus of the magnetic field is represented by dotted lines: the modulus prevailing in the
De même, plusieurs surfaces d'équimodules sont représentées sur la
Enfin, les vecteurs de champ magnétique sont représentés par des flèches.Finally, the magnetic field vectors are represented by arrows.
Le dispositif 100 comporte :
La zone d'ionisation 110 est ici une zone RCE à plus haute fréquence que la zone RCE de la
A la seule différence de la bobine 101 qui permet d'utiliser une zone RCE de plus haute fréquence pour l'étage d'ionisation, le dispositif 100 de la
Les différents modes de réalisation décrits jusqu'à présent (
Ainsi, à la place d'un premier étage RCE, le premier étage d'ionisation peut également être choisi parmi les sources suivantes :
A titre d'illustration, les
Les dispositifs 200 et 300 sont identiques au dispositif 1 de la figure à la différence que le premier étage d'ionisation n'est pas un étage RCE. Nous avons conservé les mêmes références pour les éléments communs avec le dispositif 1 de la
Le dispositif 200 de la
Le dispositif 300 de la
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title | 
|---|---|---|---|
| FR0854502AFR2933532B1 (en) | 2008-07-02 | 2008-07-02 | ELECTRONIC CYCLOTRON RESONANCE ION GENERATING DEVICE | 
| PCT/FR2009/051104WO2010001036A2 (en) | 2008-07-02 | 2009-06-11 | Electron cyclotron resonance ion generator | 
| Publication Number | Publication Date | 
|---|---|
| EP2311061A2 EP2311061A2 (en) | 2011-04-20 | 
| EP2311061B1true EP2311061B1 (en) | 2016-11-16 | 
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date | 
|---|---|---|---|
| EP09772718.4ANot-in-forceEP2311061B1 (en) | 2008-07-02 | 2009-06-11 | Electron cyclotron resonance ion generator | 
| Country | Link | 
|---|---|
| US (1) | US8760055B2 (en) | 
| EP (1) | EP2311061B1 (en) | 
| JP (1) | JP5715562B2 (en) | 
| FR (1) | FR2933532B1 (en) | 
| WO (1) | WO2010001036A2 (en) | 
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title | 
|---|---|---|---|---|
| FR2969372B1 (en)* | 2010-12-21 | 2015-04-17 | Commissariat Energie Atomique | ELECTRONIC CYCLOTRON RESONANCE IONIZATION DEVICE | 
| FR2985292B1 (en)* | 2011-12-29 | 2014-01-24 | Onera (Off Nat Aerospatiale) | PLASMIC PROPELLER AND METHOD FOR GENERATING PLASMIC PROPULSIVE THRUST | 
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title | 
|---|---|---|---|---|
| FR2668642A1 (en)* | 1990-10-25 | 1992-04-30 | Commissariat Energie Atomique | SOURCE OF HIGHLY LOADED IONS WITH POLARIZABLE PROBE AND ELECTRONIC CYCLOTRONIC RESONANCE. | 
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title | 
|---|---|---|---|---|
| JPS59194407A (en)* | 1983-04-19 | 1984-11-05 | Ulvac Corp | Electron cyclotron resonance ion source magnet device | 
| FR2595868B1 (en)* | 1986-03-13 | 1988-05-13 | Commissariat Energie Atomique | ION SOURCE WITH ELECTRONIC CYCLOTRON RESONANCE WITH COAXIAL INJECTION OF ELECTROMAGNETIC WAVES | 
| DE3905303C2 (en)* | 1988-02-24 | 1996-07-04 | Hitachi Ltd | Device for generating a plasma by means of microwaves | 
| US4883968A (en)* | 1988-06-03 | 1989-11-28 | Eaton Corporation | Electron cyclotron resonance ion source | 
| JP3010059B2 (en)* | 1990-09-20 | 2000-02-14 | 日本真空技術株式会社 | Ion source | 
| JPH04262349A (en)* | 1991-02-15 | 1992-09-17 | Kobe Steel Ltd | Multi-valent heavy ion source and univalent heavy ion source | 
| FR2676593B1 (en)* | 1991-05-14 | 1997-01-03 | Commissariat Energie Atomique | ION SOURCE WITH ELECTRONIC CYCLOTRONIC RESONANCE. | 
| JPH069041U (en)* | 1992-07-07 | 1994-02-04 | 日新電機株式会社 | Ion source | 
| JP2644958B2 (en)* | 1993-04-02 | 1997-08-25 | 株式会社日立製作所 | Ion source device and ion implantation device provided with the ion source device | 
| FR2718568B1 (en)* | 1994-04-06 | 1996-07-05 | France Telecom | High energy implantation method from a low or medium current type implanter and corresponding devices. | 
| FR2757310B1 (en) | 1996-12-18 | 2006-06-02 | Commissariat Energie Atomique | MAGNETIC SYSTEM, ESPECIALLY FOR ECR SOURCES, ALLOWING THE CREATION OF CLOSED EQUIMODULE B SURFACES OF ANY SHAPE AND DIMENSIONS | 
| JP4249826B2 (en)* | 1998-12-02 | 2009-04-08 | 株式会社 Sen−Shi・アクセリス カンパニー | Multipolar permanent magnet device for ECR | 
| FR2815954B1 (en)* | 2000-10-27 | 2003-02-21 | Commissariat Energie Atomique | PROCESS AND DEVICE FOR DEPOSIT BY PLASMA AT THE ELECTRONIC CYCLOTRON RESONANCE OF MONOPAROIS CARBON NANOTUBES AND NANOTUBES THUS OBTAINED | 
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title | 
|---|---|---|---|---|
| FR2668642A1 (en)* | 1990-10-25 | 1992-04-30 | Commissariat Energie Atomique | SOURCE OF HIGHLY LOADED IONS WITH POLARIZABLE PROBE AND ELECTRONIC CYCLOTRONIC RESONANCE. | 
| Publication number | Publication date | 
|---|---|
| US20110210668A1 (en) | 2011-09-01 | 
| EP2311061A2 (en) | 2011-04-20 | 
| FR2933532A1 (en) | 2010-01-08 | 
| WO2010001036A2 (en) | 2010-01-07 | 
| US8760055B2 (en) | 2014-06-24 | 
| JP2011526724A (en) | 2011-10-13 | 
| FR2933532B1 (en) | 2010-09-03 | 
| WO2010001036A3 (en) | 2010-02-25 | 
| JP5715562B2 (en) | 2015-05-07 | 
| Publication | Publication Date | Title | 
|---|---|---|
| EP1488443B1 (en) | Device for confinement of a plasma within a volume | |
| EP3344873B1 (en) | Gridded ion thruster with integrated solid propellant | |
| EP0238397B1 (en) | Electronic cyclotron resonance ion source with coaxial injection of electromagnetic waves | |
| WO2013098505A1 (en) | Plasma thruster and method for generating a plasma propulsion thrust | |
| EP0711100B1 (en) | Plasma production device, allowing a dissociation between microwave propagation and absorption zones | |
| EP0145586B1 (en) | Multicharged ion source with several electron cyclotron resonance regions | |
| EP2873306B1 (en) | Coaxial microwave applicator for plasma production | |
| EP0184475B1 (en) | Method and apparatus for igniting a hyperfrequency ion source | |
| EP0199625B1 (en) | Electron cyclotron resonance negative ion source | |
| EP2311061B1 (en) | Electron cyclotron resonance ion generator | |
| EP2652766B1 (en) | Electronic cyclotronic resonance ion source | |
| EP0946961B1 (en) | Magnetic system, particularly for ecr sources, for producing closed surfaces of equimodule b of any form and dimensions | |
| FR2672730A1 (en) | MODEL CONVERTER DEVICE AND POWER DIVIDER FOR MICROWAVE TUBE AND MICROWAVE TUBE COMPRISING SUCH A DEVICE. | |
| EP0483004B1 (en) | Electron cyclotron resonance ion source for highly charged ions with polarisable probe | |
| EP2656368A1 (en) | Electron cyclotron resonance ionization device | |
| EP0232651B1 (en) | Ion source operating at the electron cyclotron resonance | |
| EP0813223B1 (en) | Magnetic field generation means and ECR ion source using the same | |
| FR2999796A1 (en) | ELECTRONIC OPTICAL DEVICE | |
| FR3157655A1 (en) | Ion source | |
| FR3114476A1 (en) | Excitation device for transforming a gas into plasma in a dielectric capillary tube and laser-plasma accelerator. | |
| WO1999003314A1 (en) | Compact cyclotron and its use in proton therapy | |
| WO2025132161A1 (en) | Ion source | |
| FR2883410A1 (en) | PHOTON SOURCE COMPRISING A MULTICHARGED ION PLASMA SOURCE WITH ELECTRONIC CYCLOTRON RESONANCE. | |
| FR2779315A1 (en) | DEVICE INTENDED TO CREATE A MAGNETIC FIELD INSIDE A SPEAKER | 
| Date | Code | Title | Description | 
|---|---|---|---|
| PUAI | Public reference made under article 153(3) epc to a published international application that has entered the european phase | Free format text:ORIGINAL CODE: 0009012 | |
| 17P | Request for examination filed | Effective date:20110125 | |
| AK | Designated contracting states | Kind code of ref document:A2 Designated state(s):AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK MT NL NO PL PT RO SE SI SK TR | |
| AX | Request for extension of the european patent | Extension state:AL BA RS | |
| DAX | Request for extension of the european patent (deleted) | ||
| 17Q | First examination report despatched | Effective date:20111228 | |
| GRAP | Despatch of communication of intention to grant a patent | Free format text:ORIGINAL CODE: EPIDOSNIGR1 | |
| INTG | Intention to grant announced | Effective date:20160610 | |
| GRAS | Grant fee paid | Free format text:ORIGINAL CODE: EPIDOSNIGR3 | |
| GRAA | (expected) grant | Free format text:ORIGINAL CODE: 0009210 | |
| AK | Designated contracting states | Kind code of ref document:B1 Designated state(s):AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HR HU IE IS IT LI LT LU LV MC MK MT NL NO PL PT RO SE SI SK TR | |
| REG | Reference to a national code | Ref country code:GB Ref legal event code:FG4D Free format text:NOT ENGLISH | |
| REG | Reference to a national code | Ref country code:CH Ref legal event code:EP | |
| REG | Reference to a national code | Ref country code:IE Ref legal event code:FG4D Free format text:LANGUAGE OF EP DOCUMENT: FRENCH | |
| REG | Reference to a national code | Ref country code:AT Ref legal event code:REF Ref document number:846621 Country of ref document:AT Kind code of ref document:T Effective date:20161215 | |
| REG | Reference to a national code | Ref country code:DE Ref legal event code:R096 Ref document number:602009042477 Country of ref document:DE | |
| PG25 | Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo] | Ref country code:LV Free format text:LAPSE BECAUSE OF FAILURE TO SUBMIT A TRANSLATION OF THE DESCRIPTION OR TO PAY THE FEE WITHIN THE PRESCRIBED TIME-LIMIT Effective date:20161116 | |
| REG | Reference to a national code | Ref country code:NL Ref legal event code:MP Effective date:20161116 | |
| REG | Reference to a national code | Ref country code:LT Ref legal event code:MG4D | |
| REG | Reference to a national code | Ref country code:AT Ref legal event code:MK05 Ref document number:846621 Country of ref document:AT Kind code of ref document:T Effective date:20161116 | |
| PG25 | Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo] | Ref country code:NO Free format text:LAPSE BECAUSE OF FAILURE TO SUBMIT A TRANSLATION OF THE DESCRIPTION OR TO PAY THE FEE WITHIN THE PRESCRIBED TIME-LIMIT Effective date:20170216 Ref country code:SE Free format text:LAPSE BECAUSE OF FAILURE TO SUBMIT A TRANSLATION OF THE DESCRIPTION OR TO PAY THE FEE WITHIN THE PRESCRIBED TIME-LIMIT Effective date:20161116 Ref country code:GR Free format text:LAPSE BECAUSE OF FAILURE TO SUBMIT A TRANSLATION OF THE DESCRIPTION OR TO PAY THE FEE WITHIN THE PRESCRIBED TIME-LIMIT Effective date:20170217 Ref country code:LT Free format text:LAPSE BECAUSE OF FAILURE TO SUBMIT A TRANSLATION OF THE DESCRIPTION OR TO PAY THE FEE WITHIN THE PRESCRIBED TIME-LIMIT Effective date:20161116 Ref country code:NL Free format text:LAPSE BECAUSE OF FAILURE TO SUBMIT A TRANSLATION OF THE DESCRIPTION OR TO PAY THE FEE WITHIN THE PRESCRIBED TIME-LIMIT Effective date:20161116 | |
| REG | Reference to a national code | Ref country code:FR Ref legal event code:PLFP Year of fee payment:9 | |
| PG25 | Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo] | Ref country code:ES Free format text:LAPSE BECAUSE OF FAILURE TO SUBMIT A TRANSLATION OF THE DESCRIPTION OR TO PAY THE FEE WITHIN THE PRESCRIBED TIME-LIMIT Effective date:20161116 Ref country code:PT Free format text:LAPSE BECAUSE OF FAILURE TO SUBMIT A TRANSLATION OF THE DESCRIPTION OR TO PAY THE FEE WITHIN THE PRESCRIBED TIME-LIMIT Effective date:20170316 Ref country code:AT Free format text:LAPSE BECAUSE OF FAILURE TO SUBMIT A TRANSLATION OF THE DESCRIPTION OR TO PAY THE FEE WITHIN THE PRESCRIBED TIME-LIMIT Effective date:20161116 Ref country code:FI Free format text:LAPSE BECAUSE OF FAILURE TO SUBMIT A TRANSLATION OF THE DESCRIPTION OR TO PAY THE FEE WITHIN THE PRESCRIBED TIME-LIMIT Effective date:20161116 Ref country code:HR Free format text:LAPSE BECAUSE OF FAILURE TO SUBMIT A TRANSLATION OF THE DESCRIPTION OR TO PAY THE FEE WITHIN THE PRESCRIBED TIME-LIMIT Effective date:20161116 Ref country code:PL Free format text:LAPSE BECAUSE OF FAILURE TO SUBMIT A TRANSLATION OF THE DESCRIPTION OR TO PAY THE FEE WITHIN THE PRESCRIBED TIME-LIMIT Effective date:20161116 | |
| PG25 | Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo] | Ref country code:CZ Free format text:LAPSE BECAUSE OF FAILURE TO SUBMIT A TRANSLATION OF THE DESCRIPTION OR TO PAY THE FEE WITHIN THE PRESCRIBED TIME-LIMIT Effective date:20161116 Ref country code:RO Free format text:LAPSE BECAUSE OF FAILURE TO SUBMIT A TRANSLATION OF THE DESCRIPTION OR TO PAY THE FEE WITHIN THE PRESCRIBED TIME-LIMIT Effective date:20161116 Ref country code:EE Free format text:LAPSE BECAUSE OF FAILURE TO SUBMIT A TRANSLATION OF THE DESCRIPTION OR TO PAY THE FEE WITHIN THE PRESCRIBED TIME-LIMIT Effective date:20161116 Ref country code:SK Free format text:LAPSE BECAUSE OF FAILURE TO SUBMIT A TRANSLATION OF THE DESCRIPTION OR TO PAY THE FEE WITHIN THE PRESCRIBED TIME-LIMIT Effective date:20161116 Ref country code:DK Free format text:LAPSE BECAUSE OF FAILURE TO SUBMIT A TRANSLATION OF THE DESCRIPTION OR TO PAY THE FEE WITHIN THE PRESCRIBED TIME-LIMIT Effective date:20161116 | |
| REG | Reference to a national code | Ref country code:DE Ref legal event code:R097 Ref document number:602009042477 Country of ref document:DE | |
| PG25 | Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo] | Ref country code:IT Free format text:LAPSE BECAUSE OF FAILURE TO SUBMIT A TRANSLATION OF THE DESCRIPTION OR TO PAY THE FEE WITHIN THE PRESCRIBED TIME-LIMIT Effective date:20161116 Ref country code:BG Free format text:LAPSE BECAUSE OF FAILURE TO SUBMIT A TRANSLATION OF THE DESCRIPTION OR TO PAY THE FEE WITHIN THE PRESCRIBED TIME-LIMIT Effective date:20170216 | |
| PLBE | No opposition filed within time limit | Free format text:ORIGINAL CODE: 0009261 | |
| STAA | Information on the status of an ep patent application or granted ep patent | Free format text:STATUS: NO OPPOSITION FILED WITHIN TIME LIMIT | |
| 26N | No opposition filed | Effective date:20170817 | |
| PG25 | Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo] | Ref country code:SI Free format text:LAPSE BECAUSE OF FAILURE TO SUBMIT A TRANSLATION OF THE DESCRIPTION OR TO PAY THE FEE WITHIN THE PRESCRIBED TIME-LIMIT Effective date:20161116 | |
| PG25 | Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo] | Ref country code:MC Free format text:LAPSE BECAUSE OF FAILURE TO SUBMIT A TRANSLATION OF THE DESCRIPTION OR TO PAY THE FEE WITHIN THE PRESCRIBED TIME-LIMIT Effective date:20161116 | |
| REG | Reference to a national code | Ref country code:CH Ref legal event code:PL | |
| GBPC | Gb: european patent ceased through non-payment of renewal fee | Effective date:20170611 | |
| REG | Reference to a national code | Ref country code:IE Ref legal event code:MM4A | |
| PG25 | Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo] | Ref country code:LU Free format text:LAPSE BECAUSE OF NON-PAYMENT OF DUE FEES Effective date:20170611 Ref country code:GB Free format text:LAPSE BECAUSE OF NON-PAYMENT OF DUE FEES Effective date:20170611 Ref country code:IE Free format text:LAPSE BECAUSE OF NON-PAYMENT OF DUE FEES Effective date:20170611 Ref country code:CH Free format text:LAPSE BECAUSE OF NON-PAYMENT OF DUE FEES Effective date:20170630 Ref country code:LI Free format text:LAPSE BECAUSE OF NON-PAYMENT OF DUE FEES Effective date:20170630 | |
| REG | Reference to a national code | Ref country code:BE Ref legal event code:MM Effective date:20170630 | |
| REG | Reference to a national code | Ref country code:FR Ref legal event code:PLFP Year of fee payment:10 | |
| PG25 | Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo] | Ref country code:BE Free format text:LAPSE BECAUSE OF NON-PAYMENT OF DUE FEES Effective date:20170630 | |
| PG25 | Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo] | Ref country code:MT Free format text:LAPSE BECAUSE OF FAILURE TO SUBMIT A TRANSLATION OF THE DESCRIPTION OR TO PAY THE FEE WITHIN THE PRESCRIBED TIME-LIMIT Effective date:20161116 | |
| PG25 | Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo] | Ref country code:HU Free format text:LAPSE BECAUSE OF FAILURE TO SUBMIT A TRANSLATION OF THE DESCRIPTION OR TO PAY THE FEE WITHIN THE PRESCRIBED TIME-LIMIT; INVALID AB INITIO Effective date:20090611 | |
| PG25 | Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo] | Ref country code:CY Free format text:LAPSE BECAUSE OF NON-PAYMENT OF DUE FEES Effective date:20161116 | |
| PG25 | Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo] | Ref country code:MK Free format text:LAPSE BECAUSE OF FAILURE TO SUBMIT A TRANSLATION OF THE DESCRIPTION OR TO PAY THE FEE WITHIN THE PRESCRIBED TIME-LIMIT Effective date:20161116 | |
| PG25 | Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo] | Ref country code:TR Free format text:LAPSE BECAUSE OF FAILURE TO SUBMIT A TRANSLATION OF THE DESCRIPTION OR TO PAY THE FEE WITHIN THE PRESCRIBED TIME-LIMIT Effective date:20161116 | |
| PG25 | Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo] | Ref country code:IS Free format text:LAPSE BECAUSE OF FAILURE TO SUBMIT A TRANSLATION OF THE DESCRIPTION OR TO PAY THE FEE WITHIN THE PRESCRIBED TIME-LIMIT Effective date:20170316 | |
| PGFP | Annual fee paid to national office [announced via postgrant information from national office to epo] | Ref country code:FR Payment date:20230626 Year of fee payment:15 Ref country code:DE Payment date:20230620 Year of fee payment:15 | |
| REG | Reference to a national code | Ref country code:DE Ref legal event code:R119 Ref document number:602009042477 Country of ref document:DE | |
| PG25 | Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo] | Ref country code:DE Free format text:LAPSE BECAUSE OF NON-PAYMENT OF DUE FEES Effective date:20250101 | |
| PG25 | Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo] | Ref country code:FR Free format text:LAPSE BECAUSE OF NON-PAYMENT OF DUE FEES Effective date:20240630 |